JP2900425B2 - 画質検査装置 - Google Patents
画質検査装置Info
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- JP2900425B2 JP2900425B2 JP1237647A JP23764789A JP2900425B2 JP 2900425 B2 JP2900425 B2 JP 2900425B2 JP 1237647 A JP1237647 A JP 1237647A JP 23764789 A JP23764789 A JP 23764789A JP 2900425 B2 JP2900425 B2 JP 2900425B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 被試験用表示装置をカメラによって撮影し、撮影した
画像データによって該被試験用表示装置に於ける画質の
チェックを行う画質検査装置に関し、 撮影した画像データを識別することで良否の判定を行
うことで試験の信頼性の向上および試験工数の削減を図
ることを目的とし、 第１の画像データにより枠の識別を行った第１の識別
データと第２の画像データによりテストパターンの識別
を行った第２の識別データとを作成する識別データ作成
部と、該第１の識別データを基準に該第２の識別データ
を比較し、該被試験用表示装置に於ける表示画面の位置
ずれおよび傾きを算出するよう制御し、良否の判定を行
うCPUと、該良否の判定により信号を出力するインタフ
ェース部とによって画像処理装置を形成するように構成
する。
画像データによって該被試験用表示装置に於ける画質の
チェックを行う画質検査装置に関し、 撮影した画像データを識別することで良否の判定を行
うことで試験の信頼性の向上および試験工数の削減を図
ることを目的とし、 第１の画像データにより枠の識別を行った第１の識別
データと第２の画像データによりテストパターンの識別
を行った第２の識別データとを作成する識別データ作成
部と、該第１の識別データを基準に該第２の識別データ
を比較し、該被試験用表示装置に於ける表示画面の位置
ずれおよび傾きを算出するよう制御し、良否の判定を行
うCPUと、該良否の判定により信号を出力するインタフ
ェース部とによって画像処理装置を形成するように構成
する。
本発明は被試験用表示装置をカメラによって撮影し、
撮影した画像データによって該被試験用表示装置に於け
る画質のチェックを行う画質検査装置に関する。
撮影した画像データによって該被試験用表示装置に於け
る画質のチェックを行う画質検査装置に関する。
近年、情報化の発展に伴い、コンピュータの普及は目
覚ましく、一般の家庭内に於いてもパソコンなどが備え
られるようになり、これらのパソコンなどに用いられる
陰極線管ディスプレイ（CRT），液晶ディスプレイ（LC
D），プラズマディスプレイ（PDP）等による表示装置の
生産量が拡大される傾向にある。
覚ましく、一般の家庭内に於いてもパソコンなどが備え
られるようになり、これらのパソコンなどに用いられる
陰極線管ディスプレイ（CRT），液晶ディスプレイ（LC
D），プラズマディスプレイ（PDP）等による表示装置の
生産量が拡大される傾向にある。
また、これらの表示装置を製造するメーカでは、その
製造工程に於いて、完成されたそれぞれの表示装置の画
質を検査する試験が行われている。
製造工程に於いて、完成されたそれぞれの表示装置の画
質を検査する試験が行われている。
したがって、このような画質を検査する試験は、生産
量が拡大されることで膨大な試験工数を要することにな
るため、試験の合理化が図られることが望まれている。
量が拡大されることで膨大な試験工数を要することにな
るため、試験の合理化が図られることが望まれている。
従来は第８図の従来の説明図に示すように行われてい
た。第８図の（ａ）は斜視図，（b1）は表示画面の正面
図，（b2）はテストパターンの検出説明図である。
た。第８図の（ａ）は斜視図，（b1）は表示画面の正面
図，（b2）はテストパターンの検出説明図である。
第８図の（ａ）に示すように、試験すべき被試験用表
示装置１を台板11に積載し、駆動されるコンベア10によ
って移送され、所定個所に位置させることで、被試験用
表示装置１の表示画面1Aに例えば、（b1）に示す十字の
テストパターンPAを出力させ、テストパターンPAを矢印
Ａの方向から目視によってチェックを行う。
示装置１を台板11に積載し、駆動されるコンベア10によ
って移送され、所定個所に位置させることで、被試験用
表示装置１の表示画面1Aに例えば、（b1）に示す十字の
テストパターンPAを出力させ、テストパターンPAを矢印
Ａの方向から目視によってチェックを行う。
この場合、十字のテストパターンPAは枠４の内側に形
成された表示画面1Aに於ける点線で示す最大表示エリヤ
18内に形成さる。
成された表示画面1Aに於ける点線で示す最大表示エリヤ
18内に形成さる。
そこで、（b2）に示すように、被試験用表示装置１に
内設されているシャーシ（図示されていない）などによ
る基準水平レベルを基準位置ＢとしてテストパターンPA
の水平度または垂直度によって良否の判定が行われてい
た。
内設されているシャーシ（図示されていない）などによ
る基準水平レベルを基準位置ＢとしてテストパターンPA
の水平度または垂直度によって良否の判定が行われてい
た。
通常、このような良否の判定はテストパターンPAの所
定の長さｌ（約225mm）に於ける水平方向の左右の高さH
1とH2とを基準位置Ｂから測定し、その差が3mmを越えた
時、または、傾きθＰが約0.8°を越えた時は、不良と
判定が行われていた。
定の長さｌ（約225mm）に於ける水平方向の左右の高さH
1とH2とを基準位置Ｂから測定し、その差が3mmを越えた
時、または、傾きθＰが約0.8°を越えた時は、不良と
判定が行われていた。
したがって、テストパターンPAの水平度または垂直度
を目視によってチェックし、所定の許容値以下であれ
ば、良品とし、許容値をオーバした場合は不良品とする
ことで判別が行われていた。
を目視によってチェックし、所定の許容値以下であれ
ば、良品とし、許容値をオーバした場合は不良品とする
ことで判別が行われていた。
しかし、このような目視によってチェックすることで
は、目の疲労により検査規格が変動し、実際の傾きθを
正確に測定することは困難であり、更に、チェックする
検査要員によって判定に差が生じることになる。
は、目の疲労により検査規格が変動し、実際の傾きθを
正確に測定することは困難であり、更に、チェックする
検査要員によって判定に差が生じることになる。
また、このような検査スピードには限界があるため、
膨大な工数を要し、多くの検査要員が必要となる。
膨大な工数を要し、多くの検査要員が必要となる。
したがって、品質にバラツキが生じ、かつ、多くの検
査要員が必要となる問題を有していた。
査要員が必要となる問題を有していた。
そこで、本発明では、撮影した画像データを識別する
ことで良否の判定を行うことで試験の信頼性の向上およ
び試験工数の削減を図ることを目的とする。
ことで良否の判定を行うことで試験の信頼性の向上およ
び試験工数の削減を図ることを目的とする。
第１図は本発明の原理説明図である。
第１図に示すように、第１の画像データD1により枠４
の識別を行った第１の識別データD11と第２の画像デー
タD2によりテストパターンＰの識別を行った第２の識別
データD12とを作成する識別データ作成部５と、該第１
の識別データD11を基準に該第２の識別データD12を比較
し、該被試験用表示装置１に於ける表示画面1Aの位置ず
れσおよび傾きΦを算出するよう制御し、良否の判定を
行うCPU6と、該良否の判定により信号Ｓを出力するイン
タフェース部７とによって画像処理装置３を形成するよ
うに構成する。
の識別を行った第１の識別データD11と第２の画像デー
タD2によりテストパターンＰの識別を行った第２の識別
データD12とを作成する識別データ作成部５と、該第１
の識別データD11を基準に該第２の識別データD12を比較
し、該被試験用表示装置１に於ける表示画面1Aの位置ず
れσおよび傾きΦを算出するよう制御し、良否の判定を
行うCPU6と、該良否の判定により信号Ｓを出力するイン
タフェース部７とによって画像処理装置３を形成するよ
うに構成する。
即ち、テストパターンＰが表示された被試験用表示装
置１の枠４を撮影した第１の画像データD1によって枠４
を識別した第１の識別データD11とテストパターンＰを
撮影した第２の画像データD2によってテストパターンＰ
を識別した第２の識別データD12とを識別データ作成部
５により作成し、第１の識別データD11を基準に第２の
識別データD12を比較し、被試験用表示装置１に於ける
表示画面1Aの位置ずれσおよび傾きΦをCPUの制御によ
り算出し、良否の判定を行い、その良否の判定がインタ
フェース部７からの出力信号Ｓによって通知されるよう
にしたものである。
置１の枠４を撮影した第１の画像データD1によって枠４
を識別した第１の識別データD11とテストパターンＰを
撮影した第２の画像データD2によってテストパターンＰ
を識別した第２の識別データD12とを識別データ作成部
５により作成し、第１の識別データD11を基準に第２の
識別データD12を比較し、被試験用表示装置１に於ける
表示画面1Aの位置ずれσおよび傾きΦをCPUの制御によ
り算出し、良否の判定を行い、その良否の判定がインタ
フェース部７からの出力信号Ｓによって通知されるよう
にしたものである。
したがって、従来の目視によるチェックに比較して正
確な判定が行え、しかも、チェック作業は人手を要する
ことなく行えるため、試験工数の削減が図れることにな
る。
確な判定が行え、しかも、チェック作業は人手を要する
ことなく行えるため、試験工数の削減が図れることにな
る。
以下本発明を第２図〜第７図を参考に詳細に説明す
る。第２図は本発明による一実施例の構成図，第３図は
本発明の表示画面の説明図で、（ａ）は正面図，（ｂ）
は側面図，第４図は本発明のフローチャート図，第５図
は濃度ヒストグラム図，第６図の（ａ）（ｂ）は枠に識
別説明図，第７図の（a1）（a2）（ｂ）（ｃ）はテスト
パターンの識別説明図を示す。全図を通じて、同一符号
は同一対象物を示す。
る。第２図は本発明による一実施例の構成図，第３図は
本発明の表示画面の説明図で、（ａ）は正面図，（ｂ）
は側面図，第４図は本発明のフローチャート図，第５図
は濃度ヒストグラム図，第６図の（ａ）（ｂ）は枠に識
別説明図，第７図の（a1）（a2）（ｂ）（ｃ）はテスト
パターンの識別説明図を示す。全図を通じて、同一符号
は同一対象物を示す。
第２図に示すように、被試験用表示装置１の表示画面
1Aを撮影するカメラ２を配設し、カメラ２よって撮影さ
れた第１と第２の画像データD1,D2が画像処理装置３に
送出されるように構成したものである。
1Aを撮影するカメラ２を配設し、カメラ２よって撮影さ
れた第１と第２の画像データD1,D2が画像処理装置３に
送出されるように構成したものである。
また、被試験用表示装置１とカメラ２との間には外光
を遮蔽するようフード９が設けられており、一方、画像
処理装置３はカメラ２の光学系2Aに設けられた証明８を
点滅させるコントローラ3Aと、第１と第２の画像データ
D1,D2を識別する識別データ作成部５と、良否の判定を
通知する信号Ｓを出力するインタフェース部７とがCPU6
のバス6Aに接続されることで構成されている。
を遮蔽するようフード９が設けられており、一方、画像
処理装置３はカメラ２の光学系2Aに設けられた証明８を
点滅させるコントローラ3Aと、第１と第２の画像データ
D1,D2を識別する識別データ作成部５と、良否の判定を
通知する信号Ｓを出力するインタフェース部７とがCPU6
のバス6Aに接続されることで構成されている。
更に、表示画面1Aは第３図の（ａ）（ｂ）に示すよう
に、斜線で示した外枠4Aのテーパ部の枠４の内側に形成
され、表示画面1Aには検査に際して矩形状のテストパタ
ーンＰが出力される。
に、斜線で示した外枠4Aのテーパ部の枠４の内側に形成
され、表示画面1Aには検査に際して矩形状のテストパタ
ーンＰが出力される。
この場合のテストパターンＰの大きさは点線で示す高
さC1,幅C2の最大表示エリヤ1Bより多少小さく形成され
ている。
さC1,幅C2の最大表示エリヤ1Bより多少小さく形成され
ている。
そこで、枠４の撮影は照明８を点灯するのみで行い、
テストパターンＰの撮影は照明８を消灯させ、更に、テ
ストパターンＰを表示画面1Aに出力することで行うよう
コントローラ3Aによって制御され、枠４とテストパター
ンＰとの第１と第２の画像データD1,D2の取り込みが行
われる。
テストパターンＰの撮影は照明８を消灯させ、更に、テ
ストパターンＰを表示画面1Aに出力することで行うよう
コントローラ3Aによって制御され、枠４とテストパター
ンＰとの第１と第２の画像データD1,D2の取り込みが行
われる。
また、第１と第２の画像データD1,D2の入力が行われ
る識別データ作成部５は、第１と第２の画像データD1,D
2をA/D変換するカメラインタフェース5Aと、デジタル化
された第１と第２の画像データD1,D2を格納するフレー
ムメモリ5Bと、識別プログラムを格納したROM5Cと、デ
ジタル化された画像データＤを識別プログラムの指令に
よって、枠４の第１の画像データD1およびテストパター
ンＰの第２の画像データD2を識別し、演算するハードプ
ロセッサ5Eと、第１と第２の画像データD1,D2によって
作成された第１と第２の識別データD11,D12を格納するR
AM5Dとによって構成されている。
る識別データ作成部５は、第１と第２の画像データD1,D
2をA/D変換するカメラインタフェース5Aと、デジタル化
された第１と第２の画像データD1,D2を格納するフレー
ムメモリ5Bと、識別プログラムを格納したROM5Cと、デ
ジタル化された画像データＤを識別プログラムの指令に
よって、枠４の第１の画像データD1およびテストパター
ンＰの第２の画像データD2を識別し、演算するハードプ
ロセッサ5Eと、第１と第２の画像データD1,D2によって
作成された第１と第２の識別データD11,D12を格納するR
AM5Dとによって構成されている。
したがって、表示画面1Aの画像品質は第４図に示す順
序によってチェックを行う。
序によってチェックを行う。
先づ、コントローラ3Aの制御によって照明８を点灯
し、カメラ２によって枠４を撮影した第１の画像データ
D1を取り込む、この場合、照明８による照射光は平坦な
外枠4Aの個所では小さく、枠４のテーパの個所では大き
くなるように照明８が配設されている。
し、カメラ２によって枠４を撮影した第１の画像データ
D1を取り込む、この場合、照明８による照射光は平坦な
外枠4Aの個所では小さく、枠４のテーパの個所では大き
くなるように照明８が配設されている。
そこで、カメラインタフェース5Aでは第５図に示すよ
うに、第１の画像データD1に於ける０〜255階調の各濃
度に対応した画素数をカウントし、濃度ヒストグラムを
作成する。
うに、第１の画像データD1に於ける０〜255階調の各濃
度に対応した画素数をカウントし、濃度ヒストグラムを
作成する。
この場合、枠４の総画素数は、予め、既知であるた
め、枠４の総画素数に等しくなる面積を濃度ヒストグラ
ムの明るい方から積算することで斜線のＥ部で示す面積
を求め、この時の濃度ｔをスライスレベルとして決定
し、濃度ｔを基準に二値化することで、第１の画像デー
タD1をデジタル信号に変換し、変換後、フレームメモリ
5Bに格納を行う。
め、枠４の総画素数に等しくなる面積を濃度ヒストグラ
ムの明るい方から積算することで斜線のＥ部で示す面積
を求め、この時の濃度ｔをスライスレベルとして決定
し、濃度ｔを基準に二値化することで、第１の画像デー
タD1をデジタル信号に変換し、変換後、フレームメモリ
5Bに格納を行う。
次に、第６図の（ａ）に示すように、フレームメモリ
5Bの中心線F1,F2を基準に等ピッチ間隔で各辺を10〜20
個所のスキャンを行い、フレームメモリ5Bに格納された
デジタル信号化された第１の画像データD1の‘0'から
‘1'に変化する座標Xi,Yiを検出し、位置座標を求め
る。
5Bの中心線F1,F2を基準に等ピッチ間隔で各辺を10〜20
個所のスキャンを行い、フレームメモリ5Bに格納された
デジタル信号化された第１の画像データD1の‘0'から
‘1'に変化する座標Xi,Yiを検出し、位置座標を求め
る。
このように検出した座標Xi,Yiによる識別データD11を
RAM5Dに格納し、それぞれの座標Xi,Yiに最もフィットす
る直線を以下に示す（１），（２）式の最小二乗法によ
って算出し、第１の識別データD11を（ｂ）に示すよう
に形成することを行う。
RAM5Dに格納し、それぞれの座標Xi,Yiに最もフィットす
る直線を以下に示す（１），（２）式の最小二乗法によ
って算出し、第１の識別データD11を（ｂ）に示すよう
に形成することを行う。
但し、求める直線がＹ＝AX＋Ｂで示されるものとする
と、 となる。
と、 となる。
このように算出された各辺の直線に対する傾きθ１〜
θ４を第６図の（ｂ）に示すように算出し、更に、
（３）式によって各辺に於ける平均の傾きθを算出する
ことができる。
θ４を第６図の（ｂ）に示すように算出し、更に、
（３）式によって各辺に於ける平均の傾きθを算出する
ことができる。
θ＝1/4（θ１＋θ２＋θ３＋θ４） ・・・（３） また、各辺によって形成されたコーナを対角線で結ぶ
ことで交点によって中心Ｇを求めることができる。
ことで交点によって中心Ｇを求めることができる。
このような演算は全てCPU6の制御下に於いて、ROM5C
に格納された演算プログラムの指令によりハード演算プ
ロセッサ5Eを実行させることで行われる。
に格納された演算プログラムの指令によりハード演算プ
ロセッサ5Eを実行させることで行われる。
更に、次には、コントローラ3Aの制御によって照明８
を消灯し、表示画面1AにテストパターンＰを出力させ、
カメラ２によってテストパターンＰを撮影した第２の画
像データD2を取り込むことを行う。
を消灯し、表示画面1AにテストパターンＰを出力させ、
カメラ２によってテストパターンＰを撮影した第２の画
像データD2を取り込むことを行う。
第２の画像データD2が取り込まれたカメラインタフェ
ース5Aでは、前述の第１の画像データD1の場合と同様に
A/D変換を行い、フレームメモリ5Bに格納する。
ース5Aでは、前述の第１の画像データD1の場合と同様に
A/D変換を行い、フレームメモリ5Bに格納する。
次に、デジタル信号化されることでフレームメモリ5B
に格納された第２の画像データD2をフレームメモリ5Bの
中心点Ｇを中心に前述の検出した傾きθによって回転さ
せ、第７図の（a1）に示す状態から（a2）に示す状態に
する。
に格納された第２の画像データD2をフレームメモリ5Bの
中心点Ｇを中心に前述の検出した傾きθによって回転さ
せ、第７図の（a1）に示す状態から（a2）に示す状態に
する。
この回転によって撮影時の被試験用表示装置１の傾
き、または、カメラ２自身の傾きを補正し、フレームメ
モリ5Bに於ける中心線F1,F2に枠４の姿勢を合致せる。
き、または、カメラ２自身の傾きを補正し、フレームメ
モリ5Bに於ける中心線F1,F2に枠４の姿勢を合致せる。
そこで、第７図の（ｂ）に示すように、フレームメモ
リ5Bのメモリ領域の４辺を基準として前述の第１の画像
データD1を検出識別した場合と同様に所定のピッチのス
キャンによってテストパターンＰによる第２の画像デー
タD2の座標を検出する。
リ5Bのメモリ領域の４辺を基準として前述の第１の画像
データD1を検出識別した場合と同様に所定のピッチのス
キャンによってテストパターンＰによる第２の画像デー
タD2の座標を検出する。
このようにして検出された座標Xii,Yiiに最もフィッ
トする直線を前述の（１），（２）式を用いた最小二乗
法によって算出し、（ｃ）に示す第２の識別データD12
を形成し、各辺に於ける傾きΦ1,Φ2,Φ3,Φ４を求め
る。
トする直線を前述の（１），（２）式を用いた最小二乗
法によって算出し、（ｃ）に示す第２の識別データD12
を形成し、各辺に於ける傾きΦ1,Φ2,Φ3,Φ４を求め
る。
最後に、各４辺のコーナを算出し、そのコーナを対角
線で結び、対角線の交点によって中心G1の算出を行う。
線で結び、対角線の交点によって中心G1の算出を行う。
したがって、フレームメモリ5Bの中心Ｇと第２の画像
データD2の識別によって算出された中心G1との位置ずれ
量σが所定の規格内であるかどうかによって位置ずれの
判定を行い、また、各辺の傾きΦ１〜Φ４の平均値の傾
きΦを前述の（３）式と同様に行うことで算出し、傾き
Φが所定の規格内であるかどうかによって傾きの判定を
行う。
データD2の識別によって算出された中心G1との位置ずれ
量σが所定の規格内であるかどうかによって位置ずれの
判定を行い、また、各辺の傾きΦ１〜Φ４の平均値の傾
きΦを前述の（３）式と同様に行うことで算出し、傾き
Φが所定の規格内であるかどうかによって傾きの判定を
行う。
そこで、位置ずれ量σ、または、傾きΦのいづれかが
所定の規格よりオーバすることで不良と判定された場合
はインタフェース部７より信号Ｓが出力される。
所定の規格よりオーバすることで不良と判定された場合
はインタフェース部７より信号Ｓが出力される。
また、位置ずれ量σ、または、傾きΦのいづれも所定
の規格内であれば良品と判定され、次の被試験用表示装
置１に対するチェックが繰り返すことで行われる。
の規格内であれば良品と判定され、次の被試験用表示装
置１に対するチェックが繰り返すことで行われる。
以上説明したように、本発明によれば、被試験用表示
装置にテストパターンを出力させることでカメラによっ
て撮影した第１と第２の画像を識別することで被試験用
表示装置の表示画面に於ける位置ずれ、および、傾きを
検出し、該表示画面の品質のチェックを行うことができ
る。
装置にテストパターンを出力させることでカメラによっ
て撮影した第１と第２の画像を識別することで被試験用
表示装置の表示画面に於ける位置ずれ、および、傾きを
検出し、該表示画面の品質のチェックを行うことができ
る。
したがって、従来の目視によるチェックに比較して、
信頼性の高い検査が行えることで品質の向上が図れると
共に、チェック作業の工数の削減を図ることができ、実
用的効果は大である。
信頼性の高い検査が行えることで品質の向上が図れると
共に、チェック作業の工数の削減を図ることができ、実
用的効果は大である。
第１図は本発明の原理説明図， 第２図は本発明による一実施例の構成図， 第３図は本発明の表示画面の説明図で、（ａ）は正面
図，（ｂ）は側面図， 第４図は本発明のフローチャート図， 第５図は濃度ヒストグラム図， 第６図の（ａ）（ｂ）は枠の識別説明図， 第７図の（a1）（a2）（ｂ）（ｃ）はテストパターンの
識別説明図 第８図は従来の説明図で、（ａ）は斜視図，（b1）は表
示画面の正面図，（b2）はテストパターンの検出説明図
を示す。 図において、 １は被試験用表示装置,2はカメラ,3は画像処理装置,4は
枠,5は識別データ作成部,6はCPU,7はインターフェース
部,1Aは表示画面,Pはテストパターンを示す。
図，（ｂ）は側面図， 第４図は本発明のフローチャート図， 第５図は濃度ヒストグラム図， 第６図の（ａ）（ｂ）は枠の識別説明図， 第７図の（a1）（a2）（ｂ）（ｃ）はテストパターンの
識別説明図 第８図は従来の説明図で、（ａ）は斜視図，（b1）は表
示画面の正面図，（b2）はテストパターンの検出説明図
を示す。 図において、 １は被試験用表示装置,2はカメラ,3は画像処理装置,4は
枠,5は識別データ作成部,6はCPU,7はインターフェース
部,1Aは表示画面,Pはテストパターンを示す。
Claims (1)
- 【請求項１】テストパターン（Ｐ）を表示する被試験用
表示装置（１）と、 該テストパターン（Ｐ）および該被試験用表示装置
（１）の枠（４）を撮影するカメラ（２）と、 該枠（４）を撮影した第１の画像データ（D1）と該テス
トパターン（Ｐ）を撮影した第２の画像データ（D2）と
を識別する画像処理装置（３）とを備え、 該被試験用表示装置（１）に於ける画質をチェックする
画質検査装置であって、 前記第１の画像データ（D1）により前記枠（４）の識別
を行った第１の識別データ（D11）と前記第２の画像デ
ータ（D2）により前記テストパターン（Ｐ）の識別を行
った第２の識別データ（D12）とを作成する識別データ
作成部（５）と、 該第１の識別データ（D11）を基準に該第２の識別デー
タ（D12）を比較し、該被試験用表示装置（１）に於け
る表示画面（1A）の位置ずれ（σ）および傾き（Φ）を
算出するよう制御し、良否の判定を行うCPU（６）と、 該良否の判定により信号（Ｓ）を出力するインタフェー
ス部（７）とによって前記画像処理装置（３）を形成す
ることを特徴とする画質検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1237647A JP2900425B2 (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | 画質検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1237647A JP2900425B2 (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | 画質検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0399376A JPH0399376A (ja) | 1991-04-24 |
| JP2900425B2 true JP2900425B2 (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=17018422
Family Applications (1)
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- 1989-09-13 JP JP1237647A patent/JP2900425B2/ja not_active Expired - Lifetime
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