JP2903634B2 - 白色光を用いた膜厚測定装置及びそれによるインキ供給量管理装置 - Google Patents
白色光を用いた膜厚測定装置及びそれによるインキ供給量管理装置Info
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- JP2903634B2 JP2903634B2 JP2131863A JP13186390A JP2903634B2 JP 2903634 B2 JP2903634 B2 JP 2903634B2 JP 2131863 A JP2131863 A JP 2131863A JP 13186390 A JP13186390 A JP 13186390A JP 2903634 B2 JP2903634 B2 JP 2903634B2
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- Japan
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- ink
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- light
- ink supply
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、白色光を用いて膜状の被検査体の厚さを測
定する膜厚測定装置及びそれを用いたインキ供給装置の
インキ供給量管理装置に関するものである。
定する膜厚測定装置及びそれを用いたインキ供給装置の
インキ供給量管理装置に関するものである。
従来、オフセット印刷機において、版胴へのインキ供
給量の管理は、印刷時に作業者が適宜印刷物を抜き取
り、印刷物中に刷り込まれた濃度測定用パッチの濃度測
定を行い、その濃度測定の結果でインキ供給量の加減を
するという方法で行われていた。しかしながらこの方法
では、印刷物が刷り上がった結果に対する対応でしかな
く、同一印刷物内の濃度のバラツキは作業者の判断によ
るところが大きく、版胴に塗布されたインクの膜厚のム
ラを解消することはできなかった。
給量の管理は、印刷時に作業者が適宜印刷物を抜き取
り、印刷物中に刷り込まれた濃度測定用パッチの濃度測
定を行い、その濃度測定の結果でインキ供給量の加減を
するという方法で行われていた。しかしながらこの方法
では、印刷物が刷り上がった結果に対する対応でしかな
く、同一印刷物内の濃度のバラツキは作業者の判断によ
るところが大きく、版胴に塗布されたインクの膜厚のム
ラを解消することはできなかった。
また、膜厚を測定する方法として、従来超音波を用い
て測定する方法、赤外線を用いて測定する方法等が既に
開示されている。しかしながら、超音波を用いて測定す
る場合、超音波の性質上空気中を伝播することができな
いため、超音波発信装置と被検査体との間、被検査体と
検出装置との間に、水等の液体を介在させなければなら
なかった。また赤外線を用いて膜厚測定する場合、赤外
線が熱を有するため、被検査体が熱硬化性物質である場
合、測定手段として用いることができなかった。
て測定する方法、赤外線を用いて測定する方法等が既に
開示されている。しかしながら、超音波を用いて測定す
る場合、超音波の性質上空気中を伝播することができな
いため、超音波発信装置と被検査体との間、被検査体と
検出装置との間に、水等の液体を介在させなければなら
なかった。また赤外線を用いて膜厚測定する場合、赤外
線が熱を有するため、被検査体が熱硬化性物質である場
合、測定手段として用いることができなかった。
本発明は、上記課題すなわち、版胴に塗布されたイン
キ等の膜厚を測定するにあたり、作業者の手作業を必要
とせず、また検査装置と被検査体との間に媒介物を必要
とせず、さらに被検査体が熱硬化性物質である場合でも
膜厚測定が可能である新規な膜厚測定方法及びその方法
を用いたインキ供給量管理装置を開示することを目的と
する。
キ等の膜厚を測定するにあたり、作業者の手作業を必要
とせず、また検査装置と被検査体との間に媒介物を必要
とせず、さらに被検査体が熱硬化性物質である場合でも
膜厚測定が可能である新規な膜厚測定方法及びその方法
を用いたインキ供給量管理装置を開示することを目的と
する。
上記課題を解決するために、請求項１の白色光を用い
た膜厚測定方法においては、 膜状の被検査体に、特定の強度を有する白色ビーム光
を照射する照射手段と、 被検査体から反射光の周波数の違いによる強度分布を
求め、最も強度の強い周波数部分の強度を検出する検出
手段と、照射ビーム光の強度と検出した反射光の最も強
い強度とを比較し、被検査体に塗布されている塗布物質
の厚さを検出する演算手段と、を具備して成る事を特徴
とする。
た膜厚測定方法においては、 膜状の被検査体に、特定の強度を有する白色ビーム光
を照射する照射手段と、 被検査体から反射光の周波数の違いによる強度分布を
求め、最も強度の強い周波数部分の強度を検出する検出
手段と、照射ビーム光の強度と検出した反射光の最も強
い強度とを比較し、被検査体に塗布されている塗布物質
の厚さを検出する演算手段と、を具備して成る事を特徴
とする。
請求項２のインキ供給量装置は、版胴にローラーを介
してインキを供給するインキ量を管理するインキ供給量
装置において、インキ供給系の任意のローラー表面に塗
布されたインキ層に特定の強度を有する白色ビーム光を
照射する照射手段と、インキ層から反射した反射光の周
波数の違いによる強度分布を求め、最も強度の強い周波
数部分の強度を検出する検出手段と、 検出した反射光の強度から版胴に塗布されているイン
キの厚さを算出する演算手段と、 検出されたインキの厚さから、版胴に塗布されたイン
キの厚さを適切な値となる様にコントロールする制御装
置とを具備して成る事を特徴とする。
してインキを供給するインキ量を管理するインキ供給量
装置において、インキ供給系の任意のローラー表面に塗
布されたインキ層に特定の強度を有する白色ビーム光を
照射する照射手段と、インキ層から反射した反射光の周
波数の違いによる強度分布を求め、最も強度の強い周波
数部分の強度を検出する検出手段と、 検出した反射光の強度から版胴に塗布されているイン
キの厚さを算出する演算手段と、 検出されたインキの厚さから、版胴に塗布されたイン
キの厚さを適切な値となる様にコントロールする制御装
置とを具備して成る事を特徴とする。
本発明において、ビーム光照射手段としては、ハロゲ
ンランプ、キセノンラン等が可能であり、用いる光は白
色光である。白色光を用いる理由は、版胴に塗布される
インキは主にシアン、マゼンタ、イエロー、ブラックの
４種類であるが、各インキは吸収及び反射する光の波長
が異なる。したがって特定波長の光のみを照射したので
は、光がインキに殆ど吸収されてしまい、反射光が得ら
れなくなり、膜厚の測定が不可能となる可能性があるか
らである。
ンランプ、キセノンラン等が可能であり、用いる光は白
色光である。白色光を用いる理由は、版胴に塗布される
インキは主にシアン、マゼンタ、イエロー、ブラックの
４種類であるが、各インキは吸収及び反射する光の波長
が異なる。したがって特定波長の光のみを照射したので
は、光がインキに殆ど吸収されてしまい、反射光が得ら
れなくなり、膜厚の測定が不可能となる可能性があるか
らである。
反射光量を検出する検出手段としては、ホトマルチプ
ライア等の光電管を使用する。
ライア等の光電管を使用する。
インキの厚さを検出する検出手段は、ホトマルチプラ
イア等の光電管で検出した反射光をスペクトルアナライ
ザーを介して特定周波数に分割し、そのうちの最も高い
光量部分を選び、その光量を検出する。
イア等の光電管で検出した反射光をスペクトルアナライ
ザーを介して特定周波数に分割し、そのうちの最も高い
光量部分を選び、その光量を検出する。
インキ供給系の任意の金属ローラー上のインキ層にビ
ーム光を照射すると、一部はインキ膜表面で反射（正反
射）されるが、残りはインキ層内部に入り込む。インキ
層内部におけるビーム光の一部は吸収されるが残りは拡
散反射光としてインキ表面より出てくる。インキの膜厚
が異なれば、このインキ層内部での吸収量も異なりイン
キ表面からの拡散反射量も異なる。この反射光量の違い
をインキ膜厚の違いとして捉え、インキ供給量を管理す
る際のパラメーターとして用いる。
ーム光を照射すると、一部はインキ膜表面で反射（正反
射）されるが、残りはインキ層内部に入り込む。インキ
層内部におけるビーム光の一部は吸収されるが残りは拡
散反射光としてインキ表面より出てくる。インキの膜厚
が異なれば、このインキ層内部での吸収量も異なりイン
キ表面からの拡散反射量も異なる。この反射光量の違い
をインキ膜厚の違いとして捉え、インキ供給量を管理す
る際のパラメーターとして用いる。
以下図面を参照して本発明のインキ供給量管理装置に
ついて説明する。第１図は、本発明のインキ供給量管理
装置の説明図である。本発明のインキ供給量管理装置
は、インキ供給系の任意のローラー表面に塗布されたイ
ンキ層に特定の光量を有するビーム光を照射する照射手
段１と、 インキ層から反射光の光量を検出する検出手段２と、 検出した反射光の光量から版胴に塗布されているイン
キの厚さを検出する演算手段３と、 検出されたインキの厚さから、版胴に塗布されたイン
キの厚さを適切な値となる様にコントロールする制御装
置４とを具備して成る事を特徴とする。
ついて説明する。第１図は、本発明のインキ供給量管理
装置の説明図である。本発明のインキ供給量管理装置
は、インキ供給系の任意のローラー表面に塗布されたイ
ンキ層に特定の光量を有するビーム光を照射する照射手
段１と、 インキ層から反射光の光量を検出する検出手段２と、 検出した反射光の光量から版胴に塗布されているイン
キの厚さを検出する演算手段３と、 検出されたインキの厚さから、版胴に塗布されたイン
キの厚さを適切な値となる様にコントロールする制御装
置４とを具備して成る事を特徴とする。
ビーム光照射手段１は、ハロゲンランプを光源10と
し、該光源10からは光ファイバー12が支持体５まで延設
されている。支持体５には光源10から発せられた白色光
の被照射体への照射手段１であるビーム光照射部14、ビ
ーム光照射部14の離設前方には集光レンズ16、被照射体
であるローラー６から反射してきた照射光を検出する検
出手段２が設置されている。前記光ファイバー12の一端
はビーム光照射部14に接続されており、光源10から発せ
られた白色ビーム光は光ファイバー12を伝わってビーム
光照射部14に送られる。ビーム光照射部14において照射
された白色ビーム光は、集光レンズ16を通過後ローラー
６上で集光する。
し、該光源10からは光ファイバー12が支持体５まで延設
されている。支持体５には光源10から発せられた白色光
の被照射体への照射手段１であるビーム光照射部14、ビ
ーム光照射部14の離設前方には集光レンズ16、被照射体
であるローラー６から反射してきた照射光を検出する検
出手段２が設置されている。前記光ファイバー12の一端
はビーム光照射部14に接続されており、光源10から発せ
られた白色ビーム光は光ファイバー12を伝わってビーム
光照射部14に送られる。ビーム光照射部14において照射
された白色ビーム光は、集光レンズ16を通過後ローラー
６上で集光する。
インキの膜厚の測定が行われる膜厚測定用ローラー５
はインキ供給系の中間に設けられるのが好ましいが、第
２図の様にインキ供給系から延長したローラー６を膜厚
測定用として設定しても良い。
はインキ供給系の中間に設けられるのが好ましいが、第
２図の様にインキ供給系から延長したローラー６を膜厚
測定用として設定しても良い。
インキローラー６から反射した反射光を検出する検出
部２は、検出用のセンサー22としてホトマルチプライア
が支持体５に装着されており、光の強度変化による信号
を電気信号に変換し、変換された電気信号は増幅器24に
より増幅される。尚、検出用のセンサー22はビーム光照
射部１と同一の支持体５に支持される。
部２は、検出用のセンサー22としてホトマルチプライア
が支持体５に装着されており、光の強度変化による信号
を電気信号に変換し、変換された電気信号は増幅器24に
より増幅される。尚、検出用のセンサー22はビーム光照
射部１と同一の支持体５に支持される。
演算手段３は、変換された電気信号を処理装置30によ
って、インキ層の厚さにより変化した反射強度を検出
し、これを予め検出しておいたローラー６のみの反射強
度と比較し、インキ層の厚さを算出する。
って、インキ層の厚さにより変化した反射強度を検出
し、これを予め検出しておいたローラー６のみの反射強
度と比較し、インキ層の厚さを算出する。
ここで、インキ層の信号の検出であるが、ビーム光照
射装置と反射光検出装置とが支持されている支持体５を
膜厚測定用ローラー６に対して水平に走査させながら検
出するが、一回当たりの往復動で検知できる信号量は微
量なものであり、インキの膜厚を検出するには不十分で
ある。そこで走査を複数回繰り返し、膜厚を検出するの
に十分な信号を蓄積しておくのが有効である。
射装置と反射光検出装置とが支持されている支持体５を
膜厚測定用ローラー６に対して水平に走査させながら検
出するが、一回当たりの往復動で検知できる信号量は微
量なものであり、インキの膜厚を検出するには不十分で
ある。そこで走査を複数回繰り返し、膜厚を検出するの
に十分な信号を蓄積しておくのが有効である。
制御手段４について説明する。制御手段４は、予め希
望する膜厚に対応するパラメーターを閾値として与えて
おき、検出手段２において検出され、電気信号に変換さ
れた反射強度信号が閾値と比較され、反射強度信号が閾
値の範囲内にない場合は収まるようにインキ供給装置40
に指示を与え、インキ供給量の調節を行う。
望する膜厚に対応するパラメーターを閾値として与えて
おき、検出手段２において検出され、電気信号に変換さ
れた反射強度信号が閾値と比較され、反射強度信号が閾
値の範囲内にない場合は収まるようにインキ供給装置40
に指示を与え、インキ供給量の調節を行う。
本発明の白色光を用いた膜厚測定方法により、膜厚測
定を行えば、被検査体と検出装置との間に特定の媒介物
を必要とせず、また被検査体が熱硬化性の物質から成る
時でも適用することに特に問題は生じず、照射する光が
白色光であるため被検査体の色により反射光が失われる
こともなく、良好な膜厚測定を行うことが可能である。
定を行えば、被検査体と検出装置との間に特定の媒介物
を必要とせず、また被検査体が熱硬化性の物質から成る
時でも適用することに特に問題は生じず、照射する光が
白色光であるため被検査体の色により反射光が失われる
こともなく、良好な膜厚測定を行うことが可能である。
この膜厚測定方法をインキ供給量管理装置に適用する
と、上記の効果の他に刷り出し及び印刷中の刷り濃度を
安定化させることが可能となり、作業者の熟練によらず
に印刷の高品質化が望め、かつ損紙を減少させる事が可
能となる。
と、上記の効果の他に刷り出し及び印刷中の刷り濃度を
安定化させることが可能となり、作業者の熟練によらず
に印刷の高品質化が望め、かつ損紙を減少させる事が可
能となる。
第１図はインキ供給量管理装置の説明図、第２図はイン
キ供給系の説明図である。 １……ビーム光照射手段 ２……検出手段、３……演算手段 ４……制御装置、５……支持体 ６……ローラー 10……光源、12……光ファイバー 14……ビーム光照射部 16……集光レンズ 20……インキ層、22……センサー 24……増幅器、28……変換器 30……処理装置、32……ディスプレイ 34……インキ供給装置
キ供給系の説明図である。 １……ビーム光照射手段 ２……検出手段、３……演算手段 ４……制御装置、５……支持体 ６……ローラー 10……光源、12……光ファイバー 14……ビーム光照射部 16……集光レンズ 20……インキ層、22……センサー 24……増幅器、28……変換器 30……処理装置、32……ディスプレイ 34……インキ供給装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中川 順司 東京都台東区台東１丁目５番１号 凸版 印刷株式会社内 審査官 渡部 葉子 (56)参考文献 特開 昭55−71903（ＪＰ，Ａ) 特開 昭50−29055（ＪＰ，Ａ) 特開 昭47−4338（ＪＰ，Ａ) 特開 昭48−22095（ＪＰ，Ａ) 特開 昭50−47706（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−50106（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01B 11/00 - 11/30 102 B41F 31/00 - 35/06
Claims (2)
- 【請求項１】膜状の被検査体に、特定の強度を有する白
色ビーム光を照射する照射手段と、 被検査体から反射光の周波数の違いによる強度分布を求
め、最も強度の強い周波数部分の強度を検出する検出手
段と、 照射ビーム光の強度と検出した反射光の最も強い強度と
を比較し、被検査体に塗布されている塗布物質の厚さを
検出する演算手段と、 を具備して成る事を特徴とする白色光を用いた膜厚測定
装置。 - 【請求項２】版胴にローラーを介してインキを供給する
インキ量を管理するインキ供給量装置において、 インキ供給系の任意のローラー表面に塗布されたインキ
層に特定の強度を有する白色ビーム光を照射する照射手
段と、 インキ層から反射した反射光の周波数の違いによる強度
分布を求め、最も強度の強い周波数部分の強度を検出す
る検出手段と、 検出した反射光の強度から版胴に塗布されているインキ
の厚さを算出する演算手段と、 検出されたインキの厚さから、版胴に塗布されたインキ
の厚さを適切な値とする様にコントロールする制御装置
と、 を具備して成る事を特徴とするインキ供給量管理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2131863A JP2903634B2 (ja) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | 白色光を用いた膜厚測定装置及びそれによるインキ供給量管理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2131863A JP2903634B2 (ja) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | 白色光を用いた膜厚測定装置及びそれによるインキ供給量管理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0425707A JPH0425707A (ja) | 1992-01-29 |
| JP2903634B2 true JP2903634B2 (ja) | 1999-06-07 |
Family
ID=15067889
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2131863A Expired - Lifetime JP2903634B2 (ja) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | 白色光を用いた膜厚測定装置及びそれによるインキ供給量管理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2903634B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2384892A1 (de) * | 2010-05-07 | 2011-11-09 | Windmöller & Hölscher KG | Verfahren zum Einstellen und Vorrichtung zum Ermitteln eines optimierten Arbeitsabstandes zwischen zumindest zwei am Druckprozess beteiligten Zylindern eines Druckwerks |
| RU2015156502A (ru) | 2013-05-30 | 2017-07-05 | Компани Женераль Дез Этаблиссман Мишлен | Верхние слои протектора с профилем высокого сцепления |
| KR102462216B1 (ko) | 2018-01-29 | 2022-11-01 | 베이징 에스엠티피 테크놀로지 씨오., 엘티디. | 최소 침습성 초음파 오스테오톰 헤드 및 절골용 최소 침습성 초음파 구동 시스템 |
-
1990
- 1990-05-22 JP JP2131863A patent/JP2903634B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0425707A (ja) | 1992-01-29 |
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