KR100499764B1 - 디지털 이미지에서 객체를 측정하는 방법 및 시스템 - Google Patents

디지털 이미지에서 객체를 측정하는 방법 및 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR100499764B1
KR100499764B1 KR1020050003336A KR20050003336A KR100499764B1 KR 100499764 B1 KR100499764 B1 KR 100499764B1 KR 1020050003336 A KR1020050003336 A KR 1020050003336A KR 20050003336 A KR20050003336 A KR 20050003336A KR 100499764 B1 KR100499764 B1 KR 100499764B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
image
dimensional
point
reference point
displacement
Prior art date
Application number
KR1020050003336A
Other languages
English (en)
Inventor
차한빈
Original Assignee
차한빈
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 차한빈 filed Critical 차한빈
Application granted granted Critical
Publication of KR100499764B1 publication Critical patent/KR100499764B1/ko

Links

Classifications

    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16LPIPES; JOINTS OR FITTINGS FOR PIPES; SUPPORTS FOR PIPES, CABLES OR PROTECTIVE TUBING; MEANS FOR THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16L55/00Devices or appurtenances for use in, or in connection with, pipes or pipe systems
    • F16L55/10Means for stopping flow from or in pipes or hoses
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/60Analysis of geometric attributes
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16LPIPES; JOINTS OR FITTINGS FOR PIPES; SUPPORTS FOR PIPES, CABLES OR PROTECTIVE TUBING; MEANS FOR THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16L23/00Flanged joints
    • F16L23/02Flanged joints the flanges being connected by members tensioned axially
    • F16L23/032Flanged joints the flanges being connected by members tensioned axially characterised by the shape or composition of the flanges
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/30Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration
    • G06T7/33Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration using feature-based methods
    • G06T7/337Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration using feature-based methods involving reference images or patches
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2200/00Indexing scheme for image data processing or generation, in general
    • G06T2200/32Indexing scheme for image data processing or generation, in general involving image mosaicing
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10056Microscopic image

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은 2차원 디지털 이미지에서 객체를 측정하는 방법 및 시스템에 대한 것이다. 상기 객체는 뷰어창 밖의 일부분을 덮도록 이동되고, 상기 객체가 이동되기 전에 캡쳐된 상기 객체의 제1 이미지 및 상기 객체가 이동된 후에 캡쳐된 상기 객체의 제2 이미지는 측정에 이용된다. 상기 이미지의 변위는 제1 이미지에 있어서 상기 객체의 소정의 참조 포인트의 위치와 제2 이미지에 있어서 상기 객체의 동일한 참조 포인트의 위치를 비교함으로써 탐지된다. 또한 상기 객체의 기하학적인 데이터는 상기 변위 데이터를 이용하여 계산된다. 상기 제2 이미지는 상기 제1 이미지의 밝기값과 상기 제2 이미지의 반전된 밝기값의 합이 최소가 되는 지점을 발견함으로써 상기 제1 이미지에 오버랩된다.

Description

디지털 이미지에서 객체를 측정하는 방법 및 시스템{Method and system of measuring an object in a digital}
본 발명은 디지털 이미지에서 객체를 측정하는 방법 및 시스템에 관한 것이다. 보다 상세하게는 현미경과 같은 광학적 장치에서 뷰어창(viewing window)보다 디지털 이미지가 더 클때 디지털 이미지에서 객체를 측정하는 방법 및 시스템에 관한 것이다.
현미경이나 디지털 카메라에 연결된 컴퓨터 모니터 창에 픽셀수로 디스플레이되는 현미경 또는 디지털 카메라에 의해 얻어진 디지털 이미지에서 객체들을 측정하는 이미지 분석 프로그램 또는 이미지 측정 프로그램은 많이 이용되어 왔다. 만약 객체의 크기가 커서 모니터 창에 전체가 디스플레이 될 수 없다면 주어진 순간에 모니터에 디스플레이된 이미지로부터 직접 측정하는 것은 불가능하다.
이러한 초과 크기의 객체를 측정하기 위해서는, 측정 스테이지(stage)와 프로파일 프로젝터(profile projector)가 포함된 측정용 현미경이 이용되어 왔다. 도 1은 종래 기술에 의한 현미경(10)의 예를 도시한다. 측정 스테이지(12)는 x,y,z축으로 객체를 이동시키고, 이동 전후의 객체의 x,y,z 좌표를 제공한다. 종래 기술에 의한 측정 프로그램은 디지털 이미지에서 객체의 크기를 측정하기 위해 측정스테이지에서 제공된 데이터를 사용했다. 측정 스테이지는 x,y 평면 또는 x,y,z 공간상에서 측정되는 객체를 정확하게 이동하게 하여 정확하게 변위를 측정하는 것이 필요하다. 이러한 측정 방법은 고가의 기계적인 부품, 측정 스테이지와 측정 프로그램 사이의 인터페이스(interface) 및 다른 조절을 필요로 한다.
본 발명의 목적은 이러한 종래 기술의 단점을 해결하기 위해 고안된 것으로, 측정 스테이지 없이 디지털 이미지에서 초과 크기의 객체를 측정하는 방법 및 시스템을 제공한다.
다른 발명의 목적은 시스템의 효율과 다기능성을 극대화 시킬 수 있는 수동, 반자동, 그리고 자동 모드를 가진 디지털 이미지 측정 방법 및 시스템을 제공하는 것이다.
또 다른 발명의 목적은 디지털 이미지에서 복수의 객체들이 이동된 거리와 기하학적인 데이터를 탐지하고 결정할 수 있는 디지털 이미지 측정 방법 및 시스템을 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위해서 본 발명은 2차원 디지털 이미지에서 객체를 측정하는 방법을 제공한다. 상기 객체는 뷰어창 내에 보이지 않는 객체의 일부를 덮도록 이동된다. 상기 객체가 이동되기 전에 캡쳐된 상기 객체의 제1 이미지와 상기 객체가 이동된 후에 캡쳐된 상기 객체의 제2 이미지는 측정에 이용된다. 상기 방법은 제1 이미지에서 상기 객체의 소정의 참조 포인트의 위치와 제2 이미지에서 상기 객체의 동일한 참조 포인트의 위치를 비교함으로써 상기 이미지의 2차원 변위를 탐지하는 단계; 및 상기 객체의 기하학적인 데이터를 계산하는 단계;를 포함한다.
이차원 변위를 탐지하는 단계는 상기 제2 이미지가 상기 제1 이미지에 오버랩되도록 상기 제2 이미지를 이동시키는 것을 포함한다.
상기 제2 이미지를 이동시키는 단계에서, 오버랩은 상기 제1 이미지의 소정의 특정 포인트 또는 영역의 밝기값과 상기 제2 이미지의 동일한 포인트 또는 영역의 밝기값의 최소 합으로 결정된다. 상기 포인트 또는 영역을 포함하는 상기 제2 이미지 일부의 밝기는 원래 캡쳐된 제2 이미지의 밝기가 반전된 값으로 설정된다.
상기 2차원 변위를 탐지하는 단계는 큰 객체를 덮기 위해 적어도 한번 이상 반복될 수 있다.
상기 2차원 변위를 탐지하는 단계에서, 상기 제1 이미지내의 적어도 하나 이상의 좌표는 기억된다. 상기 객체가 이동되면 상기 객체의 변위는 자동으로 계산된다. 상기 자동 계산은 사용자에 의해 결정된 상기 제1 이미지의 부분적인 범위내에서 수행된다. 이러한 방법은 동일한 패턴의 객체가 많을 때 유용하다. 또한 오버랩은 수동으로 수행될 수 있다.
상기 기하학적 데이터가 1차원일 경우에, 제1 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 측정 포인트의 2차원 좌표와 제2 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 측정 포인트의 2차원 좌표는 상기 객체의 기하학적인 데이터를 계산하는 단계에 이용된다.
상기 기하학적인 데이터가 2차원일 경우에, 제1 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 적어도 하나 이상의 측정 포인트의 2차원 좌표와 제2 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 적어도 하나 이상의 측정 포인트의 2차원 좌표는 상기 객체의 기하학적인 데이터를 계산하는 단계에 이용된다.
또한, 본 발명은 2차원 디지털 이미지의 임의의 객체를 측정하는 시스템을 제공한다. 이 시스템은 상기 제1 이미지에서 상기 객체의 참조 포인트의 위치와 상기 제2 이미지에서 상기 객체의 동일한 참조 포인트의 위치를 비교함으로써 상기 이미지의 2차원 변위를 탐지하는 탐지 모듈; 및 상기 객체의 기하학적인 데이터를 계산하는 계산 모듈;을 포함한다.
상기 탐지 모듈은 상기 제1 이미지에 상기 제2 이미지가 오버랩되도록 상기 제2 이미지를 이동시킨다. 상기 디텍션 모듈에서 오버랩은 상기 제1 이미지의 소정의 특정 포인트 또는 영역의 밝기값과 상기 제2 이미지의 동일한 포인트 또는 영역의 밝기값의 최소 합으로 결정되며 상기 제2 이미지 일부의 밝기는 원래 캡쳐된 상기 제2 이미지의 밝기값의 반전된 값으로 설정된다.
상기 탐지 모듈은 필요에 따라 적어도 한번 이상 2차원 변위를 반복해서 탐지한다.
상기 탐지 모듈은 상기 제1 이미지에서 객체의 적어도 하나 이상의 포인트 좌표를 기억해 두었다가 상기 객체가 이동되면 상기 탐지 모듈은 자동으로 상기 객체의 변위를 계산한다. 상기 계산은 사용자에 의해 결정된 상기 제1 이미지의 부분적인 범위내에서 수행될 수 있다.
상기 계산 모듈은 상기 객체의 1차원 또는 2차원의 기하학적 데이터를 계산하는데 있어서 상기 제1 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 적어도 하나 이상의 측정 포인트의 2차원 좌표와 제2 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 적어도 하나 이상의 측정 포인트의 2차원 좌표를 이용한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
도 2는 본 발명에 따른 디지털 이미지의 측정 방법을 나타내는 흐름도이다. 상기 객체는 뷰어창(14)안에 보이지 않는 상기 객체의 일부를 덮도록 이동된다(도 4 참조). 상기 객체가 이동되기 전에 캡쳐된 제1 이미지(16)(도 5 참조)와 상기 객체가 이동된 후에 캡쳐된 제2 이미지(18)(도 5 참조)는 측정에 이용된다.
측정하는 방법은 상기 제1 이미지에서 상기 객체의 임의의 참조 포인트의 위치와 상기 제2 이미지에서 상기 객체의 동일한 참조 포인트의 위치를 비교함으로써 상기 이미지의 2차원 변위를 탐지하는 단계(S01);및 상기 객체의 기하학적 데이터를 계산하는 단계(S02);가 포함된다.
도 3은 본 발명에 따른 디지털 이미지 측정 시스템(20)을 나타낸다.
상기 시스템(20)은 상기 제1 이미지(16)에서 상기 객체의 소정의 참조 포인트(24)(도 5 참조)의 위치와 상기 제2 이미지(18)에서 상기 객체의 참조 포인트(24)의 위치를 비교함으로써 상기 이미지의 2차원 변위를 탐지하는 탐지 모듈(22); 및 상기 객체의 기하학적 데이터를 계산하는 계산모듈(26);을 포함한다.
도 4 내지 도 10은 상기 시스템(20) 작동의 실시예를 보여주는 캡쳐화면이다. 도 4는 예컨대, 현미경 같은 디지털 광학 장치의 뷰어창(14)을 나타낸다. 도 5는 상기 제1 이미지(16)에서 객체(28)상의 소정의 참조 포인트(24)를 나타낸다.
상기 객체(28)는 뷰어창(14)내에 보이지 않는 상기 객체의 일부분을 덮도록 이동된다. 이러한 이동은 현미경에 부착된 스테이지(stage)에 의해 이루어진다. 이러한 경우에 스테이지는 단지 상기 객체(28)를 이동시키는 역할만 할 뿐 측정 스테이지처럼 이동 데이터를 제공하지는 않는다. 상기 제1 이미지(16)는 상기 객체(28)가 이동되기 전에 캡쳐되고, 상기 제2 이미지(18)는 상기 객체(28)가 이동 된 후에 캡쳐된다. 도 6은 상기 제1 이미지(16)의 참조 포인트(24)와 대응되는 참조 포인트(24')가 있는 이동된 객체(28)의 제2 이미지(18)를 나타낸다. 도 7은 제1 이미지(16)와 제2 이미지(18)를 동시에 나타낸다.
2차원 변위를 탐지하는 단계(S01)는 상기 제2 이미지(18)가 상기 제1 이미지(16)에 오버랩하기 위해, 상기 제2 이미지(18) 또는 상기 제1 이미지(16)를 이동시키는 단계(S03)를 더 포함한다. 상기 제2 이미지(18)의 변위는 상기 디지털 이미지 측정 시스템(20)의 상기 탐지 모듈(22)에 의해 수행된다.
도 8은 상기 제2 이미지(18)가 상기 제1 이미지(16)에 오버랩되어 참조 포인트(24, 24')가 서로 일치되는 것을 도시한다.
상기 제2 이미지가 이동하는 단계(S03)에서, 오버랩은 상기 제1 이미지(16)에서 상기 참조 포인트(24) 또는 영역의 밝기값과 상기 제2 이미지(18)에서 상기 참조 포인트(24') 또는 영역의 밝기값의 최소 합으로 결정되며, 참조 포인트(24') 또는 영역을 포함하는 상기 제2 이미지(18) 일부의 밝기는 원래 캡쳐된 제2 이미지(18)의 밝기값이 반전된 값이 되도록 설정된다.
2차원 변위를 탐지하는 단계(S01)는 큰 객체를 덮기위해 탐지 모듈(22)을 이용하여 적어도 한번 이상 반복될 수 있다.
첫번째 실시예에서, 2차원 변위를 탐지하는 단계(S01)에는 상기 제1 이미지(16)에서 상기 객체(28)의 적어도 하나 이상의 포인트 좌표가 상기 탐지 모듈(22)에 의해 기억된다. 상기 객체(28)가 이동되면 상기 객체의 변위는 상기 탐지 모듈(22)에 의해 자동으로 계산된다.
두번째 실시예에서, 상기 자동 계산은 사용자에 의해 결정된 상기 제1 이미지(16)의 부분적인 범위내에서 수행될 수 있다. 상기 제1 이미지(16) 또는 상기 제 2 이미지(18)는 수동적으로 다른 이미지로 이동된다. 그러면 자동 탐지는 부분적인 구역내에서 수행된다. 이것은 동일한 패턴의 객체들이 많을 때 유용하다.
세번째 실시예에서, 상기 오버랩은 상기 객체(28)를 수동적으로 이동시킴으로써 수행된다. 표시기(indicator)는 상술된 밝기값의 합을 나타낸다. 표시기에 나타난 값이 최소일때 상기 제1 이미지(16)와 상기 제2 이미지(18)는 오버랩 된다.
상기 객체(28)의 길이나 너비와 같이 기하학적 데이터가 1차원인 경우에 상기 참조 포인트(24)와 관계있는 제1 이미지(16)의 측정 포인트의 2차원 좌표와 상기 참조 포인트(24')와 관계있는 제2 이미지(18)의 측정 포인트의 2차원 좌표는 상기 디지털 이미지 측정 시스템(20)의 계산(26)에 의한 상기 객체의 기하학적 데이터를 계산하는 단계(S02)에 이용된다.
상기 객체(28)의 면적과 같이 기하학적 데이터가 2차원일 경우에, 상기 참조 포인트(24)와 관계있는 상기 제1 이미지(16)의 적어도 하나 이상의 측정 포인트의 2차원 좌표와 상기 참조 포인트(24')와 관계있는 상기 제2 이미지(18)의 적어도 하나 이상의 측정 포인트의 2차원 좌표는 상기 객체(28)의 기하학적 데이터를 계산하는 단계(S02)에 이용된다.
상기 디지털 측정 시스템(20)에 의해 제공되는 기하학적 데이터는 상기 객체(28)의 길이, 면적, 반경, 지름, 각도, 및 거리 등을 포함한다.
도 9는 상기 참조 포인트(24,24')의 좌표가 S01단계의 결과에 따라 보정되거나 계산되는 것을 나타낸다. 화살표 1은 이동된 창의 x,y 좌표의 픽셀수를 의미한다. 화살표 2는 화살표 1에 의해 표시된 값을 이용하여 보정된 상기 참조 포인트의 x,y 좌표를 나타낸다.
도 10은 상기 객체(28)상에 포인트(30)의 좌표가 도 9에서와 비슷한 방법으로 보정되거나 계산된 것을 나타낸다.
도 11은 본 발명의 방법에 이용된 자동 계산 파라미터들의 메뉴를 보여준다. 최대 이동 스캔은 상기 디지털 이미지 측정 시스템(20)이 자동으로 측정한 변위 범위를 표시한다. 첫번째 방향은 x-축을 의미하며, 두번째 방향은 Y-축을 의미한다. 도 11은 첫번째 방향의 500픽셀과 두번째 방향의 70픽셀만큼의 범위를 보여준다. 상기 숫자들은 사용자에 의해 조절될 수 있다.
이상에서 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.
본 발명은, (1)측정 스테이지를 필요로 하지 않고 디지털 이미지 자체가 포함되는 데이터로부터 객체를 측정할 수 있는 디지털 현미경이 제공되며, (2)다양한 사용자들에게 친숙한 특징들과 강력한 선택 옵션을 갖는 디지털 이미지 측정 소프트웨어가 제공된다.
본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 후술하는 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니된다.
도 1은 종래 기술에 의한 현미경을 도시하는 입면도이다.
도 2는 본 발명에 따른 디지털 이미지 측정 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 3은 본 발명에 따른 디지털 이미지 측정 시스템을 나타내는 블럭도이다.
도 4는 미리보기 창을 나타내는 캡쳐 화면이다.
도 5는 제1 이미지에서 객체 상에 있는 참조 포인트를 나타내는 캡쳐 화면이다.
도 6은 이동하는 객체의 제2 이미지를 나타내는 캡쳐 화면이다.
도 7은 제1 이미지와 제2 이미지를 동시에 나타내는 캡쳐 화면이다.
도 8은 제1 이미지에 오버랩 된 제2 이미지를 나타내는 캡쳐 화면이다.
도 9는 보정된 참조 포인트의 좌표를 나타내는 캡쳐 화면이다.
도 10은 보정된 객체상의 포인트의 좌표를 나타내는 캡쳐 화면이다.
도 11은 자동 계산 파라미터들의 메뉴를 나타내는 캡쳐 화면이다.

Claims (16)

  1. 광학장치에 의해 캡쳐된 2개의 2차원 디지털 이미지를 이용하여 객체를 측정하는 방법에 있어서,
    a) 제1 위치에 있는 객체를 캡쳐하여 제1 이미지를 획득하고 제1 이미지 상의 객체에 참조 포인트를 마킹하는 단계;
    b) 상기 객체를 소정 거리 만큼 이동시켜 제2 위치에 위치시킨 후 객체를 캡쳐하여 제2 이미지를 획득하는 단계;
    c) 상기 객체의 이동과 연계하여 상기 제1 이미지에서 상기 객체의 참조 포인트 위치와 상기 제2 이미지에서 상기 객체의 동일한 참조 포인트의 위치를 상대적으로 비교함으로써, 상기 이미지의 2차원 변위를 탐지하는 단계; 및
    d) 상기 탐지된 변위를 이용하여 객체의 기하학적인 데이터를 계산하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 객체 측정 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 2차원 변위를 탐지하는 단계는 상기 제2 이미지가 상기 제1 이미지에 오버랩되도록 상기 제2 이미지를 이동시키는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 객체 측정 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제2 이미지를 이동시키는 단계에 있어서, 오버랩 시점은 상기 제 1이미지에서 특정 포인트 또는 영역의 밝기값과 상기 제2 이미지에서 동일한 포인트 또는 영역의 밝기값의 합이 최소가 될 때이며, 상기 포인트 또는 영역을 포함하는 상기 제2 이미지 일부의 밝기는 원래 캡쳐된 상기 제2 이미지의 밝기의 반전된 값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 객체 측정 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 2차원 변위를 탐지하는 단계는 적어도 한번 이상 반복되는 것을 특징으로 하는 객체 측정 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 2차원 변위를 탐지하는 단계에 있어서, 상기 제1 이미지에서 상기 객체의 적어도 하나 이상의 포인트 좌표는 기억되었다가 객체가 이동되면 객체의 변위가 자동으로 계산되는 것을 특징으로 하는 객체 측정 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 2차원 변위를 탐지하는 단계에 있어서, 상기 제1 이미지에서 적어도 하나 이상의 포인트 좌표는 기억되었다가, 상기 객체가 이동되면 객체의 변위가 사용자에 의해 결정된 상기 제1 이미지의 부분적인 범위내에서 자동으로 계산되는 것을 특징으로 하는 객체 측정 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    기하학적인 데이터가 1차원일 때, 상기 제1 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 측정 포인트의 2차원 좌표와 상기 제2 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 측정된 포인트의 2차원 좌표는 상기 객체의 기하학적인 데이터를 계산하는 단계에 이용되는 것을 특징으로 하는 객체 측정 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    기하학적인 데이터가 2차원일 때, 상기 제1 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 적어도 하나 이상의 측정 포인트의 2차원 좌표와 상기 제2 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 적어도 하나 이상의 측정 포인트의 2차원 좌표는 상기 객체의 기하학적인 데이터를 계산하는 단계에 이용되는 것을 특징으로 하는 객체 측정 방법.
  9. 광학장치에 의해 캡쳐된 2개의 2차원 디지털 이미지를 이용하여 객체를 측정하되, 제1위치에 있는 객체를 캡쳐하여 획득한 제1 이미지와 객체를 소정 거리 만큼 이동시켜 제2위치에 위치시킨 후 캡쳐하여 획득한 제2 이미지를 이용하는 시스템에 있어서,
    a) 상기 객체의 이동과 연계하여 상기 제1 이미지 상의 객체에 마킹된 참조 포인트와 상기 제2 이미지에서 상기 객체의 동일한 참조 포인트의 위치를 상대적으로 비교함으로써 2차원 변위를 탐지하는 탐지 모듈; 및
    b) 상기 탐지된 변위를 이용하여 객체의 기하학적 데이터를 계산하는 계산 모듈;로 구성된 것을 특징으로 하는 객체 측정 시스템.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 탐지 모듈은 상기 제2 이미지는 상기 제1 이미지에 오버랩되도록 제2 이미지를 이동시키는 것을 특징으로 하는 객체 측정 시스템.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 탐지 모듈에 있어서 오버랩은 상기 제1 이미지에서 소정의 특정 포인트 또는 영역의 밝기값과 상기 제2 이미지에서 동일한 포인트 또는 영역의 밝기값의 최소 합으로 결정되며, 상기 포인트 또는 영역을 포함하는 상기 제2 이미지 일부의 밝기는 원래 캡쳐된 제2 이미지가 반전된 값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 객체 측정 시스템.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 탐지 모듈은 2차원 변위를 적어도 한번 이상 탐지하는 것을 특징으로 하는 객체 측정 시스템.
  13. 제9항에 있어서,
    상기 탐지 모듈은, 상기 제1 이미지에서 적어도 하나 이상의 상기 객체의 좌표를 기억해 두었다가 상기 객체가 이동되면 상기 객체의 변위를 자동으로 계산하는 것을 특징으로 하는 객체 측정 시스템.
  14. 제9항에 있어서,
    상기 탐지 모듈은 상기 제1 이미지에서 적어도 하나 이상의 상기 객체의 좌표를 기억하였다가, 상기 객체가 이동되면 사용자에 의해 결정된 상기 제1 이미지의 부분적인 범위내에서 상기 객체의 변위를 자동으로 계산하는 것을 특징으로 하는 객체 측정 시스템.
  15. 제9항에 있어서,
    상기 계산 모듈은, 계산하고자 하는 기하학적인 데이터가 1차원일 때, 상기 제1 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 측정 포인트의 2차원 좌표와 상기 제2 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 측정된 포인트의 2차원 좌표를 이용하여 상기 객체의 기하학적인 데이터를 계산하는 것을 특징으로 하는 객체 측정 시스템.
  16. 제9항에 있어서,
    상기 계산 모듈은, 계산하고자 하는 기하학적인 데이터가 2차원일 때, 상기 제1 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 적어도 하나 이상의 측정 포인트의 2차원 좌표와 상기 제2 이미지에서 상기 참조 포인트와 관계있는 적어도 하나 이상의 측정 포인트의 2차원 좌표를 이용하여 상기 객체의 기하학적인 데이터를 계산하는 것을 특징으로 하는 객체 측정 시스템.
KR1020050003336A 2004-03-12 2005-01-13 디지털 이미지에서 객체를 측정하는 방법 및 시스템 KR100499764B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/799,399 2004-03-12
US10/799,399 US20050201638A1 (en) 2004-03-12 2004-03-12 Method and system for measuring an object in digital image

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100499764B1 true KR100499764B1 (ko) 2005-07-07

Family

ID=34920503

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050003336A KR100499764B1 (ko) 2004-03-12 2005-01-13 디지털 이미지에서 객체를 측정하는 방법 및 시스템

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20050201638A1 (ko)
KR (1) KR100499764B1 (ko)
CA (1) CA2559591A1 (ko)
WO (1) WO2005088250A1 (ko)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7912320B1 (en) 2007-01-16 2011-03-22 Paul Minor Method and apparatus for photographic measurement
GB0910545D0 (en) 2009-06-18 2009-07-29 Therefore Ltd Picturesafe
US8661530B2 (en) 2010-12-16 2014-02-25 Blackberry Limited Multi-layer orientation-changing password
US8745694B2 (en) * 2010-12-16 2014-06-03 Research In Motion Limited Adjusting the position of an endpoint reference for increasing security during device log-on
US8769641B2 (en) 2010-12-16 2014-07-01 Blackberry Limited Multi-layer multi-point or pathway-based passwords
US8863271B2 (en) 2010-12-16 2014-10-14 Blackberry Limited Password entry using 3D image with spatial alignment
US8650635B2 (en) 2010-12-16 2014-02-11 Blackberry Limited Pressure sensitive multi-layer passwords
US8631487B2 (en) 2010-12-16 2014-01-14 Research In Motion Limited Simple algebraic and multi-layer passwords
US9135426B2 (en) * 2010-12-16 2015-09-15 Blackberry Limited Password entry using moving images
US8635676B2 (en) 2010-12-16 2014-01-21 Blackberry Limited Visual or touchscreen password entry
US9258123B2 (en) 2010-12-16 2016-02-09 Blackberry Limited Multi-layered color-sensitive passwords
US8931083B2 (en) 2010-12-16 2015-01-06 Blackberry Limited Multi-layer multi-point or randomized passwords
US8650624B2 (en) 2010-12-16 2014-02-11 Blackberry Limited Obscuring visual login
US8769668B2 (en) 2011-05-09 2014-07-01 Blackberry Limited Touchscreen password entry
US9223948B2 (en) 2011-11-01 2015-12-29 Blackberry Limited Combined passcode and activity launch modifier
JP6312991B2 (ja) * 2013-06-25 2018-04-18 株式会社東芝 画像出力装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5743279A (en) * 1980-08-29 1982-03-11 Fujitsu Ltd Method for detecting position of x-y symmetrical body
US4845552A (en) * 1987-08-20 1989-07-04 Bruno Jaggi Quantitative light microscope using a solid state detector in the primary image plane
US5375177A (en) * 1991-09-27 1994-12-20 E. I. Du Pont De Nemours And Company Method of identifying and characterizing a valid object by color
IT1258006B (it) * 1992-01-13 1996-02-20 Gd Spa Sistema e metodo per il prelievo automatico di oggetti
US5748804A (en) * 1992-05-14 1998-05-05 United Parcel Service Of America, Inc. Method and apparatus for processing images with symbols with dense edges
JP3333721B2 (ja) * 1997-09-05 2002-10-15 技術研究組合医療福祉機器研究所 領域検出装置
JP3824116B2 (ja) * 1998-01-29 2006-09-20 日本電信電話株式会社 顕微鏡画像遠隔制御システム
JPH11337659A (ja) * 1998-05-25 1999-12-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 遠隔観察システム
JP2000295462A (ja) * 1999-02-04 2000-10-20 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡画像伝送システム
JP4430789B2 (ja) * 2000-06-26 2010-03-10 株式会社トプコン ステレオ画像撮影用のシステム
US7058221B1 (en) * 2000-07-07 2006-06-06 Tani Electronics Industry Co., Ltd. Method of recognizing object based on pattern matching and medium for recording computer program having same
JP2002092585A (ja) * 2000-09-12 2002-03-29 Asahi Optical Co Ltd 2枚の画像のマッチング装置
US7027628B1 (en) * 2000-11-14 2006-04-11 The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services Automated microscopic image acquisition, compositing, and display
US7184611B2 (en) * 2000-12-26 2007-02-27 Sony Corporation Data recording apparatus and method, data reproducing apparatus and method, data recording and reproducing apparatus and method, and map image data format
FR2823312B1 (fr) * 2001-04-10 2003-08-01 Opsitech Optical Sys On A Chip Dispositif de transmission d'ondes optiques a faces de couplage inclinees
JP4006296B2 (ja) * 2002-08-21 2007-11-14 倉敷紡績株式会社 写真測量による変位計測方法及び変位計測装置

Also Published As

Publication number Publication date
CA2559591A1 (en) 2005-09-22
US20050201638A1 (en) 2005-09-15
WO2005088250A1 (en) 2005-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100499764B1 (ko) 디지털 이미지에서 객체를 측정하는 방법 및 시스템
US8233665B2 (en) Image measuring apparatus and computer program
JP3951984B2 (ja) 画像投影方法、及び画像投影装置
JP4811272B2 (ja) 3次元計測を行う画像処理装置および画像処理方法
JP6489566B2 (ja) 3次元計測装置及びその計測支援処理方法
JP3996617B2 (ja) 画像歪み補正機能を備えたプロジェクタ装置
JP2005318652A (ja) 画像歪み補正機能を備えたプロジェクタ装置
JP2006067272A (ja) カメラキャリブレーション装置及びカメラキャリブレーション方法
JP2006010392A (ja) 貫通穴計測システム及び方法並びに貫通穴計測用プログラム
JP5222430B1 (ja) 寸法計測装置、寸法計測方法及び寸法計測装置用のプログラム
JP2017049035A (ja) 画像測定装置及びその制御プログラム
WO2005096130A1 (ja) 撮像装置の指示位置検出方法および装置、撮像装置の指示位置検出用プログラム
CN103297799A (zh) 测试相机部件的光学特征
JP2015206654A (ja) 情報処理装置、情報処理方法、プログラム
JP2007010419A (ja) 対象物の3次元形状検証システム。
CN100468456C (zh) 通过数字照相机测量尺寸的方法
KR20190108805A (ko) 대상물의 결함 발생 유무를 검사하는 비전검사기 및 그 검사방법
JP4401126B2 (ja) 寸法測定装置の所定部位登録方法
JP7044331B2 (ja) 橋梁などの構造物を効率的に検査するための画像処理システム、画像処理方法及びプログラム
JP5531071B2 (ja) 画像計測装置及びコンピュータプログラム
JP2010230423A (ja) 変位量測定装置及び同測定方法
JP2017151013A (ja) 測量支援装置
JP2014197004A (ja) 画像計測装置
JP3742086B2 (ja) 傾斜角度測定装置を有するプロジェクタ
JP7432377B2 (ja) ディスプレイmtf測定装置およびそのプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130510

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140430

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150601

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160603

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170616

Year of fee payment: 13

LAPS Lapse due to unpaid annual fee