JP2922580B2 - ポリゴンスキャナミラーの面倒れ測定パターンの形成方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ この発明は、レーザプリンタ、ディジタル複写機等の
ように、レーザ光をポリゴンスキャナミラーで反射して
画像形成面上に走査する方式の画像出力装置におけるテ
ストパターン形成方法に関するものである。

＜従来の技術＞ レーザ光をポリゴンスキャナミラーで反射して画像形
成面上に走査する方式の画像形成装置においては、ポリ
ゴンスキャナミラーの面倒れが形成される画像の画質に
大きく影響を与える。ここに、ポリゴンスキャナミラー
の面倒れとは、ポリゴンスキャナミラーの或る反射面が
回転中心に対して偏心しているとか、或る反射面が回転
軸に平行ではなく傾いているとかということに起因する
反射特性不良のことである。

従来、ポリゴンスキャナミラーの面倒れの有無および
その程度は、CCD等を含む検査装置を用いて測定されて
いた。

＜発明が解決しようとする課題＞ 従来の測定方法によってポリゴンスキャナミラーの面
倒れを測定するには、検査装置を初めとして、駆動回
路、取付治具等を必要とし、大掛かりな準備が必要であ
った。

特に、ポリゴンスキャナミラーが画像出力装置に組込
まれた後における面倒れの測定は、上述のように大掛か
りな準備が必要であるから、非常に手間のかかる作業で
あった。

この発明は、このような現状に鑑みてなされたもの
で、ポリゴンスキャナミラーが画像出力装置に組込まれ
ている状態において、面倒れが生じているか否かおよび
その程度の簡単に確認することのできる方法を提供する
ことを目的とする。

＜課題を解決するための手段＞ この発明は、レーザ光をポリゴンスキャナミラーで反
射して画像形成面上に走査する方式の画像出力装置にお
いて、ポリゴンスキャナミラーの面倒れを測定するため
のパターンを形成する方法であって、ポリゴンスキャナ
ミラーの或る１面によってレーザ光が反射される際に、
予め定める第１タイミングで一定時間だけレーザ光を出
力し、それによって一定太さの細線を第１位置に形成
し、ポリゴンスキャナミラーの次の１面によってレーザ
光が反射される際に、予め定める第２タイミングで一定
時間だけレーザ光を出力し、それによって一定太さの細
線を第２位置に形成し、第１位置に形成される細線の後
端下側エッジと第２位置に形成される細線の先端上側エ
ッジとが当接するように、前記第１タイミング、前記第
２タイミングおよび前記レーザ光出力時間が設定されて
いることを特徴とするものである。

また、この発明は、前記ポリゴンスキャナミラーの面
倒れ測定パターンの形成方法において、ポリゴンスキャ
ナミラーは、正ｎ角形の回転ミラーであり、ポリゴンス
キャナミラーの第１面によって反射されて形成される細
線ないし第ｎ面によって反射されて形成される細線を含
む少なくともｎ本の細線は、順に先行する細線の後端下
側エッジと後続する次の細線の先端上側エッジとが隣接
するように、前記レーザ光の出力タイミングおよび出力
時間が設定されていることを特徴とするものである。

さらに、この発明は、前記ポリゴンスキャナミラーの
面倒れ測定ターンの形成方法において、正ｎ角形のスキ
ャナミラーによって形成されるｎ本の細線からなる細線
群が、主走査方向にＮ組並ぶように、前記レーザ光の出
力タイミング、出力時間および繰返し間隔が設定されて
いることを特徴とするものである。

＜作用＞ 装置に組込まれているポリゴンスキャナミラーを用い
て主走査方向に細線を形成する場合、ポリゴンスキャナ
ミラーに面倒れが全くない場合には、ポリゴンスキャナ
ミラーの或る反射面で反射されて走査形成される細線
と、次の反射面で反射されて走査形成される細線とを、
含走査方向に細線幅だけずらせ、かつ主走査方向に隣接
させると、２つの細線は、先行する細線の後端下側エッ
ジとそれに続く細線の先端上側エッジとが隙間なく、か
つ、重複せずに当接する。

逆に、ポリゴンスキャナミラーのいずれかの反射面に
面倒れがある場合には、上述のように先行する細線の後
端下側エッジと後続する次の細線の先端上側エッジとが
隙間なく、かつ重複せずに当接せず、隙間があいたり、
後端と先端とが重複したりする。

よって、実際にポリゴンスキャナミラーを用いて、こ
の発明の条件に基づく細線の組または細線群を複数組連
続して描くと、描かれた細線群を観察することで、ポリ
ゴンスキャナミラーの面倒れの有無および程度を確認す
ることができる。

＜実施例＞ 以下には、図面を参照して、具体的な実施例について
説明をする。

第２図および第３図は、たとえばレーザプリンタにお
けるレーザユニット１、ポリゴンスキャナミラー２およ
び感光体ドラム３の関係を表わす図解的平面図である。
第２図および第３図に示すように、レーザユニット１か
らレーザ光が出力されているとき、ポリゴンスキャナミ
ラー２を回転させると、ポリゴンスキャナミラー２の１
面だけで、１本の直線を感光体ドラム３の端から端まで
引くことができる。つまり、ポリゴンスキャナミラー２
の或る１面によって主走査を行なうことができ、ポリゴ
ンスキャナミラー２の次の１面によって次の主走査を行
なうことができ、さらに次の１面によって次の主走査を
行なうことができるのである。

また、ポリゴンスキャナミラー２の１面による主走査
完了後、次の１面による主走査開始前に感光体ドラム３
を一定角度回転させることにより、主走査線の位置にず
らすこと、つまり副走査ができる。

さらにまた、レーザユニット１から出力されるレーザ
光をオン，オフさせることにより、主走査方向に直線を
形成したり、しなかったりすることができ、ポリゴンス
キャナミラー２の或る１面によって主走査が行なわれる
間に、レーザ光のオン／オフを繰返せば、、形成される
直線は破線になる。

以上の基本的な構成を前提にして、この実施例では、
第１図に示すテストパターンを形成する。たとえば、ポ
リゴンスキャナミラーの周面がたとえば正八角形の場
合、８つの面それぞれで反射されて形成される細線が主
走査方向に並ぶようにし、しかも、順に、先行する細線
の後端下側エッジと後続する次の細線の先端上側エッジ
とが当接するようにする。

つまり、第１主走査線上にポリゴンスキャナミラーの
第１面によって細線L1を形成し、第２主走査線上にポリ
ゴンスキャナミラーの第２面によって細線L2を形成し、
第３主走査線上にポリゴンスキャナミラーの第３面によ
って細線L3を形成し、それをポリゴンスキャナミラーの
第８面まで繰返す。

その場合、各細線L1〜L8は、たとえば１ドット幅の細
線で、かつ、その長さはすべて等しい長さとなるように
し、しかも、先行する細線、たとえば細線L1の後端下側
エッジと、後続する次の細線L2の先端上側エッジとが当
接するようにする。細線L1は第１主走査線上に描かれて
おり、細線L2は第２主走査線上に描かれているわけであ
るから、ミクロ的に見ると、第１図に示すように、細線
L1の後端下エッジと細線L2の先端上エッジとが接する関
係になる。他の細線間の関係も同様である。

実際にレーザプリンタに搭載されたポリゴンスキャナ
ミラーによって描かれた第１図に示すテストパターンに
より、次のようにしてポリゴンスキャナミラーの面倒れ
を判別できる。

すなわち、ポリゴンスキャナミラーの或る反射面に面
倒れが生じている場合、その面で描かれた細線が所定の
位置から微妙にずれてしまう。したがって、第１図に示
すテストパターンにおいて、ポリゴンスキャナミラーが
正常な場合は、細線同士の隣接関係は第４図（ａ）のよ
うになるが、異常がある場合、すなわち面倒れがある場
合は、細線同士の隣接関係は、第４図（ｂ）に示すよう
に先の細線の後端下側エッジと次の細線の先端上側エッ
ジとが離れたり、第４図（ｃ）に示すように、先の細線
の後端と後の細線の先端が一部重なり合ったりする。こ
の開き具合や重なり具合を確認することによって、ポリ
ゴンスキャナミラーに生じている面倒れの程度を知るこ
とができる。

第１図に示すテストパターンでは、ポリゴンスキャナ
ミラーが正八面体である場合に、各反射面をそれぞれ１
回ずつ使用して８つの細線L1〜L8を描くものを例にとっ
て説明したが、これに限らず、主走査方向に描く細線
は、少なくとも２本あれば、隣接関係がわかるので、ポ
リゴンスキャナミラーの面倒れの判別を行なうことがで
きる。

また、主走査方向に描く細線の数はポリゴンスキャナ
ミラーの反射面をｎとした場合に、ｎ×Ｎ（Ｎは正の整
数）であってもよい。

さらに、第５図に示すようなテストパターンを描いて
もよい。つまり、副走査方向にも上述のようにして描い
た細線を繰返して描くことにより、テストパターンを副
走査方向にも拡げ、ポリゴンスキャナミラーの面倒れを
より容易に検出できるようなテストパターンとしてもよ
い。

第６図に、上述のテストパターンを生成するためのレ
ーザユニット制御回路の構成例を示す。

第６図を参照して説明すると、垂直同期信号は、副走
査アドレスカウンタ11へクリア信号として与えられる。
水平同期信号は、書き出し位置決定回路12へトリガ信号
として与えられるとともに、副走査アドレスカウンタ11
へ与えられる。副走査アドレスカウンタ11は水平同期信
号をカウントする。

書き出し位置決定回路12は、水平同期信号によってト
リガされると、ビデオクロック発生器13で発生されるク
ロックをカウント開始し、そのクロックが予め定めるカ
ウント値になると出力を導出して主走査アドレスカウン
タをクリアする。

主走査アドレスカウンタ14はビデオクロック発生器13
から与えられるビデオクロックをカウントしており、書
き出し位置決定回路12でクリアされた後のビデオクロッ
ク数をカウントして、アドレス信号として画像データRO
Mへ出力される。また、副走査アドレスカウンタで形成
される水平同期信号の数もアドレスデータとして画像デ
ータROM15へ与えられる。

画像データROM15には、たとえば第１図で説明したよ
うなテストパターン形成用データが格納されており、主
走査アドレスカウンタ14および副走査アドレスカウンタ
11で指定されるアドレスのデータがパラレル−シリアル
変換器16へ出力される。つまり、主走査アドレスカウン
タ14および副走査アドレスカウンタ11によってアドレス
指定された画像データROM15のデータが出力され、シリ
アルデータに変換されてレーザユニット駆動回路へ与え
られる。そして、レーザユニットがテストパターンを形
成するタイミングでオン／オフされる。

＜発明の効果＞ この発明は、以上のように構成されており、ポリゴン
スキャナミラーを実機に搭載したままの状態で、ポリゴ
ンスキャナミラーの面倒れの有無や面倒れの程度を簡単
に検査または確認することのできるテストパターンを形
成することができ、そのテストパターンに基づいて上記
検査や確認をすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の一実施例にかかるテストパターン
の一例を表わす図である。 第２図および第３図は、レーザユニット、ポリゴンスキ
ャナミラーおよび感光体ドラムの関係および画像出力装
置の基本原理を説明するための図である。 第４図は、テストパターンにおける正常な場合および異
常な場合を説明するための図解図である。 第５図は、この発明の他の実施例にかかるテストパター
ンの図解図である。 第６図は、テストパターンを形成するためのレーザユニ
ット制御回路の一例を表わすブロック図である。 図において、１……レーザユニット、２……ポリゴンス
キャナミラー、３……感光体ドラム、L1〜Ln……細線、
を示す。

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】レーザ光をポリゴンスキャナミラーで反射
   して画像形成面上に走査する方式の画像出力装置におい
   て、ポリゴンスキャナミラーの面倒れを測定するための
   パターンを形成する方法であって、 ポリゴンスキャナミラーの或る１面によってレーザ光を
   反射される際に、予め定める第１タイミングで一定時間
   だけレーザ光を出力し、それによって一定太さの細線を
   第１位置に形成し、 ポリゴンスキャナミラーの次の１面によってレーザ光が
   反射される際に、予め定める第２タイミングで一定時間
   だけレーザ光を出力し、それによって一定太さの細線を
   第２位置に形成し、 第１位置に形成される細線の後端下側エッジと第２位置
   に形成される細線の先端上側エッジとが当節するよう
   に、前記第１タイミング、前記第２タイミングおよび前
   記レーザ光出力時間が設定されていることを特徴とす
   る、ポリゴンスキャナミラーの面倒れ量を測定するため
   のパターンを形成する方法。
2. 【請求項２】請求項第１項記載のポリゴンスキャナミラ
   ーの面倒れ測定パターンの形成方法において、 ポリゴンスキャナミラーは、正ｎ角形の回転ミラーであ
   り、 ポリゴンスキャナミラーの第１面によって反射されて形
   成される細線ないし第ｎ面によって反射されて形成され
   る細線を含む少なくともｎ本の細線は、順に先行する細
   線の後端下側エッジと後続する次の細線の先端上側エッ
   ジとが当節するように、前記レーザ光の出力タイミング
   および出力時間が設定されていることを特徴とするもの
   である。
3. 【請求項３】請求項第２項記載のポリゴンスキャナミラ
   ーの面倒れ測定パターンの形成方法において、 正ｎ角形のスキャナミラーによって形成されるｎ本の細
   線からなる細線群が、主走査方向にＮ組並ぶように、前
   記レーザ光の出力タイミング、出力時間および繰返し間
   隔が設定されていることを特徴とするものである。