JP2889102B2 - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被写体までの距離を自
動的に計測するカメラの測距装置に関する。
動的に計測するカメラの測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】このようなカメラの測距装置としては、
ＬＥＤなどの測距用光源を持ち、受光素子との組み合わ
せで被写体までの距離を計測する三角測量タイプのアク
ティブ方式が知られている。
ＬＥＤなどの測距用光源を持ち、受光素子との組み合わ
せで被写体までの距離を計測する三角測量タイプのアク
ティブ方式が知られている。
【０００３】また、別の方式の測距装置として、測距用
の光源を持たず、被写体で反射される自然光を２系統の
光学系で受光し、各光学系で得られた２つの光学像の位
相差等により、被写体までの距離を計測する三角測量タ
イプのパッシブ方式が知られている。
の光源を持たず、被写体で反射される自然光を２系統の
光学系で受光し、各光学系で得られた２つの光学像の位
相差等により、被写体までの距離を計測する三角測量タ
イプのパッシブ方式が知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】アクティブ方式の測距
装置は、このように被写体から戻る測距光を受光して被
写体までの距離を計測するが、外界輝度が高い場合、受
光素子がこの測距光の反射光を良好に受光できず、測距
精度が低下したり、外界輝度によっては測距不能となる
場合もある。一方、パッシブ方式の測距装置は、外界輝
度が低い場合には、当然に被写体における自然光の反射
光量も少なくなり、このため位相差の検出が困難とな
り、測距精度が低下したり、測距不能となる場合も生じ
る。
装置は、このように被写体から戻る測距光を受光して被
写体までの距離を計測するが、外界輝度が高い場合、受
光素子がこの測距光の反射光を良好に受光できず、測距
精度が低下したり、外界輝度によっては測距不能となる
場合もある。一方、パッシブ方式の測距装置は、外界輝
度が低い場合には、当然に被写体における自然光の反射
光量も少なくなり、このため位相差の検出が困難とな
り、測距精度が低下したり、測距不能となる場合も生じ
る。
【０００５】本発明は、このような課題を解決すべくな
されたものであり、その目的は、外界輝度に対する適用
範囲が広く、常に高い精度で測距を行うことができる測
距装置を提供することにある。
されたものであり、その目的は、外界輝度に対する適用
範囲が広く、常に高い精度で測距を行うことができる測
距装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明にかかる
測距装置は、被写体から戻る測距光の反射光を受光して
その集光位置に基づいて測距を行うアクティブ方式の第
１測距部、及び、被写体で反射される自然光を２系統の
光学系で受光し得られた２つの光学像に基づいて測距を
行うパッシブ方式の第２測距部の２種の測距部を備え
る。そして、測光結果から外界輝度を判定する輝度判定
部を有しており、ここで判定された外界輝度を基に、第
１測距部と第２測距部とでそれぞれ得られた測距結果の
うち、いずれか一方の測距結果を適正な測距値として選
択して出力する測距値選択手段を備えて構成する。
測距装置は、被写体から戻る測距光の反射光を受光して
その集光位置に基づいて測距を行うアクティブ方式の第
１測距部、及び、被写体で反射される自然光を２系統の
光学系で受光し得られた２つの光学像に基づいて測距を
行うパッシブ方式の第２測距部の２種の測距部を備え
る。そして、測光結果から外界輝度を判定する輝度判定
部を有しており、ここで判定された外界輝度を基に、第
１測距部と第２測距部とでそれぞれ得られた測距結果の
うち、いずれか一方の測距結果を適正な測距値として選
択して出力する測距値選択手段を備えて構成する。
【０００７】また、この測距値選択手段では、輝度判定
部により得られた外界輝度を、高レベル、低レベルの２
段階に判別してもよい。そして、外界輝度を低レベルと
判別した場合に第１測距部の測距結果を選択し、外界輝
度を高レベルと判別した場合に第２測距部の測距結果を
選択することもできる。
部により得られた外界輝度を、高レベル、低レベルの２
段階に判別してもよい。そして、外界輝度を低レベルと
判別した場合に第１測距部の測距結果を選択し、外界輝
度を高レベルと判別した場合に第２測距部の測距結果を
選択することもできる。
【０００８】また、この測距値選択手段は、輝度判定部
により得られた外界輝度を、高レベル、中間レベル、低
レベルの３段階に判別してもよい。そして、外界輝度を
低レベルと判別した場合に第１測距部の測距結果を選択
し、外界輝度を高レベルと判別した場合に第２測距部の
測距結果を選択し、外界輝度を中間レベルと判定した場
合には、測定によって得られた所定のパラメータの値に
基づいて、第１測距部と第２測距部とで得られた測距結
果のうち、いずれか一方の測距結果を適正な測距値とし
て選択することとしても良い。
により得られた外界輝度を、高レベル、中間レベル、低
レベルの３段階に判別してもよい。そして、外界輝度を
低レベルと判別した場合に第１測距部の測距結果を選択
し、外界輝度を高レベルと判別した場合に第２測距部の
測距結果を選択し、外界輝度を中間レベルと判定した場
合には、測定によって得られた所定のパラメータの値に
基づいて、第１測距部と第２測距部とで得られた測距結
果のうち、いずれか一方の測距結果を適正な測距値とし
て選択することとしても良い。
【０００９】
【作用】本発明にかかる測距装置は、アクティブ方式の
第１測距部とパッシブ方式の第２測距部の２種類の測距
部を備えており、この双方で測距を実施する。そして、
輝度判定部において外界輝度が求められ、この結果に基
づいて測距値選択手段では、いずれか一方の測距結果を
適正な測距値として選択する。すなわち、外界輝度が比
較的高いと判別された場合には、アクティブ方式では測
距光を受光する受光素子が良好に機能しないが、パッシ
ブ方式では被写体で反射される自然光の光量が増大する
ため測距値の信頼性は高く、この結果、パッシブ方式に
よる第２測距部の測距結果が選択される。反対に、外界
輝度が比較的低いと判別された場合には、パッシブ方式
では自然光の反射光量が少なく信頼性に欠けるが、アク
ティブ方式では受光部において測距光の反射光が良好に
検出されるため測距値の信頼性は高く、この結果、アク
ティブ方式による第１測距部の測距結果が選択される。
第１測距部とパッシブ方式の第２測距部の２種類の測距
部を備えており、この双方で測距を実施する。そして、
輝度判定部において外界輝度が求められ、この結果に基
づいて測距値選択手段では、いずれか一方の測距結果を
適正な測距値として選択する。すなわち、外界輝度が比
較的高いと判別された場合には、アクティブ方式では測
距光を受光する受光素子が良好に機能しないが、パッシ
ブ方式では被写体で反射される自然光の光量が増大する
ため測距値の信頼性は高く、この結果、パッシブ方式に
よる第２測距部の測距結果が選択される。反対に、外界
輝度が比較的低いと判別された場合には、パッシブ方式
では自然光の反射光量が少なく信頼性に欠けるが、アク
ティブ方式では受光部において測距光の反射光が良好に
検出されるため測距値の信頼性は高く、この結果、アク
ティブ方式による第１測距部の測距結果が選択される。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて
説明する。
説明する。
【００１１】本実施例にかかる測距装置の概略的な構成
を図１に示す。この測距装置は、三角測量タイプのアク
ティブ方式の測距を実施するアクティブ測距部Ａ、及
び、同じく三角測量タイプのパッシブ方式の測距を実施
するパッシブ測距部Ｐを備え、さらに、外界輝度を判定
する輝度判定部Ｌ、及び、測距値選択回路４０を備えて
いる。
を図１に示す。この測距装置は、三角測量タイプのアク
ティブ方式の測距を実施するアクティブ測距部Ａ、及
び、同じく三角測量タイプのパッシブ方式の測距を実施
するパッシブ測距部Ｐを備え、さらに、外界輝度を判定
する輝度判定部Ｌ、及び、測距値選択回路４０を備えて
いる。
【００１２】アクティブ測距部Ａは、被写体に向かって
測距光を投光するＬＥＤ等で構成する投光部１１及びそ
の反射光を受光するＰＳＤ等で構成する受光部１２（図
３参照）を備えており、さらに、この投・受光結果を基
に被写体までの距離を演算する測距演算回路１３を備え
ている。
測距光を投光するＬＥＤ等で構成する投光部１１及びそ
の反射光を受光するＰＳＤ等で構成する受光部１２（図
３参照）を備えており、さらに、この投・受光結果を基
に被写体までの距離を演算する測距演算回路１３を備え
ている。
【００１３】パッシブ測距部Ｐは、被写体からの自然光
の反射光を２系統の光学系で受光する右受光部２１と左
受光部２２（図３参照）を備えており、さらにこれらを
介して得られる２つの光学像を受光するＣＣＤ（光位置
検出装置：図示せず）、及び、その結果をもとに被写体
までの距離を演算する測距演算回路２３などを備えてい
る。
の反射光を２系統の光学系で受光する右受光部２１と左
受光部２２（図３参照）を備えており、さらにこれらを
介して得られる２つの光学像を受光するＣＣＤ（光位置
検出装置：図示せず）、及び、その結果をもとに被写体
までの距離を演算する測距演算回路２３などを備えてい
る。
【００１４】輝度判定部Ｌは、露出制御用の受光素子、
例えばＣｄＳなどで構成する受光部３１と、その受光結
果を基に外界輝度を演算する測光演算回路３２を備えて
いる。
例えばＣｄＳなどで構成する受光部３１と、その受光結
果を基に外界輝度を演算する測光演算回路３２を備えて
いる。
【００１５】測距値選択回路４０は、この輝度判定部Ｌ
で求められた外界輝度に応じて、各測距部Ａ，Ｐで測定
された測距値のうちの一方を選択して出力する回路であ
る。
で求められた外界輝度に応じて、各測距部Ａ，Ｐで測定
された測距値のうちの一方を選択して出力する回路であ
る。
【００１６】なお、図３に本実施例にかかる測距装置を
備えたカメラの外観を示し、また、図４にその内部機構
の概略を示す。図１で示した測距演算回路１３、２３、
測光演算回路３２及び測距値選択回路４０は、図４に示
すＣＰＵ内に構成される。
備えたカメラの外観を示し、また、図４にその内部機構
の概略を示す。図１で示した測距演算回路１３、２３、
測光演算回路３２及び測距値選択回路４０は、図４に示
すＣＰＵ内に構成される。
【００１７】ここで、この測距装置の動作を図５に基づ
いて説明する。
いて説明する。
【００１８】まず、レリーズスイッチ（図示せず）がＯ
Ｎされると（＃１００）、アクティブ測距部Ａとパッシ
ブ測距部Ｐとの双方により、測距を開始する（＃１０
２）。また、この処理と同時、或いは前後して、輝度判
定部Ｌにより外界輝度の測定を行う（＃１０４）。そし
て、測距値選択回路４０では、まず、パッシブ測距部Ｐ
での測距演算が可能か否かが判断される（＃１０６）。
これは、パッシブ測距が被写体のパターンに依存して測
距が行われるためであり、例えば、被写体が縦縞パター
ンの繰り返しや輝度均一面の場合などでは、パッシブ測
距に基づく距離算出が不可能となるためである。＃１０
６により、検出不能であると判断された場合には、直ち
にアクティブ測距部Ａの測距値が選択され、測距値選択
回路４０から出力される（＃１０８、＃１１０）。以降
の撮影処理は、この測距値をもとに実行される。
Ｎされると（＃１００）、アクティブ測距部Ａとパッシ
ブ測距部Ｐとの双方により、測距を開始する（＃１０
２）。また、この処理と同時、或いは前後して、輝度判
定部Ｌにより外界輝度の測定を行う（＃１０４）。そし
て、測距値選択回路４０では、まず、パッシブ測距部Ｐ
での測距演算が可能か否かが判断される（＃１０６）。
これは、パッシブ測距が被写体のパターンに依存して測
距が行われるためであり、例えば、被写体が縦縞パター
ンの繰り返しや輝度均一面の場合などでは、パッシブ測
距に基づく距離算出が不可能となるためである。＃１０
６により、検出不能であると判断された場合には、直ち
にアクティブ測距部Ａの測距値が選択され、測距値選択
回路４０から出力される（＃１０８、＃１１０）。以降
の撮影処理は、この測距値をもとに実行される。
【００１９】一方、パッシブ測距部Ｐによって測距可能
な場合には（＃１０６で「ＮＯ」）、輝度判定部Ｌによ
って得られた外界輝度が、Ｌｖ１４以上の高輝度レベル
か否かが判断される（＃１１４）。外界輝度が高い場
合、アクティブ方式では受光部１２が測距光の反射光を
良好に受光できなくなり、測距精度が低下するおそれが
ある。一方、パッシブ方式では被写体で反射される自然
光の光量が増大するため、測距値の信頼性は高い。この
ため、測距値選択回路４０は、輝度判定部Ｌにより得ら
れた外界輝度がＬｖ１４以上の場合、直ちにパッシブ測
距部Ｐの測距値を選択する（＃１１６、＃１１０）。以
降の撮影処理は、測距値選択回路４０から出力されるこ
の測距値をもとに実行される（＃１１２）。
な場合には（＃１０６で「ＮＯ」）、輝度判定部Ｌによ
って得られた外界輝度が、Ｌｖ１４以上の高輝度レベル
か否かが判断される（＃１１４）。外界輝度が高い場
合、アクティブ方式では受光部１２が測距光の反射光を
良好に受光できなくなり、測距精度が低下するおそれが
ある。一方、パッシブ方式では被写体で反射される自然
光の光量が増大するため、測距値の信頼性は高い。この
ため、測距値選択回路４０は、輝度判定部Ｌにより得ら
れた外界輝度がＬｖ１４以上の場合、直ちにパッシブ測
距部Ｐの測距値を選択する（＃１１６、＃１１０）。以
降の撮影処理は、測距値選択回路４０から出力されるこ
の測距値をもとに実行される（＃１１２）。
【００２０】また、外界輝度がＬｖ１４未満の場合には
（＃１１２で「ＮＯ」）、外界輝度がＬｖ３以下の低い
輝度が否かが判断される（＃１１８）。外界輝度が低い
場合、パッシブ方式では自然光の反射光量が少なく信頼
性に欠けるが、アクティブ方式では受光部１２において
測距光の反射光が良好に検出されるため測距値の信頼性
は高い。このため、測距値選択回路４０は、輝度判定部
Ｌにより得られた外界輝度がＬｖ３以下の場合（＃１１
８で「ＹＥＳ」）、直ちにアクティブ測距部Ａの測距値
を選択し、出力する（＃１０８、＃１１０）。
（＃１１２で「ＮＯ」）、外界輝度がＬｖ３以下の低い
輝度が否かが判断される（＃１１８）。外界輝度が低い
場合、パッシブ方式では自然光の反射光量が少なく信頼
性に欠けるが、アクティブ方式では受光部１２において
測距光の反射光が良好に検出されるため測距値の信頼性
は高い。このため、測距値選択回路４０は、輝度判定部
Ｌにより得られた外界輝度がＬｖ３以下の場合（＃１１
８で「ＹＥＳ」）、直ちにアクティブ測距部Ａの測距値
を選択し、出力する（＃１０８、＃１１０）。
【００２１】測距値選択回路４０は、このように外界輝
度がＬｖ１４以上の高輝度レベルか、或いはＬｖ３以下
の低輝度レベルの場合には、それそれ前述したように直
ちに一方の測距値を選択するが、輝度レベルが３＜Ｌｖ
＜１４の中間輝度レベルの場合には、以下のパラメータ
の値に基づいて選択する。
度がＬｖ１４以上の高輝度レベルか、或いはＬｖ３以下
の低輝度レベルの場合には、それそれ前述したように直
ちに一方の測距値を選択するが、輝度レベルが３＜Ｌｖ
＜１４の中間輝度レベルの場合には、以下のパラメータ
の値に基づいて選択する。
【００２２】まず、測距値選択回路４０は低コントラス
トか否かを判断する（＃１２０）。＃１０６では、パッ
シブ測距部Ｐにおいて測距可能と判断されたが、輝度判
定部Ｌを含むＡＥ（自動露出、図４参照）のセンサーデ
ータより、低コントラストであると判断された場合には
（＃１２０で「ＹＥＳ」）、測距値選択回路４０は直ち
にアクティブ測距部Ａの測距値を選択する（＃１０
８）。これは、パッシブ方式の測距の場合、被写体のコ
ントラストに測距結果が依存し、輝度が均一（低コント
ラスト）となる被写体では、測距精度が低下したり、測
距不能となる場合があるからである。反対に、アクティ
ブ方式の測距の場合には、被写体が低コントラストであ
っても、このような欠点がない。従って、測距値選択回
路４０は、低コントラストの場合には、より信頼性の高
いアクティブ測距部Ａの測距値を選択するように設定さ
れている。
トか否かを判断する（＃１２０）。＃１０６では、パッ
シブ測距部Ｐにおいて測距可能と判断されたが、輝度判
定部Ｌを含むＡＥ（自動露出、図４参照）のセンサーデ
ータより、低コントラストであると判断された場合には
（＃１２０で「ＹＥＳ」）、測距値選択回路４０は直ち
にアクティブ測距部Ａの測距値を選択する（＃１０
８）。これは、パッシブ方式の測距の場合、被写体のコ
ントラストに測距結果が依存し、輝度が均一（低コント
ラスト）となる被写体では、測距精度が低下したり、測
距不能となる場合があるからである。反対に、アクティ
ブ方式の測距の場合には、被写体が低コントラストであ
っても、このような欠点がない。従って、測距値選択回
路４０は、低コントラストの場合には、より信頼性の高
いアクティブ測距部Ａの測距値を選択するように設定さ
れている。
【００２３】次に、低コントラストではない場合には
（＃１２０で「ＮＯ」）、気温を基に判断する。すなわ
ち、気温が４０℃を越える高い温度か（＃１２２）、或
いは、０℃以下の低い温度かが（＃１２４）が判断され
る。これは、カメラ内部に備えられた内部光学系を構成
する部品が、気温によって熱膨脹・熱収縮を起こすため
である。この熱膨脹等により、発光体から受光体までの
光路長が変化することとなるが、パッシブ測距部Ｐの光
路長がアクティブ測距部Ａの光路長に比べて、はるかに
短い。したがって、気温が低温・高温の場合には、パッ
シブ測距部Ｐの測距結果の誤差が著しく大きくなる。従
って、＃１２２、＃１２４のいずかに該当する場合、測
距値選択回路４０は直ちにアクティブ測距部Ａの測距結
果を選択する（＃１０８）。
（＃１２０で「ＮＯ」）、気温を基に判断する。すなわ
ち、気温が４０℃を越える高い温度か（＃１２２）、或
いは、０℃以下の低い温度かが（＃１２４）が判断され
る。これは、カメラ内部に備えられた内部光学系を構成
する部品が、気温によって熱膨脹・熱収縮を起こすため
である。この熱膨脹等により、発光体から受光体までの
光路長が変化することとなるが、パッシブ測距部Ｐの光
路長がアクティブ測距部Ａの光路長に比べて、はるかに
短い。したがって、気温が低温・高温の場合には、パッ
シブ測距部Ｐの測距結果の誤差が著しく大きくなる。従
って、＃１２２、＃１２４のいずかに該当する場合、測
距値選択回路４０は直ちにアクティブ測距部Ａの測距結
果を選択する（＃１０８）。
【００２４】また、＃１２２、＃１２４のいずれも該当
しない場合（＃１２２、＃１２４で「ＮＯ」）、測距値
選択回路４０はアクティブ測距部Ａの測距結果が３ｍ以
遠か否かを判断する（＃１２６）。これは、アクティブ
方式が、被写体に向けて測距光を投光しその反射光を受
光する方式であるため、測距光の投光距離には限界があ
り、被写体までの距離が遠いと反射光が十分に得られ
ず、測距精度が低下したり、測距不能となる場合も生じ
る。このため、測距値選択回路４０は、アクティブ測距
部Ａの測距結果が３ｍ以遠の場合には（＃１２６で「Ｙ
ＥＳ」）、パッシブ測距部Ｐの測距値を選択し（＃１１
６）、３ｍよりも近い場合には（＃１２６で「Ｎ
Ｏ」）、アクティブ測距部Ａの測距結果を選択する（＃
１０８）。
しない場合（＃１２２、＃１２４で「ＮＯ」）、測距値
選択回路４０はアクティブ測距部Ａの測距結果が３ｍ以
遠か否かを判断する（＃１２６）。これは、アクティブ
方式が、被写体に向けて測距光を投光しその反射光を受
光する方式であるため、測距光の投光距離には限界があ
り、被写体までの距離が遠いと反射光が十分に得られ
ず、測距精度が低下したり、測距不能となる場合も生じ
る。このため、測距値選択回路４０は、アクティブ測距
部Ａの測距結果が３ｍ以遠の場合には（＃１２６で「Ｙ
ＥＳ」）、パッシブ測距部Ｐの測距値を選択し（＃１１
６）、３ｍよりも近い場合には（＃１２６で「Ｎ
Ｏ」）、アクティブ測距部Ａの測距結果を選択する（＃
１０８）。
【００２５】以上のようにして、一方の測距値が最終的
に選択され、この測距値選択回路４０で選択された測距
値をもとに、撮影処理が実行される。
に選択され、この測距値選択回路４０で選択された測距
値をもとに、撮影処理が実行される。
【００２６】このように本実施例にかかる測距装置は、
アクティブ測距部Ａとパッシブ測距部Ｐでそれぞれ得ら
れた測距値のうち、外界輝度等に応じて、より信頼性の
高い測距値を適正な測距値として選択するものである。
アクティブ測距部Ａとパッシブ測距部Ｐでそれぞれ得ら
れた測距値のうち、外界輝度等に応じて、より信頼性の
高い測距値を適正な測距値として選択するものである。
【００２７】以上説明した実施例では、外界輝度をＬｖ
１４以上の高輝度レベル、Ｌｖ３以下の低輝度レベル、
３＜Ｌｖ＜１４の中間輝度レベルの３段階に別けて判別
する例を示したが、この他にも、外界輝度を高輝度レベ
ルと低輝度レベルとの２段階に別けて判別することも可
能である。その場合に基準となる輝度レベルは、Ｌｖ１
２程度の値が望ましい値となる。すなわち、外界輝度が
Ｌｖ１２以上の場合にはパッシブ測距部Ｐの測距結果
を、また、Ｌｖ１２未満の場合には、アクティブ測距部
Ａの測距結果を、それぞれ適正な測距値として選択す
る。なお、これら各輝度レベルは、最も好ましい値を例
示したに過ぎず、他の値で実施することも勿論可能であ
る。
１４以上の高輝度レベル、Ｌｖ３以下の低輝度レベル、
３＜Ｌｖ＜１４の中間輝度レベルの３段階に別けて判別
する例を示したが、この他にも、外界輝度を高輝度レベ
ルと低輝度レベルとの２段階に別けて判別することも可
能である。その場合に基準となる輝度レベルは、Ｌｖ１
２程度の値が望ましい値となる。すなわち、外界輝度が
Ｌｖ１２以上の場合にはパッシブ測距部Ｐの測距結果
を、また、Ｌｖ１２未満の場合には、アクティブ測距部
Ａの測距結果を、それぞれ適正な測距値として選択す
る。なお、これら各輝度レベルは、最も好ましい値を例
示したに過ぎず、他の値で実施することも勿論可能であ
る。
【００２８】また、本実施例では、輝度判定部Ｌは、図
４におけるＡＥ（自動露出）部の構成を利用できるが、
この他にも、輝度判定部としてＡＥ部とは別個に、受光
部と測光演算回路とを設けるか、或いは、図２に示すよ
うに、パッシブ測距部Ｐの各受光部２１、２２の受光結
果を基に、測光・測距演算回路２４によって外界輝度を
求めることも可能である。
４におけるＡＥ（自動露出）部の構成を利用できるが、
この他にも、輝度判定部としてＡＥ部とは別個に、受光
部と測光演算回路とを設けるか、或いは、図２に示すよ
うに、パッシブ測距部Ｐの各受光部２１、２２の受光結
果を基に、測光・測距演算回路２４によって外界輝度を
求めることも可能である。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明にかかる測
距装置は、アクティブ方式の第１測距部とパッシブ方式
の第２測距部とを備え、輝度判定部及び測距値選択手段
により、外界輝度に応じていずづれか一方を適正な測距
値として選択することとした。従って、外界輝度に対し
て適用範囲が広く、常に高い精度で測距を行うことがで
きる測距装置を提供することが可能となる。
距装置は、アクティブ方式の第１測距部とパッシブ方式
の第２測距部とを備え、輝度判定部及び測距値選択手段
により、外界輝度に応じていずづれか一方を適正な測距
値として選択することとした。従って、外界輝度に対し
て適用範囲が広く、常に高い精度で測距を行うことがで
きる測距装置を提供することが可能となる。
【図１】本実施例にかかる測距装置の構成を概略的に示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図２】測距装置の他の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図３】本実施例にかかる測距装置を備えたカメラを示
す正面図である。
す正面図である。
【図４】カメラ内部の構成を概略的に示すブロック図で
ある。
ある。
【図５】本実施例の測距装置の動作を示すフローチャー
トである。
トである。
Ａ…アクティブ測距部（第１測距部）、Ｐ…パッシブ測
距部（第２測距部）、Ｌ…輝度判定部、４０…測距値選
択回路。
距部（第２測距部）、Ｌ…輝度判定部、４０…測距値選
択回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01C 3/06 G01J 1/02 G02B 7/30 - 7/32 G03B 13/36
Claims (3)
- 【請求項１】被写体に向けて測距光を投光し、その反射
光の集光位置に基づき、この被写体までの距離を計測す
るアクティブ方式の第１測距部と、 前記被写体で反射される自然光を２系統の光学系で受光
し、この各光学系で得られた２つの光学像に基づき、前
記被写体までの距離を計測するパッシブ方式の第２測距
部と、 測光結果から外界輝度を判定する輝度判定部と、 前記輝度判定部で判定された外界輝度を基に、前記第１
測距部と第２測距部とでそれぞれ得られた測距結果のう
ち、いずれか一方の測距結果を適正な測距値として選択
して出力する測距値選択手段と、 を備えることを特徴とする測距装置。 - 【請求項２】前記測距値選択手段は、前記輝度判定部に
より得られた外界輝度を、高レベル、低レベルの２段階
に判別し、 外界輝度を前記低レベルと判別した場合には、前記第１
測距部の測距結果を選択し、外界輝度を前記高レベルと
判別した場合には、前記第２測距部の測距結果を選択す
ることを特徴とする請求項１記載の測距装置。 - 【請求項３】前記測距値選択手段は、前記輝度判定部に
より得られた外界輝度を、高レベル、中間レベル、低レ
ベルの３段階に判別し、 外界輝度を前記低レベルと判別した場合には、前記第１
測距部の測距結果を選択し、外界輝度を前記高レベルと
判別した場合には、前記第２測距部の測距結果を選択
し、外界輝度を前記中間レベルと判定した場合には、測
定によって得られた所定のパラメータの値に基づいて、
前記第１測距部と第２測距部とで得られた測距結果のう
ち、いずれか一方の測距結果を適正な測距値として選択
することを特徴とする請求項１記載の測距装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31543193A JP2889102B2 (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | 測距装置 |
| US08/357,431 US5589910A (en) | 1993-12-15 | 1994-12-14 | Apparatus for measuring a distance |
| US08/654,603 US5652926A (en) | 1993-12-15 | 1996-05-29 | Distance measuring apparatus |
| US08/703,016 US5784654A (en) | 1993-12-15 | 1996-08-26 | Apparatus and method for measuring a distance |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31543193A JP2889102B2 (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07167646A JPH07167646A (ja) | 1995-07-04 |
| JP2889102B2 true JP2889102B2 (ja) | 1999-05-10 |
Family
ID=18065298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31543193A Expired - Fee Related JP2889102B2 (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2889102B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
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|---|---|---|---|---|
| JP2000180703A (ja) | 1998-12-14 | 2000-06-30 | Olympus Optical Co Ltd | 測距装置 |
| JP4426669B2 (ja) | 1999-06-03 | 2010-03-03 | オリンパス株式会社 | マルチａｆ装置 |
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| JP6452354B2 (ja) * | 2014-09-01 | 2019-01-16 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
-
1993
- 1993-12-15 JP JP31543193A patent/JP2889102B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07167646A (ja) | 1995-07-04 |
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