JP2969976B2 - ウエハ保管棚 - Google Patents
ウエハ保管棚Info
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Description
うクリーンルーム内において、ウエハカセットを一時的
に保管するウエハ保管棚に関する。
は、従来、特公平1−41561号公報に記載されたも
のがある。ここに開示されている物品保管設備は、物品
保管室内に、上下方向ならびに横方向に複数の区画収納
空間を有する物品保管棚と、両側に並ぶ物品保管棚間の
中央通路に沿って敷設された一定経路上を走行自在に且
つ昇降ならびに横方向進退自在な荷出入れ機構を有する
搬入出装置を備えている。この種の物品保管設備では、
物品保管棚の下部側にエア供給装置を設け、このエア供
給装置からのエアをフイルタを通しクリーンエアにし
て、物品保管棚の背部から搬入出装置側へ吹き出される
ようにして、塵埃が物品保管棚側へ浮遊し、滞留するの
を防止している。
入れ機構を案内する昇降案内装置や昇降駆動装置を搭載
しているので、磨耗による塵埃が発生し、そのままで
は、この塵埃が床下側に吸引除去されることなく物品保
管棚側へ移行して半導体ウエハ等に付着することになる
ので、搬入出装置の自走台車上に搭載している昇降案内
装置や昇降駆動装置等の全体にカバーを被せるとともに
自走台車下面側にエア吸引装置を設けて、カバー内で発
生した上記塵埃をエア吸引装置で下に吸引して、床下側
へ吸引除去するようにしている。
品保管設備では、物品保管棚の背部から上記中央通路側
に向かうクリーンエアの気流を形成せしめて、浮遊塵埃
が物品保管棚の物品(ウエハカセットに収納されている
半導体ウエハ)に付着するのを防止するようにしてい
る。
ように、半導体ウエハは塵埃による汚染を嫌うので、こ
れに対する対策は施されているが、半導体ICの高集積
化が進むに伴い、保管中の自然酸化による酸化膜の形成
に対しても考慮する必要が生じてくる。
ン テクノロジーシンポジュウム」(1990年11月
19日)で発表された論文中に記載されているもので、
図5はシリコン半導体ウエハの自然酸化による酸化膜の
形成と時間との関係を示し、図6は抵抗率と時間との関
係を示している。この論文によれば、シリコン半導体ウ
エハを大気にさらしておくと、図5に示されるように、
100〜200分後には酸化膜の成長率が高くなり、図
6に示されるように、抵抗率はクリーニング無しの場合
にはほぼ50分後から急激に高くなっている。
間〜数日間に亘り保管するので、物品保管庫内での自然
酸化膜の形成が原因で、高集積度ICの製造が難しくな
るという問題が生じてくる。
たもので、保管中における自然酸化膜の成長を抑制する
ことができるウエハ保管棚を提供することを目的とす
る。
するため、複数の区分棚を有し、該各区分棚に半導体ウ
エハを出し入れされるウエハ保管棚において、上記各区
分棚は、前面開口を有する箱体として各々独立されてお
り、該箱体の内部を、フィルタによってウエハ収納空間
と該フィルタを通して該ウエハ収納空間に連通する流体
供給路および流体排出路とに区画するもので、上記各区
分棚には、上記前面開口を密閉可能で開閉機構により開
閉される扉を各々独立して設け、上記各区分棚の流体供
給路には、ガス用供給配管が各々独立して連通し、上記
各区分棚の流体排出通路にはガス用排出配管が各々独立
して連通すると共に、上記各ガス用供給管路には、外部
の不活性流体貯留タンクからの不活性流体が各々独立し
て供給される構成とした。
自動ロック装置を有している構成とした。
けて密閉可能としてあるので、扉開動作時以外はカセッ
ト収納空間を不活性ガス雰囲気とすることができる。
又、各区分棚に対しては、各ガス用供給配管と各ガス用
排出配管とによって、互いに独立して不活性流体の給排
を行える。
説明する。
設されるウエハ保管棚であって、図2に示すように、ウ
エハカセットを収納する複数の箱状の区分室11(区分
棚)を各々独立させて有しており、縦横に並ぶ各区分室
11の前面開口(ウエハカセットを移載装置で出し入れ
する側)に前面扉20が設けられている。
給路13Aを区画するフィルタ12Aと室右壁11Bと
の間に流体排出路13Bを区画するフィルタ12Bとを
有し、両フィルタ12A、12Bは相互間にウエハ収納
空間(ウエハカセットを出し入れされる)14を区画し
ている。
3に示すように、ウエハ保管棚10の左壁10Aから右
壁10Bに伸びる配管用空間15が設けられており、こ
の配管用空間15には、図3に示すように、区分室11
の底壁11Cを貫通して流体供給路13Aに開口するガ
ス供給用配管31A、区分室11の底壁11Cを貫通し
て流体供給路13Bに開口するガス排出用配管31Bが
配設されている。このガス供給用配管31Aはウエハ保
管棚10の外に設置される不活性ガス貯留タンク(図示
しないが、例えばN2 ガスボンベ)にバルブを介在して
接続され、ガス排出用配管31Bは排気バルブを介在し
てウエハ保管庫外へ開口する。また、各区分室11の前
面扉20の周部にはシール部材16が設けられている。
これによって、各区分室11は、互いに独立した状態
で、不活性ガス貯留タンクから各ガス供給用配管31A
を通して不活性ガスが供給され、又各ガス用排出配管3
1Bからガスを排出できる構造とされている(図1参
照)。
部から上下に伸びる軸21、22を有し、軸21を区分
室11から突出する受け部材17で受けさせ、軸22を
カップリング23を介してモータ24に連結している。
前面扉20の裏面の4つの隅み部からは磁性体ピン41
が突出しており、区分室11内には、各磁性体ピン41
を吸引可能な電磁ソレノイド42が配設されている。磁
性体ピン41と電磁ソレノイド42は扉密閉用の自動ロ
ック装置を構成している。なお、カップリング23には
多少のガタを持たせてある。これにより、各区分室11
は、互いに独立して前面扉20、自動ロック装置により
密閉される構造とされている。
使用する前に、全区分室11のウエハ収納空間14の空
気をN2 ガスと置換する。このため、各前面扉20のモ
ータ24を駆動して全前面扉20を閉めて、電磁ソレノ
イド42を励磁し上記ロック装置を作動させる。ロック
装置が作動すると、磁性体ピン41がカセット収納空間
14の背壁側へ吸引されるので、前面扉20が区分室1
1の開口にシール部材16を介して強く圧接し、各区分
室11のウエハ収納空間14が各々独立して密閉され
る。
ブを全開にするとともに各ガス排出用配管31Bの排出
口にある排気用バルブを全開にする。これにより、前記
不活性ガス貯留タンクから各ガス供給配管31Aを通し
て、各区分室11ごとにカセット収納空間14の流体供
給路13AにN2 ガスが送られ、ここに送られたN2ガ
スはフィルタ12Aを通してウエハ収納空間14内に入
り、該ウエハ収納空間14に充満する。ウエハ収納空間
14を占めていた空気はフィルタ12Bを通過して流体
排出路13Bへ追い出されて、各区分室11のガス排出
配管31Bに流れ、ウエハ保管庫外へ排出され、かくし
て、各区分室11のウエハ収納空間14内は互いに独立
した状態でN2 ガスに置換される。このガス置換が終わ
ると、全バルブを閉弁する。
間の経過により低下するので、補充する必要があり、こ
のため、流量制御装置を設けてガス供給配管31A中の
バルブを制御する。このバルブの開閉制御は一定時間間
隔毎に所定時間だけ開弁する時間管理方式としてもよい
し、カセット収納空間14内の酸素濃度を監視して、酸
素濃度が規制値を超えると、開弁する制御方式としても
よい。
トの出し入れは、指定された区分室11の自動ロック装
置を解除し、前面扉20のモータ24を駆動して該前面
扉20を開いて行なう。
はウエハ収納室14を不活性ガス雰囲気となるので、半
導体ウエハの保管中の表面酸化の成長は抑制することが
できる。
な場合にも、各ウエハ収納室14の密閉状態は維持され
るので、保管している半導体ウエハへの影響はない。
棚の各区分棚に扉を設けて密閉可能とし、扉開動作以外
はカセット収納空間を不活性ガス雰囲気とするので、半
導体ウエハ表面の自然酸化膜の成長を抑制することがで
きる。又、各区分棚は、互いに独立して不活性ガスが給
排できる構造としているので、半導体ウエハを出し入れ
しても、各区分棚全体を不活性ガスに置換することな
く、各区分棚ごと個別にできる。
る。
の形成と時間との関係を示す図である。
抵抗率と時間との関係を示す図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 複数の区分棚を有し、該各区分棚に半導
体ウエハを出し入れされるウエハ保管棚において、上記 各区分棚は、前面開口を有する箱体として各々独立
されており、該箱体の内部を、フィルタによってウエハ
収納空間と該フィルタを通して該ウエハ収納空間に連通
する流体供給路および流体排出路とに区画するもので、 上記各区分棚には、上記前面開口を密閉可能で開閉機構
により開閉される扉を各々独立して設け、 上記各区分棚の流体供給路には、ガス用供給配管が各々
独立して連通し、上記各区分棚の流体排出通路にはガス
用排出配管が各々独立して連通すると共に、 上記各ガス用供給管路には、外部の不活性流体貯留タン
クからの不活性流体が各々独立して供給される ことを特
徴とするウエハ保管棚。 - 【請求項2】 上記扉を開不能にロック可能な自動ロッ
ク装置を有していることを特徴とする請求項1記載のウ
エハ保管棚。
Priority Applications (4)
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---|---|---|---|
JP940491A JP2969976B2 (ja) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | ウエハ保管棚 |
US07/826,954 US5303482A (en) | 1991-01-29 | 1992-01-28 | Wafer airtight keeping unit and keeping facility thereof |
DE69228014T DE69228014T2 (de) | 1991-01-29 | 1992-01-28 | Einheit zum luftdichten Aufbewahren von Halbleiterscheiben |
EP92101358A EP0497281B1 (en) | 1991-01-29 | 1992-01-28 | Wafer airtight keeping unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP940491A JP2969976B2 (ja) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | ウエハ保管棚 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH054705A JPH054705A (ja) | 1993-01-14 |
JP2969976B2 true JP2969976B2 (ja) | 1999-11-02 |
Family
ID=11719482
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP940491A Expired - Fee Related JP2969976B2 (ja) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | ウエハ保管棚 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
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Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6713448B2 (ja) * | 2017-12-29 | 2020-06-24 | エーピー システムズ インコーポレイテッド | 扉装置及びグローブボックス |
-
1991
- 1991-01-29 JP JP940491A patent/JP2969976B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH054705A (ja) | 1993-01-14 |
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