JP2017049035A - 画像測定装置及びその制御プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の一の実施の形態に係る画像測定装置は、ワークを撮像して、このワークの画像を取得する撮像装置と、この画像に基づいてワークの測定を行い、測定結果を出力する演算装置とを備える。また、演算装置は、上記画像に領域を設定し、この領域の輪郭線に沿って複数の第1の点を設定し、これら複数の第1の点が上記画像に含まれる輪郭線に近付くように、複数の第1の点を順次移動させ、移動後の複数の第1の点を複数の第2の点として取得し、これら複数の第2の点に基づいて測定結果を算出する。
【選択図】図3
Description
次に、本発明の第1の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
次に、図20を参照し、本発明の第2の実施の形態に係る画像測定装置について説明する。尚、以下の説明において、第1の実施の形態と同様の部分については同一の符号を付し、説明を省略する。
次に、図21〜図23を参照し、本発明の第3の実施の形態に係る画像測定装置について説明する。尚、以下の説明において、第1の実施の形態と同様の部分については同一の符号を付し、説明を省略する。
本発明は、カメラ141がZ軸方向に駆動可能に構成され、Z軸方向の座標を測定可能な三次元画像測定機を使用する場合の他、二次元画像測定機や、画像測定機能を有する顕微鏡を使用する場合にも適用可能である。
Claims (5)
- ワークを撮像して、前記ワークの画像を取得する撮像装置と、
前記画像に基づいて前記ワークの測定を行い、測定結果を出力する演算装置と
を備え、
前記演算装置は、
前記画像に領域を設定し、この領域の輪郭線に沿って複数の第1の点を設定し、
前記複数の第1の点が前記画像に含まれる輪郭線に近付くように前記複数の第1の点を順次移動させ、移動後の前記複数の第1の点を複数の第2の点として取得し、
前記複数の第2の点に基づいて前記測定結果を算出する
ことを特徴とする画像測定装置。 - 前記演算装置は、
ティーチングの段階で前記領域及び前記複数の第1の点に関する条件を取得し、
自動測定の段階で、前記条件に従って測定を行う
ことを特徴とする請求項1記載の画像測定装置。 - 前記演算装置は、
前記第2の点に基づいて前記画像にエッジ検出ツールを設定し、
前記エッジ検出ツールを使用して、エッジ検出を行う
ことを特徴とする請求項1又は2記載の画像測定装置。 - 前記演算装置は、
前記第2の点に基づいて第1の輪郭線を算出し、
前記第1の輪郭線に沿って、前記第1の輪郭線と交差する方向に延びる線分を複数設定し、
前記線分に沿ってエッジ検出を行う
ことを特徴とする請求項1又は2記載の画像測定装置。 - ワークを撮像して、前記ワークの画像を取得する撮像装置と、
前記画像に基づいて前記ワークの測定を行い、測定結果を出力する演算装置と
を備えた画像測定装置を制御して、前記測定結果の算出を行う画像測定装置の制御プログラムであって、
前記演算装置は、
前記画像に領域を設定し、この領域の輪郭線に沿って複数の第1の点を設定し、
前記複数の第1の点が、前記画像に含まれる輪郭線に近付くように前記複数の第1の点を順次移動させ、移動後の前記複数の第1の点を複数の第2の点として取得し、
前記複数の第2の点に基づいて前記測定結果を算出する
ことを特徴とする画像測定装置の制御プログラム。
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US15/250,052 US10282837B2 (en) | 2015-08-31 | 2016-08-29 | Image measuring apparatus and non-temporary recording medium on which control program of same apparatus is recorded |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2021260765A1 (ja) * | 2020-06-22 | 2021-12-30 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106979759A (zh) * | 2017-04-16 | 2017-07-25 | 合肥芯碁微电子装备有限公司 | 一种网版制版丝网角度的测量装置及其测量方法 |
JP1705500S (ja) * | 2021-03-05 | 2022-01-20 | 画像測定機 | |
JP1705501S (ja) * | 2021-03-05 | 2022-01-20 | 画像測定機 | |
JP1705499S (ja) * | 2021-03-05 | 2022-01-20 | 画像測定機 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011128070A (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 画像処理装置、及び、測定/検査システム、並びに、プログラム |
JP2012032344A (ja) * | 2010-08-02 | 2012-02-16 | Keyence Corp | 画像測定装置、画像測定方法及び画像測定装置用のプログラム |
JP2012132910A (ja) * | 2010-12-17 | 2012-07-12 | Mitsutoyo Corp | 構造化照明を用いるエッジ検出 |
JP2014215301A (ja) * | 2013-04-26 | 2014-11-17 | 株式会社ミツトヨ | エッジ検出方法 |
US9142184B1 (en) * | 2012-12-11 | 2015-09-22 | The Mathworks, Inc. | Speed function module and numerical minimization module for an active contour model |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3078132B2 (ja) | 1992-10-27 | 2000-08-21 | 沖電気工業株式会社 | 輪郭線抽出装置 |
JP3474511B2 (ja) | 2000-03-01 | 2003-12-08 | 株式会社ミツトヨ | 幾何要素測定装置及び方法 |
JP4578638B2 (ja) | 2000-08-02 | 2010-11-10 | パナソニック株式会社 | 画像認識方法 |
WO2004068406A2 (en) * | 2003-01-30 | 2004-08-12 | Chase Medical, L.P. | A method and system for image processing and contour assessment |
JP4074202B2 (ja) | 2003-02-06 | 2008-04-09 | 株式会社ミツトヨ | 画像測定装置及びエッジ追跡測定プログラム生成用プログラム |
KR100575733B1 (ko) * | 2003-08-26 | 2006-05-03 | 엘지전자 주식회사 | 압축 동영상의 움직임 객체 분할 방법 |
US20080021502A1 (en) * | 2004-06-21 | 2008-01-24 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Systems and methods for automatic symmetry identification and for quantification of asymmetry for analytic, diagnostic and therapeutic purposes |
US7454053B2 (en) * | 2004-10-29 | 2008-11-18 | Mitutoyo Corporation | System and method for automatically recovering video tools in a vision system |
CN100586189C (zh) * | 2007-12-04 | 2010-01-27 | 南京邮电大学 | 基于运动预测和三维约束的序列图像分割方法 |
WO2009131655A2 (en) * | 2008-04-23 | 2009-10-29 | University Of Pittsburgh - Of The Commonwealth System Of Higher Education | Automated assessment of optic nerve head with spectral domain optical coherence tomograph |
US8111938B2 (en) * | 2008-12-23 | 2012-02-07 | Mitutoyo Corporation | System and method for fast approximate focus |
CN101493942B (zh) * | 2009-02-26 | 2010-11-03 | 上海交通大学 | 基于空间矩的水平集图像分割方法 |
JP5286215B2 (ja) | 2009-09-30 | 2013-09-11 | エヌ・ティ・ティ・コムウェア株式会社 | 輪郭抽出装置、輪郭抽出方法、および輪郭抽出プログラム |
CN102117349B (zh) * | 2009-12-31 | 2013-08-28 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 寻边工具命令生成系统及方法 |
JP5543872B2 (ja) * | 2010-07-27 | 2014-07-09 | 株式会社東芝 | パターン検査方法およびパターン検査装置 |
US8553954B2 (en) * | 2010-08-24 | 2013-10-08 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Automated system for anatomical vessel characteristic determination |
JP5561214B2 (ja) * | 2011-03-15 | 2014-07-30 | オムロン株式会社 | 画像処理装置および画像処理プログラム |
JP2012194919A (ja) | 2011-03-17 | 2012-10-11 | Ricoh Co Ltd | 画像処理装置、画像処理方法、画像処理システム、及び画像処理プログラム |
US9996925B2 (en) * | 2013-10-30 | 2018-06-12 | Worcester Polytechnic Institute | System and method for assessing wound |
-
2015
- 2015-08-31 JP JP2015170614A patent/JP6599697B2/ja active Active
-
2016
- 2016-07-11 DE DE102016008406.5A patent/DE102016008406A1/de active Pending
- 2016-08-29 US US15/250,052 patent/US10282837B2/en active Active
- 2016-08-30 CN CN201610766131.XA patent/CN106482636B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011128070A (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 画像処理装置、及び、測定/検査システム、並びに、プログラム |
JP2012032344A (ja) * | 2010-08-02 | 2012-02-16 | Keyence Corp | 画像測定装置、画像測定方法及び画像測定装置用のプログラム |
JP2012132910A (ja) * | 2010-12-17 | 2012-07-12 | Mitsutoyo Corp | 構造化照明を用いるエッジ検出 |
US9142184B1 (en) * | 2012-12-11 | 2015-09-22 | The Mathworks, Inc. | Speed function module and numerical minimization module for an active contour model |
JP2014215301A (ja) * | 2013-04-26 | 2014-11-17 | 株式会社ミツトヨ | エッジ検出方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2021260765A1 (ja) * | 2020-06-22 | 2021-12-30 | ||
WO2021260765A1 (ja) * | 2020-06-22 | 2021-12-30 | 株式会社日立ハイテク | 寸法計測装置、半導体製造装置及び半導体装置製造システム |
KR20220000896A (ko) * | 2020-06-22 | 2022-01-04 | 주식회사 히타치하이테크 | 치수 계측 장치, 반도체 제조 장치 및 반도체 장치 제조 시스템 |
JP7164716B2 (ja) | 2020-06-22 | 2022-11-01 | 株式会社日立ハイテク | 寸法計測装置、半導体製造装置及び半導体装置製造システム |
KR102659861B1 (ko) * | 2020-06-22 | 2024-04-24 | 주식회사 히타치하이테크 | 치수 계측 장치, 반도체 제조 장치 및 반도체 장치 제조 시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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