JP2926203B2 - ガラス壜の不良検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ガラス壜に蓋をし、そ
の内部に所定圧力のパルス状の空気を印加し、その内部
圧力の変化を検出することによってガラス壜の口天平滑
不良や口流れ等の不良を検出するガラス壜の不良検査装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ガラス製品を大量に生産するガラス成形
機としては、所望形状のガラス製品をプレス加工によっ
て成形するもの（食器成形機や灰皿成形機等）や、プレ
スブロー方式又はブローブロー方式の成形セクションを
複数個有する独立セクション型（ＩＳ型）のガラス壜成
形機や、プレスブロー方式にてコップを成形するもの
や、又はブロー方式にて薄肉コップを成形するものなど
がある。

【０００３】これらのガラス成形機は、ガラス製品の形
状や大きさなどに応じた重量のゴブを直接プレス成形す
ることによって所望形状のガラス製品に仕上げたり、プ
レス成形又はブロー成形によって得られたパリソンと呼
ばれる半製品をブロー成形することによって所望形状の
ガラス製品に仕上げたりして、最終的なガラス製品を生
産している。

【０００４】ＩＳ型のガラス壜成形機は、プランジャー
メカニズムのプレス加工によってゴブをパリソンと呼ば
れる半製品に成形するパリソン成形手段と、このパリソ
ンをブロー加工によって所望形状のガラス壜に成形する
仕上型成形手段とから構成される成形セクションを複数
個有する。各成形セクションで成形されたガラス壜は、
順番に徐冷炉を通過し、最終的なガラス壜となる。この
時、徐冷炉の出口ではガラス壜に何らかの不良が発生し
ていないかどうかの種々の検査が行われ、不良のあるガ
ラス壜は事前に排出処理される。

【０００５】一般に、ガラス壜の製造時に発生する不良
は、パリソン成形時に各成形セクションに供給されるゴ
ブ重量の変動に起因するものがほとんどである。また、
ゴブ重量変動の他に、パリソン成形時のプランジャーメ
カニズムのプレスのタイミングやプランジャーと粗型の
センター位置のずれ等によって生じる不良もある。

【０００６】このような製造時に発生する不良には、ガ
ラス壜自体の肉厚や形状等がそれぞれのセクション毎で
異なったりするものや、また同じセクション内であって
も時間の経過に伴ってそれらが変化したりするものがあ
る。そして、生成されたガラス壜の口天面形状が平坦で
なくなり、出来上がった壜に蓋をしても液体や気体の漏
れが発生するというような不良がある。

【０００７】そこで、従来は、徐冷炉から順次出てくる
ガラス壜に平面状の蓋をし、その内部に所定圧力のパル
ス状の空気を印加し、その内部圧力の変化を検出するこ
とによって漏れ不良がガラス壜に発生していないかどう
かの検査を行っていた。図７は、従来行われていた検査
方法を説明するためのガラス壜の内部圧力の変化の様子
を示す図である。図において、横軸は時間を、縦軸は圧
力信号を示す。

【０００８】従来の検査方法は、所定圧力のパルス状の
空気をガラス壜内部に印加し、その印加時点から所定時
間ｔｒ経過後の内部圧力を測定し、それが基準圧力値Ｐ
ｒ以上の場合には合格とし、基準圧力値Ｐｒよりも小さ
い場合には不合格と判定していた。すなわち、所定圧力
のパルス状の空気がガラス壜内部に印加されると、その
内部圧力は図７に示されるように最大値に達した後に谷
と山とを交互に繰り返しながら減衰していく減衰振動特
性を示す。なお、そのような減衰振動特性を示す理由
は、ガラス壜の口天を密閉する平面状の蓋によっては完
全な気密が得られず、蓋と口天面との隙間から空気が徐
々に漏れることにより、壜の良否を問わずスロープ状の
単調減衰特性を示して減衰する点と、印加された空気パ
ルスが配管系を通る過程での反射及び壜内での反射の繰
り返しによって小きざみな圧力振動が繰り返す点との組
合せに起因している。すなわち、上記単調減衰特性に上
記空気パルスの反射による小きざみな圧力振動が重なる
ことにより、谷と山とを交互に繰り返しながら減衰して
いく減衰振動特性を示すことになる。この場合、ガラス
壜の口天面の欠陥やその他の欠陥がある場合、上記単調
減衰特性の減衰率が相対的に大きくなる。従って、上記
単調減衰特性の減衰率を的確に測定又は判定若しくは推
定することにより、ガラス壜の口天面の欠陥やその他の
欠陥を判定することができる。従来は、空気パルス印加
後の所定時間ｔｒ経過時点における壜内圧力を測定し、
その測定値と所定の基準値とを比較することにより、上
記判定を単純に行っていた。例えば、ガラス壜の口天面
に欠陥が発生すると、その減衰率は大きく、結果として
従来のようにエアパルスを印加してから所定時間が経過
した時点における圧力信号の値も小さく、逆に、正常な
ガラス壜の場合は、圧力信号の減衰率も小さく、所定時
間経過時点における圧力信号の値も大きいので、所定時
間が経過した時点における圧力信号の値とガラス壜の良
否との間には一応の相関関係がある。例えば、図７の
（ａ）では所定時間ｔｒ経過後の内部圧力はＰａであ
り、所定の基準圧力値Ｐｒ１よりも十分に大きい。従っ
て、図７の（ａ）のような圧力変化を示すガラス壜は合
格と判定するようにしていた。

【０００９】図７の（ｂ）のような圧力変化を示すガラ
ス壜の場合は、図７の（ａ）の圧力変化に比べて減衰量
が大きいが、所定時間ｔｒ経過後の内部圧力はＰｂであ
り、Ｐａよりも小さいが、基準圧力値Ｐｒ１よりは少し
だけ大きい。従って、図７の（ｂ）のような圧力変化を
示すガラス壜は合格と判定されていた。次に、図７の
（ｃ）のような圧力変化を示すガラス壜の場合は、図７
の（ａ）の圧力変化に比べて減衰量が非常に大きく、所
定時間ｔｒ経過後の内部圧力もＰｃであり、Ｐａよりも
十分小さく、さらに基準圧力値Ｐｒ１よりも小さい。従
って、図７の（ｃ）のような圧力変化を示すガラス壜は
不合格と判定されていた。このように従来は、所定時間
ｔｒ経過後の内部圧力の大きさだけに基づいて、ガラス
壜の良（合格）、否（不合格）を判定していた。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図７の
（ａ）〜（ｃ）のように所定時間ｔｒ経過後の内部圧力
を基準圧力値Ｐｒ１と比較判定できるのは、ガラス壜の
容量が同じ場合だけであり、かつ、ガラス壜内部に印加
されるパルス状の空気の容量が同じ場合に限られる。す
なわち、ガラス壜の容量や印加される空気の容量が異な
ると、その圧力波形の変化の仕方も図７の（ｄ）や
（ｅ）に示されるように異なったものとなる。

【００１１】従って、図７の（ｄ）や（ｅ）のような圧
力変化を示すガラス壜に対しては、その基準圧力値の大
きさを変更してやらなければならない。すなわち、図７
の（ｄ）や（ｅ）の場合には、基準圧力値を図７の
（ａ）〜（ｃ）の場合よりも大きな基準圧力値Ｐｒ２に
設定してやる必要がある。図７の（ｄ）や（ｅ）では、
所定時間ｔｒ経過後の内部圧力はＰｄ及びＰｅであり、
基準圧力値Ｐｒ２よりも大きい。従って、図７の（ｄ）
及び（ｅ）のような圧力変化を示すガラス壜は合格と判
定される。

【００１２】ところが、図７の（ｂ）のような圧力変化
を示すガラス壜を図７の（ｄ）や（ｅ）の基準圧力値Ｐ
ｒ２の下で測定すると、所定時間ｔｒ経過後の内部圧力
はＰｂであり、基準圧力値Ｐｒ２よりも小さいので、不
合格と判定される。また、図７の（ｅ）の場合には、所
定時間ｔｒ経過後の内部圧力の値が振動波形の山の部分
に対応しているので、合格と判定されたが、これが谷の
部分に対応していると、不合格と判定される可能性が高
い。このように、従来の検査方法では、ガラス壜の容量
及びガラス壜内部に印加されるパルス状の空気の容量に
基づいて、その基準圧力値Ｐｒ及び所定時間ｔｒを適当
な値に設定してやらなければならなかったため、ガラス
壜の種類（容量等）が変化すると、その度に、基準圧力
値Ｐｒや所定時間ｔｒ等を適宜変更しなければならなか
った。

【００１３】また、従来の検査方法では、ガラス壜内部
にパルス状の空気を印加してから所定時間が経過するま
での間は合否判定をすることができないため、検査時間
を短縮化することができないという問題があった。

【００１４】本発明は上述の点に鑑みてなされたもので
あり、ガラス壜の内部に所定圧力のパルス状の空気を印
加し、その内部圧力の変化を検出する場合に、ガラス壜
の容量が異なっても、その不良を確実に検出することの
できるガラス壜の不良検査装置を提供することを第１の
目的とする。また、本発明は、ガラス壜の内部に所定圧
力のパルス状の空気を印加してからその合否判定を短時
間に行うことのできるガラス壜の不良検査装置を提供す
ることを第２の目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】第１の観点に従えば、本
発明のガラス壜の不良検査装置は、密閉されたガラス壜
に所定圧力の空気パルスを印加する空気印加手段と、前
記ガラス壜内の圧力を検知し、それを圧力信号として出
力する圧力検知手段と、前記空気印加手段による前記ガ
ラス壜への前記空気パルスの印加に応じて生じる前記圧
力信号の減衰振動における最大振幅値以降の山と谷の振
幅値を演算することに基づき該減衰振動の減衰率を推定
し、この減衰率と所定の基準値との比較に基づき前記ガ
ラス壜の良否を判定する良否判定手段とを具えたことを
特徴とする。第２の観点に従えば、本発明のガラス壜の
不良検査装置は、密閉されたガラス壜に所定圧力の空気
パルスを印加する空気印加手段と、前記ガラス壜内の圧
力を検知し、それを圧力信号として出力する圧力検知手
段と、前記空気印加手段による前記ガラス壜への前記空
気パルスの印加に応じて生じる前記圧力信号の減衰振動
波形の所定時間における積分値を求め、この積分値と所
定の基準値との比較に基づき前記ガラス壜の良否を判定
する良否判定手段とを具えたことを特徴とする。

【００１６】

【作用】密閉されたガラス壜に所定圧力の空気パルスを
印加したとき、前述の通り、蓋とガラス壜の口天面との
隙間から空気が徐々に漏れることにより、壜の良否を問
わずスロープ状の単調減衰特性を示して減衰すると共
に、印加された空気パルスが配管系を通る過程での反射
及び壜内での反射の繰り返しによって小きざみな圧力振
動が繰り返すことにより、内部圧力は、谷と山とを交互
に繰り返しながら減衰していく減衰振動特性を示すこと
になる。この場合、ガラス壜の口天面の欠陥やその他の
欠陥がある場合、上記単調減衰特性の減衰率が相対的に
大きくなる。従って、上記単調減衰特性の減衰率を的確
に測定又は判定若しくは推定することができれば、ガラ
ス壜の口天面の欠陥やその他の欠陥を判定することがで
きるのであるが、小きざみな圧力振動が重畳されている
ために、その測定又は判定若しくは推定が従来困難であ
った。かくして、本発明の圧力検出手段からは最大値を
第１の山として、交互に谷と山の繰り返しからなる減衰
振動を示す圧力信号が出力されることになる。本発明に
おいては、そのような交互に谷と山の繰り返しからなる
減衰振動を示す圧力信号に基づき、上記単調減衰特性の
減衰率を的確に測定又は判定若しくは推定し、これに基
づきガラス壜の良否を判定するようにしたことを特徴と
している。すなわち、上記第１の観点によれば、良否判
定手段は、前記圧力信号の減衰振動における最大振幅値
以降の山と谷の振幅値を演算することに基づき該減衰振
動の減衰率を推定し、この減衰率と所定の基準値との比
較に基づき前記ガラス壜の良否を判定することを特徴と
している。すなわち、山と谷の振幅値の相違は、上記単
調減衰特性における減衰率に相関している（減衰率が大
きいほど、山と谷の振幅値の相違が大きい）ので、該山
と谷の振幅値を演算することに基づき該減衰振動の減衰
率を的確に推定することができる。なお、この第１の観
点に従えば、減衰率の推定のためには、少なくとも１つ
の山と谷の振幅値を演算すればよいので、所定時間待つ
ことなく、短時間のうちにガラス壜の良否を判定するこ
とも可能である。また、上記第２の観点によれば、良否
判定手段は、前記圧力信号の減衰振動波形の所定時間に
おける積分値を求め、この積分値と所定の基準値との比
較に基づき前記ガラス壜の良否を判定することを特徴と
している。すなわち、減衰振動波形の所定時間における
積分値は、上記単調減衰特性における減衰率に相関して
いる（減衰率が大きいほど、積分値が小さくなる）の
で、該積分値を演算することに基づき該減衰振動の減衰
率を推定することができる。このような積分方式によれ
ば、所定時間経過時点での圧力値が山又は谷のどちらに
該当するかによって該圧力値が不規則的であっても、積
分値によるが故に的確な減衰率の推定を行うことができ
る。

【００１７】上記第１の観点に従う本発明の一実施態様
として、圧力信号の最大振幅値と、この最大振幅値の次
に現れる谷の振幅値とを検出し、谷の振幅値を最大振幅
値で除した値を前記減衰率の推定値として求め、該推定
値が基準値よりも大きい場合は良の判定を、小さい場合
は否の判定を行うようにしてよい。すなわち、ガラス壜
内の圧力は所定圧力の空気の印加に伴って周期的な振動
波形を示しながら減衰していくので、谷の振幅値を最大
振幅値で除した値が大きいほど、その圧力信号の減衰率
は小さく、除した値が小さければ減衰率は大きいことを
意味する。この実施態様によれば、最初の山に相当する
最大振幅値の次の最初の谷の振幅値を検出した時点で、
良否判定を行うことができるので、良否判定を最も短時
間に行えるという利点がある。なお、上記第２の観点の
変形例として、良否判定手段は、前記空気印加手段によ
る前記ガラス壜への前記空気パルスの印加に応じて生じ
る前記圧力信号の減衰振動波形における最大振幅値を基
準として、これ以降の所定時間における前記減衰振動の
積分値を求め、この積分値と所定の基準値との比較に基
づき前記ガラス壜の良否を判定するようにしてもよい。
この場合も、前記減衰率に相関する積分値を得ることが
でき、的確な良否判定を行うことができる。

【００１８】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照しなが
ら説明する。図１は本発明のガラス壜の不良検査装置の
全体構成の概略を示す図である。図において、制御装置
１０は不良検査装置全体の動作を制御するものであり、
外部からのレディ信号ＲＤを入力することによってエア
パルス発生器１１にスタート信号ＳＴを出力する。レデ
ィ信号ＲＤは、製造ライン上を移動してきた被検査用の
ガラス壜１２が所定の検査位置に停止した時点で上位コ
ントローラから出力される信号である。

【００１９】エアパルス発生器１１は制御装置１０から
のスタート信号ＳＴの入力に同期して所定圧力のパルス
状の空気（エアパルス）を発生する。エアパルス発生器
１１で発生したエアパルスは送り管１３を介してガラス
壜１２内に印加される。蓋１４は検査時にガラス壜１２
を密閉するものである。戻り管１５は送り管１３の内部
を貫通してガラス壜１２内に挿入されており、ガラス壜
１２内の圧力を外部の圧力センサ１６に伝える。

【００２０】圧力センサ１６は戻り管１５を介して伝わ
ってくるガラス壜１２内の空気圧の変化を圧力信号ＰＳ
に変換して、圧力測定器１７に出力する。圧力測定器１
７は圧力センサ１６からの圧力信号ＰＳに基づいて、圧
力波形における最大値（第１の山の部分の圧力信号）Ｐ
１と次に現れる第１の谷の部分の圧力信号Ｐ２とを測定
して良否判定回路１８に出力する。良否判定回路１８は
圧力測定器１７からの圧力信号Ｐ１及びＰ２を入力し、
Ｐ２をＰ１で除した値ＰＤ（＝Ｐ２／Ｐ１）を算出し、
その除算値ＰＤと、制御装置１０からの基準信号ＲＳと
を比較し、除算値ＰＤが基準値ＲＳよりも小さい場合に
は不良（不合格）の判定信号ＧＳを、除算値ＰＤが基準
値ＲＳ以上の場合には良（合格）の判定信号ＢＳを外部
の上位コントローラに出力する。

【００２１】本発明が従来のものと異なる点は、この圧
力測定器１７と良否判定回路１８の構成にある。すなわ
ち、本発明では、ガラス壜１２内の圧力がエアパルスの
印加に伴って周期的な振動波形を示しながら減衰してい
くことに着目し、第１の山の部分の圧力信号Ｐ１に対す
る第１の谷の部分の圧力信号Ｐ２の値、すなわちＰ２を
Ｐ１で除した値ＰＤが大きいほど、減衰率は小さく、除
算値ＰＤが小さければ減衰率は大きいことを意味する。

【００２２】従って、ガラス壜１２の口天面に欠陥が存
在し、漏れが発生すると、除算値ＰＤは小さくなり、従
来の検査方法の場合と同様に所定時間経過後の圧力値も
小さくなり、不合格と判定される。一方、正常なガラス
壜１２の場合には除算値ＰＤは大きな値を示し、結果と
して、従来の検査方法の場合と同様に所定時間経過後の
圧力値も大きく、合格と判定される。また、本発明の不
良検査においては、ガラス壜の容量が変化したとしてと
も、除算値ＰＤの値はガラス壜固有の値を示し、印加さ
れるエアパルスの容量等には依存しなくなるので、異な
る容量のガラス壜を問題なくランダムに検査することが
できる。

【００２３】図２は、図１のエアパルス発生器１１の概
略構成を示す断面図である。エアパルス発生器１１は基
本的に、ダイヤフラム２１と、このダイヤフラム２１と
の間で気密を保持する上部ケース２２と、このダイヤフ
ラム２１のセンターディスク２７ａ，２７ｂを瞬時に移
動させる手段（第１ソレノイド２３、第２ソレノイド２
４及びロッド２５ｂ）とから構成される。

【００２４】ダイヤフラム２１は、布入りゴムのダイヤ
フラムであり、円板の片側表面上に半円形状の環状溝を
有する。ダイヤフラム２１の外周部分にはビードと呼ば
れる厚肉縁が設けられ、ダイヤフラム２１の中央部分に
は締付けボルト用の開口が設けられている。ダイヤフラ
ム２１の環状溝に囲まれた部分には、センターディスク
２７ｂが設けられ、ダイヤフラム２１を挟んで反対側中
央部分にはセンターディスク２７ａが設けられている。
このセンターディスク２７ａ，２７ｂは締付けボルト２
８によってロッド２５ａに固定される。ダイヤフラム２
１の中央部分はこのセンターディスク２７ａ，２７ｂに
よって密着固定され、締付けボルト用開口から空気が漏
洩しないように構成されている。

【００２５】ダイヤフラム用ケース２６は、その外周部
にダイヤフラム２１のビードを収納するための環状のビ
ード溝を有し、さらにその中央部分にロッド２５ａを貫
通させるための開口を有する。上部ケース２２は、この
ダイヤフラム用ケース２６の上側にはめ込まれ、ボルト
（図示せず）によって気密封止される。上部ケース２２
の上側には、図１の送り管１３が設けられており、圧縮
された空気はエアパルスとなってこの送り管１３を介し
てガラス壜１２に印加される。

【００２６】ダイヤフラム２１と上部ケース２２とによ
って囲まれた空間は、完全に密封された状態である。従
って、ロッド２５ａが上下方向に移動すると、センター
ディスク２７ａ，２７ｂもこれに伴って移動し、ダイヤ
フラム２１の形状が変化する。このダイヤフラム２１の
形状変化に伴ってダイヤフラム２１と上部ケース２２と
によって囲まれた空間の容量も変化し、送り管１３から
はパルス状の空気圧が伝達されるようになる。

【００２７】ロッド２５ａを移動させる手段は、第１ソ
レノイド２３と第２ソレノイド２４とロッド２５ｂとか
ら構成される。第１ソレノイド２３と第２ソレノイド２
４は、下部ケース２９内に設けられている。ロッド２５
ｂは、磁性体で構成され、第１及び第２ソレノイド２３
及び２４の中心部を直線移動するようになっている。

【００２８】ロッド２５ｂの一端部には一体に構成され
たロッド２５ａを有し、他端部にも同様に一体に構成さ
れたロッド２５ｃを有する。ロッド２５ａ及び２５ｃ
は、共に非磁性体である。ロッド２５ｂの軸方向の長さ
は第１及び第２ソレノイド２３及び２４の長さよりも短
くなっている。また、下部ケース２９の下側中央部分に
はロッド２５ｃを貫通させるための開口を有する。従っ
て、ロッド２５ａ，２５ｂ，２５ｃからなるロッドはダ
イヤフラム用ケース２６の開口部分と下部ケース２９の
開口部分との間を滑り直線移動を行う。

【００２９】第１ソレノイド２３には、ロッド２５ｂか
らロッド２５ａに向かう方向に磁界を発生させるような
電流が流され、第２ソレノイド２４にはロッド２５ｂか
らロッド２５ｃに向かう方向に磁界を発生させるような
電流が流される。制御装置１０は第１及び第２ソレノイ
ド２３及び２４のどららか一方だけにしか電流を流さな
いように制御している。従って、第１ソレノイド２３に
電流が流れると、ロッド２５ｂ（２５ａ，２５ｃ）は上
方向に移動し、ダイヤフラム２１の形状を変形させる。
逆に、第２ソレノイド２４に電流が流れると、ロッド２
５ｂ（２５ａ，２５ｃ）は下方向に移動し、ダイヤフラ
ム２１を元の形状に復元させる。

【００３０】従来、この種のエアパルス発生器は、１個
のソレノイドで構成され、この１個のソレノイドに流す
電流の方向を反転させることによって、ロッドの移動を
制御していた。しかしながら、１個のソレノイドに流す
電流を反転すると、その際に生じる誘導電流の反作用に
よって応答性が劣化し、好ましくなかったので、この実
施例では、２個のソレノイドを用い、交互に電流を流し
てロッドの移動を制御するようにした。これによって、
エアパルス発生器は、ロッドの移動応答特性を格段に向
上することが可能となり、立上り特性の良いエアパルス
を発生することができるようになった。

【００３１】次に、図１のガラス壜の不良検査装置の動
作を図３のタイミングチャートを用いて説明する。図に
おいて、レディ信号ＲＤは上位コントローラから図１の
制御装置１０に対して与えられる信号であり、製造ライ
ン上を移動してきたガラス壜１２が所定の検査位置に停
止する毎に発生するものである。スタート信号ＳＴはレ
ディ信号ＲＤの立ち下がりに同期して制御手段１０がエ
アパルス発生器１１に対して出力する信号である。パル
ス発生器１１はこのスタート信号ＳＴのハイレベル
“１”のときに第１ソレノイド２３に電流を流し、ロー
レベル“０”のときに第２ソレノイド２４に電流を流
す。ロッド位置信号ＲＰＳは、第１ソレノイド２３に流
れる電流によってロッド２５ｂ（２５ａ，２５ｃ）の移
動量を示す信号である。圧力信号ＰＳは、圧力測定器１
７によって変換されたガラス壜１２内の空気圧の変化を
示す信号である。判定信号ＧＳ又はＢＳは、良否判定回
路１８から出力される良否判定の結果を示す信号であ
り、判定結果が良（合格）の場合に正レベル“＋１”の
ＧＳとなり、否（不合格）の場合に負レベル−１のＢＳ
となる。

【００３２】まず、ガラス壜１２が所定の検査位置に停
止すると、上位コントローラから制御装置１０に対して
レディ信号ＲＤが出力される。このレディ信号ＲＤの出
力と同時に、上位コントローラは蓋１４をガラス壜１２
の口に密着してガラス壜１２内を密閉状態にする。制御
装置１０はレディ信号ＲＤの立ち下がりに同期してスタ
ート信号ＳＴをハイレベル“１”にする。すると、パル
ス発生器１１はその時点で、第１ソレノイド２３に電流
を流し、今まで流れていた第２ソレノイド２４の電流を
切断する。これによって、第１ソレノイド２３はオン状
態となり、第２ソレノイド２４はオフ状態となる。第１
ソレノイド２３がオン状態になると、ロッド２５ｂ（２
５ａ，２５ｃ）は上方向に移動し、上部ケース２２とセ
ンターディスク２７ａの接触により停止する。

【００３３】ロッド２５ｂの移動に伴って、上部ケース
２２とダイヤフラム２１との間の容積が減少し、エアパ
ルス発生器１１からエアパルスが発生する。このエアパ
ルスは送り管１３内を伝達し、ガラス壜１２内に伝わ
る。エアパルスの印加によってガラス壜１２内の圧力は
変化する。この圧力変化に応じた圧力信号ＰＳが圧力セ
ンサ１６から圧力測定器１７に出力される。

【００３４】圧力測定器１７は圧力信号ＰＳに基づい
て、その圧力波形における最大値（第１の山の部分の圧
力信号）Ｐ１と、その次に現れる第１の谷の部分の圧力
信号Ｐ２とを検出して、良否判定回路１８に出力する。
良否判定回路１８は圧力信号Ｐ２を圧力信号Ｐ１で除し
た値ＰＤと、制御装置１０からの基準信号ＲＳとを比較
し、判定信号ＧＳ又はＢＳを外部の上位コントローラに
出力する。判定信号は正レベル“＋１”のときに良（合
格）の判定信号ＧＳを示し、負レベル“−１”のときに
否（不合格）の判定信号ＢＳを示す。従って、図のよう
な第１の山の部分の圧力信号がＰ１ａで、第１の谷の部
分の圧力信号がＰ２ａの場合には、合格と判定され、ス
タート信号ＳＴの立下りに同期して正レベル“＋１”の
判定信号ＧＳが出力される。一方、第１の山の部分の圧
力信号がＰ１ｂで、第１の谷の部分の圧力信号がＰ２ｂ
の場合には、不合格と判定され、スタート信号ＳＴの立
下りに同期して負レベル“−１”の判定信号ＢＳが出力
される。

【００３５】図４は、図７の（ａ）〜（ｅ）と同じガラ
ス壜の内部圧力の変化の様子を示す波形図である。図４
のような圧力信号が本発明の不良検査装置によってどの
ように判定されるかを説明する。図４の（ａ）のような
圧力変化を示すガラス壜を本発明の不良検査装置で検査
すると、良否判定回路１８は圧力信号Ｐ２ａを圧力信号
Ｐ１ａで除した値ＰＤａと、制御装置１０からの基準信
号ＲＳとを比較し、その結果として良（合格）の判定信
号ＧＳを外部の上位コントローラに出力する。

【００３６】同様に図４の（ｂ）〜（ｅ）のような圧力
変化を示すガラス壜を本発明の不良検査装置で検査する
と、良否判定回路１８は圧力信号Ｐ２ｂ〜Ｐ２ｅを圧力
信号Ｐ１ｂ〜Ｐ１ｅで除した値ＰＤｂ〜ＰＤｅと、制御
装置１０からの基準信号ＲＳとを比較し、その結果とし
て良（合格）又は否（不合格）の判定信号ＧＳ又はＢＳ
を外部の上位コントローラに出力する。従って、図４の
（ｂ）の場合は、従来の検査方法では合格と判定された
が、この実施例では不合格と判定される。図４の（ｃ）
の場合は、従来の場合もこの実施例の場合も不合格と判
定される。図４の（ｄ）の場合は、従来の場合もこの実
施例の場合も合格と判定される。図４の（ｅ）の場合
は、従来は合格と判定されたが、この実施例では不合格
と判定される。

【００３７】なお、上述の実施例では、圧力波形におけ
る最大値（第１の山の部分の圧力信号）Ｐ１と、その次
に現れる第１の谷の部分の圧力信号Ｐ２とを検出し、そ
れに基づいて良否判定を行っていたが、これに限らず、
第２の山の圧力信号Ｐ３、第２の谷の圧力信号Ｐ４等を
検出し、これらの信号を適宜演算処理して良否判定を行
ってもよい。

【００３８】また、上述の実施例では、圧力波形におけ
る最大値（第１の山の部分の圧力値）Ｐ１と、その次に
現れる第１の谷の部分の圧力信号Ｐ２とを検出し、それ
に基づいて良否判定を行う場合について説明したが、図
５の（ａ）及び（ｂ）のように圧力波形の所定時間ｔｉ
における積分値Ｉｎ１ａ，Ｉｎ１ｂを求め、この積分値
Ｉｎ１ａ，Ｉｎ１ｂと所定の基準値とを比較判定するよ
うにしてもよい。すなわち、減衰振動特性を示す該圧力
波形の所定時間における積分値は、前述の単調減衰特性
における減衰率に相関している（図５の場合、積分値が
小さいほど減衰率が大きい）ので、該積分値を演算する
ことに基づき該減衰振動の減衰率を推定することができ
る。このような積分方式によれば、所定時間経過時点で
の圧力値が山又は谷のどちらに該当するかによって該圧
力値が不規則的であっても、積分値によるが故に的確な
減衰率の推定を行うことができる。例えば、図５の
（ａ）においては積分値Ｉｎ１ａは所定の基準値よりも
大きいので良（合格）と判定され、図５の（ｂ）におい
ては積分値Ｉｎ１ｂは所定の基準値よりも小さいので否
（不合格）と判定される。勿論、該所定の基準値は、目
的とする検査対象に応じて適宜に設定するものとする。
図５のような積分方式の変形例として、図６の（ａ）及
び（ｂ）のように、圧力波形における最大値（第１の山
の部分の圧力値）Ｐ１ａ，Ｐ１ｂを基準として、所定時
間ｔｉまでにおける圧力波形の積分値Ｉｎ２ａ，Ｉｎ２
ｂを求め、この積分値Ｉｎ２ａ，Ｉｎ２ｂと基準値とを
比較判定するようにしてもよい。図６の場合、最大値Ｐ
１ａ，Ｐ１ｂに対する各時点での圧力値の差を積分した
例を示しているので、減衰率と積分値Ｉｎ２ａ，Ｉｎ２
ｂとの相関性は図５の場合とは逆となっている。例え
ば、図６の（ａ）においては積分値Ｉｎ２ａは所定の基
準値よりも小さいので良（合格）と判定され、図６の
（ｂ）においては積分値Ｉｎ２ｂは所定の基準値よりも
大きいので否（不合格）と判定される。このように、所
定時間ｔｉまでにおける圧力波形の積分値に基づいて的
確な減衰率の推定して良否判定を行うことによって、良
否判定精度を向上させることができる。また、積分を行
う期間ｔｉを適宜短縮化しても良否判定精度に影響与え
ないので、従来技術に比べて検査時間の短縮化を図るこ
ともできる。

【００３９】

【発明の効果】 以上のように本発明のガラス壜の不良
検査装置によれば、ガラス壜の不良を精度よく検査でき
ると共に、ガラス壜の合否判定を短時間で行うことがで
き。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明に係るガラス壜の不良検査装置の全体
構成の概略を示す図である。

【図２】 図１のエアパルス発生器の概略構成を示す断
面図である。

【図３】 図１のガラス壜の不良検査装置の動作を説明
するためのタイミングチャートを示す図である。

【図４】 本発明の不良検査装置によって圧力信号がど
のように判定されるかを説明するためのガラス壜の内部
圧力の変化の様子を示す波形図である。

【図５】 本発明の不良検査装置の他の実施例による判
定の様子を示す波形図である。

【図６】 本発明の不良検査装置のさらに他の実施例に
よる判定の様子を示す波形図である。

【図７】 従来行われていた検査方法を説明するための
ガラス壜の内部圧力の変化の様子を示す図である。

【符号の説明】

１０…制御装置、１１…エアパルス発生器、１２…ガラ
ス壜、１３…送り管、１４…蓋、１５…戻り管、１６…
圧力センサ、１７…圧力測定器、１８…良否判定回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 門之園 修三 東京都小金井市中町３−22−29 プラザ ハイツ小金井203号 (72)発明者 山内 毅 愛知県名古屋市西区坂井戸町77番地 (56)参考文献 特開 昭61−110010（ＪＰ，Ａ) 特公 昭50−32835（ＪＰ，Ｂ１) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G01F 17/00 G01M 3/32 G01M 3/24

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 密閉されたガラス壜に所定圧力の空気パ
   ルスを印加する空気印加手段と、 前記ガラス壜内の圧力を検知し、それを圧力信号として
   出力する圧力検知手段と、 前記空気印加手段による前記ガラス壜への前記空気パル
   スの印加に応じて生じる前記圧力信号の減衰振動におけ
   る最大振幅値以降の山と谷の振幅値を演算することに基
   づき該減衰振動の減衰率を推定し、この減衰率と所定の
   基準値との比較に基づき前記ガラス壜の良否を判定する
   良否判定手段とを具えたガラス壜の不良検査装置。
2. 【請求項２】 前記良否判定手段は、前記空気印加手段
   による前記ガラス壜への前記空気パルスの印加に応じて
   生じる前記圧力信号の減衰振動における最大振幅値と、
   この最大振幅値の次に現れる谷の振幅値とを検出し、前
   記谷の振幅値を前記最大振幅値で除した値を前記減衰率
   の推定値として求め、該推定値が基準値よりも大きい場
   合は良の判定を、小さい場合は否の判定を行うことを特
   徴とする請求項１に記載のガラス壜の不良検査装置。
3. 【請求項３】 密閉されたガラス壜に所定圧力の空気パ
   ルスを印加する空気印加手段と、 前記ガラス壜内の圧力を検知し、それを圧力信号として
   出力する圧力検知手段と、 前記空気印加手段による前記ガラス壜への前記空気パル
   スの印加に応じて生じる前記圧力信号の減衰振動波形の
   所定時間における積分値を求め、この積分値と所定の基
   準値との比較に基づき前記ガラス壜の良否を判定する良
   否判定手段とを具えたガラス壜の不良検査装置。
4. 【請求項４】 密閉されたガラス壜に所定圧力の空気パ
   ルスを印加する空気印加手段と、 前記ガラス壜内の圧力を検知し、それを圧力信号として
   出力する圧力検知手段と、 前記空気印加手段による前記ガラス壜への前記空気パル
   スの印加に応じて生じる前記圧力信号の減衰振動波形に
   おける最大振幅値を基準として、これ以降の所定時間に
   おける前記減衰振動の積分値を求め、この積分値と所定
   の基準値との比較に基づき前記ガラス壜の良否を判定す
   る良否判定手段とを具えたガラス壜の不良検査装置。