JP2927449B2

JP2927449B2 - 射出成形機における成形品良否判別方法及び装置

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Publication number: JP2927449B2
Application number: JP1130064A
Authority: JP
Inventors: 賢男上口; 哲明根子
Original assignee: FUANATSUKU KK
Current assignee: FUANATSUKU KK
Priority date: 1988-06-23
Filing date: 1989-05-25
Publication date: 1999-07-28
Anticipated expiration: 2014-07-28
Also published as: JPH0278516A

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は、射出成形機における成形品良否判別方法及
び装置に関する。

従来の技術射出成形作業中に成形品の良否を判別する方法とし
て、スクリュー位置を検出して行うものと射出圧力を検
出して行うものとがあることは既に公知である。

従来、スクリュー位置を検出して成形品の良否を判別
する場合においては、射出の最終段階である保圧終了時
のスクリュー位置（クッション量）もしくはスクリュー
最前進位置（最小クッション量）を検出しており、ま
た、射出圧力を検出して成形品の良否を判別する場合に
おいては、主に射出工程のピーク射出圧力を検出してお
り、いずれの場合においても、スクリュー位置や射出圧
力を検出するための検出タイミングは固定的なものであ
った。

発明が解決しようとする課題ところが、射出成形作業においては、必ずしも保圧終
了時のスクリュー位置，スクリュー最前進位置やピーク
射出圧力が成形品の良否を決定するとは限らず、成形品
の形状及び成形作業に用いられる樹脂の種類等により、
上記とは異なったタイミングにおけるスクリュー位置や
射出圧力の値が成形品の良否に多大な影響を与える場合
がある。

また、実際の射出成形作業のプロセスでは、射出開始
後の経過時間，スクリュー位置，射出圧力等が複雑に関
連して成形品の良否に影響を与えるので、スクリュー位
置や射出圧力にのみ基いて単純に成形品の良否を判別す
ることは難しく、成形品の良否を的確に判別するために
は、成形品の形状や樹脂の種類等に応じ、射出開始後の
経過時間，スクリュー位置，射出圧力等の内どのような
要素が成形品の良否に多大な影響を与えるか又、成形品
の良否の判別が容易かを考慮することが望ましい。

本発明の目的は、この様な状況に鑑み、より的確に成
形品の良否を判別できる射出成形機における成形品良否
判別方法及び装置を提供することにある。

課題を解決するための手段第１図は本発明の方法における検出タイミングと該検
出タイミングにおいて検出される値及び上記検出タイミ
ングに対応して設定される比較値との対応関係を示す概
念図であり、本発明の基本的概念においては、射出開始
後の経過時間，スクリュー位置，射出圧力の３要素の
内、いずれか１つの要素を基準として検出タイミングを
設定すると共に、該検出タイミングにおいて、これとは
異なる別の要素の現在値を検出し、該検出された値と上
記検出タイミングに対応して成形品良否判別のために予
め設定された比較値との差に応じて自動的に成形品の良
否を判別することにより、的確に成形品の良否を判別す
るようにした。

射出開始後の経過時間を検出タイミングとして設定す
る場合には、残る２つの要素、即ち、スクリュー位置も
しくは射出圧力の内いずれかの現在値を検出し、該検出
値と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形
品の良否を判別することができる。射出開始後の経過時
間を検出タイミングとし、スクリュー位置に基いて成形
品の良否を判別する場合には、射出開始から計時を開始
するタイマーを設け、上記タイマーが成形品良否判別の
ために設定された時間を計時した時点におけるスクリュ
ー位置をスクリュー位置検出手段によって検出し、検出
したスクリュー位置の値と成形品良否判別のために設定
された比較値であるスクリュー位置との差によって許容
値内か否かを判別手段で判断して、自動的に成形品の良
否を判別する。また、射出圧力に基いて成形品の良否を
判別する場合には、上記タイマーが成形品良否判別のた
めに設定された時間を計時した時点における射出圧力を
射出圧力検出手段によって検出し、検出した射出圧力の
値と成形品良否判別のために設定された比較値である射
出圧力との差によって自動的に成形品の良否を判別す
る。

また、スクリュー位置を検出タイミングとして設定す
る場合には、残る要素、即ち、射出圧力もしくは射出開
始後の経過時間の内いずれかの現在値を検出し、該検出
値と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形
品の良否を判別することができる。スクリュー位置を検
出タイミングとし、射出圧力に基いて成形品の良否を判
別する場合には、スクリュー位置検出手段が成形品良否
判別のために設定されたスクリュー位置を検出した時点
における射出圧力を射出圧力検出手段によって検出し、
検出した射出圧力の値と成形品良否判別のために設定さ
れた比較値である射出圧力との差によって自動的に成形
品の良否を判別する。また、射出開始後の経過時間に基
いて成形品の良否を判別する場合には、スクリュー位置
検出手段が成形品良否判別のために設定されたスクリュ
ー位置を検出した時点における上記タイマーの経過時間
を検出し、検出した経過時間の値と成形品良否判別のた
めに設定された比較値である経過時間との差によって自
動的に成形品の良否を判別する。

また、射出圧力を検出タイミングとして設定する場合
には、残る要素、即ち、射出開始後の経過時間もしくは
スクリュー位置の内いずれかの現在値を検出し、該検出
値と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形
品の良否を判別することができる。射出圧力を検出タイ
ミングとし、射出開始後の経過時間に基いて成形品の良
否を判別する場合には、射出圧力検出手段が成形品良否
判別のために設定された射出圧力を検出した時点におけ
る上記タイマーの経過時間を検出し、検出した経過時間
の値と成形品良否判別のために設定された比較値である
経過時間との差によって自動的に成形品の良否を判別す
る。また、スクリュー位置に基いて成形品の良否を判別
する場合には、射出圧力検出手段が成形品良否判別のた
めに設定された射出圧力を検出した時点におけるスクリ
ュー位置をスクリュー位置検出手段によって検出し、検
出したスクリュー位置の値と成形品良否判別のために設
定された比較値であるスクリュー位置との差によって自
動的に成形品の良否を判別する。

また、上記各成形品良否判別方法において複数の検出
タイミングを設定し、各検出タイミング毎に良否判別を
行い、夫々の判別結果を総合して成形品の良否を判別す
るようにすれば、より的確に成形品の良否を判別するこ
とができる。

更に、上記各成形品良否判別方法の内少なくとも２つ
の方法を併用して良否判別を実施し、夫々の方法による
判別結果を総合して成形品の良否を判別するようにすれ
ば、より的確な良否判別が実現される。

また、射出成形機の制御装置内に上記各成形品良否判
別方法の内少なくとも２つ以上の成形品良否判別方法を
記憶させておき、成形品良否判別方法を選択する手段で
１つの成形品良否判別方法を選択して成形品の良否を判
別するようにすれば、成形品の形状や樹脂の種類等に応
じ、より的確に成形品の良否を判別することができる。

作用タイマーは射出開始後の経過時間を計時し、スクリュ
ー位置検出手段及び圧力検出手段は、夫々、スクリュー
位置及び射出圧力の現在値を検出する。

射出開始後の経過時間，スクリュー位置，射出圧力の
３要素の内いずれか１つの要素を基準として設定された
検出タイミングが上記タイマーもしくは上記各検出手段
によって検出された時点で、これとは異なる別の要素の
現在値が検出され、該検出された値と成形品良否判別の
ために設定された比較値との差に応じて、成形品の良否
が自動的に判別される。

また、複数の検出タイミングを設定した場合、及び、
少なくとも２つの方法を併用して良否判別を実施する場
合には、各射出工程毎に、夫々の検出タイミング、及
び、夫々の方法における判別結果を総合して成形品の良
否が自動的に判別される。

更に、射出成形機の制御装置内に少なくとも２つ以上
の成形品良否判別方法を記憶させておくことにより、成
形品の形状や樹脂の種類等に応じて、最も適当な成形品
良否判別方法を選択することができる。

実施例以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。

第２図は本発明の各方法を実施する一実施例の電動式
射出成形機及び該射出成形機の制御系要部を示すブロッ
ク図で、符号１はスクリュー、符号２はスクリュー１を
軸方向に駆動する射出用のサーボモータであり、該サー
ボモータ２にはスクリュー位置検出手段としてのパルス
コーダ３が装着されている。上記スクリュー１にはスク
リュー軸方向に作用する樹脂の反力を検出する圧力セン
サ４が設けられ、また、金型６のキャビティ内には該金
型６内の樹脂圧を検出する圧力センサ７が設けられてい
る。

符号100は、射出成形機を制御する制御装置としての
数値制御装置（以下、NC装置という）で、該NC装置100
はNC用のマイクロプロセッサ（以下、CPUという）108と
プログラマブルマシンコントローラ（以下、PMCとい
う）用のCPU110を有しており、PMC用CPU110には射出成
形機のシーケンス動作を制御するシーケンスプログラム
や成形品良否判別に関わる各種処理のプログラム等を記
憶したROM113とデータの一時記憶に用いられるRAM106が
接続されている。

NC用CPU108には射出成形機を全体的に制御する管理プ
ログラムを記憶したROM111及び射出用，クランプ用，ス
クリュー回転用，エジェクタ用等の各軸のサーボモータ
を駆動制御するサーボ回路101がサーボインターフェイ
ス107を介して接続されている。なお、第２図では射出
用のサーボモータ２、該サーボモータ２のサーボ回路10
1のみ図示している。また、103はバルブメモリやCMOSメ
モリで構成される不揮発性の共有RAMで、射出成形機の
各動作を制御するNCプログラム等を記憶するメモリ部と
各種設定値，パラメータ，マクロ変数を記憶する設定メ
モリ部とを有し、該設定メモリ部には、さらに、各種検
出タイミング及び成形品良否判別のための比較値や成形
品良否判別に関連する各種許容値が設定記憶されてい
る。

109はバスアービタコントローラ（以下、BACという）
で、該BAC109にはNC用CPU108及びPMC用CPU110,共用RAM1
03,入力回路104,出力回路105の各バスが接続され、該BA
C109によって、使用するバスが選択的に制御されるよう
になっている。また、114はオペレータパネルコントロ
ーラ（以下、OPCという）112を介してBAC109に接続され
たCRT表示装置付手動データ入力装置（以下、CRT/MDIと
いう）であり、ソフトキーやテンキー等の各種操作キー
を操作することにより様々な指令及び設定データの入力
ができるようになっている。なお、102はNC用CPU108に
バス接続されたRAMでデータの一時記憶等に利用される
ものである。

第２図では、射出成形機の射出軸に関するもの、即ち
スクリュー１を駆動して射出させるための射出用サーボ
モータ２、射出用サーボモータ２に取付けられ、該サー
ボモータの回転を検出してスクリュー位置を検出するパ
ルスコーダ３を示しており、他の型締軸，スクリュー回
転軸，エジェクタ軸等は省略している。そのため、NC装
置100内のサーボ回路101も射出用サーボモータ用のもの
だけを示し、他の軸のサーボ回路は省略している。そし
て、該サーボ回路101は、射出用サーボモータ２に接続
され、又、パルスコーダ３からの出力はサーボ回路101
に入力されている。又、出力回路105からサーボ回路101
には、射出用サーボモータ２の出力トルクを制限するた
めのトルクリミット値が出力されるようになっている。
なお、サーボ回路101に入力されるパルスコーダ３の出
力は、所定周期毎、例えばパルス分配周期毎に、サーボ
インタフェース107,BAC109を介して共有RAM103に更新記
憶され、常時、スクリュー１の現在位置Saが検出できる
ようになっている。なお、本実施例においては、シリン
ダ５先端でのスクリュー位置を原点とし、スクリュー後
退方向を正方向に規定している。

また、入力回路104には、A/D変換器115及びロータリ
ースイッチ８を介し、射出圧力検出手段となる圧力セン
サ４または圧力センサ７からの出力信号及び射出用サー
ボモータ２の駆動電源の内いずれか１つが選択的に入力
され、これらの値は、上記と同様に所定周期毎、例えば
パルス分配周期毎に射出圧力の現在値Paとして共有RAM1
03に更新記憶されるようになっている。

以上のような構成において、NC装置100は、共有RAM10
3に格納された射出成形機の各動作を制御するNCプログ
ラム及び上記設定メモリ部に記憶された各種成形条件等
のパラメータやROM113に格納されているシーケンスプロ
グラムにより、PMC用CPU110がシーケンス制御を行いな
がら、NC用CPU108が射出成形機の各軸のサーボ回路101
へサーボインターフェイス107を介してパルス分配し、
射出成形機を制御するものである。

以下、上記電動式射出成形機及び制御装置の構成に基
き、本発明における各方法の実施例を順次説明する。

まず、第１の実施例として、射出開始後の経過時間を
基準として検出タイミングを設定し、該検出タイミング
におけるスクリュー位置に基いて成形品の良否を判別す
る方法の実施例を説明する。

第１の実施例においては、成形品良否判別のための時
間（以下、単に検出タイミングという）Ts1及びスクリ
ュー理想位置（以下、単に比較値という）Ss1並びに許
容値Sw1を上記共有RAM103の設定メモリ部に予め設定記
憶させておく。これらの値はCT/MDI114,OPC112,BAC109
を介して共有RAM103の設定メモリ部に任意に入力設定さ
れるものであり、この際、過去の射出成形作業のデータ
に基き、スクリュー位置が成形品の良否に最も良く反映
する射出開始後の経過時間を検出タイミングＴs1とし
て、また、該経過時間における良品成形時のスクリュー
位置の平均的値（スクリュー理想位置）を比較値Ss1と
して、各々、共有RAM103に入力設定する。なお、第12図
は或る成形品における射出開始後の経過時間とスクリュ
ー位置との関係を示す線図で、一点鎖線でスクリュー理
想位置が示され、射出開始後の経過時間がＴS1となった
時点でのスクリュー位置が成形品の良否を最も良く反映
しており、該時点でのスクリュー理想位置を比較値Ss1
としている。

以下、本方法による成形品良否判別処理（以下、単に
処理１という）を示すフローチャート第３図と共に本実
施例の成形品良否判別動作について説明する。なお、こ
の処理はPMC用CPU110が所定の処理周期毎に実行するも
のである。

まず、PMC用CPU110は一処理周期における成形品良否
判別処理において、射出開始からの経過時間を監視する
タイマが作動中であることを示すフラグＦT1がセットさ
れているか否かを判別し（ステップS1）、該フラグＦT1
がセットされていなければステップS2に移行して、射出
保圧工程中か否かを判別する。なお、ステップS2におけ
る判別処理は、自動運転中であるか否か、及び、射出保
圧工程になると共有RAM103にセットされる射出保圧工程
フラグが既にセットされているか否かに基づいて行わ
れ、自動運転中に上記射出保圧工程フラグのセットが検
出された場合にのみ射出保圧工程中であると判別され
る。したがって、手動運転中である場合、もしくは、射
出保圧工程中でない場合には射出保圧工程記憶フラグＦ
Sに０をセットした後（ステップS3）、この処理周期に
おける成形品良否判別処理を終了する。なお、射出保圧
工程記憶フラグＦSは上記射出保圧工程フラグとは別個
にセット，リセットされるものであり、該成形品良否判
別処理における判別処理にのみ用いられる。

ステップS2において射出保圧工程中でないと判別され
た場合には、PMC用CPU110は以降の処理において一処理
周期毎にステップS1〜ステップS3の処理のみを繰返し実
行することとなる。

このようにしてステップS1〜ステップS3の処理を繰返
し実行する間にステップS2で射出保圧工程中と判別され
ると、PMC用CPU110は射出保圧工程記憶フラグFsがセッ
トされているか否かを判別するが（ステップS4）、この
段階においては該フラグFsはセットされていないので、
次にステップS5に移行してフラグＦT1をセットし、射出
開始からの経過時間を監視するタイマに共有RAM103に記
憶された検出タイミングＴS1をセットしてスタートさせ
る（ステップS6）。次に、タイマの設定時間が終了した
か否か、即ち、射出開始からの経過時間が検出タイミン
グＴS1に達したか否かを判別するが（ステップS7）、タ
イマスタート直後の現時点においてはタイマの設定時間
は終了していないので、ステップS7の判別処理を実行し
た後、この処理周期における成形品良否判別処理を終了
する。

次周期以降の成形品良否判別処理においては、射出開
始からの経過時間を監視するタイマが作動中であること
を示すフラグＦT1が既にセットされているので、PMC用C
PU110はステップS1からステップS7へ移行し、タイマが
タイムアップするまでステップS1,ステップS7の処理の
みを繰返し実行することとなる。

このようにして、ステップS1,ステップS7の処理を繰
返し実行する間に射出開始からの経過時間が検出タイミ
ングＴS1に達してタイマの設定時間が終了したことがス
テップS7で判別されると、PMC用CPU110は共有RAM103に
更新記憶されているスクリュー現在位置Saを読込み（第
12図参照，ステップS8）、予め共有RAM103に設定記憶さ
れた比較値ＳS1との間の位置偏差を求め、該位置偏差値
が位置偏差の設定許容値Sw1の範囲に含まれているか否
かを判別し（ステップS9）、位置偏差が所定許容値Sw1
の範囲内にあれば良品信号を出力し（ステップS10）、
また、設定許容値Sw1の範囲を超えていれば不良信号を
出力してCT/MDI114の表示画面上に不良品発生の警告メ
ッセージ等を表示する（ステップS11）。なお、第12図
に示される例では、射出開始からの経過時間が検出タイ
ミングＴS1に達した時点でのスクリュー現在位置Saと比
較値ＳS1との差が設定許容値Sw1の範囲を越えているの
で、該射出保圧工程の成形品は不良品と判別される。

このようにして、良品信号もしくは不良信号を出力し
た後、タイマ作動中を示すフラグＦT1をリセットする一
方、射出保圧工程記憶フラグＦSをセットし、成形品良
否の判別は終了しているが射出保圧工程は継続して行わ
れていることを記憶し（ステップS12）、この処理周期
における成形品良否判別処理を終了する。

タイマ作動中を示すフラグＦT1がリセットされると、
PMC用CPU110は次周期以降ではステップS1からステップS
2へ移行し、まだ射出保圧工程中であれば、ステップS4
に移行して射出保圧工程記憶フラグＦSがセットされて
いるか否かを判別し、射出保圧工程記憶フラグＦSがセ
ットされていれば当該成形サイクルの成形品良否の判別
は終了しているのでステップS5〜ステップS12による成
形品良否の判別を実行する必要はなく、この処理周期に
おける成形品良否判別処理を終了する。また、ステップ
S2で射出保圧工程が終了したと判別された場合、即ち、
共有RAM103の射出保圧工程フラグがリセットされて射出
保圧工程が終了した場合には射出保圧工程記憶フラグＦ
Sをリセットして（ステップS3）初期状態に復帰し、前
述と同様に一処理周期毎にステップS1〜ステップS3の処
理のみを繰返し実行することとなる。

以上に述べたように、本実施例においては、過去の射
出成形作業のデータに基き、スクリュー位置が成形品の
良否に最も良く反映する射出開始後の経過時間を検出タ
イミングＴS1として、また、該射出開始後の経過時間に
おける良品成形時のスクリュー位置の平均的値（スクリ
ュー理想位置）を比較値Ss1として、さらに、成形品良
否判別の基準となる位置偏差の許容値をSw1として、こ
れら設定値を共有RAM103に設定記憶させておき、射出成
形作業通においては、射出開始と同時に上記タイマに検
出タイミングＴS1を設定してスタートさせ（ステップS
6）、射出開始からの経過時間を監視し（ステップS1,ス
テップS7）、射出開始からの経過時間が検出タイミング
ＴS1に達してタイマが設定時間の経過を検出した時点で
のスクリュー現在位置Saと比較値Ss1との間の位置偏差
を検出し、該位置偏差の大小に応じて現成形サイクルに
おける成形品の良否を判別するようにしているので（ス
テップS9〜ステップS11）、スクリュー位置が成形品の
良否を最もよく反映するタイミングで的確に成形品の良
否を判別することができる。

また、本実施例によれば、スクリュー現在位置Saと比
較値Ss1との間の位置偏差の大小に応じて現成形サイク
ルにおける成形品の良否を判別する際に良否判別の基準
となる位置偏差の許容値Sw1を適宜設定変更することが
できるので、成形品に要求される精度等に応じて良否判
別の基準を適宜変更することもできる。

さらに、様々な成形品を単一の射出成形機を用いて成
形するような場合には、共有RAM103にテーブル状の記憶
手段を設け、それぞれの成形品においてスクリュー位置
が成形品の良否に最も良く反映するタイミングとスクリ
ュー理想位置及び位置偏差の許容値とを対応させて記憶
しておき、それぞれの成形品に応じたタイミングで本実
施例と同様の成形品良否判別処理を行わせるようにすれ
ばよい。

次に、第２の実施例として、射出開始後の経過時間を
基準として検出タイミングを設定し、該検出タイミング
における射出圧力（保圧圧力を含む）に基いて成形品の
良否を判別する方法の実施例を簡単に説明する。

第２の実施例においては、成形品良否判別のための時
間（以下、単に検出タイミングという）Tp1及び理想射
出圧力（以下、単に比較値という）Ps1並びに許容値Pw1
を上記共有RAM103の設定メモリ部に予め設定記憶させて
おく。この際、過去の射出成形作業のデータに基き、射
出圧力が成形品の良否に最も良く反映する射出開始後の
経過時間を検出タイミングTp1として、また、該経過時
間における良品成形時の射出圧力の平均的値（理想射出
圧力）を比較値Ps1として、各々、共有RAM103に入力設
定する。なお、第13図は、或る成形品における射出開始
後の経過時間と射出圧力との関係を示す図で、一点鎖線
で理想射出圧力が示され、射出開始後の経過時間がTp1
となった時点での射出圧力が成形品の良否を最も良く反
映しており、該時点での理想射出圧力を比較値Ps1とし
ている。

第４図は、本方法による成形品良否判別処理（以下、
単に処理２という）を示すフローチャートであり、この
処理はPMC用CPU110が所定の処理周期毎に実行するもの
である。

本実施例の成形品良否判別処理では、第３図に示す第
１の実施例と相違する点は、第３図におけるステップS
8,S9がステップS108,S109に変った点であり他は同一処
理である。即ち、射出開始と同時にタイマに検出タイミ
ングTp1をセットしてスタートさせ（ステップS106）、
射出開始からの経過時間が検出タイミングTp1に達した
時点で共有RAM103から射出圧力の現在値Paを読込み（ス
テップS108）、予め共有RAM103に設定記憶された比較値
Ps1との間の圧力偏差を求め、該圧力偏差が圧力偏差の
設定許容値Pw1の範囲に含まれているか否かを判別し
（ステップS109）、圧力偏差が設定許容値Pw1の範囲内
にあれば良品信号を出力し（ステップS110）、また、設
定許容値Pw1の範囲を超えていれば不良信号を出力してC
RT/MDI114の表示画面上に不良発生の警告メッセージ等
を表示する（ステップS111）。なお、第13図に示される
例では、射出開始からの経過時間が検出タイミングTp1
に達した時点での射出圧力の現在値Paと比較値Ps1との
差が設定許容値Pw1の範囲内にあるので、該射出保圧工
程の成形品は良品と判別される。

本実施例では、射出開始後の経過時間を基準として検
出タイミングを設定し、射出圧力に基いて成形品の良否
を判別するようにしているので、射出圧力が成形品の良
否を最もよく反映する時間的タイミングにおいて的確に
成形品の良否を判別することができる。

次に、第３の実施例として、射出保圧工程におけるス
クリュー位置を基準として検出タイミングを設定し、該
検出タイミングにおける射出圧力に基いて成形品の良否
を判別する方法の実施例を簡単に説明する。

第３の実施例においては、成形品良否判別のためのス
クリュー位置（以下、単に検出タイミングという）Sb1
及び理想射出圧力（以下、単に比較値という）Ps2並び
に許容値Pw2を上記共有RAM103の設定メモリ部に予め設
定記憶させておく。この際、過去の射出成形作業のデー
タに基き、射出圧力が成形品の良否に最も良く反映する
射出保圧工程におけるスクリュー位置を検出タイミング
Sb1として、また、該スクリュー位置における良品成形
時の射出圧力の平均的値（理想射出圧力）を比較値Ps2
として、各々、共有RAM103に入力設定する。なお、第14
図は、或る成形品における射出保圧工程のスクリュー位
置と射出圧力との関係を示す図で、一点鎖線で理想射出
圧力が示され、射出保圧工程のスクリュー位置がSb1と
なった時点での射出圧力が成形品の良否を最も良く反映
しており、該時点での理想射出圧力を比較値Ps2として
いる。

第５図は、本方法による成形品良否判別処理（以下、
単に処理３という）を示すフローチャートであり、この
処理はPMC用CPU110が所定の処理周期毎に実行するもの
である。

以下、第５図を参照して本実施例の成形品良否判別動
作について簡単に説明する。

まず、PMC用CPU110は一処理周期における成形品良否
判別処理において、フラグＦT3がセットされているか否
かを判別し（ステップS201）、該フラグＦT3がセットさ
れていなければステップ202に移行して、射出保圧工程
中か否かを判別する。

ステップS202において射出保圧工程中でないと判別さ
れた場合には、PMC用CPU110は以降の処理において一処
理周期毎第１の実施例と同様にステップS201〜S203の処
理のみを繰返し実行することとなる。

このようにしてステップS201〜ステップS203の処理を
繰返し実行する間にステップS202で射出保圧工程中と判
別されると、PMC用CPU110は射出保圧工程記憶フラグＦS
がセットされているか否かを判別するが（ステップS20
4）、この段階においては該フラグFsはセットされてい
ないので、次にステップS205に移行してフラグＦT3をセ
ットし、共有RFM103に更新記憶されているスクリュー現
在位置Saを読込み（ステップS206）、該スクリュー現在
位置Saが検出タイミングSb1に達したか否かを判別する
が（ステップS207）、射出開始直後の現時点においては
スクリューの判別処理を実行した後、この処理周期にお
ける成形品良否判別処理を終了する。なお、既に述べた
ように、シリンダ５先端でのスクリュー位置を原点と
し、スクリュー後退方向を正方向に規定しているため、
スクリュー現在位置Saが検出タイミングSb1に到達する
までの間はSa＞Sb1が成立する。

次周期以降の成形品良否判別処理においては、フラグ
ＦT3が既にセットされているので、PCM用CPU110はステ
ップS201からステップS206へ移行してスクリュー現在位
置Saを検出し、スクリュー現在位置Saが検出タイミング
Sb1に達したか否かを判別し（ステップS207）、スクリ
ュー現在位置Saが検出タイミングSb1に達していなけれ
ばこの処理周期における成形品良否判別処理を終了し、
以下、処理周期毎にステップS201,ステップS206,ステッ
プS207の処理のみが繰り返し実行される。

このようにして、ステップSS201,ステップS206,ステ
ップS207の処理を繰返し実行する間にスクリュー現在位
置Saが検出タイミングSb1に達してSa≦Sb1となったこと
がステップS207で判別されると、PMC用CPU110は共有RAM
103に更新記憶されている射出圧力の現在値Paを読込み
（ステップS208）、予め共有RAM103に設定記憶された比
較値Ps2との間の圧力偏差を求め、該圧力偏差が圧力偏
差の設定許容値Pw2の範囲に含まれているか否かを判別
し（ステップS209）、該圧力偏差が設定許容値Pw2の範
囲内にあれば良品信号を出力し（ステップS210）、ま
た、設定許容値Pw2の範囲を超えていれば不応信号を出
力してCRT/MDI114の表示画面上に不良品発生の警告メッ
セージ等を表示する（ステップS211）。なお、第14図に
示される例では、スクリュー現在位置Saが検出タイミン
グSb1に達した時点での射出圧力の現在値Paと比較値Ps2
との差が設定許容値Pw2の範囲を越えているので、該射
出保圧工程の成形品は不良品と判別される。

本実施例では、射出保圧工程中のスクリュー位置を基
準として検出タイミングを設定し、射出圧力に基いて成
形品の良否を判別するようにしているので、射出圧力が
成形品の良否を最もよく反映するスクリュー位置のタイ
ミングにおいて的確に成形品の良否を反米することがで
きる。

次に、第４の実施例として、射出保圧工程中のスクリ
ュー位置を基準として検出タイミングを設定し、該検出
タイミングにおける射出開始後の経過時間に基いて成形
品の良否を判別する方法の実施例を簡単に説明する。

第４の実施例においては、成形品良否判別のためのス
クリュー位置（以下、単に検出タイミングという）Sb2
及び理想経過時間（以下、単に比較値という）Ts2並び
に許容値Tw1を上記共有RAM103の設定メモリ部に予め設
定記憶させておく。この際、過去の射出成形作業のデー
タに基き、射出開始後の経過時間が成形品の良否に最も
良く反映する射出保圧工程におけるスクリュー位置を検
出タイミングSb2として、また、該スクリュー位置にお
ける良品成形時の経過時間の平均的値（理想経過時間）
を比較値Ts2として、各々、共有RAM103に入力設定す
る。なお、第15図は、或る成形品における射出保圧工程
のスクリュー位置と経過時間との関係を示す図で、一点
鎖線で理想経過時間が示され、射出保圧工程のスクリュ
ー位置がSb2となった時点での経過時間が成形品の良否
を最も良く反映しており、該時点での理想経過時間を比
較値Ts2としている。

第６図は、本方法による成形品良否判別処理（以下、
単に処理４という）を示すフローチャートであり、この
処理はPMC用CPU110が所定の処理周期毎に実行するもの
である。

本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始と同時
にタイマＴをリセットしてスタートさせ（ステップS30
6）、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有RAM103からスクリュー現在位置Saを読込み
（ステップS307）、スクリュー現在位置Saが検出タイミ
ングSb2に達した時点でのタイマＴの計測値、即ち、検
出タイミングSb2における射出開始後の経過時間をレジ
スタTa1に読み込み（ステップS309）、予め共有RAM103
に設定記憶された比較値Ts2との間の時間偏差を求め、
該時間偏差が時間偏差の設定許容値Tw1の範囲に含まれ
ているか否かを判別し（ステップS310）、該時間偏差が
設定許容値Tw1の範囲内にあれば良品信号を出力し（ス
テップS311）、また、設定許容値Tw1の範囲を超えてい
れば不良信号を出力してCRT/MDI114の表示画面上に不良
発生の警告メッセージ等を表示する（ステップS312）。
なお、第15図に示される例では、射出保圧工程中のスク
リュー位置が検出タイミングSb2に達した時点での経過
時間Ｔと比較値Ts2との差が設定許容値Tw1の範囲を越え
ているので、該射出保圧工程の成形品は不良と判別され
る。

本実施例では、射出保圧工程中のスクリュー位置を基
準として検出タイミングを設定し、射出開始後の経過時
間に基いて成形品の良否を判別するようにしているの
で、経過時間が成形品の良否を最もよく反映するスクリ
ュー位置のタイミングにおいて的確に成形品の良否を判
別することができる。

次に、第５の実施例として、射出保圧工程中の射出圧
力を基準として検出タイミングを設定し、該検出タイミ
ングにおける射出開始後の経過時間に基いて成形品の良
否を判別する方法の実施例を説明する。

第５の実施例においては、成形品良否判別のための射
出圧力（以下、単に検出タイミングという）Pb1及び理
想経過時間（以下、単に比較値という）Ts3並びに許容
値Tw2を上記共有RAM103の設定メモリ部に予め設定記憶
させておく。この際、過去の射出成形作業のデータに基
き、射出開始後の経過時間が成形品の良否に最も良く反
映する射出保圧工程における射出圧力を検出タイミング
Pb1として、また、該射出圧力に達する良品成形時の経
過時間の平均的値（理想経過時間）を比較値Ts3とし
て、各々、共有RAM103に入力設定する。なお、第16図
は、或る成形品における射出保圧工程の射出圧力と経過
時間との関係を示す図で、一点鎖線で理想経過時間が示
され、射出保圧工程の射出圧力がPb1となった時点での
経過時間が成形品の良否を最も良く反映しており、該時
点での理想経過時間を比較値Ts3としている。

第７図は、本方法による成形品良否判別処理（以下、
単に処理５という）を示すフローチャートであり、この
処理はPMC用CPU110が所定の処理周期毎に実行するもの
である。

本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始と同時
にタイマＴをリセットしてスタートさせ（ステップS40
6）、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有RAM103から射出圧力の現在値Paを読込み（ス
テップS407）、射出圧力の現在値Paが検出タイミングPb
1に達した時点でのタイマＴの計測値、即ち、検出タイ
ミングPb1における射出開始後の経過時間をレジスタTa2
に読込み（ステップS409）、予め共有RAM103に設定記憶
された比較値Ts3との間の時間偏差を求め、該時間偏差
が時間偏差の設定許容値Tw2の範囲に含まれているか否
かを判別し（ステップS410）、該時間偏差が所定許容値
Tw2の範囲内にあれば良品信号を出力し（ステップS41
1）、また、設定許容値Tw2の範囲を超えていれば不良信
号を出力してCRT/MDI114の表示画面上に不良発生の警告
メッセージ等を表示する（ステップS412）。なお、第16
図に示される例では、射出保圧工程中の射出圧力が検出
タイミングPb1に達した時点での経過時間Ｔと比較値Ts3
との差が設定許容値Tw2の範囲内にあるので、該射出保
圧工程の成形品は良品と判別される。本実施例では、射
出保圧工程中の射出圧力を基準として検出タイミングを
設定し、射出開始後の経過時間に基いて成形品の良否を
判別するようにしているので、経過時間が成形品の良否
を最もよく反映する射出圧力のタイミングにおいて的確
に成形品の良否を判別することができる。

次に、第６の実施例として、射出保圧工程中の射出圧
力を基準として検出タイミングを設定し、該検出タイミ
ングにおけるスクリュー位置に基いて成形品の良否を判
別する方法の実施例を簡単に説明する。

第６の実施例においては、成形品良否判別のための射
出圧力（以下、単に検出タイミングという）Pb2及びス
クリュー理想位置（以下、単に比較値という）Sa2並び
に許容値Sw2を上記共有RAM103の設定メモリ部に予め設
定記憶させておく。この際、過去の射出成形作業のデー
タに基き、スクリュー位置が成形品の良否に最も良く反
映する射出保圧工程における射出圧力を検出タイミング
Pb2として、また、該射出圧力に達する良品成形時のス
クリュー位置の平均的値（スクリュー理想位置）を比較
値Ss2として、各々、共有RAM103に入力設定する。な
お、第17図は、或る成形品における射出保圧工程の射出
圧力とスクリュー位置との関係を示す図で、一点鎖線で
スクリュー理想位置が示され、射出保圧工程の射出圧力
がPb2となった時点でのスクリュー位置が成形品の良否
を最も良く反映しており、該時点でのスクリュー位相位
置を比較値Ss2としている。

第８図は、本方法による成形品良否判別処理（以下、
単に処理６という）を示すフローチャートであり、この
処理はPMC用CPU110が所定の処理周期毎に実行するもの
である。

本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始後、処
理周期毎に共有RAM103から射出圧力の現在値Paを読込み
（ステップS506）、射出圧力の現在値Paが検出タイミン
グPb2に達した時点でのスクリュー現在位置Saを共有RAM
103から読み込んで（ステップS508）、予め共有RAM103
に設定記憶された比較値Ss2との間の位置偏差を求め、
該偏差位置が位置偏差の設定許容値Sw2の範囲に含まれ
ているか否かを判別し（ステップSW509）、該位置偏差
が設定許容値Sw2の範囲内にあれば良品信号を出力し
（ステップS510）、また、設定許容値Sw2の範囲を超え
ていれば不良信号を出力してCRT/MDI114の表示画面上に
不良発生の警告メッセージ等を表示する（ステップS51
1）。なお、第17図に示される例では、射出保圧工程中
の射出圧力が検出タイミングPb2に達した時点でのスク
リュー現在位置Saと比較値Ss2との差が設定許容値Sw2の
範囲を越えているので、該射出保圧工程の成形品は不良
品と判別される。

本実施例では、射出保圧工程中の射出圧力を基準とし
て検出タイミングを設定し、スクリュー位置に基いて成
形品の良否を判別するようにしているので、スクリュー
位置が成形品の良否を最もよく反映する射出圧力のタイ
ミングにおいて的確に成形品の良否を判別することがで
きる。

なお、第17図では、射出保圧工程中の射出圧力が検出
タイミングPb2となるときのスクリュー位置がQ1,Q2と２
箇所存在するが、処理６のステップS507において、射出
圧力の現在値Paが検出タイミングPb2に最初に達した時
点で成形品の良否が判別され、ステップ512でフラグＦT
6がリセットされると共にフラグFsがセットされるの
で、成形品の良否判別に関わるステップS508〜ステップ
S510もしくはステップS508〜ステップS511の処理が１回
のみ実行されることとなり、上記Q1点に関してのみ判別
処理が実行される。

次に、第７の実施例として、複数の検出タイミングを
設定し、各検出タイミング毎に良否判別を実行し、夫々
の判別結果を総合して成形品の良否を判別する方法の実
施例について説明する。本実施例では、該方法の一例と
して、射出保圧工程におけるスクリュー位置を基準とし
て検出タイミングを２つ設定し、各検出タイミング毎に
射出圧力に基いて良否判別を実行し、２つの良否判別結
果を総合して成形品の良否を判別する実施例を説明す
る。

第７の実施例においては、成形品良否判別のためのス
クリュー位置（以下、単に検出タイミングという）Sb3
とSb4、及び、理想射出圧力（以下、単に比較値とい
う）Pb3とPb4、並びに、許容値Pw3とPw4を上記共有RAM1
03の設定メモリ部に予め設定記憶させておく。この際、
過去の射出成形作業のデータに基き、射出圧力が成形品
の良否に大きな影響を与えるスクリュー位置を２箇所選
択して検出タイミングSb3及びSb4とし、また、各スクリ
ュー位置における良品成形時の射出圧力の平均的値（理
想射出圧力）を比較値Pb3及びPs4とし、各々、共有RAM1
03に入力設定する。なお、第18図は、或る成形品におけ
る射出保圧工程のスクリュー位置と射出圧力との関係を
示す図で、一点鎖線で理想射出圧力が示され、射出保圧
工程のスクリュー位置がSb3及びSb4となった時点での射
出圧力が成形品の良否に多大な影響を与え、各々のスク
リュー位置における理想射出圧力を比較値Ps3及びPs4と
している。（但し、図中、Sb3≧Sb4とする）。

第９図は、本方法による成形品良否判別処理（以下、
単に処理７という）を示すフローチャートであり、この
処理はPMC用CPU110が所定の処理周期毎に実行するもの
である。

以下、本実施例の成形品良否判別処理を示すフローチ
ャート第９図と共に本実施例の成形品良否判別動作につ
いて説明する。

まず、PMC用CPU110は一処理周期における成形品良否
判別処理において、フラグＦT7がセットされているか否
かを判別し（ステップS601）、該フラグＦT7がセットさ
れていなければステップS602に移行して、射出保圧工程
中か否かを判別する。

ステップS602において射出保圧工程中でないと判別さ
れた場合には、射出保圧工程記憶フラグFsに０をセット
し（ステップS603）、PMC用CPU110は以降の処理におい
て一処理周期毎にステップS601〜ステップS603の処理の
みを繰返し実行することとなる。

このようにしてステップS601〜ステップS603の処理を
繰返し実行する間にステップS602で射出保圧工程中と判
別されると、PMC用CPU110は射出保圧工程記憶フラグFs
がセットされているか否かを判別するが（ステップS60
4）、この段階においては該フラグFsはセットされてい
ないので、次にステップS605に移行してフラグＦT7をセ
ットし、共有RAM103からスクリュー現在位置Saを読み込
んで記憶する（ステップS606）。

次いで、第１回目の良否判別が完了しているか否かを
示すフラグF1がセットされているか否かを判別するが
（ステップS607）、現段階においては該フラグF1はセッ
トされていないので、ステップS606で読込んだスクリュ
ー現在位置Saが予め共有RAM103に設定記憶された検出タ
イミングSb3に達しているか否かを判別する（ステップS
608）。射出開始直後の現時点においてはスクリュー現
在位置Saが検出タイミングSb3に達していないので、ス
テップS608の判別処理を実行した後、この処理周期にお
ける成形品良否判別処理を終了する。

次周期以降の成形品良否判別処理においてはフラグＦ
T7が既にセットされているので、PMC用CPU110はステッ
プS601からステップS606へ移行して共有RAM103からスク
リュー現在位置Saを読み込み、第１回目の良否判別が完
了しているか否かを示すフラグF1がセットされているか
否かを判別し（ステップS607）、ステップS606で読込ん
だスクリュー現在位置Saが予め共有RAM103に設定記憶さ
れた検出タイミングSb3に達しているか否かを判別する
が（ステップS608）、いずれの判別結果も否であると、
ステップS608の判別処理終了後、この処理周期における
成形品良否判別処理を終了し、以降の処理周期において
は、ステップS601,ステップS606,ステップS607,ステッ
プS608の処理のみが繰返し実行されることとなる。

このようにして、ステップS601,ステップS606,ステッ
プS607,ステップS608の処理が繰返し実行される間にス
クリュー現在位置Saが予め共有RAM103に設定記憶された
検出タイミングSb3に達してSa≦Sa3となったことがステ
ップS608で判別されると、PMC用CPU110は共有RAM103に
更新記憶されている射出圧力の現在値Pa（愛18図中Pa1
で示す）を読込み（ステップS609）、予め共有RAM103に
設定記憶された比較値Ps3との間の圧力偏差を求め、該
圧力偏差が圧力偏差の設定許容値Pw3の範囲に含まれて
いるか否かを判別し（ステップS610）、該圧力偏差が設
定許容値Pw3の範囲内にあれば第１回目の良否判別が完
了したことを示すフラグF1をセットし（ステップS61
1）、この処理周期における成形品良否判別処理を終了
する。この場合、第１回目の検出タイミングにおける判
別結果が上記フラグF1により良品として記憶される。

一方、ステップS610において上記圧力偏差が設定許容
値Pw3の範囲を越えていると判別された場合には、不良
信号を出力してCRT/MDI114の表示画面上に不良品発生の
警告メッセージ等を表示し（ステップS612）、フラグＦ
T7及びフラグF1をリセットする一方、射出保圧工程記憶
フラグFsをセットし（ステップS613）、この処理周期に
おける成形品良否判別処理を終了する。第18図に示され
る例では、射出圧力の現在値Pa（Pa1）と比較値Pa3との
差が設定許容値Pw3の範囲内にあるので、第１回目の検
出タイミングにおける判別結果は良品とされる。

なお、第１回目の検出タイミングにおける判別結果が
不良とされた場合には、フラグＦT7がリセットされ射出
保圧工程記憶フラグFsがセットされているので、次周期
の成形品良否判別処理においては、ステップS601からス
テップS602へ移行して射出保圧工程中であるか否かを判
別し、また射出保圧工程中であれば、ステップS604に移
行して射出保圧工程記憶フラグFsがセットされているか
否かを判別する。フラグＦSはセットされているので当
該処理周期の成形品良否判別処理を終了し、以降の処理
周期においては、ステップS601,ステップS602,ステップ
S604の処理のみが繰り返し実行され、射出保圧工程の終
了がステップS602で確認された段階で射出保圧工程記憶
フラグＦSをリセットし初期状態に復帰する（ステップS
603）。

また、第18図の例のように第１回目の検出タイミング
における判別結果が良品とされた場合には、引き続き、
第２回目の検出タイミングにおける判別処理を実行する
こととなる。

この場合、次周期の成形品良否判別処理においては、
フラグＦT7及びフラグF1がセットされているので、ステ
ップS601の判別処理実行後ステップS606に移行して共有
RAM103からスクリュー現在位置Saを読み込み、第１回目
の良否判別が完了しているか否かを示すフラグF1がセッ
トされているか否かを判別する（ステップS607）。フラ
グF1がセットされているので、PMC用CPU110はステップS
614に移行して、ステップS606で読込んだスクリュー現
在位置Saが予め共有RAM103に設定記憶された検出タイミ
ングSb4に達しているか否か、即ち、スクリュー位置が
第２回目の検出タイミングに達しているか否かを判別し
（ステップS614）、スクリュー位置が第２回目の検出タ
イミングに達していなければ、この処理周期における成
形品良否判別処理を終了し、以降の処理周期において
は、ステップS601,ステップS606,ステップS607,ステッ
プS614の処理のみが繰返し実行されることとなる。

このようにして、ステップS601,ステップS606,ステッ
プS607,ステップS614の処理が繰返し実行される間にス
クリュー現在位置Saが予め共有RAM103に設定記憶された
検出タイミングSb4に達してSa≦Sb4となったことがステ
ップS614で判別されると、PMC用CPU110は共有RAM103に
更新記憶されている射出圧力の現在値Pa（第18図中Pa2
で示す）を読込み（ステップS615）、予め共有RAM103に
設定記憶された比較値Ps4との間の圧力偏差を求め、該
圧力偏差が圧力偏差の設定許容値Pw4の範囲に含まれて
いるか否かを判別し（ステップS616）、該圧力偏差が設
定許容値Pw4の範囲内にあれば良品信号を出力し（ステ
ップS617）、また、該圧力偏差が設定許容値Pw3の範囲
を越えていれば不良信号を出力してCRT/MDI114の表示画
面上に不良品発生の警告メッセージ等を表示し（ステッ
プS612）、フラグＦT7及びフラグF1をリセットすると共
に、射出保圧工程記憶フラグFsをセットし（ステップS6
13）、この処理周期における成形品良否判別処理を終了
する。即ち、本実施例によれば第１回目の検出タイミン
グ及び第２回目の検出タイミングにおける夫々の判別結
果が共に良品である場合にのみ当該射出保圧工程の成形
品が良品として判別され、それ以外の場合にはすべて不
良品として判別されることとなる。第18図に示される例
では、第２回目の検出タイミングにおける射出圧力の現
在値Pa（Pa2）と比較値Ps4との差が設定許容値Pw4の範
囲内にあるので、第１回目の検出タイミングにおける判
別結果及び該第２回目の検出タイミングにおける判別結
果が共に良品として判別され、当該射出保圧工程の成形
品が良品として判別されることとなる。

本実施例では、射出保圧工程中のスクリュー位置を基
準として検出タイミングを複数設定し、各検出タイミン
グ毎に射出圧力に基いて良否判別を実行し、夫々の良否
判別結果を総合して当該射出保圧工程の成形品の良否を
判別するようにしているので、より的確な良否判別を行
うことができる。

この第７の実施例は、スクリュー位置を基準に検出タ
イミングを設定して射出圧力を検出し良否判別を行う成
形品判別方法（第３の実施例参照）に関して、各検出タ
イミング毎に良否判別を実行する方法を説明したが、上
記第1,第2,第4,第5,第６の各実施例においても、該第７
の実施例と同様な処理により複数の検出タイミングを設
定し、複数の判別結果を総合して成形品の良否を判別す
ることにより、より的確な良否判別を行うことができ
る。

また、検出タイミングの設定箇所も２か所と限らず、
３点以上設定してもよく、この内何点かの検出タイミン
グにおいて良品と判別された場合に当該射出保圧工程の
成形品を良品と判別するようにしても良い。

次に、第８の実施例として、複数の成形品良否判別方
法を併用して良否判別を実施し、夫々の方法による判別
結果を総合して成形品の良否を判別する実施例について
説明する。本実施例では、「射出保圧工程における射出
圧力を基準として検出タイミングを設定し経過時間に基
づいて成形品の良否を判別する方法」と「射出保圧工程
における射出圧力を基準として検出タイミングを設定し
スクリュー位置に基づいて成形品の良否を判別する方
法」を各射出保圧工程で実施し、上記各方法による判別
結果を総合して成形品の良否を判別する実施例を説明す
る。

第８の実施例においては、成形品良否判別のための射
出圧力（以下、単に検出タイミングという）Pb1とPb2、
及び、比較値としての理想経過時間Ts3とクリュー理想
位置Ss2、並びに、許容値としての時間偏差Tw2と位置偏
差Sw2を上記共有RAM103の設定メモリ部に予め設定記憶
させておく（但し、Pb1≦Pb2とする）。

第10図はこの実施例の成形品良否判別処理（以下、単
に処理８という）を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPU110が所定の処理周期毎に実行するもので
ある。

本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始と同時
にタイマＴをリセットしてスタートさせ（ステップS70
6）、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有RAM103から射出圧力の現在値Paを読み込み
（ステップS707）、射出圧力の現在値Paが「射出保圧工
程における射出圧力を基準として検出タイミングを設定
し経過時間に基づいて成形品の良否を判別する方法」の
検出タイミングPb1に達した時点でのタイマＴの計測値
をレジスタTa2に読み込み（ステップS710）、予め共有R
AM103に設定記憶された比較値Ts3との間の時間偏差を求
め、該時間偏差が時間偏差の設定許容値Tw2の範囲に含
まれているか否かを判別し（ステップS711）、該時間偏
差が設定許容値Tw2の範囲を超えていれば不良信号を出
力してCRT/MDI114の表示画面上に不良発生の警告メッセ
ージ等を表示する一方（ステップS713）、該時間偏差が
設定許容値Tw2の範囲内にあればフラグF2をセットし
（ステップS712）、引き続き、「射出保圧工程における
射出圧力を基準として検出タイミングを設定しスクリュ
ー位置に基づいて成形品の良否を判別する方法」による
良否判別を実施し、処理周期毎に共有RAM103から射出圧
力の現在値Paを読込み（ステップS707）、フラグF2がセ
ットされているのでステップS708からステップS715へ進
み、射出圧力の現在値Paが「射出保圧工程における射出
圧力を基準として検出タイミングを設定しスクリュー位
置に基づいて成形品の良否を判別する方法」の検出タイ
ミングPb2に達した時点でのスクリュー現在位置Saを共
有RAM103から読み込み（ステップS716）、予め共有RAM1
03に設定記憶された比較値Ss2との間の位置偏差を求
め、該位置偏差が位置偏差の設定許容値Sw2の範囲に含
まれているか否かを判別し（ステップS717）、該位置偏
差が設定許容値Sw2の範囲を超えていれば不良信号を出
力してCRT/MDI114の表示画面上に不良発生の警告メッセ
ージ等を表示し（ステップS713）、また、該位置偏差が
設定許容値Sw2の範囲内にあれば良品信号を出力する
（ステップS718）。

即ち、本実施例によれば、「射出圧力を基準として検
出タイミングを設定し経過時間に基づいて成形品の良否
を判別する方法」（第１回目の検出タイミング）及び
「射出保圧工程における射出圧力を基準として検出タイ
ミングを設定しスクリュー位置に基づいて成形品の良否
を判別する方法」（第２回目の検出タイミング）におけ
る夫々の判別結果が共に良品である場合にのみ当該射出
保圧工程の成形品が良品として判別され、それ以外の場
合にはすべて不良品として判別されることとなる。

本実施例では、「射出圧力を基準として検出タイミン
グを設定し経過時間に基づいて成形品の良否を判別する
方法」と「射出保圧工程における射出圧力を基準として
検出タイミングを設定しスクリュー位置に基づいて成形
品の良否を判別する方法」とを組合わせ、各方法毎に良
否判別を実行し、夫々の良否判別結果を総合して当該射
出保圧工程の成形品の良否を判別するようにしているの
で、より的確な良否判別を行うことができる。

本実施例は、「射出圧力を基準として検出タイミング
を設定し経過時間に基づいて成形品の良否を判別する方
法」（第５の実施例参照）と「射出保圧工程における射
出圧力を基準として検出タイミングを設定しスクリュー
位置に基づいて成形品の良否を判別する方法」（第６の
実施例参照）を実施して夫々の良否判別結果を総合して
当該射出保圧工程の成形品の良否を判別する例について
説明したが、方法の組合せはこれに限らず、上記第１〜
第７の各実施例に示される方法から少なくとも２つ以上
のものを選択して組合せれば良い。

次に、第９の実施例として、上記第１〜第８の実施例
に示される成形品良否判別方法を予め射出成形機のNC装
置100内に記憶させておき、任意の判別方法を選択でき
るようにした実施例について簡単に説明する。

第９の実施例においては、上記処理１〜処理８に至る
各処理がサブルーチン（定義済み処理）としてROM113に
記憶され、また、処理１〜処理８で必要とされる各種検
出タイミング及び比較値並びに許容値が共有RAM103に設
定記憶されている。

第11図は本実施例の成形品良否判別処理の概略を示す
フローチャートであり、PMC用CPU110は、ステップS801
〜ステップS809における判別処理により、選択指標Ｒの
値に基いて、所定の処理周期ごとに上記処理１〜処理８
の内いずれか１つの処理を選択し、該選択された処理を
繰返し実行して成形品の良否を判別する。例えば、選択
指標Ｒに「１」がセットされた場合であれば、射出開始
後の経過時間を基準として検出タイミングを設定し、ス
クリュー位置に基いて成形品の良否を判別するための処
理１が所定周期毎に実行され、第１の実施例と同様にし
て当該射出保圧工程の良否判別が実行されることとな
る。

また、選択指標Ｒには、成形品良否判別処理を選択す
るための数値「１」〜「８」もしくは成形品良否判別処
理を非実行とするための数値「０」が、選択手段の一部
を構成するCRT/MDI 114から入力設定されるものであ
り、オペレータは、CRT/MDI114を操作することにより、
任意の成形品良否判別処理を選択し、若しくは、非実行
することができる。

本実施例によれば、成形品の形状や樹脂の種類等に応
じ、最も適した成形品良否判別方法を選択して成形品の
良否を判別することができるので、良否判別の精度をい
っそう向上させることができる。

また、上記した処理１〜処理８の方法の他、第７及び
第８の実施例で説明した各種組み合わせの方法を予めサ
ブルーチンとして準備しておき、これらの方法を任意に
選択することも容易である。

又、上記各実施例では良品信号，不良品信号を共に出
力するようにしたが、どちらか一方のみを出力するよう
にしてもよく、成形品の良否判別を２点以上（検出タイ
ミングが２点以上又は良否判別方法が異なる方法で判別
する場合）で行った場合、すべての判別で不良と判別さ
れたとき、成形品を不良とし、若しくは、１つでも不良
と判別されたとき不良と判別し、不良信号を出力するよ
うにしてもよい。又、逆にすべての判別で良品と判別さ
れたとき良品信号を出力するか、又は１つでも良品と判
別されたとき良品信号を出力するようにしてもよい。

なお、上述した各実施例においては成形品の良否に関
する判別結果をCT/MDI114に警告メッセージとして表示
するようにしたが、不良と判別された成形品に関しては
該成形品のエジェクト時やコンベアによる搬送時にエア
ノズルや振分片等を駆動して自動選択するようにしても
よい。エアノズルや振分片等を用いて成形品を選別する
場合には判別タイミングと選別タイミングとの間にタイ
ムラグを生じる場合があるので、エアノズルや振分片等
の作動時間を制御するタイマを設けてPMC用CPU110より
出力される不良信号により該タイマを作動させて所定時
間エアノズルや振分片等を作動させるようにしてもよ
い。

また、不良信号の入力によって不良成形品の数を計数
すると共に良品信号の入力によってリセットされるカウ
ンタを設け、不良信号の連続入力回数をカウントし、不
良信号の連続入力回数が所定値（カウンタに予め設定す
る）を超えた場合、即ち、何らかの原因によって良品の
連続成形が不能となった場合には、射出成形機に非常停
止信号等を出力するようにして射出成形作業を停止させ
るようにすることも可能である。

発明の効果本発明によれば、射出開始後の経過時間，スクリュー
位置，射出圧力等の検出タイミングを任意に設定し、こ
れらの時間，位置，圧力を基準として、任意の検出タイ
ミングにおけるスクリュー位置，射出圧力，射出開始後
の経過時間を検出し、これらの検出値を比較値と比較す
ることにより成形品の良否が判別されるので、検出値が
成形品の良否を最も良く反映する検出タイミングにおい
て成形品の良否を判別することができ、成形品の良否を
的確に判別することができる。

また、複数の検出タイミングを設定し、各検出タイミ
ングにおける判別結果を総合して成形品の良否を判別し
たり、複数の判別方法を併用し、夫々の方法の判別結果
を総合して成形品の良否を判別することにより、成形品
の良否をより的確に判別することができる。

さらに、射出成形機の制御装置内に次元の異なる検出
タイミング、もしくは、次元の異なる検出値を用いた複
数の判別方法を記憶させておけば、成形品の形状や樹脂
の種類に応じ、最も適当な判別方法を選択して成形品の
良否判別を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明における検出タイミングと各検出タイミ
ングにおいて検出される値および比較値との対応関係を
示す図、第２図は本発明を実施する一実施例の電動式射
出成形機および該射出成形機の制御系要部を示すブロッ
ク図、第３図は第１の実施例における処理の概略を示す
フローチャート、第４図は第２の実施例における処理の
概略を示すフローチャート、第５図は第３の実施例にお
ける処理の概略を示すフローチャート、第６図は第４の
実施例における処理の概略を示すフローチャート、第７
図は第５の実施例における処理の概略を示すフローチャ
ート、第８図は第６の実施例における処理の概略を示す
フローチャート、第９図は第７の実施例における処理の
概略を示すフローチャート、第10図は第８の実施例にお
ける処理の概略を示すフローチャート、第11図は第９の
実施例における処理の要部を示すフローチャート、第12
図は或る成形品における射出開始後の経過時間とスクリ
ュー位置との関係を示す概念図、第13図は或る成形品に
おける射出開始後の経過時間と射出圧力との関係を示す
概念図、第14図は或る成形品における射出保圧工程のス
クリュー位置と射出圧力との関係を示す概念図、第15図
は或る成形品における射出保圧工程のスクリュー位置と
経過時間との関係を示す概念図、第16図は或る成形品に
おける射出保圧工程の射出圧力と経過時間との関係を示
す概念図、第17図は或る成形品における射出保圧工程の
射出圧力とスクリュー位置との関係を示す概念図、第18
図は或る成形品における射出保圧工程のスクリュー位置
と射出圧力との関係を示す概念図である。１……スクリュー、２……射出用サーボモータ、３……パルスコーダ、４……圧力センサ、５……シリン
ダ、６……金型、７……圧力センサ、８……ロータリー
スイッチ、100……制御装置としてのNC装置、101……サ
ーボ回路、102……RAM、 103……共有RAM、104……入力回路、 105……出力回路、106……RAM、107……サーボインター
フェイス、108……NC用CPU、109……バスアービターコ
ントローラ、 110……PMC用CPU、111……ROM、 112……オペレータパネルコントローラ、 113……ROM、114……CRT表示装置付手動データ入力装
置、115……A/D変換器。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者根子哲明山梨県南都留郡忍野村忍草字古馬場3580 番地ファナック株式会社商品開発研究所内 (56)参考文献特開昭62−187009（ＪＰ，Ａ) 特開昭63−4925（ＪＰ，Ａ) 特開昭59−71836（ＪＰ，Ａ) 特開昭62−19425（ＪＰ，Ａ) 特開昭61−229523（ＪＰ，Ａ) 特開昭60−24915（ＪＰ，Ａ) 特開昭62−66917（ＪＰ，Ａ) 特開昭61−169219（ＪＰ，Ａ) 実開昭62−70917（ＪＰ，Ｕ)

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】射出成形機の成形品良否判別方法におい
て、射出開始から計時を開始するタイマーを設け、設定
手段より成形品良否判別のための時間を任意に設定し、
上記タイマーが該設定時間を計時した時点を検出タイミ
ングとして、該検出タイミングにおけるスクリュー位置
を検出し、検出したスクリュー位置の値と成形品良否判
別のために設定された比較値であるスクリュー位置との
差によって自動的に成形品の良否を判別するようにした
射出成形機における成形品良否判別方法。
【請求項２】射出成形機の成形品良否判別方法におい
て、射出開始から計時を開始するタイマーを設け、設定
手段より成形品良否判別のための時間を任意に設定し、
上記タイマーが該設定時間を計時した時点を検出タイミ
ングとして、該検出タイミングにおける射出圧力を検出
し、該検出した射出圧力の値と成形品良否判別のために
設定された比較値である射出圧力との差によって自動的
に成形品の良否を判別するようにした射出成形機におけ
る成形品良否判別方法。
【請求項３】射出成形機の成形品良否判別方法におい
て、スクリューの現在位置を検出するスクリュー位置検
出手段を設け、設定手段より成形品良否判別のためのス
クリュー位置を任意に設定し、上記スクリュー位置検出
手段が該設定スクリュー位置を検出した時点を検出タイ
ミングとして、該検出タイミングにおける射出圧力を検
出し、該検出した射出圧力の値と成形品良否判別のため
に設定された比較値である射出圧力との差によって自動
的に成形品の良否を判別するようにした射出成形機にお
ける成形品良否判別方法。
【請求項４】射出成形機の成形品良否判別方法におい
て、射出開始から計時を開始するタイマーと、スクリュ
ーの現在位置を検出するスクリュー位置検出手段とを設
け、設定手段より成形品良否判別のためのスクリュー位
置を任意に設定し、上記スクリュー位置検出手段が該設
定スクリュー位置を検出した時点を検出タイミングとし
て、該検出タイミングにおける上記タイマーの経過時間
を検出し、該検出した経過時間の値と成形品良否判別の
ために設定された比較値である経過時間との差によって
自動的に成形品の良否を判別するようにした射出成形機
における成形品良否判別方法。
【請求項５】射出成形機の成形品良否判別方法におい
て、射出開始から計時を開始するタイマーと、射出圧力
を検出する射出圧力検出手段とを設け、設定手段より成
形品良否判別のための射出圧力を任意に設定し、上記射
出圧力検出手段が該設定射出圧力を検出した時点を検出
タイミングとして、該検出タイミングにおける上記タイ
マーの経過時間を検出し、該検出した経過時間の値と成
形品良否判別のために設定された比較値である経過時間
との差によって自動的に成形品の良否を判別するように
した射出成形機における成形品良否判別方法。
【請求項６】射出成形機の成形品良否判別方法におい
て、射出圧力を検出する射出圧力検出手段を設け、設定
手段より成形品良否判別のための射出圧力を任意に設定
し、上記射出圧力検出手段が該設定射出圧力を検出した
時点を検出タイミングとして、該検出タイミングにおけ
るスクリュー位置を検出し、該検出したスクリュー位置
の値と成形品良否判別のために設定された比較値である
スクリュー位置との差によって自動的に成形品の良否を
判別するようにした射出成形機における成形品良否判別
方法。
【請求項７】請求項1,2,3,4,5または６記載の成形品良
否判別方法において、複数の検出タイミングを夫々設定
すると共に、各検出タイミングにおいて検出された値と
各検出タイミングに対応して成形品良否判別のために設
定された比較値との夫々の差に基いて自動的に成形品の
良否を判別するようにしたことを特徴とする射出成形機
における成形品良否判別方法。
【請求項８】請求項1,2,3,4,5,6または７記載の成形品
良否判別方法の内少なくとも２つの成形品良否判別方法
を各射出保圧工程中に併用して実施し、上記各成形品良
否判別方法における夫々の良否判別結果に基づいて各射
出保圧工程の成形品の良否を自動的に判別するようにし
た射出成形機における成形品良否判別方法。
【請求項９】射出成形機の制御装置内に、予め、請求項
1,2,3,4,5,6,7または８記載の成形品良否判別方法の内
少なくとも２つ以上の成形品良否判別方法を記憶させて
おき、成形品良否判別方法を選択する手段で１つの成形
品良否判別方法を選択して、成形品の良否を判別するよ
うにした射出成形機における成形品良否判別方法。
【請求項１０】射出成形機に設けられる成形品良否判別
装置であって、射出開始から計時を開始するタイマー
と、成形品良否判別のために比較値としてのスクリュー
位置とその許容値及び検出タイミングとしての射出開始
からの経過時間を設定する手段と、スクリュー現在位置
を検出するスクリュー位置検出手段と、上記タイマーで
設定経過時間が計時された時上記スクリュー位置検出手
段で検出されるスクリュー位置と上記比較値として設定
されたスクリュー位置との差が上記設定許容値内か判断
する判断手段とを備え自動的に成形品の良否を判別する
ようにした射出成形機における成形品良否判別装置。
【請求項１１】射出成形機に設けられる成形品良否判別
装置であって、射出開始から計時を開始するタイマー
と、成形品良否判別のために比較値としての射出圧力と
その許容値及び検出タイミングとしての射出開始からの
経過時間を設定する手段と、射出圧力を検出する圧力検
出手段と、上記タイマーで設定経過時間が計時された時
上記圧力検出手段で検出される射出圧力と上記比較値と
して設定された射出圧力との差が上記設定許容値内か判
断する判断手段とを備え自動的に成形品の良否を判別す
るようにした射出成形機における成形品良否判別装置。
【請求項１２】射出成形機に設けられる成形品良否判別
装置であって、スクリューの現在位置を検出するスクリ
ュー位置検出手段と、射出圧力を検出する圧力検出手段
と、成形品良否判別のために比較値としての射出圧力と
その許容値及び検出タイミングとしてのスクリュー位置
を設定する手段と、上記スクリュー位置検出手段で設定
スクリュー位置が検出された時上記圧力検出手段で検出
される射出圧力と上記比較値として設定された射出圧力
との差が上記設定許容値内か判断する判断手段とを備え
自動的に成形品の良否を判別するようにした射出成形機
における成形品良否判別装置。
【請求項１３】射出成形機に設けられる成形品良否判別
装置であって、射出開始から計時を開始するタイマー
と、スクリューの現在位置を検出するスクリュー位置検
出手段と、成形品良否判別のために比較値としての射出
開始からの経過時間とその許容値及び検出タイミングと
してのスクリュー位置を設定する手段と、上記スクリュ
ー位置検出手段で設定スクリュー位置が検出された時上
記タイマーで検出される経過時間と上記比較値として設
定された経過時間との差が上記設定許容値内か判断する
判断手段とを備え自動的に成形品の良否を判別するよう
にした射出成形機における成形品良否判別装置。
【請求項１４】射出成形機に設けられる成形品良否判別
装置であって、射出開始から計時を開始するタイマー
と、射出圧力を検出する圧力検出手段と、成形品良否判
別のために射出開始からの比較値としての経過時間とそ
の許容値及び検出タイミングとして射出圧力を設定する
手段と、上記圧力検出手段で設定射出圧力が検出された
時上記タイマーで検出される経過時間と上記比較値とし
て設定された経過時間との差が上記設定許容値内か判断
する判断手段とを備え自動的に成形品の良否を判別する
ようにした射出成形機における成形品良否判別装置。
【請求項１５】射出成形機に設けられる成形品良否判別
装置であって、スクリューの現在位置を検出するスクリ
ュー位置検出手段と、射出圧力を検出する圧力検出手段
と、成形品良否判別のために比較値としてのスクリュー
位置とその許容値及び検出タイミングとしての射出圧力
を設定する手段と、上記圧力検出手段で設定射出圧力が
検出された時上記スクリュー位置検出手段で検出される
スクリュー位置と上記比較値として設定されたスクリュ
ー位置との差が上記設定許容値内か判断する判断手段と
を備え自動的に成形品の良否を判別するようにした射出
成形機における成形品良否判別装置。
【請求項１６】請求項10,11,12,13,14または15記載の成
形品良否判別装置において、上記設定手段で複数の検出
タイミングと該検出タイミングに対応するそれぞれの成
形品良否判別のための設定値とその許容値が設定され、
上記判別手段は、各検出タイミングにおいて検出された
値と各検出タイミングに対応して成形品良否判別のため
に設定された比較値との夫々の差がそれぞれ設定されて
いる許容値内か判断し、夫々の良否判別結果に基づいて
成形品の良否を自動的に判別することを特徴とする射出
成形機における成形品良否判別装置。