JP2757952B2 - 光学式沈下測定システム - Google Patents

光学式沈下測定システム

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藤樹 下山
和男 須田
敏 木下
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Sakata Denki Co Ltd
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Kajima Corp
Sakata Denki Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、構造物の沈下を測定す
る光学式沈下測定システムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】構造物の沈下測定に、直径9〜12mm
の光束のレーザ光を、発光器を中心にして400rpm
程度で回転させて水平なレーザ光面を造り、このレーザ
光面を基準に測点の高さを測定する方法がある。すなわ
ち図3に示すように回転可能なレーザ発光器Lからのレ
ーザ光3は矢印Aの方向に回転し、受光器R1はそのレ
ーザ光3を受光高さH1の所で受光し、別の受光器R2
はレーザ光3を受光高さH2の所で受光するようになっ
ている。この測定法のレーザ受光器には2つのタイプが
あって、ひとつは等間隔に区切ったイメージセンサの照
射位置と間隔からレーザ光通過高さを算定するタイプで
あり、他のひとつは受光器の上部と下部にイメージセン
サを置いて両方の受光量が等量になるように受光器を上
下移動させ、その時の高さを別の変位計で測定するタイ
プである。
【0003】前者は、イメージセンサの区切りが細かい
ほど高精度となるが、細かく区切るには高度の技術と費
用を要し、また、後者は受光器の上下移動制御に高精度
のものが必要で高価となるなどから、両タイプとも市販
品の精度が±1mm程度となっている。当然であるが、
後者は、レーザ光が揺らぐような環境での測定は困難で
ある。
【0004】両タイプの測定可能な距離は、レーザ光の
距離による減衰、遠距離ほどレーザ光の通過速度が高速
となること、さらに、現在のイメージセンサの性能とコ
ストなどから、±1mmの精度とするには30m程度が
限度となっている。また、この測定法では、通過部分の
気流の乱れや温湿度差によるレーザ光の曲りや揺らぎを
抑えるために目に見えない赤外線レーザ光を使っている
が、このために市販測定器による測定では、測定と同じ
操作を繰返しながら受光器を移動させてレーザ光通過位
置を探す。という面倒な作業を事前に行う必要がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、回転
型赤外線レーザ発光器と受光器を用いた沈下測定におい
て、全長は短いが区切りが細かいイメージセンサを使っ
た受光器の測定範囲を広げ、また、測定距離を広げ、さ
らに、レーザ光受光を即座に目視確認できるようにし
た、高精度で信頼性が高く、かつ、経済的な沈下測定シ
ステムを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の光学式沈下測定
システムによれば、回転型赤外線レーザ発光器と組合せ
て使用する受光器について、イメージセンサが焦点距離
の二倍以内で、かつ焦点距離を外した位置に来るように
シリンドリカルレンズをイメージセンサの前面に取付
け、また、レーザ光がイメージセンサを通過する前側に
数個のフォトダイオードアレを受光高さに応じて選択的
にレーザ光を受光するように取付けてイメージセンサと
同期させ、そして別位置に取付けた同数個のLEDに接
続してレーザ光受光を表示させるようになっている。
【0007】
【作用】本発明によれば、照射したレーザ光は焦点軸側
に寄せられるので受光器のイメージセンサを設置する範
囲が短くなるとともに受光器がコンパクトになり、ま
た、レーザ光の直径が凝縮されて単位面積当りの光量が
増大するのでイメージセンサの応答性が良くなり、測定
精度と測定距離が向上する。さらに、フォトダイオード
アレがレーザ光を受光すると、イメージセンサのデータ
を取り出すとともにイメージセンサを零に復帰させる信
号を出すので、イメージセンサは外乱光の受光が少ない
状態でレーザ光を受光でき、したがってレーザ光受光を
明確に捕らえることができる。このため、レーザ光通過
毎に信頼性の高いデータの取込みができ、また、短時間
に多数のデータ取込みが可能となって統計処理を行うこ
とができ、測定精度とデータの信頼性が向上する。ま
た、どの高さ位置をレーザ光が通過したかがLED群の
表示で分かるために受光器の設置が正確で早く、測定作
業を短縮できる。
【0008】
【実施例】以下、図面に沿って本発明の実施例を説明す
る。
【0009】図1は、本発明によって製作され測定に使
用される受光器の受光部分の一例を示したものである。
シリンドリカルレンズ1を置き、その後方でシリンドリ
カルレンズ1の焦点距離の1/2の位置(L1 =L2
に、50μm間隔で区切った512個の受光長さ25.
6mm(0.05mm×512)のイメージセンサ2を
置く。これにより受光器に入射する直径9〜12mmの
レーザ3はシリンドリカルレンズ1によって焦点軸側に
屈折し、焦点軸(Oはレンズ焦点)との距離はイメージ
センサ2の位置で1/2になるので、イメージセンサ2
による測定範囲は二倍に広がる。また、レーザ光3はシ
リンドリカルレンズ1によって凝縮されて直径4.5〜
6.0mmとなるため、レーザ光3が距離減衰して入射
してもイメージセンサ2の位置での単位面積当りの光量
は二倍になり、イメージセンサ2の応答性が良くなる。
したがって、測定精度は良くなり、これまで以上の遠距
離測定が可能となる。なお、図示の例ではイメージセン
サ2がシリンドリカルレンズ1と焦点Oとの間に設けら
れているが、図面で焦点Oの右側にイメージセンサ2を
設置しても焦点Oから焦点距離L1やL2の範囲内であ
れば逆転した像が得られるので、問題は生じない。した
がって、本発明ではイメージセンサ2の位置は焦点Oを
除いてシリンドリカルレンズ1の焦点の2倍以内に定め
られている。
【0010】次に、図2は受光器にフォトダイオードア
レ5を設置した一例を示したものである。イメージセン
サ2の前側(レーザ光3が水平に横切る前側)に取付け
たフォトダイオードアレ5は、レーザ光3を受光すると
イメージセンサ2のデータを取出すとともにイメージセ
ンサ2を零に復帰させる信号Rを出す。これによってイ
メージセンサ2は外乱光の受光が少ない状態でレーザ光
3を受光でき、S/N比が大巾に向上するのでレーザ光
3は外乱光と明確に区分けできる。このため、レーザ光
の通過毎にイメージセンサ2のデータの取込みが可能と
なり、多数のデータを短時間に取り込めることができる
ので、レーザ光通過経路の環境条件から生じるレーザ光
のゆらぎに対しても統計処理が可能となり、測定精度と
データの信頼性を向上することができる。
【0011】また、フォトダイオードアレ5は同数個の
LED6に接続し、レーザ光3を受光したフォトダイオ
ードアレ5は即座に接続するLED6に信号を送って点
滅させる。このようにフォトダイオードアレ5と同数個
のLED6を設けることによって、レーザ光がイメージ
センサ2のどの位置に位置したかが1対1に対応して解
り、これをLED6の点滅を目視できるので、レーザ光
通過位置がすぐに確認でき、その結果、受光器の設置作
業を正確にかつ迅速に行うことができる。
【0012】
【発明の効果】本発明による効果は以下の通りである。
【0013】(イ) イメージセンサの設置範囲が短
く、装置がコンパクトになる。
【0014】(ロ) 従来の測定器より測定距離が長く
なる。
【0015】(ハ) フォトダイオードアレを設置して
イメージセンサと同期させているため、外乱光とレーザ
光とのS/N比を改善されとともに統計処理ができ、測
定精度とデータの信頼性が向上する。
【0016】(ニ) どの高さ位置をレーザ光が通過し
たかがLED群の表示で分かるために受光器の設置が正
確で早く、測定作業が短縮できる。
【0017】(ホ) 性能が向上するため経済的とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にしたがい製作され測定に使用される受
光器の受光部分の一例を示す説明図。
【図2】受光器にフォトダイオードアレを設置した一例
を示すブロック図。
【図3】レーザ光による測点の高さを測定する所を示す
説明図。
【符号の説明】
1・・・シリンドリカルレンズ 2・・・測定用イメージセンサ 3・・・レーザ光 4・・・クロック 5・・・フォトダイオードアレ 6・・・LED 7・・・判定回路 8・・・タイミング回路 9・・・読み出し回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木下 敏 埼玉県飯能市栄町1−8 (56)参考文献 特開 昭57−172210(JP,A) 特開 昭63−180811(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01C 5/00 G01B 11/00

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転型赤外線レーザ発光器と組合せて使
    用する受光器について、イメージセンサが焦点距離の二
    倍以内で、かつ焦点距離を外した位置に来るようにシリ
    ンドリカルレンズをイメージセンサの前面に取付け、ま
    た、レーザ光がイメージセンサを通過する前側に数個の
    フォトダイオードアレを受光高さに応じて選択的にレー
    ザ光を受光するように取付けてイメージセンサと同期さ
    せ、そして別位置に取付けた同数個のLEDに接続して
    レーザ光受光を表示させるようにすることを特徴とする
    光学式沈下測定システム。
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