JP2961777B2 - 画像の比較方法 - Google Patents

画像の比較方法

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JP2961777B2 JP1324998A JP32499889A JP2961777B2 JP 2961777 B2 JP2961777 B2 JP 2961777B2 JP 1324998 A JP1324998 A JP 1324998A JP 32499889 A JP32499889 A JP 32499889A JP 2961777 B2 JP2961777 B2 JP 2961777B2
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【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は画像の比較方法に係り、とくに従来目視検査
によって良否を判断するようにしていた画像検査の自動
化に用いて好適な画像の比較方法に関する。
〔発明の概要〕
予めメモリに記憶されているマスク画像と検査すべき
テスト画像とを画像処理によって比較を行なうことによ
って検査の自動化を行なうようにしたものであって、上
記2種類の画像のエッジの部分を取出すために部分処理
を行なうとともに、微分処理を行なった2種類の画像の
減算処理と加算処理とを行なうようにし、しかも加算処
理された画像に所定の定数を乗じて2種類の画像の減算
を行ない、しかも減算を行なった画像を平均化処理し、
平均化処理された画像を2値化して差異のみを抽出する
ようにしたものであって、抽出された差異によって画像
のマッチングの判断を行なうようにしたものであって、
目視検査の特性に適合させ、シンプルでかつフレキシビ
リティに富んだ方法にしたものであり、印刷物の良否の
判断に用いて好適なものである。
〔従来の技術〕
例えばコンパクトディスクを製造する場合には、信号
を書込むとともに、ディスク上の所定の位置に印刷によ
って表示を施すようにしている。そして印刷による表示
が正しく行なわれているかどうかを検査するために、従
来は作業員による目視検査が行なわれており、自動化が
なされていなかった。なお特開昭60−7581号公報、特開
昭60−116076号公報、特開昭60−138687号公報、および
特開昭60−140482号公報にはそれぞれパターンマッチン
グあるいは画像の照合に関する技術が提案されている
が、コンパクトディスクの印刷による表示の検査には用
いることができないものであった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の目視検査を自動化するために通常行なわれる方
法は、ターゲットとなる部分の長さあるいは面積を測定
するものである。このような方法によると、測定点のテ
ィーチング等のためにオペレータが補助しなければなら
ない。しかもこのようなオペレータの操作に職人的な技
術を要することになる。また入力される設定値が検査性
能に大きく影響する欠点がある。さらにターゲットの変
化に対してパラメータをきめ細かく設定し直す必要があ
り、使い易さに難点があった。
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであ
って、とくに印刷等による表示の良否の検査を完全自動
化し得るようにした画像の比較方法を提供することを目
的とするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本願の第1の発明は、被検査用の画像を基準画像と比
較する方法において、 前記2種類の画像のエッジの部分を微分してそれぞれ
の微分画像を形成し、 前記2種類の微分画像を演算処理することによって2
種類の画像の差異に相当す画像を形成する画像の比較方
法であって、 前記演算処理が前記2種類の微分画像の各画素の差の
値と各画素の和に所定の係数を乗じた値の差を求める処
理であることを特徴とする画像の比較方法に関するもの
である。
また第2の発明は、上記第1の発明において、前記2
種類の微分画像の各画素の差の値と各画素の和に所定の
係数を乗じた値の差を求めて基準値と比較することを特
徴とする画像の比較方法に関するものである。
〔作用〕
従って第1の発明によれば、基準画像と被検査用の画
像とをそれぞれ微粉処理し、これら2種類の微分画像の
各画素の差の値と各画素の和に所定の係数を乗じた値の
差を求めることによって、差異に相当する画像が得られ
るようになる。
第2の発明によれば、2種類の微分画像の各画素の差
の値と各画素の和に所定の係数を乗じた値の差を求めて
基準値と比較することによって、良否判断が行なわれる
とともに、ゲイン特性を選択できるようになる。
〔実施例〕
第2図は本発明の一実施例に係る画像の比較方法のた
めのシステム構成を示すものであって、この実施例はコ
ンパクトディスク10の表面に印刷によって形成される表
示の良否判断のためのシステムに関するものである。1
枚のコンパクトディスク10は4台のTVカメラ11によって
4分割されて画像が取込まれるようになっている。そし
て4台のTVカメラは2台ずつ画像処理装置12に接続され
るようになっている。しかもここでは2組がセットにな
って並列処理されるようになっている。各セットの2組
の画像処理装置12はモニタTV13にそれぞれ接続されてい
る。そして4台の画像処理装置12はVMEラック14に接続
されるとともに、このラック14を介して3台のコントロ
ールボックス15、16、17に接続されるようになってい
る。さらにVMEラック14はプリンタコントローラ18に接
続されるとともに、このVMEラック14には制御用コンピ
ュータ19が接続されてシステムを構成している。
第1図はこのようなシステムによってコンパクトディ
スク10の表面に印刷によって形成されている画像の良否
を判断するアルゴリズムを示すものであって、画像処理
装置12のメモリには予め基準画像を構成するマスタ画像
が記憶されている。これに対してTVカメラ11からは検査
すべきテスト画像が読込まれる。2種類の画像はそれぞ
れそのエッジの部分を取出すために微分処理されて微分
画像になる。そして2種類の微分画像が減算されて減算
画像を形成するとともに、同時に2種類の微分画像を加
算して加算画像を形成するようにしている。そして減算
画像と加算画像とを演算処理して合成することにより、
演算画像を形成する。演算画像はそのままだと小さなノ
イズを多数含んでいるために、平均化処理を行なう。こ
の平均化処理は所定の画素をその回りの25画素で平均処
理したものである。そして平均化処理した後に2値化す
ることによって、差異に相当する画像を形成するように
しており、この2値化画像によって良否判断を行なうよ
うにしている。
マスタ画像とテスト画像を比較し、異なる部分を検出
するための第1図に示すアルゴリズムは、目視検査への
応用を考えた場合には、その視覚特性に適合するか否か
が問題となる。このアルゴリズムは比較ゲインをデータ
の濃度で変化させたところに特徴がある。そして微分処
理を行なったマスタ画像とテスト画像をそれぞれMおよ
びTとすると、演算画像の一般式は、 Z=|M−T|−(M+T)/k−γ で表わされ、第1項がMとTの差異、第2項および第3
項がゲインを変化させる関数を示している。
単にマスタ側の微分画像とテスト側の微分画像との差
異をとった場合には、空間関数は、 Z=|M−T| となる。このような平面は第4図に示されるようになっ
ており、Z=Oとは線で交わることになる。従ってこの
ような空間関数をZ=O面へ投影したグラフは第5図に
示すようになり、Z>Oの場合に表示が欠陥(NG)と判
定すると、Z=Oの線上にある特殊な場合以外は総て欠
陥と判定されることになる。
つぎにマスタ側の微分画像Mとテスト側の微分画像T
の減算画像M−Tと加算画像M+Tを減算処理した場合
には、空間関数はつぎのようになる。
Z=|M−T|−(M+T)/k このような空間関数は3次元座標で示すと第6図に示
すようになる。またこのような空間関数をZ=O面へ投
影したグラフは第7図に示すようになる。第7図のグラ
フから明らかなように、MとTの差が大きくなるにつれ
てZの値は大きくなり、やがてZ>Oの領域に入る。そ
してZ>Oの場合に欠陥(NG)と判定することになる
が、MまたはTの値、すなわち濃度が大きくなるにつれ
て許容差も大きくなっていることが分る。すなわち距離
Qと距離Rとを比較すれば明らかなように、Mの値が大
きなRの方がMの値が小さなQよりも大きな値になって
いる。コンパクトディスク10の印刷面の目視検査の自動
化に応用した場合には、合格の範囲が所定の面積をもつ
第7図に示すような特性は適合性が大きいことが理解さ
れる。
つぎにマスタ側の微分画像とテスト側の微分画像を減
算した減算画像M−Tを基準値と比較する場合には、空
間関数は、 Z=|M−T|−γ となる。またこのような空間関数を3次元座標で表示す
ると第8図のようになる。また第8図のような空間関数
をZ=O面へ投影すると第9図のグラフが得られる。こ
のグラフから明らかなように、合格と判断されるZ<O
の領域は所定の面積をもつことになる。ただしこの場合
にはMあるいはTが増加しても、ゲインは増大しない。
第10図は Z=|M−T|−(M+T)/k−γ の空間関数を3次元座標上に示したものである。すなわ
ちこの空間関数は、マスタ側の微分画像Mとテスト側の
微分画像Tの減算画像M−Tと、加算画像M+Tとから
得られた演算画像を基準値と比較するようにしたもので
ある。そして第10図に示す空間関数をZ=O面へ投影す
ると第11図に示すようグラフが得られることになる。こ
のグラフにおいて、合格の領域、すなわちZ<Oは所定
の面積をもつために、目視判断に適合するゲイン特性と
なる。しかもMあるいはTが増大するに従ってMとTと
の許容差も増大することになる。
第3図は第1図に示す演算画像の濃度のヒストグラム
を示している。検出すべきMとTとの差異は濃度が0〜
64の間の値をもつ画素群の中に含まれている。濃度0付
近には背景ノイズによる不安定なデータが多く含まれて
いるために欠陥検出のためにしきい値Thは理論値0では
なく、0より大きな値となる。また欠陥領域の密度分布
等の情報から、ノイズフィルタリングを施す必要が生ず
ることが理解される。このような処理のために、演算画
像を平均化処理したり、2値化したりすることが意味を
もつようになる。
本実施例の方法によれば、画像メモリ内のマスタ画像
と入力されたテスト画像との全面比較を行なうことが可
能になる。しかも微分処理によるエッジ抽出された画像
を使用することを特徴としている。また検出ゲインが各
ピクセル濃度によって変化することになる。従って単純
な1次結合による高速なパイプライン処理が利用できる
ようになる。また上述の如くゲイン関数を変化させるこ
とにより、多様な目視検査に適用できるようになる。
〔発明の効果〕
第1の発明は、被検査用の画像と基準画像のエッジの
部分を微分してそれぞれの微分画像を形成し、2種類の
微分画像を演算処理することによって2種類の画像の差
異に相当す画像を形成する画像の比較方法であって、演
算処理が2種類の微分画像の各画素の差の値と各画素の
和に所定の係数を乗じた値の差を求める処理をしたもの
である。
従ってこの差異に相当する画像を用いて2種類の画像
の比較を行なうことが可能になり、これによってテスト
画像の良否判断を自動的に行なうことが可能になる。と
くに2種類の微分画像の各画素の差の値と各画素の和に
所定の係数を乗じた値の差を求めるようにしているため
に、合格領域が所定の面積を有するとともに、2種類の
画像の微分値の濃度が増大するに従ってゲインが増大ま
たは減少する特性をもつようになる。
第2の発明は、2種類の微分画像の各画素の差の値と
各画素の和に所定の係数を乗じた値の差を求めて基準値
と比較する処理を行なうようにしたものである。
従ってこのような構成によれば、合格領域が所定の面
積を有するとともに、2種類の微分画像の濃度が大きく
なるにつれて許容差が大きくなり、最も目視検査に適合
するゲイン特性を得ることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る画像処理のアルゴリズ
ムを示す画像の平面図、第2図はシステム構成を示すブ
ロック図、第3図は全画面のヒストグラムのグラフ、第
4図は第1の空間関数の立体図、第5図は同投影グラ
フ、第6図は第2の空間関数の立体図、第7図は同投影
グラフ、第8図は第3の空間関数の立体図、第9図は同
投影グラフ、第10図は第4の空間関数の立体図、第11図
は同投影グラフである。 また図面中の主要な部分の名称はつぎの通りである。 10……コンパクトディスク 11……TVカメラ 12……画像処理装置 15〜17……コントロールボックス 19……制御用コンピュータ
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G06T 7/00 - 7/60 G01N 21/88

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被検査用の画像を基準画像と比較する方法
    において、 前記2種類の画像のエッジの部分を微分してそれぞれの
    微分画像を形成し、 前記2種類の微分画像を演算処理することによって2種
    類の画像の差異に相当す画像を形成する画像の比較方法
    であって、 前記演算処理が前記2種類の微分画像の各画素の差の値
    と各画素の和に所定の係数を乗じた値の差を求める処理
    であることを特徴とする画像の比較方法。
  2. 【請求項2】前記2種類の微分画像の各画素の差の値と
    各画素の和に所定の係数を乗じた値の差を求めて基準値
    と比較することを特徴とする請求項第1項に記載の画像
    の比較方法。
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