JPH07218343A - プリント基板外観検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 簡単でコスト安なハード構成で、高精度、且
つ、高速に、銀ペーストスルーホールを検査するプリン
ト基板外観検査装置の提供。 【構成】 カラー画像撮像手段３と、前記のカラー画像
を色座標変換し所定の色成分を抽出して２値化する色抽
出手段４とを有し、プリント基板１の銀ペーストスルー
ホール１５を自動検査するプリント基板外観検査装置に
おいて、前記色抽出手段４からの２値画像に細線化処理
とこれに伴う距離変換処理を施す細線化手段５と、前記
距離変換処理で得られた距離変換画像から前記２値画像
の線幅を計測し、前記計測した線幅を基準線幅と大小比
較して線幅の違反を銀ペーストスルーホールの銀ペース
ト塗布不良として検出する線幅違反検出手段６と、装置
全体の制御を行う判定制御手段１４とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板の検査装
置に関し、特に、２層プリント基板の銀ペーストスルー
ホールを検査するプリント基板外観検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、プリント基板の製造は、ガラスエ
ポキシを使用した多層基板の製造が主流を占めている。

【０００３】しかし、製造コスト等の面から従来の紙フ
ェノールを使用した２層基板も依然として数多く生産さ
れており、その検査量は非常に多い。

【０００４】紙フェノールの２層基板では、表面と裏面
間の電気的導通が必要で、そのために、ドリルで基板の
銅パターン部に貫通穴を設けた後、銀ペーストを表面か
ら印刷し、裏面より空気吸引することにより銀ペースト
が貫通穴を通して表裏両側の銅パターンを短絡するよう
にして電気的導通を得ている。この加工を行った後、部
品実装時のショート防止や基板の保護のために、部品が
実装される銅ランド以外にはレジストが塗布される。こ
うした工法では、基板の品質確保上もっとも注意が必要
なのは銀ペーストによる表裏間の導通である。そして、
従来から、銀ペーストスルーホールによる表裏間の導通
の良否検査の大半は、目視による検査で行われ、レジス
ト塗布前に、目視で銀ペーストの印刷状態を見て銀ペー
ストスルーホールの良否を判断している。

【０００５】しかし、目視による検査は限界にきてお
り、検査ミスの発生や作業者による検査結果の違いが生
じる。その対策として、銀ペーストスルーホールの良否
を自動的に検査する検査装置が検討されている。

【０００６】その従来例の一例が、特開平０５−１１３
４０９号公報に記載の装着部品位置検査装置で、そのブ
ロック図を図９に示す。

【０００７】図９において、１はプリント基板、３はプ
リント基板１をカラー撮像するカラーＣＣＤカメラで構
成される撮像部、４は特定の色彩のみを抽出する色抽出
手段、２０は検査対象物である銀ペーストスルーホー
ル、２１は色抽出部消去手段、２２は画像記憶手段、２
３は窓枠部切り出し手段、２４は投影手段、２５は微分
手段、２６は判定制御部である。

【０００８】次に、本従来例の動作を説明する。

【０００９】先ず、銀ペーストスルーホール２０のある
プリント基板１を、カラーＣＣＤカメラ３によって撮像
する。色抽出手段４が、カラーＣＣＤカメラ３からのカ
ラー映像信号を受信し、予め与えられている基板、シル
ク、ランドの色を呈する部分のみを抽出する。色抽出部
消去手段２１が、カラーＣＣＤカメラ３のカラー画像信
号から前記色抽出手段４によって抽出された部分のみを
消去する。これによって、色抽出部消去手段２１からの
出力信号は被検査プリント基板の検査対象物の銀ペース
トスルーホール２０部分のみが残ったものになる。次い
で、画像記憶手段２２が、前記色抽出部消去手段２１か
らの出力信号を後の処理のために記憶し、窓枠部切り出
し手段２３が、予め与えられているデータに基づいて窓
枠を切り出す。前記窓枠内の領域の特徴を抽出するため
に、投影手段２４と微分手段２５とによる処理を行い、
最後に判定制御部２６において、良否の判定を行う。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】上記のように、以前か
らの目視検査は限界にきており、白黒カメラでは銅パタ
ーンの輝度と銀ペーストの輝度とが略等しくて、撮像後
に如何なる処理を施しても高精度に銀ペーストの印刷状
態を検査することが困難である。

【００１１】その対策として、上記の従来例のように、
カラーカメラによる方法が検討されているが、従来例の
構成では、次の問題点がある。

【００１２】先ず、特徴抽出処理のために一度画像を記
憶する必要があり、基板の検査時に、画像記憶手段のメ
モリの大きさに適したサイズに、プリント基板の画像を
切り分けている。従って、通常、画像の撮像にはエリア
タイプのカメラが使用され、このエリアタイプのカメラ
を使用して基板全体を撮像するためには、カメラもしく
は基板を移動させる必要があり高速処理実現の妨げにな
る。

【００１３】又、ラインセンサを使用する場合において
も、適切な大きさの画像領域を切り出す処理が必要にな
り、そのために、撮像画像を逐次記憶する大容量のメモ
リを撮像部の次段に設ける必要があり、ハードウェアの
規模の増大とコストの増加が発生し、更に、逐次記憶さ
れた画像を、順次適切なサイズの画像に切り出す必要が
あるので、高速処理実現の妨げになる。

【００１４】更に、上記の処理のために、窓枠部切り出
し手段に、予め、窓枠の位置、大きさ等のデータを与え
る必要があり、こうしたデータを検査に先立って作成す
る必要があるが、こうしたデータは、一般的には、ＣＡ
Ｄ等により記述された検査対象物の位置座標に基づいて
決定されるため、複雑な演算処理を必要とするだけでは
なく、この演算処理に不具合があれば、良品が不良と判
定されることがある。

【００１５】本発明は、上記の課題点を解決し、簡単で
コスト安なハード構成で、高精度、且つ、高速に、銀ペ
ーストスルーホールを検査するプリント基板外観検査装
置の提供を課題とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】本願第１発明のプリント
基板外観検査装置は、上記の課題を解決するために、カ
ラー画像を撮像するカラー画像撮像手段と、前記のカラ
ー画像を色座標変換し所定の色成分を抽出して２値化す
る色抽出手段とを有し、プリント基板の銀ペーストスル
ーホールを自動検査するプリント基板外観検査装置にお
いて、前記色抽出手段からの２値画像に細線化処理とこ
れに伴う距離変換処理を施す細線化手段と、前記２値画
像の前記距離変換処理で得られた距離変換画像から前記
２値画像の線幅を計測し、前記計測した線幅を基準線幅
と大小比較して線幅の違反を銀ペーストスルーホールの
銀ペースト塗布不良として検出する線幅違反検出手段と
を有することを特徴とする。

【００１７】本願第２発明のプリント基板外観検査装置
は、上記の課題を解決するために、カラー画像を撮像す
るカラー画像撮像手段と、前記のカラー画像を色座標変
換し所定の色成分を抽出して２値化する色抽出手段とを
有し、プリント基板の銀ペーストスルーホールを自動検
査するプリント基板外観検査装置において、前記色抽出
手段からの２値画像に細線化処理とこれに伴う距離変換
処理を施す細線化手段と、前記２値画像の前記細線化処
理で得られた前記２値画像の芯線画像に存在する分岐点
および端点を隣接する銀ペーストスルーホールの短絡お
よび銀ペースト塗布不良として検出する形状検出手段と
を有することを特徴とする。

【００１８】本願第３発明のプリント基板外観検査装置
は、上記の課題を解決するために、カラー画像を撮像す
るカラー画像撮像手段と、前記のカラー画像を色座標変
換し所定の色成分を抽出して２値化する色抽出手段とを
有し、プリント基板の銀ペーストスルーホールを自動検
査するプリント基板外観検査装置において、前記色抽出
手段からの２値画像に縮退化処理を施す縮退化手段と、
前記２値画像を縮退化処理して得られる孤立点画像を銀
ペーストスルーホールの中心点として検出する孤立点検
出手段とを有することを特徴とする。

【００１９】本願第４発明のプリント基板外観検査装置
は、上記の課題を解決するために、本願第３発明のプリ
ント基板外観検査装置において、良品基板の銀ペースト
スルーホールの中心点等の形状特徴の位置座標を基準デ
ータとして予め入力する入力手段と、前記入力された基
準データを記憶する保持手段と、孤立点検出手段に検出
された孤立点画像等の形状特徴画像の画像位置座標を算
出し、この画像位置座標を前記基準データの位置座標と
同じ座標系に変換する位置座標算出手段と、前記位置座
標算出手段が変換して得た銀ペーストスルーホールの孤
立点画像等の形状特徴画像の位置座標と前記保持手段が
記憶する基準データの位置座標とを比較して基準データ
の各位置座標における検査対象基板の銀ペーストスルー
ホールの中心点等の形状特徴の有無を検出する有無検査
手段とを有することを特徴とする。

【００２０】本願第３発明と第１発明又は第２発明とで
構成されるプリント基板外観検査装置は、上記の課題を
解決するために、孤立点検出手段によって検出された孤
立点画像を所定の大きさに膨張させる膨張手段を備え、
前記膨張手段に膨張された膨張画像の領域内においての
み、線幅違反検出手段が線幅違反検出を行い又は形状検
出手段が形状検出を行うことを特徴とする。

【００２１】本願第５発明のプリント基板外観検査装置
は、上記の課題を解決するために、膨張手段は、孤立点
画像を所定の大きさに膨張した後に１画素膨張させた画
像と色抽出手段からの２値画像とを論理積演算する処理
ユニットを所定段数カスケードに有することが好適であ
る。

【００２２】

【作用】本発明のプリント基板外観検査装置は、カラー
画像を撮像するカラー画像撮像手段と、前記のカラー画
像を色座標変換し所定の色成分を抽出して２値化する色
抽出手段とを有し、従来技術で使用する濃淡処理では、
輝度が銅ランド部と略等しく、銅ランド部と分離した抽
出が困難である銀ペースト部を的確に抽出している。

【００２３】本願第１発明では、色抽出手段からの２値
画像に細線化処理とこれに伴う距離変換処理を施す細線
化手段と、前記距離変換処理で得られた距離変換画像か
ら前記２値画像の線幅を計測し、前記計測した線幅を基
準線幅と大小比較して線幅の違反を銀ペーストスルーホ
ールの銀ペースト塗布不良として検出する線幅違反検出
手段とを有するので、銀ペーストスルーホールのドーナ
ツ形状の２値画像を、細線化処理によって内外から１画
素ずつ削って細線化し、距離変換処理によって前記の削
った画素の数に対応する線幅を計測して、銀ペーストス
ルーホールのドーナツ形状の２値画像の線幅が求められ
る。この線幅を基準線幅と比較し、銀ペースト材料の過
少による導通不良、銀ペースト材料のにじみ等を検出す
る。

【００２４】本願第２発明では、色抽出手段からの２値
画像に細線化処理とこれに伴う距離変換処理を施す細線
化手段と、前記２値画像の前記細線化処理で得られた前
記２値画像の芯線画像に存在する分岐点および端点を隣
接する銀ペーストスルーホールの短絡および銀ペースト
塗布不良として検出する形状検出手段とを有するので、
銀ペーストスルーホールのドーナツ形状の２値画像を、
細線化処理によって外側から１画素ずつ削って細線化し
て銀ペーストスルーホールの前記２値画像の芯線画像を
得、この芯線画像に分岐点および端点が存在するか否か
を検出し、分岐点があることによって隣接する銀ペース
トスルーホール間の銀ペーストによる短絡を検出し、端
点があることによって銀ペースト材料の塗布不足による
導通不良を検出する。

【００２５】本願第３発明では、色抽出手段からの２値
画像に縮退化処理を施す縮退化手段と、前記２値画像を
縮退化処理して得られる孤立点画像を銀ペーストスルー
ホールの中心点として検出する孤立点検出手段とを有す
るので、銀ペーストスルーホールのドーナツ形状の２値
画像の中心部にある円形画像を外側から１画素ずつ削っ
て縮退化し、最後に残った１画素の孤立点画像を銀ペー
ストスルーホールの中心点として検出することができ
る。

【００２６】本願第４発明では、本願第３発明のプリン
ト基板外観検査装置に、良品基板の銀ペーストスルーホ
ールの中心点等の形状特徴の位置座標を基準データとし
て予め入力する入力手段と、前記入力された基準データ
を記憶する保持手段と、孤立点検出手段に検出された孤
立点画像等の形状特徴画像の画像位置座標を算出し、こ
の画像位置座標を前記基準データの位置座標と同じ座標
系に変換する位置座標算出手段と、前記位置座標算出手
段が変換して得た銀ペーストスルーホールの孤立点画像
等の形状特徴画像の位置座標と前記保持手段が記憶する
基準データの位置座標とを比較して基準データの各位置
座標における検査対象基板の銀ペーストスルーホールの
中心点等の形状特徴の有無を検出する有無検査手段とを
有するので、前記入力手段と保持手段とによって、寸法
を基準にした良品基板の銀ペーストスルーホールの中心
点等の形状特徴の座標位置データを比較基準データとし
て記憶し、位置座標算出手段によって、孤立点検出手段
に検出された孤立点画像等の形状特徴画像の位置を画面
上の画素単位の画像位置座標として算出し、この画像位
置座標を前記比較基準データの寸法を基準にした位置座
標と同じ座標系に変換することによって比較基準データ
と測定データとの比較を可能にし、有無検査手段によっ
て、基準データの各位置座標における検査対象基板の銀
ペーストスルーホールの中心点等の形状特徴の有無を検
出する。この検出で検出されなかった基準データの座標
位置には、銀ペーストが塗布されていないことを示す。

【００２７】本願第３発明と第１発明又は第２発明とを
組み合わせることによって、孤立点検出手段によって検
出された孤立点画像を所定の大きさに膨張させる膨張手
段を備え、前記膨張手段に膨張された膨張画像の領域内
においてのみ、線幅違反検出手段が線幅違反検出を行い
又は形状検出手段が形状検出を行うようにすることがで
きる。この場合、膨張手段は、銀ペーストスルーホール
の中心点に対応する孤立点画像を構成する一つの画像の
全周囲から１画素ずつ膨張させて行くので、所定画素数
まで膨張して得られた膨張画像は、当然、銀ペーストス
ルーホールを含むことになり、この膨張画像領域のみを
検査対象領域として自動設定することができ、これによ
って、従来例で予め行っている膨大な検査データの作成
を不要にする。

【００２８】本願第５発明では、膨張手段は、孤立点画
像を所定の大きさに膨張した後に１画素膨張させた画像
と色抽出手段からの２値画像とを論理積演算する処理ユ
ニットを所定段数カスケードに有する。この場合、縮退
化処理によって銀ペーストスルーホールの中心点に対応
する１画素の孤立点画像をもとめる際に、銀ペーストス
ルーホールの近傍にあるゴミ等の画像を完全に消去でき
るので、膨張画像との論理積演算によって得られる画像
には、当然、ゴミ等の画像は含まれない。従って、孤立
点画像を所定の大きさに膨張した後に１画素膨張させた
画像と色抽出手段からの２値画像とを論理積演算する処
理ユニットを所定段数カスケードに有すると、この論理
積演算処理で求められた画像は、銀ペーストスルーホー
ルの２値画像からゴミ等の画像を消去したものになり、
得られた画像は、正確に、銀ペーストスルーホールの外
形に一致する。これによって、ゴミ等のノイズに影響さ
れない検査が可能になる。

【００２９】そして、本願発明によると、上記のよう
に、正確な検査対象領域を自動的に設定できるので、カ
ラーＣＣＤカメラのラインセンサカメラやエリアカメラ
を使用し、得られる画像を記憶させずに垂れ流ししなが
ら処理することができる。従って、本願発明によると、
従来技術で必要な、画像を検査のために記憶する容量の
大きなメモリが不要になる。

【００３０】

【実施例】本発明のプリント基板外観検査装置の実施例
を図１〜図８に基づいて説明する。

【００３１】図１の本実施例の構成を示すブロック図に
おいて、１はプリント基板、２は検査対象のプリント基
板１を照らす照明、３はカラー画像撮像手段のカラーＣ
ＣＤカメラ、４は色抽出手段、５は細線化手段、６は線
幅違反検出手段、７は形状検出手段、８は退縮化手段、
９は孤立点検出手段、１０は膨張手段、１１は位置座標
算出手段、１２は入力手段、１３は保持手段、１４は各
種の判定と制御とを行う判定制御手段、１８は有無検査
手段である。

【００３２】以下に、本実施例の構成要素間の関係と動
作とを説明する。

【００３３】カラー画像撮像手段のカラーＣＣＤカメラ
３が、銀ペーストスルーホール１５を有するプリント基
板１を撮像し、画像信号を色抽出手段４に送る。

【００３４】色抽出手段４は、画像信号を色座標変換す
る色座標変換部と、検査対象物が有する色彩領域のみを
抽出して２値化する２値化部とから構成され、カラーＣ
ＣＤカメラ３からの画像信号を、銀ペーストスルーホー
ル１５の２値画像に構成し、この２値画像を、細線化手
段５と、縮退化手段８と、膨張手段１０とに送る。

【００３５】細線化手段５は、２値画像を受け取り、銀
ペーストスルーホール１５のドーナツ形状の２値画像
を、細線化処理によって内外から１画素ずつ削って細線
化して前記銀ペーストスルーホール１５のドーナツ形状
の２値画像の芯線画像を求め、前記細線化処理と同時に
行う距離変換処理で前記の削った画素の数をカウントし
ておくことによって距離変換画像を得、この距離変換画
像によって、前記銀ペーストスルーホール１５のドーナ
ツ形状の２値画像に対応する線幅を計測し、前記の２値
画像の線幅を線幅違反検出手段６に送り、前記の芯線画
像を形状検出手段７に送る。

【００３６】線幅違反検出手段６では、図２に示すよう
に、予め設定された線幅の許容最大値ｍａｘと許容最小
値ｍｉｎに対して、最大値ｍａｘを越えている線幅ｄ
と、最小値ｍｉｎに満たない線幅ｄとを検出し、判定制
御手段１４が、線幅ｄが最大値ｍａｘ以下で最小値ｍｉ
ｎ以上の場合は正常と判断し、最大値ｍａｘを越えてい
る線幅ｄを有する銀ペーストスルーホール１５は銀ペー
スト材ににじみがある（不良３）と判断し、最小値ｍｉ
ｎに満たない線幅ｄを有する銀ペーストスルーホール１
５は銀ペースト材の不足（不良１）又は銀ペースト材の
塗布ずれがある（不良２）と判断する。

【００３７】形状検出手段７は、３×３の検出ウインド
及びルックアップテーブルからなり、芯線画像に、分岐
点、又は、端点があるか否かを検出し、図３に示すよう
に、分岐点や端点が無い場合は正常と判断し、端点があ
る場合には、判定制御手段１４が、銀ペーストスルーホ
ール１５の銀ペースト材が不足してドーナツ形状の一部
が切れていると判断し、分岐点がある場合には、判定制
御手段１４が、銀ペーストスルーホール１５が隣接する
銀ペーストスルーホール１５と銀ペーストで短絡してい
ると判断する。

【００３８】縮退化手段８では、色抽出手段４からの２
値画像を論理反転した後、ゴミ等の微小画像を除去する
ためにフイルタ処理を行い、図４に示すように、２値画
像の外側から１画素ずつ削る縮退化処理によって、銀ペ
ーストスルーホール１５のドーナツ形状の中心部の円形
画像を最後の１画素の孤立点画像になるまで縮退させ、
これを孤立点検出手段９に送る。

【００３９】孤立点検出手段９では、孤立点画像を銀ペ
ーストスルーホールの中心点として検出し、膨張手段１
０と、位置座標算出手段１１とに送る。

【００４０】位置座標算出手段１１では、孤立点画像の
位置を画面上の画素単位の画像位置座標として算出し、
この画像位置座標を前記比較基準データの寸法を基準に
した位置座標と同じ座標系に変換することによって比較
基準データと測定データとの比較を可能にし、判定制御
手段１４に送る。

【００４１】上記の処理に先立って、入力手段１２が、
良品基板の銀ペーストスルーホール１５の中心点等の形
状特徴の位置座標を基準データとして予め入力し、この
入力を保持手段１３が記憶している。

【００４２】この場合、位置座標算出手段１１が算出し
た銀ペーストスルーホール１５の位置座標を保持手段１
３に記憶させ、これを基準データとして使用することが
可能なので、必要な検査データを簡単に自動的に作成さ
せることができる。

【００４３】判定制御手段１４内にある有無判定手段１
８が、基準データの各位置座標における検査対象基板１
の銀ペーストスルーホール１５の中心点等の形状特徴の
有無を検出する。この検出で検出されなかった基準デー
タの座標位置には、銀ペーストが塗布されていないこと
を示す。

【００４４】膨張手段１０は、孤立点画像の外側を１画
素ずつ膨張させ、所定の大きさまで膨張させる。この膨
張した各膨張画像領域には検査対象の銀ペーストスルー
ホール１５の画像が含まれており、この膨張画像領域を
線幅違反検出手段６と形状検出手段７とに送る。

【００４５】線幅違反検出手段６と形状検出手段７とで
は、この膨張画像領域のみを検査することによって効率
良く検査でき、且つ、色抽出手段４によって、銀ペース
ト以外の部分が抽出されていても、その部分は検査しな
いで、銀ペースト及びその周辺部のみを検査することが
できる。

【００４６】又、膨張手段が、図５、図６に示すよう
に、孤立点検出手段の孤立点画像を所定の大きさにＮ回
膨張した後に、１画素膨張させた画像と、色抽出手段か
らの２値画像とを、２値画像のタイミングを遅延回路で
遅らせて、１画素膨張の終了とタイミングを合わせて論
理積演算する処理ユニットを所定段数ｎだけカスケード
に有する場合には、下記に図７、図８で説明するよう
に、論理積膨張によると、検査データを自動作成する際
に、設定する検査領域を完全に検査対象物の画像に一致
させることができる。

【００４７】原画像Ａの論理積膨張を示す図７におい
て、Ａを縮退化してＢが得られ、ＡとＢとの論理積を求
めるとＣになる。

【００４８】Ｃを膨張させるとＤになり、ＡとＤとの論
理積を求めるとＥになる。

【００４９】Ｅを膨張させるとＦになり、ＡとＦとの論
理積を求めるとＧになる。

【００５０】Ｇを膨張させるとＨになり、ＡとＨとの論
理積を求めるとＩになる。

【００５１】このＩはＧと同一になり、このＩが論理積
膨張で求められる画像である。

【００５２】図８は通常の膨張と論理積膨張とを比較し
た図で、通常の膨張の場合には、膨張領域の中に、検査
対象物と非検査対象物とが含まれるので、膨張領域によ
って概略の検査領域の設定が可能であるが、非検査対象
物を検出することによって、不良の過検出が発生するこ
とになる。これに対して、論理積膨張の場合には、論理
積膨張領域を検査領域として設定する場合に、設定する
検査領域を完全に検査対象物の画像に一致させることが
でき、前述の過検出を完全に防止できる。

【００５３】本実施例では、上記のように、正確な検査
対象領域を自動的に設定できるので、カラーＣＣＤカメ
ラのラインセンサカメラやエリアカメラを使用し、得ら
れる画像を記憶させずに垂れ流ししながら処理すること
ができる。

【００５４】

【発明の効果】本発明のプリント基板外観検査装置は、
カラー画像処理技術と細線化処理技術とを組み合わせた
新しい手法によって、下記の効果を奏する。

【００５５】これまで、検査の大半を人手に委ねていた
プリント基板製造工程において、特に困難とされてい
た、銀ペーストスルーホールの品質検査を実施できる実
用的なプリント基板外観検査装置を提供できる。

【００５６】銀ペーストスルーホールの品質検査に必要
な検査項目の実施を総て自動化できる。

【００５７】総ての検査項目の検査を高精度で実施でき
る。

【００５８】従来は予め人手で行う必要があった検査デ
ータの作成を自動化することができる。

【００５９】又、本発明のプリント基板外観検査装置
は、検査領域の設定に論理積膨張を使用する新しい概念
を取り入れることによって、自動設定する検査領域を完
全に検査対象物の画像に一致させることができる。

【００６０】そして、上記のように、正確な検査対象領
域を自動的に設定できるので、カラーＣＣＤカメラのラ
インセンサカメラやエリアカメラを使用し、得られる画
像を記憶させずに垂れ流ししながら処理することができ
る。従って、本願発明によると、従来技術で必要な、画
像を検査のために記憶する容量の大きなメモリが不要に
なる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のプリント基板外観検査装置の実施例の
構成を示すブロック図である。

【図２】本発明の実施例の線幅検出による良否判定基準
を示す図である。

【図３】本発明の実施例の形状検出による良否判定基準
を示す図である。

【図４】本発明の実施例の縮退化処理を示す図である。

【図５】本発明の実施例の論理積膨張処理の回路図であ
る。

【図６】図５の論理積膨張処理の回路図の動作を示すフ
ローチャートである。

【図７】図５、図６の論理積膨張処理の動作を示す図で
ある。

【図８】通常の膨張と論理積膨張との比較図である。

【図９】従来例のプリント基板外観検査装置の構成を示
すブロック図である。

【符号の説明】

１ プリント基板 ３ カラー画像撮像手段 ４ 色抽出手段 ５ 細線化手段 ６ 線幅違反検出手段 ７ 形状検出手段 ８ 縮退化手段 ９ 孤立点検出手段 １０ 膨張手段 １１ 位置座標算出手段 １２ 入力手段 １３ 保持手段 １４ 判定手段 １５ 銀ペーストスルーホル １６ 芯線画像

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 淳晴 神奈川県川崎市多摩区東三田３丁目10番１ 号 松下技研株式会社内 (72)発明者 丸山 祐二 神奈川県川崎市多摩区東三田３丁目10番１ 号 松下技研株式会社内 (72)発明者 川原 豊樹 神奈川県川崎市多摩区東三田３丁目10番１ 号 松下技研株式会社内

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 カラー画像を撮像するカラー画像撮像手
   段と、前記のカラー画像を色座標変換し所定の色成分を
   抽出して２値化する色抽出手段とを有し、プリント基板
   の銀ペーストスルーホールを自動検査するプリント基板
   外観検査装置において、前記色抽出手段からの２値画像
   に細線化処理とこれに伴う距離変換処理を施す細線化手
   段と、前記２値画像の前記距離変換処理で得られた距離
   変換画像から前記２値画像の線幅を計測し、前記計測し
   た線幅を基準線幅と大小比較して線幅の違反を銀ペース
   トスルーホールの銀ペースト塗布不良として検出する線
   幅違反検出手段とを有することを特徴とするプリント基
   板外観検査装置。
2. 【請求項２】 カラー画像を撮像するカラー画像撮像手
   段と、前記のカラー画像を色座標変換し所定の色成分を
   抽出して２値化する色抽出手段とを有し、プリント基板
   の銀ペーストスルーホールを自動検査するプリント基板
   外観検査装置において、前記色抽出手段からの２値画像
   に細線化処理とこれに伴う距離変換処理を施す細線化手
   段と、前記２値画像の前記細線化処理で得られた前記２
   値画像の芯線画像に存在する分岐点および端点を隣接す
   る銀ペーストスルーホールの短絡および銀ペースト塗布
   不良として検出する形状検出手段とを有することを特徴
   とするプリント基板外観検査装置。
3. 【請求項３】 カラー画像を撮像するカラー画像撮像手
   段と、前記のカラー画像を色座標変換し所定の色成分を
   抽出して２値化する色抽出手段とを有し、プリント基板
   の銀ペーストスルーホールを自動検査するプリント基板
   外観検査装置において、前記色抽出手段からの２値画像
   に縮退化処理を施す縮退化手段と、前記２値画像を縮退
   化処理して得られる孤立点画像を銀ペーストスルーホー
   ルの中心点として検出する孤立点検出手段とを有するこ
   とを特徴とするプリント基板外観検査装置。
4. 【請求項４】 請求項３に記載のプリント基板外観検査
   装置において、良品基板の銀ペーストスルーホールの中
   心点等の形状特徴の位置座標を基準データとして予め入
   力する入力手段と、前記入力された基準データを記憶す
   る保持手段と、孤立点検出手段に検出された孤立点画像
   等の形状特徴画像の画像位置座標を算出し、この画像位
   置座標を前記基準データの位置座標と同じ座標系に変換
   する位置座標算出手段と、前記位置座標算出手段が変換
   して得た銀ペーストスルーホールの孤立点画像等の形状
   特徴画像の位置座標と前記保持手段が記憶する基準デー
   タの位置座標とを比較して基準データの各位置座標にお
   ける検査対象基板の銀ペーストスルーホールの中心点等
   の形状特徴の有無を検出する有無検査手段とを有するこ
   とを特徴とするプリント基板外観検査装置。
5. 【請求項５】 請求項３及び請求項１又は２に記載のプ
   リント基板外観検査装置において、孤立点検出手段によ
   って検出された孤立点画像を所定の大きさに膨張させる
   膨張手段を備え、前記膨張手段に膨張された膨張画像の
   領域内においてのみ、線幅違反検出手段が線幅違反検出
   を行い又は形状検出手段が形状検出を行うことを特徴と
   するプリント基板外観検査装置。
6. 【請求項６】 膨張手段は、孤立点画像を所定の大きさ
   に膨張した後に１画素膨張させた画像と色抽出手段から
   の２値画像とを論理積演算する処理ユニットを所定段数
   カスケードに有する請求項５に記載のプリント基板外観
   検査装置。