JP2949979B2 - 透過率測定装置とその校正方法 - Google Patents
透過率測定装置とその校正方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、道路，トンネル，空
港および港湾等において、空気中に浮遊する粉塵，煤煙
または霧などによる対象物体の見え方（視認性）を測定
するための測定装置に関する。
港および港湾等において、空気中に浮遊する粉塵，煤煙
または霧などによる対象物体の見え方（視認性）を測定
するための測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、一定の距離をおいて投光素子と受
光素子を対向配置し、受光素子により光量を測定して、
光路内の粒子による光の透過率を測定する測定装置は公
知である。なお、受光素子としてはホトダイオードが良
く用いられている。
光素子を対向配置し、受光素子により光量を測定して、
光路内の粒子による光の透過率を測定する測定装置は公
知である。なお、受光素子としてはホトダイオードが良
く用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
装置では車両通過時の振動や据え付け不具合による光軸
ずれにより測定精度が低下することがあるが、このよう
な問題に対する手当ては殆どなされていないのが現状で
ある。したがって、この発明の課題は振動や光軸ずれな
どに対処することができ、測定精度を向上させることが
可能な透過率測定装置を提供することにある。
装置では車両通過時の振動や据え付け不具合による光軸
ずれにより測定精度が低下することがあるが、このよう
な問題に対する手当ては殆どなされていないのが現状で
ある。したがって、この発明の課題は振動や光軸ずれな
どに対処することができ、測定精度を向上させることが
可能な透過率測定装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、この発明では、一定の距離をおいて投光ユニットと
受光ユニットとを対向配置し、投光ユニットには明部お
よび暗部からなる光パターンを投光する光学系を設け、
受光ユニットには投光ユニットからの光パターンを受光
する受光素子とその受光信号を処理する処理手段とを設
け、この処理手段によりその光パターンを走査するとと
もにその輝度値を一定の周期にてサンプリングし、走査
された光パターンの明部と暗部との輝度差をその基準値
と比較して一定距離間の浮遊粒子による透過率を測定す
る透過率測定装置において、前記撮影された光パターン
の明部からその基準点を求めてこの基準点の走査領域の
ほぼ中心点からの変動量が大きい時は前記サンプリング
周期を長くして透過率の測定を行なう一方、前記基準点
の走査領域のほぼ中心点からの変動量が大きくない時は
その基準点の輝度を求めてそれが所定値以下かどうかを
判断し、所定値よりも大きい時は追尾枠を求めて透過率
の測定を行ない、基準点の輝度が所定値以下のときは予
め定められた固定の追尾枠を用いて透過率の測定を行な
うことを特徴としている。また、光パターンのサイズお
よび測定点の輝度が基準となる校正原器のそれと同じに
なる模擬短距離パターンを用いて、透過率測定装置の校
正を可能にしたことを特徴としている。
め、この発明では、一定の距離をおいて投光ユニットと
受光ユニットとを対向配置し、投光ユニットには明部お
よび暗部からなる光パターンを投光する光学系を設け、
受光ユニットには投光ユニットからの光パターンを受光
する受光素子とその受光信号を処理する処理手段とを設
け、この処理手段によりその光パターンを走査するとと
もにその輝度値を一定の周期にてサンプリングし、走査
された光パターンの明部と暗部との輝度差をその基準値
と比較して一定距離間の浮遊粒子による透過率を測定す
る透過率測定装置において、前記撮影された光パターン
の明部からその基準点を求めてこの基準点の走査領域の
ほぼ中心点からの変動量が大きい時は前記サンプリング
周期を長くして透過率の測定を行なう一方、前記基準点
の走査領域のほぼ中心点からの変動量が大きくない時は
その基準点の輝度を求めてそれが所定値以下かどうかを
判断し、所定値よりも大きい時は追尾枠を求めて透過率
の測定を行ない、基準点の輝度が所定値以下のときは予
め定められた固定の追尾枠を用いて透過率の測定を行な
うことを特徴としている。また、光パターンのサイズお
よび測定点の輝度が基準となる校正原器のそれと同じに
なる模擬短距離パターンを用いて、透過率測定装置の校
正を可能にしたことを特徴としている。
【０００５】
【作用】明パターンの最大輝度点として示される明部基
準点から暗部データのサンプリング基準点を求め、これ
をもとに可変または固定の追尾枠を決定する一方、明部
基準点の位置変動量が所定値よりも大きい時はサンプリ
ング周期を変更することにより、振動や光軸ずれがあっ
たり視認度が極端に低い環境においても、精度良く透過
率を測定し得るようにする。また、かかる透過率測定装
置の校正を、模擬短距離パターンを用いることにより可
能とする。
準点から暗部データのサンプリング基準点を求め、これ
をもとに可変または固定の追尾枠を決定する一方、明部
基準点の位置変動量が所定値よりも大きい時はサンプリ
ング周期を変更することにより、振動や光軸ずれがあっ
たり視認度が極端に低い環境においても、精度良く透過
率を測定し得るようにする。また、かかる透過率測定装
置の校正を、模擬短距離パターンを用いることにより可
能とする。
【０００６】
【実施例】図１はこの発明の実施例を示すフローチャー
ト、図２〜図６は図１の処理を具体的に説明するための
説明図である。なお、このためには投光ユニットには明
部および暗部からなる光パターンを投光する光学系を少
なくとも設け、受光ユニットには投光ユニットからの光
パターンを受光する受光素子とその受光信号を処理する
処理手段とを少なくとも設け、この処理手段により図１
に示すような処理を行なうことが前提となるが、その構
成については図示を省略した。いま、例えばＣＣＤ（Ｃ
ｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）素子を受
光素子として持つ受光ユニットと、明部と暗部の光パタ
ーンを投光する光学系を備えた投光ユニットとを、例え
ば１００ｍの距離を隔てて空気清浄状態の雰囲気中に対
向配置する。このとき、投光部からの光パターンが、受
光部において例えば図２のように受光されたものとする
と、符号１は明パターン、２は暗パターン、３は有効領
域をそれぞれ示す。そこで、ステップＳ１ではその有効
領域３の走査を行なう。まず、有効領域３を垂直（Ｙ）
方向に走査し、その最大輝度値の例えば７／８の値とな
る輝度領域の立ち上がり点と立ち下がり点を求め、その
座標の中心をＹ方向の基準点とする。次に、この位置に
おける水平（Ｘ）方向の立ち上がり点と立ち下がり点を
求め、その座標の中心をＸ方向の基準点とし、これをパ
ターン追尾のための明部基準点５（Ｃ１）とする。
ト、図２〜図６は図１の処理を具体的に説明するための
説明図である。なお、このためには投光ユニットには明
部および暗部からなる光パターンを投光する光学系を少
なくとも設け、受光ユニットには投光ユニットからの光
パターンを受光する受光素子とその受光信号を処理する
処理手段とを少なくとも設け、この処理手段により図１
に示すような処理を行なうことが前提となるが、その構
成については図示を省略した。いま、例えばＣＣＤ（Ｃ
ｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）素子を受
光素子として持つ受光ユニットと、明部と暗部の光パタ
ーンを投光する光学系を備えた投光ユニットとを、例え
ば１００ｍの距離を隔てて空気清浄状態の雰囲気中に対
向配置する。このとき、投光部からの光パターンが、受
光部において例えば図２のように受光されたものとする
と、符号１は明パターン、２は暗パターン、３は有効領
域をそれぞれ示す。そこで、ステップＳ１ではその有効
領域３の走査を行なう。まず、有効領域３を垂直（Ｙ）
方向に走査し、その最大輝度値の例えば７／８の値とな
る輝度領域の立ち上がり点と立ち下がり点を求め、その
座標の中心をＹ方向の基準点とする。次に、この位置に
おける水平（Ｘ）方向の立ち上がり点と立ち下がり点を
求め、その座標の中心をＸ方向の基準点とし、これをパ
ターン追尾のための明部基準点５（Ｃ１）とする。
【０００７】その様子を図３に示す。符号４は輝度のサ
ンプリング点を示し、ＴＨは最大輝度値の例えば７／８
の値となる輝度値を示し、Ｌ１は最大輝度値の例えば７
／８の値となるＹ軸上の走査位置をそれぞれ示してい
る。次に、ステップＳ２でＣ１点の変動が大かどうかを
判断する。つまり、正常な状態ではＣ１点は有効領域３
のほぼ中心にあると考えられるので、この中心からの変
動量が大きいかどうかを判断するわけである。その結
果、変動が大きい時はそれが瞬時的なものかどうかを調
べるため、ここではステップＳ３でサンプリング周期を
通常の例えば１０倍程度に遅く（長く）して走査データ
をサンプリングする。そして、明部基準点Ｃ１を求める
とともに、このＣ１点から所定の距離（所定画素数）に
ある点を暗部パターンの基準点Ｃ２として求める。暗部
基準点６（Ｃ２）の求め方を図４に示す。ここでは、Ｃ
１点から一定画素数（例えば、２０〜３０画素に選ばれ
る）の位置にある点を暗部基準点Ｃ２として求めるよう
にしている。
ンプリング点を示し、ＴＨは最大輝度値の例えば７／８
の値となる輝度値を示し、Ｌ１は最大輝度値の例えば７
／８の値となるＹ軸上の走査位置をそれぞれ示してい
る。次に、ステップＳ２でＣ１点の変動が大かどうかを
判断する。つまり、正常な状態ではＣ１点は有効領域３
のほぼ中心にあると考えられるので、この中心からの変
動量が大きいかどうかを判断するわけである。その結
果、変動が大きい時はそれが瞬時的なものかどうかを調
べるため、ここではステップＳ３でサンプリング周期を
通常の例えば１０倍程度に遅く（長く）して走査データ
をサンプリングする。そして、明部基準点Ｃ１を求める
とともに、このＣ１点から所定の距離（所定画素数）に
ある点を暗部パターンの基準点Ｃ２として求める。暗部
基準点６（Ｃ２）の求め方を図４に示す。ここでは、Ｃ
１点から一定画素数（例えば、２０〜３０画素に選ばれ
る）の位置にある点を暗部基準点Ｃ２として求めるよう
にしている。
【０００８】一方、ステップＳ２における変動が大きく
ないときはステップＳ４へ進み、ここでＣ１点の輝度が
一定値よりも大きいかどうかを判断する。一定値以上よ
りも大きいときは正常であるとして追尾枠を図５の如
く、Ｃ１点の移動量分だけ移動させる。図５の符号７で
追尾枠（変動または可変追尾枠）を示す。なお、この枠
の大きさとしては、例えば有効画面領域の１／３〜１／
４とする。ステップＳ４でＣ１点の輝度が一定値以下の
時、例えば有効スパン値（明部の最大輝度値と暗部の輝
度値との差）の１０％程度になったらステップＳ６へ進
み、ここで固定の追尾枠、つまり図６の如く有効領域の
ほぼ中心を基準にして予め設定されている固定追尾枠７
Ａを使用する。このような処理は、測定空間内に車のラ
イトがあったり、トンネル内で電灯の影響を受けたりし
て可変の追尾枠を定めることができない場合に行なわれ
る。次に、ステップ７１，７２，７３で視認度ＶＩを演
算する。ここでは、空気清浄空間の１００ｍにおける明
部の最大輝度値Ｂ０と暗部のＣ２点の輝度値Ｄ０との差
を求め、これを１００％とする。そして、粉塵や煤煙の
ある実際の雰囲気中で測定した最大輝度値Ｂ１と暗部の
Ｃ２点の輝度値Ｄ１との差を求め、その比から視認度
（透過率）ＶＩを演算する。その演算式は次式で示され
る。 ＶＩ＝｛（Ｂ１−Ｄ１）／（Ｂ０−Ｄ０）｝×１００（％） ステップ８１，８２，８３では演算が終了下かどうかを
判断し、まだであればステップ７１，７２，７３に戻
り、終了していればステップＳ２へ戻って以上のような
処理を繰り返し行なう。
ないときはステップＳ４へ進み、ここでＣ１点の輝度が
一定値よりも大きいかどうかを判断する。一定値以上よ
りも大きいときは正常であるとして追尾枠を図５の如
く、Ｃ１点の移動量分だけ移動させる。図５の符号７で
追尾枠（変動または可変追尾枠）を示す。なお、この枠
の大きさとしては、例えば有効画面領域の１／３〜１／
４とする。ステップＳ４でＣ１点の輝度が一定値以下の
時、例えば有効スパン値（明部の最大輝度値と暗部の輝
度値との差）の１０％程度になったらステップＳ６へ進
み、ここで固定の追尾枠、つまり図６の如く有効領域の
ほぼ中心を基準にして予め設定されている固定追尾枠７
Ａを使用する。このような処理は、測定空間内に車のラ
イトがあったり、トンネル内で電灯の影響を受けたりし
て可変の追尾枠を定めることができない場合に行なわれ
る。次に、ステップ７１，７２，７３で視認度ＶＩを演
算する。ここでは、空気清浄空間の１００ｍにおける明
部の最大輝度値Ｂ０と暗部のＣ２点の輝度値Ｄ０との差
を求め、これを１００％とする。そして、粉塵や煤煙の
ある実際の雰囲気中で測定した最大輝度値Ｂ１と暗部の
Ｃ２点の輝度値Ｄ１との差を求め、その比から視認度
（透過率）ＶＩを演算する。その演算式は次式で示され
る。 ＶＩ＝｛（Ｂ１−Ｄ１）／（Ｂ０−Ｄ０）｝×１００（％） ステップ８１，８２，８３では演算が終了下かどうかを
判断し、まだであればステップ７１，７２，７３に戻
り、終了していればステップＳ２へ戻って以上のような
処理を繰り返し行なう。
【０００９】次に、上記の如き透過率測定装置を校正す
る方法について説明する。すなわち、上記のような測定
装置では投光ユニットと受光ユニットとは１００ｍも離
れた状態で測定を行なうようにしているため、その校正
も必ずしも容易ではない。そこで、例えば投光ユニット
と受光ユニットとの距離を５ｍとしたときに、１００ｍ
用の校正原器に対し同じ投光パターンおよび輝度が得ら
れるような短距離用の校正原器を用意しておけば、投光
ユニットと受光ユニットを５ｍ離してそのときの明部と
暗部の輝度差を測定することにより、容易に受光ユニッ
トを校正することが可能となる。
る方法について説明する。すなわち、上記のような測定
装置では投光ユニットと受光ユニットとは１００ｍも離
れた状態で測定を行なうようにしているため、その校正
も必ずしも容易ではない。そこで、例えば投光ユニット
と受光ユニットとの距離を５ｍとしたときに、１００ｍ
用の校正原器に対し同じ投光パターンおよび輝度が得ら
れるような短距離用の校正原器を用意しておけば、投光
ユニットと受光ユニットを５ｍ離してそのときの明部と
暗部の輝度差を測定することにより、容易に受光ユニッ
トを校正することが可能となる。
【００１０】具体的には、投光ユニットとしては例えば
明部パターンと暗部パターンを作る図７のようなスリッ
ト板８（８Ａ，８Ｂは明部スリット、８Ｃは暗部スリッ
トを示す）の背後にランプを配置し、さらにこのスリッ
ト板の一部にホトダイオードを設け、このホトダイオー
ドの出力をフィードバック信号として利用することによ
り、明部パターンの光量が一定となるようにする。この
とき、図７のようなスリット板の代わりに、図２のよう
な受光パターンが得られるスリットを用いるようにして
も良いことは勿論である。さらに、１００ｍ用の校正原
器と同じ投光パターンおよび輝度が得られるよう、スリ
ット板の大きさやランプ光量を選ぶことにより、５ｍ用
の校正原器を得ることができる。なお、これを用いるこ
とにより受光ユニットの校正を行なうが、これと同じよ
うにして投光ユニット用の校正原器を得ることもでき
る。
明部パターンと暗部パターンを作る図７のようなスリッ
ト板８（８Ａ，８Ｂは明部スリット、８Ｃは暗部スリッ
トを示す）の背後にランプを配置し、さらにこのスリッ
ト板の一部にホトダイオードを設け、このホトダイオー
ドの出力をフィードバック信号として利用することによ
り、明部パターンの光量が一定となるようにする。この
とき、図７のようなスリット板の代わりに、図２のよう
な受光パターンが得られるスリットを用いるようにして
も良いことは勿論である。さらに、１００ｍ用の校正原
器と同じ投光パターンおよび輝度が得られるよう、スリ
ット板の大きさやランプ光量を選ぶことにより、５ｍ用
の校正原器を得ることができる。なお、これを用いるこ
とにより受光ユニットの校正を行なうが、これと同じよ
うにして投光ユニット用の校正原器を得ることもでき
る。
【００１１】
【発明の効果】この発明によれば、明パターンの最大輝
度点として示される明部基準点から暗部データのサンプ
リング基準点を求め、これをもとに可変または固定の追
尾枠を決定する一方、明部基準点の位置変動量が所定値
よりも大きい時はサンプリング周期を変更するようにし
たので、振動や光軸ずれがあったり視認度が極端に低い
環境においても、精度良く透過率を測定し得る利点が得
られる。また、模擬短距離パターンを用いて測定装置の
校正ができるので、より一層精度を高めることが可能と
なる。
度点として示される明部基準点から暗部データのサンプ
リング基準点を求め、これをもとに可変または固定の追
尾枠を決定する一方、明部基準点の位置変動量が所定値
よりも大きい時はサンプリング周期を変更するようにし
たので、振動や光軸ずれがあったり視認度が極端に低い
環境においても、精度良く透過率を測定し得る利点が得
られる。また、模擬短距離パターンを用いて測定装置の
校正ができるので、より一層精度を高めることが可能と
なる。
【図１】この発明の実施例を示すフローチャートであ
る。
る。
【図２】有効領域を説明するための説明図である。
【図３】明部基準点の決定方法を説明するための説明図
である。
である。
【図４】暗部基準点を説明するための説明図である。
【図５】変動追尾枠を説明するための説明図である。
【図６】固定追尾枠を説明するための説明図である。
【図７】投光ユニットのスリット板を示す構成図であ
る。
る。
１…明部、２…暗部、３…有効領域、４…サンプリング
点、５…明部基準点、６…暗部基準点、７…変動追尾
枠、７Ａ…固定追尾枠、８…スリット板、８Ａ，８Ｂ…
明部スリット、８Ｃ…暗部スリット。
点、５…明部基準点、６…暗部基準点、７…変動追尾
枠、７Ａ…固定追尾枠、８…スリット板、８Ａ，８Ｂ…
明部スリット、８Ｃ…暗部スリット。
Claims (2)
- 【請求項１】 一定の距離をおいて投光ユニットと受光
ユニットとを対向配置し、投光ユニットには明部および
暗部からなる光パターンを投光する光学系を設け、受光
ユニットには投光ユニットからの光パターンを受光する
受光素子とその受光信号を処理する処理手段とを設け、
この処理手段によりその光パターンを走査するとともに
その輝度値を一定の周期にてサンプリングし、走査され
た光パターンの明部と暗部との輝度差をその基準値と比
較して一定距離間の浮遊粒子による透過率を測定する透
過率測定装置において、 前記撮影された光パターンの明部からその基準点を求め
てこの基準点の走査領域のほぼ中心点からの変動量が大
きい時は前記サンプリング周期を長くして透過率の測定
を行なう一方、前記基準点の走査領域のほぼ中心点から
の変動量が大きくない時はその基準点の輝度を求めてそ
れが所定値以下かどうかを判断し、所定値よりも大きい
時は追尾枠を求めて透過率の測定を行ない、基準点の輝
度が所定値以下のときは予め定められた固定の追尾枠を
用いて透過率の測定を行なうことを特徴とする透過率測
定装置。 - 【請求項２】 光パターンのサイズおよび測定点の輝度
が基準となる校正原器のそれと同じになる模擬短距離パ
ターンを用いて、前記請求項１に記載の透過率測定装置
の校正を行なうことを特徴とする透過率測定装置の校正
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31945791A JP2949979B2 (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | 透過率測定装置とその校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31945791A JP2949979B2 (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | 透過率測定装置とその校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05157692A JPH05157692A (ja) | 1993-06-25 |
| JP2949979B2 true JP2949979B2 (ja) | 1999-09-20 |
Family
ID=18110417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31945791A Expired - Lifetime JP2949979B2 (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | 透過率測定装置とその校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2949979B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6183682B2 (ja) * | 2013-02-06 | 2017-08-23 | 株式会社リコー | 付着量算出装置、移動体機器制御システム及び付着量算出用プログラム |
-
1991
- 1991-12-04 JP JP31945791A patent/JP2949979B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05157692A (ja) | 1993-06-25 |
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Legal Events
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