JP2887281B2 - 近接露光装置 - Google Patents

近接露光装置

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JP2887281B2
JP2887281B2 JP5078733A JP7873393A JP2887281B2 JP 2887281 B2 JP2887281 B2 JP 2887281B2 JP 5078733 A JP5078733 A JP 5078733A JP 7873393 A JP7873393 A JP 7873393A JP 2887281 B2 JP2887281 B2 JP 2887281B2
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勉 上山
康幸 小八木
勝幸 久岡
明 田頭
康之 和田
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、感光剤が塗布された例
えば液晶表示器用の角型ガラス基板(以下、単に「基
板」という)と、マスクとを近接させて露光し、マスク
のパターンを感光剤に焼き付ける近接露光装置に係り、
特に、基板のプリアライメントを行うための機構と、露
光済の基板を搬出するための機構に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の近接露光装置の一例を、図18、
図19を参照して説明する。図18は、従来例に係る近
接露光装置の外観を示す正面図であり、図19は、その
平面図である。ただし、図19では露光光学部を省略し
てある。
【0003】図に示すように、この近接露光装置は、感
光剤が塗布された基板1を1枚ずつ順次搬入するための
基板ローダ部3と、マスク2に描画された所定のパター
ンを、基板1に塗布された感光剤に焼き付ける露光部4
と、露光済の基板1を搬出するための基板アンローダ部
5等によって構成されている。
【0004】基板ローダ部3は、基板カセット31から
基板1を順に取り出すローダロボット32を備えてい
る。基板カセット31には、感光剤が塗布された複数枚
の基板1が収納されている。ローダロボット32は、ロ
ーダアーム33を搬入位置LPから図の左方向へ移動さ
せて基板カセット31に挿入させ、そこでローダアーム
33を上昇させ、基板カセット31に収納されている複
数枚の基板1の中の最下段の基板1を1枚取り出し、搬
入位置LPまで運び、ローダアーム33を降下させて図
示しない基板搬送機に渡す。基板1が渡された基板搬送
機は、露光部4に基板1が搬送可能になるまで搬入位置
LPで待機し、露光部4に基板1が搬送可能になると、
露光部4に備えられた露光ステージ41の上方の露光待
機位置に基板1を搬入する。なお、図では、露光処理を
単体で行う場合の装置構成を示しているが、本装置が製
造ラインに組み込まれ、上流側に前工程(例えば、別の
近接露光装置による露光処理)がある場合には、基板カ
セット31は備えず、ローダロボット32は基板1を前
工程から1枚ずつ受け取り、搬入位置LPに運ぶ構成と
なる。
【0005】露光部4には、アクチュエータ等で構成さ
れたZ方向駆動機42により、Z方向に昇降自在に構成
された露光ステージ41が備えられており、この露光ス
テージ41の上方には、マスク保持部21に保持された
マスク2が配置され、さらにその上方には露光光学部6
も備えられている。基板1は、露光ステージ41とマス
ク2との間の露光待機位置に搬入される。
【0006】露光部4では、基板1が露光待機位置に搬
入されると、その位置で、まず、基板1のプリアライメ
ントを行う。このプリアライメントは、後述するアライ
メントを正確に行わせるためのおおよその位置合わせで
あり、基板1を所定の基準位置に合わせることにより行
われる。所定の基準位置は、装置の構成により異なる
が、例えば、後述するアライメントの際に、基板1のア
ライメントマークが、アライメントスコープの視野内に
収まる位置や、基板1の中心を、マスク保持部21に保
持されたマスク2の中心に合わせる位置等に設定されて
いる。次に、マスク2と基板1との間を所定のギャッ
プ、例えば、50μm〜100μmに設定するように、
Z方向駆動機42によって露光ステージ41を上昇させ
る。そして、アライメントスコープを用いて、基板1と
マスク2との精密な位置合わせ(アライント)を行って
から、露光光学部6から光が照射され、マスク2のパタ
ーンが、基板1に塗布した感光剤に焼き付けられる。
【0007】露光光学部6は、紫外線照射用の例えば、
キセノン(Xr)ランプ61から照射された光が凹面鏡
62で集光され、光路反転ミラー63により光路が反転
され、フライアイレンズ64を介して、光路反転ミラー
65により光路が再び反転された後、フレネルレンズ6
6により、マスク2に垂直な平行光となって、マスク2
を通って基板1の表面に照射されるように構成されてい
る。
【0008】露光が終了すると、露光ステージ41は露
光済の基板1を保持した状態で、Z方向駆動機42によ
ってZ方向に降下し、前記露光待機位置で、図示しない
基板搬送機に基板1を渡す。露光ステージ41は、さら
にZ方向駆動機42によって、Z方向に降下し、次の基
板1が搬入されるまで待機する。基板1が渡された基板
搬送機は、基板1を基板アンローダ部5のアンローダ位
置ULPに運ぶ。
【0009】アンローダ位置ULPに運ばれた基板1
は、アンローダロボット52のアンローダアーム53が
アンローダ位置ULPで上昇することによって、アンロ
ーダアーム53に受け渡される。このアンローダアーム
53が露光済の基板カセット51に進入することにより
露光済の基板カセット51に基板1が収納される。な
お、本装置が製造ラインに組み込まれ、下流側に後工程
(例えば、別の近接露光装置による露光処理)がある場
合には、露光済の基板カセット51やアンローダロボッ
ト52を備えず、露光ステージ41から基板1を受け取
った基板搬送機が、受け取った基板1を搬出位置、すな
わち、後工程の搬入位置に搬送する構成となる。
【0010】ところで、プリアライメントは、従来、一
般的に露光部4で行われている。これは、アライメント
を精度よく行うためには、プリアライメントが完了した
状態が維持されていることが望ましいからである。すな
わち、プリアライメントを露光部4で行うことにより、
プリアライメント工程とアライメント工程との間には、
基板1をマスク2に近接させる工程をはさむだけとな
り、アライメントを精度よく行なえることになる。
【0011】このプリアライメントは、従来、例えば以
下のような方式で行われている。すなわち、基板1を露
光ステージ41上に載置し、その基板1の直交する2側
辺のエッジを、露光ステージ41上に立設された複数本
の位置決めピンに当接させることにより、基板1を基準
位置に合わせる。
【0012】しかし、この方式では、基板1を位置決め
ピンに突き当てるので、基板1のエッジにカケが生じ易
く、また、位置決めピンに突き当てるために、露光ステ
ージ41上に載置した基板1を移動させるので、基板1
の底面と露光ステージ41の表面がこすれ合い、その結
果、粉塵が発生し易いという問題がある。
【0013】このような問題を解消するために、次のよ
うな方式でプリアライメントを行う装置もある。この方
式は、基準位置に対する基板1の位置ズレを基板1に非
接触状態で検出し、検出した位置ズレをなくす方向に、
基板1の底面と露光ステージ41の表面がこすれないよ
うに、基板1と露光ステージ41を相対的にずらせてプ
リアライメントを行う。
【0014】基準位置に対する基板1の位置ズレ検出
は、以下のようにして行われる。すなわち、露光ステー
ジ41の上方の露光待機位置に搬入された基板1が基板
搬送機に保持されている状態(基板1が露光ステージ4
1上に載置されていない状態)で、基準位置にあるとき
の基板1のエッジ位置に対する、搬入された基板1のエ
ッジの位置ズレを、基板1に非接触状態で検出できるセ
ンサ、例えば、光学系を利用したセンサ等により検出す
る。
【0015】基準位置に対する基板1のエッジの位置ズ
レは、図20に示すように、基板1の直交する2側辺の
3個所の検出位置P1 、P2 、P3 の位置ズレ量X1
2、X3 を検出することにより、一点鎖線で示す基準
位置に対して、X、Y、θ方向にどれだけズレているか
を特定する。例えば、θ方向のズレ量は、検出位置
1 、P2 のズレ量X1 、X2 の差分値と、検出位置P
1 、P2 間の長さLに基づいて特定でき、また、X方向
のズレ量は、検出位置P1 、P2 のズレ量X1 、X2
に基づいて特定でき、さらに、Y方向のズレ量は、検出
位置P3 のズレ量X3 等に基づいて特定できる。
【0016】次に、検出した位置ズレをなくす方向に、
基板1の底面と露光ステージ41の表面がこすれないよ
うに基板1と露光ステージ41とを相対的にずらせるた
めに、例えば、露光ステージ41は水平面(XY平面)
内で、原点位置に対してX、Y、θ方向に駆動できるよ
うに構成されている。
【0017】上述のような構成の装置によるプリアライ
メントの手順を図21を参照して説明する。図21
(a)、(c)、(e)は、プリアライメントの手順を
示す平面図、図21(b)、(d)、(f)は、プリア
ライメントの手順を示す正面図である。
【0018】まず、基板1が露光ステージ41上に載置
されていない状態で、上述した位置ズレ検出用のセンサ
を使って基準位置(一点鎖線で示す)に対する基板1の
位置ズレを検出する(図21(a)、(b))。次に、
露光ステージ41は、Z方向駆動機42によって、Z方
向に上昇しながら、前記検出された基板1の位置ズレ量
に相当する分だけ、原点位置からX、Y、θ方向に変位
し、さらに上昇して基板搬送機で保持されている基板1
を底面から保持する(図21(c)、(d))。そし
て、露光ステージ41は基板1を保持した状態で、Z方
向駆動機42によって、Z方向に上昇しながら、X、
Y、θ方向の原点位置に復帰し、マスク2と所定のギャ
ップを隔て停止する(図21(e)、(f))。
【0019】すなわち、基準位置に対して絶対的に位置
が合わせてある原点位置にある露光ステージ41をX、
Y、θ方向に変位させ、搬送された基板1とを相対的に
位置合わせして露光ステージ41上で基板1を保持し、
その後、露光ステージ41を原点位置に戻すことにより
基板1を基準位置に絶対的に合わせるものである。
【0020】なお、露光が終了すると、露光ステージ4
1はその状態(原点位置にある状態)で降下し、露光済
の基板1を基板搬送機に渡す。基板搬送機は渡された露
光済の基板1をアンローダ位置ULPに運び、アンロー
ダロボット52に渡すか、あるいは、後工程がある場合
には、後工程の搬入位置に基板1を搬送する。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。 (1) 上述したように、アライメントの位置合わせの
精度を高めるためには、プリアライメントを露光部4で
行うのが良いが、露光部4は、露光ステージ41の上方
にマスク2が配置され、露光ステージ41とマスク2と
の間には基板1を搬入するための基板搬送機等が出入
し、また、基板1をマスク2に近接し、露光する関係
上、基板1とマスク2との間を空きスペースとしなけれ
ばならない等の理由により、上述した基板1のエッジの
位置ズレ検出用のセンサを取り付ける位置が制約され
る。その結果、基板1の位置ズレの検出位置が制約を受
けることになるので、所望の検出位置で位置ズレ検出が
行えず、位置ズレの検出精度の向上が図れないという問
題がある。
【0022】また、1つの装置でサイズの異なる基板1
の露光を行う場合、上述したようにセンサの取り付け位
置が制約されるので、各種のサイズの基板1に対してプ
リアライメントを行えるようにセンサを配置するのが難
しいという問題もある。
【0023】(2) 1枚の基板1を複数個の近接露光
装置でパターンの焼き付けを行う場合、各装置のプリア
ライメントの基準位置の設定が異なっていれば、ある装
置では、プリアライメントを行った結果、アライメント
の際に、基板1のアライメントマークがアライメントス
コープの視野内に入っていたが、別の装置でプリアライ
メントを行うと、基板1のアライメントマークがアライ
メントスコープの視野内に入らないこともある。
【0024】また、各装置のプリアライメントの基準位
置の設定が同じであっても、装置ごとの機械的な精度の
違いにより、ある装置では、プリアライメントを行った
結果、アライメントの際に、基板1のアライメントマー
クがアライメントスコープの視野内に入らないというこ
とも起こる。
【0025】すなわち、上述のいずれの場合にも、各装
置におけるプリアライメントによる位置合わせに相対的
なズレが生じる場合があるという問題がある。
【0026】(3) 露光済の基板1は、露光ステージ
41が原点位置にある状態で基板搬送機に渡され、所定
位置(アンローダ位置ULPや、後工程の搬入位置)に
運ばれるので、それらの位置に運ばれた状態の露光済の
基板1の位置関係は、常に露光ステージ41の原点位置
に対応したものとなる。本装置が製造ラインに組み込ま
れ、下流側に後工程がある場合、基板搬送機によって所
定位置に運ばれたときの基板1の位置関係と、後工程に
搬入させたい基板1の位置関係とがX、Y、θ方向にず
れる場合、例えば、製造ラインの設計上、互いの位置関
係を合わせることが困難な場合等、互いの位置関係を合
わせるためには、基板搬送機で運ばれた後、基板1を後
工程の所定の位置に合わせる機構、例えば、基板1を
X、Y、θ方向にずらせることができるアンローダロボ
ット等を設けなければならず、装置が複雑になるという
問題がある。また、そのような位置合わせの機構を設け
られない場合には、近接露光装置自体の構成を変更しな
ければならないという問題もある。
【0027】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、その目的とするところは、以下によう
なものである。
【0028】(1) 基板のエッジを所望の検出位置で
位置ズレ検出を行い、プリアライメントが行えるととも
に、各種のサイズの基板に対してもプリアライメントが
行なえる近接露光装置を提供する。
【0029】(2) 複数の装置間において発生するプ
リアライメントによる位置合わせの相対的なズレを調整
することができる近接露光装置を提供する。
【0030】(3) 露光済の基板を下流側の後工程の
所定の位置に渡すことができる近接露光装置を提供す
る。
【0031】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の発明は、マスクに描画された所定
のパターンを基板の表面に塗布した感光剤に焼き付ける
近接露光装置において、前記基板を載置する露光ステー
ジと、前記露光ステージを昇降駆動する昇降駆動手段
と、前記露光ステージを原点位置を中心に水平面内で駆
動する水平駆動手段と、前記露光ステージの上方に搬入
される前の所定位置(以下、「搬入位置」という)にあ
る基板に対して非接触状態で、基準位置に対する前記基
板のエッジの位置ズレ量を検出する位置ズレ検出手段
と、前記位置ズレ検出手段で検出した位置ズレ量が、前
記露光ステージの原点位置に対する前記基板のエッジの
位置ズレ量になるように、前記搬入位置にある前記基板
を前記露光ステージ上に搬送する基板搬送機と、前記露
光ステージ上に前記基板を載置する前に、前記位置ズレ
検出手段によって検出された位置ズレ量に相当する分だ
け、前記露光ステージが原点位置に対して水平面内で変
位するように前記水平駆動手段を制御するとともに、前
記露光ステージ上に前記基板を載置した後、前記昇降駆
動手段によって前記露光ステージが上昇駆動され、前記
基板と前記マスクとが所定のギャップに設定される前
に、前記露光ステージが原点位置に復帰するように前記
水平駆動手段を制御するプリアライメント制御手段と、
を備えたものである。
【0032】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
に記載の近接露光装置において、前記基準位置に対する
オフセット量を指示するオフセット量指示手段を備え、
前記プリアライメント制御手段は、前記露光ステージ上
に前記基板を載置する前に、前記露光ステージを原点位
置に対して水平面内で変位させる変位量を、前記位置ズ
レ検出手段によって検出された位置ズレ量に前記オフセ
ット量指示手段で指示されたオフセット量を加算した量
になるように前記水平駆動手段を制御するものである。
【0033】また、請求項3に記載の発明は、請求項1
に記載の近接露光装置において、前記露光ステージの前
記原点位置と前記基板の所定の搬出位置とのズレを調整
するための移動量を指示する移動量指示手段と、前記露
光ステージから前記搬出位置へ前記基板を搬出する際、
前記昇降駆動手段によって前記露光ステージを基板受け
渡し位置にまで降下駆動する前に、前記移動量指示手段
で指示された移動量に相当する分だけ、前記露光ステー
ジが原点位置に対して水平面内で変位するように前記水
平駆動手段を制御する搬出制御手段と、前記露光ステー
ジから、前記受け渡し位置で前記基板を受け取り、か
つ、前記受け取った基板をその位置関係のまま前記搬出
位置に搬送する搬出用搬送機と、を備えたものである。
【0034】
【作用】本発明の作用は次のとおりである。請求項1に
記載した発明によれば、露光ステージの上方に搬入され
る前の搬入位置にある基板に対して、位置ズレ検出手段
は、基準位置に対する基板のエッジの位置ズレ量を、基
板に対して非接触状態で検出する。次に、基板搬送機
は、搬入位置にある基板を露光ステージ上に搬送する
が、このとき、基板搬送機は、前記位置ズレ検出手段で
検出した位置ズレ量が、露光ステージの原点位置に対す
る前記基板のエッジの位置ズレ量になるように、搬入位
置にある基板を露光ステージ上に搬送する。そして、前
記基板を露光ステージ上に載置するために、昇降駆動手
段によって露光ステージが上昇される。基板が露光ステ
ージ上に載置される前に、プリアライメント制御手段が
水平駆動手段を制御することにより、位置ズレ検出手段
によって検出された位置ズレ量、すなわち、露光ステー
ジの原点位置に対する、搬入された基板のエッジの位置
ズレ量に相当する分だけ、露光ステージを原点位置から
水平面内で変位させる。露光ステージ上に基板が載置さ
れた後は、基板とマスクとが所定のギャップになるまで
露光ステージが上昇駆動されている間に、または、上昇
駆動の前に、あるいは、上昇駆動前から上昇駆動中にか
けて、プリアライメント制御手段が水平駆動手段を制御
して、露光ステージを原点位置に復帰させることによ
り、基板のエッジを基準位置に合わせて、基板のプリア
ライメントを完了する。
【0035】また、請求項2に記載の発明によれば、複
数の装置間において発生するプリアライメントによる位
置合わせの相対的なズレ量を基準位置に対するオフセッ
ト量として、オフセット量指示手段から指示しておく。
プリアライメント制御手段は、露光ステージ上に基板を
載置する前に、露光ステージを原点位置に対して水平面
内で変位させる変位量を、位置ズレ検出手段によって検
出された位置ズレ量に前記オフセット量指示手段で指示
されたオフセット量を加算した量になるように水平駆動
手段を制御する。露光ステージ上に基板を載置した後
は、基板とマスクとが所定のギャップになるまで露光ス
テージが上昇駆動されている間に、または、上昇駆動の
前に、あるいは、上昇駆動前から上昇駆動中にかけて、
プリアライメント制御手段が水平駆動手段を制御して、
露光ステージを原点位置に復帰させることにより、基板
のプリアライメントを完了する。これにより、基準位置
に対する位置ズレと、各装置間において発生するプリア
ライメントによる位置合わせの相対的なズレとが、同時
に補正された状態でアライメントが行える。
【0036】また、請求項3に記載の発明によれば、露
光ステージの原点位置と基板の所定の搬出位置とのズレ
を調整するための移動量を移動量指示手段から指示して
おく。そして、露光ステージから搬出位置へ基板を搬出
する際、昇降駆動手段によって露光ステージを基板受け
渡し位置にまで降下駆動する前に、搬出制御手段が水平
駆動手段を制御することにより、移動量指示手段で指示
された移動量に相当する分だけ、露光ステージを原点位
置から水平面内で変位させる。次に、前記基板が載置さ
れた露光ステージが、移動量指示手段で指示された移動
量に相当する分だけ、原点位置に対して水平面内で変位
された状態で、基板受け渡し位置において、露光ステー
ジから搬出用搬送機が前記基板を受け取り、受け取った
基板をその位置関係のまま前記搬出位置に搬送して、基
板を所定の搬出位置に搬出する。
【0037】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例を説
明する。図1は、本発明の第一実施例に係る近接露光装
置の概略構成を示す平面図である。ただし、図では露光
光学部を省略してある。なお、図18、図19と同一符
号で示す部分は、従来例と同一構成であるので、ここで
の詳述は省略する。
【0038】この第一実施例装置は、請求項1に記載の
発明に相当するものである。本実施例装置の特徴は、基
準位置に対する基板1のエッジの位置ズレを基板1に非
接触状態で検出するための位置ズレ検出手段としてのセ
ンサを、基板1が露光ステージ41の上方に搬入される
前の所定位置にあたる基板ロータ部3の搬入位置LPに
配置し、そこで、基準位置に対する基板1の位置ズレを
検出するとともに、センサで検出した位置ズレ量が、露
光ステージ41の原点位置に対する基板1のエッジの位
置ズレ量になるように、基板搬送機によって、搬入位置
LPにある基板1を露光ステージ41上に搬送し、さら
に、センサで検出した位置ズレ量、すなわち、露光ステ
ージ41の原点位置に対する基板1のエッジの位置ズレ
量に相当する分だけ、露光ステージ41が原点位置に対
して水平面内に変位した状態で基板搬送機から基板1を
受け取り、基板1が露光ステージ41上に載置された
後、露光ステージ41が原点位置に復帰することにより
プリアライメントを行うことにある。
【0039】まず、本実施例で用いるセンサの構成を図
2を参照して説明する。図2は、センサの概略構成を示
す図である。ただし、図では、基板1に対してセンサ
(投光器、対物レンズ、光量検出器等)を大きく描いて
いる。図2に示すように、このセンサ8は、計測用の光
を照射する投光器81と、対物レンズ82と、投光器8
1から照射された光を対物レンズ82を介して受光し、
受光位置に応じて光量を検出する光量検出器83とによ
って構成されている。
【0040】投光器81は、LEDが矩形に配列された
LEDアレイで構成される光源84と、その光源84か
ら照射された光の照度むらをなくすための光拡散板85
とによって構成されている。なお、光拡散板85の代わ
りに、レンチキュラーレンズを用いても、同様の効果を
得ることができる。また、光源84は、LEDアレイ以
外にも、ハロゲンランプや蛍光灯等で構成してもよい
が、光源84が白色光源の場合には、単色フィルターを
光源84の下方に配置したり、対物レンズ82を色消し
レンズにするのが好ましい。このようにすれば、光源8
4から照射する光を単色光にし、対物レンズ82による
色収差の発生を防止することができ、位置ズレの検出精
度の向上を図れるからである。さらに、光源84から照
射された光の照度むらが問題なければ、光拡散板85は
特に必要ない。
【0041】対物レンズ82と、光量検出器83とは、
上面に開口86が設けられたケース87に収納され、開
口86以外から光が入射しないように構成されている。
光量検出器83は、光が入射する位置における受光量が
検出できるように、例えば1次元ラインセンサとしての
機能を有するCCDラインセンサ等で構成されている。
【0042】また、基板1のエッジが投光器81と対物
レンズ82との間に挟まれるように、かつ、基板1の幅
中心位置CPと光量検出器83の検出面83aとが共役
な関係になるように、基板1と対物レンズ82と光量検
出器83とが配置される。このセンサ8による位置ズレ
量の検出原理は後述する。
【0043】上述のような構成のセンサ8は、図3、図
4に示すように、搬入位置LPにある基板1の交差する
2側辺のエッジの3個所、すなわち、検出位置P1 、P
2 、P3 を検出するように配設されている。
【0044】センサ81 、82 は、検出位置P1 、P2
の位置ズレを検出するためのセンサであるが、これらの
センサ81 、82 のケース871 、872 は、連結部材
8812に取り付けられている。この連結部材8812は、
レール8912に摺動自在に嵌め付けられているととも
に、モータ9012に連結されY方向に配置されたネジ軸
9112にも螺合されている。すなわち、モータ9012
正逆回転させることにより、連結部材8812を介して、
センサ81 、82 のケース871 、872 を同期させて
Y方向に移動させるように構成されている。
【0045】また、センサ83 は、検出位置P3 の位置
ズレを検出するためのセンサであるが、これらのセンサ
3 のケース873 も、上述したセンサ81 、82 のケ
ース871 、872 と同様に、レール893 に摺動自在
に嵌め付けられ、モータ903 に連結されX方向に配置
されたネジ軸913 に螺合されている連結部材883
取り付けられており、センサ83 のケース873 をX方
向に移動させるように構成されている。
【0046】また、各センサ81 〜83 の投光器811
〜813 は、各対物レンズ82に充分な範囲の光を照射
できるとともに、それぞれケース871 〜873 のY方
向、または、X方向への移動に対して、常に光をそれぞ
れの対物レンズ82に充分な範囲にわたって照射できる
ように、投光器811 、812 は、Y方向に長く形成さ
れ、投光器813 は、X方向に長く形成されている。な
お、各投光器811 〜813 は、例えば、露光光学部6
の下部に取り付けられ、各ケース871 〜873 やそれ
らのX、Y方向への駆動機構などは、ローダロボット3
2の周辺の基台部に取り付けられている。
【0047】各センサ81 〜83 を上述のように構成す
ることにより、種々のサイズの基板1に対して、エッジ
の位置ズレ量を検出することができる。
【0048】なお、基準位置に対する基板1のエッジの
位置ズレを検出するセンサは、上述図2で説明した構成
のもの以外であっても、基板1に非接触状態でエッジの
位置ズレが検出でき、かつ、基板1を基板カセット31
から搬入位置LP、露光部4へと搬送する動作を妨げな
いものであれば、例えば、テレビカメラや反射式の光学
センサ等を用いてもよい。
【0049】また、上述では各センサ81 〜83 をY方
向、または、X方向へ移動可能に構成し、種々のサイズ
の基板1のエッジの位置ズレ量を検出できるように構成
したが、基板1のサイズの種類が少ない場合(例えば、
2種類)であれば、図5に示すように、各サイズの基板
1ごとに各エッジの位置ズレ量をそれぞれ検出するセン
サを固定して設置してもよい。
【0050】搬入位置LPに位置ズレ検出用のセンサを
設置する場合には、露光部4に位置ズレ検出用のセンサ
を設置するのに比べて、マスク2と基板1との間のスペ
ースが利用できない等の制約がなく設置位置に自由度が
あるので、上述のように、基板1のサイズ変更に対応す
るために、各センサ81 〜83 をY方向、または、X方
向へ移動可能に構成したり、複数組のセンサ81 〜83
を設置することができる。
【0051】また、搬入位置LPでは、各センサ81
3 の設置位置に自由度が持てるので、所望の検出位置
1 、P2 、P3 を選択して各センサ81 〜83 を設置
することもできる。
【0052】次に、搬入位置LPから露光部4に基板1
を搬送する搬送機構としての基板搬送機の構成を説明す
る。この基板搬送機7は、図1に示すように、ローダア
ーム33等を挟んで対向配置され、それぞれ基板搬送方
向に同期して移動可能な一対のアーム71 、72 から構
成されている。ローダアーム33によって基板1が搬入
位置LPに運ばれた後、その基板1は基板搬送機7の吸
着支持部7aで支持される。その状態で、上述したセン
サ81 〜83 により、基準位置に対する基板1のエッジ
の位置ズレ量が検出される。その後、基板搬送機7は、
基板1を吸着支持部7aで支持した状態で、露光部4の
露光ステージ41の上方の露光待機位置に搬送する。こ
のとき、露光ステージ41は、搬入された基板1の下方
の待機位置において、原点位置の状態で待機している。
この露光ステージ41の原点位置は基準位置に対して位
置が合わせてある。従って、露光ステージ41の原点位
置に対して、搬入された基板1のエッジの位置ズレ量
は、搬入位置LPで検出された基準位置に対する位置ズ
レ量と同じになる。なお、この基板搬送機7は、上述し
た基板搬入用の吸着支持部7a以外に基板搬出用の吸着
支持部7bを備えており、アーム71 、72が図におけ
る右方向に駆動されることにより、露光部4への基板1
の搬入と、露光部4から基板アンローダ部5への露光済
の基板1の搬出を同時に行なえるように構成されてい
る。
【0053】次に、露光ステージ41を原点位置に対し
て水平面内で駆動する水平駆動手段としての駆動機構
を、図6ないし図8を参照して説明する。図6は駆動機
構の一つを抜き出して示した平面図、図7はその正面
図、図8は各駆動機構の配置を示す平面図である。露光
ステージ41は、鋼球を使った3つの支持機構46によ
って、底板47に対して水平移動自在に支持されてい
る。底板47には、露光ステージ41をX、Y、θ方向
に変位させるための3個の駆動機構45が設置されてい
る。この駆動機構45を図6、図7を参照して説明す
る。
【0054】底板47に取り付けられたモーター451
の出力軸452にネジ軸453が連結されており、この
ネジ軸453に回転を抑止されたナット454が螺合さ
れている。ナット454にローラ455をその一部が突
出するように内設した部材456が連結されている。部
材456から一部が突出したローラ455は、露光ステ
ージ41の下面に固設された伝達部材457に当接し、
また、伝達部材457は、引張りコイルバネ458によ
って、モーター451方向に付勢され、かつ、底板47
と連結されている。
【0055】モーター451が正回転すると、ナット4
54が直進し、ローラ455が伝達部材457を押して
露光ステージ41を移動させる。また、モーター451
が逆方向に回転することによりナット454が後退し、
バネ458によって伝達部材457が引き戻されること
によって露光ステージ41を逆方向に移動させる。
【0056】上述のような駆動機構45を、図8に示す
ように、底板47の両端のX方向に2個、中央のY方向
に1個設置することにより露光ステージ41をX、Y、
θ方向に駆動することができる。すなわち、Y方向に移
動したいときは、駆動機構45aのみを駆動し、X方向
に移動したいときは、駆動機構45b、45cを同じ移
動量だけ駆動する。また、θ方向への移動は、駆動機構
45bと45cとを露光ステージ41の所要の回転量に
応じて、移動量に差をつけて駆動することにより実現す
る。
【0057】なお、本実施例の露光ステージ41は、Z
方向起動ユニット42が底板47をZ方向に昇降するこ
とにより、Z方向に昇降されるように構成されている。
【0058】次に、上述したセンサ8による位置ズレ検
出部の構成と、露光ステージ41の駆動制御部の構成お
よび、それらの関係とについて図9に示すブロック図を
使って、以下に説明する。位置ズレ検出部100では、
エッジ検出用のCPU(中央処理装置)101が、コン
トローラ102に対してタイミング制御情報を与え、計
測した受光データに基づいて基板1のエッジの位置ズレ
量を算出し、そのデータを通信回線113を介して通信
用メモリ112に転送すること等を行う。コントローラ
102は、データメモリ103a、103bの切り替え
制御、A/D変換器104のデータ変換指示、マルチプ
レクサ105のチャネル切り替え制御、各光量検出器8
1〜833 (各センサ81 〜83 用の光量検出器)の
受光制御および、各投光器811 〜813 の発光制御等
を行う。マルチプレクサ105は、各光量検出器831
〜833 からの受光データを順次取り出す。取り出され
た受光データは、A/D変換機104でデジタルデータ
に変換され、データメモリ103aまたは103bに記
憶される。
【0059】一方、駆動制御部110では、CPU11
1が、露光部4に基板1が搬入されるたびに、一定時間
ごとに通信用メモリ112に順次転送されてくる基板エ
ッジの位置ズレデータを通信用メモリ112から取り出
し、その位置ズレデータに基づいて、後述するように露
光ステージ41を制御する。なお、この駆動制御部11
0は、本発明におけるプリアライメント制御手段に相当
する。
【0060】ここで、位置ズレ検出部100の計測の手
順を図10に示すフローチャートに従って説明する。計
測タイミングをはかりながら、露光装置の停止等による
計測の終了指示をチェックし、計測タイミングになる
と、各光量検出器831 〜833 による計測を開始する
(ステップS1、S2)。
【0061】各光量検出器831 〜833 は、コントロ
ーラ102の指示に従って、一定時間ごとに受光データ
を計測する(ステップS3)。各投光器811 〜813
は、上述したように基板1が搬入位置LPにある状態で
は、図2に示すように、基板1の上方から光を照射す
る。対物レンズ82には、基板1を透過した光や基板1
のエッジ部分を通過した光、基板1を透過しない光が照
射され、対物レンズ82に入射した各光は、入射位置に
応じて光量検出器83で受光されその光量が検出され
る。
【0062】各光量検出器831 〜833 で受光が完了
すると、コントローラ102は、マルチプレクサ105
を制御して、各光量検出器831 〜833 で計測した受
光データを順次取り出し、A/D変換器104にその受
光データを送る。デジタルデータに変換された受光デー
タはデータメモリ103aまたはデータメモリ103b
に記憶される(ステップS4)。データメモリに受光デ
ータが記憶されると、記憶された受光データに基づい
て、CPU101は、そのデータメモリに記憶されてい
る受光データに基づいて、基板エッジの位置ズレ量を算
出する(ステップS5)。計測データの取込みと、基板
エッジの位置ズレ量の算出とを全光量検出器831 〜8
3 について、並行しながら実行し(ステップS6)、
算出した位置ズレデータを通信回線113を介して通信
用メモリ112に転送する(ステップS7)。
【0063】このデータメモリ103a、103bは、
CPU101の行うエッジの位置ズレ量の算出処理と、
各光量検出器831 〜833 で計測した受光データの記
憶とを交互に行うために切り替えて使用される。すなわ
ち、データメモリ103aに記憶されている受光データ
に基づいて、CPU101がエッジの位置ズレ量の算出
を行っているときは、次の光量検出器831 〜833
計測された受光データが、A/D変換器104でデジタ
ルデータに変換されてデータメモリ103bに記憶され
る。データメモリ103aに記憶された受光データに基
づく位置ズレ量の算出処理が終わると、データメモリ1
03bの受光データに基づいて位置ズレ量を算出し、そ
の間にデータメモリ103aに新たな受光データを記憶
する。以下、同様に上記の動作が繰り返し行われる。
【0064】ここで、受光データに基づいたエッジの位
置ズレ量の算出方式について、図12を参照して説明す
る。図12(a)は、基板1が存在しない状態で、光量
検出器83で計測された受光データを示すものである。
図中、横軸は光量検出器83内に1次元に配列された画
素に対応する受光位置であり、縦軸は受光した光量に対
応した電圧値を表す。すなわち、光量検出器83で受光
された位置では電圧値が高く、受光されない位置では電
圧値がないことを示す。次に、基板1が搬入位置LPに
ある状態で、光量検出器83で計測された受光データを
図12(b)に示す。図12(a)に比べて、基板1の
エッジに対応する位置での電圧値が小さくなっている。
これは、基板1のエッジを通過する光の散乱等により、
エッジに対応する位置での受光光量が減少するからであ
る。この図12(b)に示す受光データに基づいて、位
置ズレ量を以下のように算出する。すなわち、予め定め
ておいた基準原点oと受光データの左の立ち下がり部分
とのズレを求めることにより、基板1のエッジの位置ズ
レ量を求める。この基準原点oは、基準位置にある基板
1のエッジの位置に対応した受光位置である。図12
(b)では、受光した受光データの左の立ち下がり部分
は、基板1のエッジ位置に相当する受光位置であり、こ
の立ち下がり部分の基準レベルSHLに相当する受光位
置epと基準原点oとのズレ量pzを、図12(c)に
示すように、その間にある画素の数で算出する。例え
ば、対物レンズ82の倍率が「1」、1画素が8μmで
あり、各点間にある画素数が10個であれば、ズレ量p
zは88μmである。
【0065】なお、基板1のサイズが変更される場合に
は、上述の各処理を開始する前に、モータ9012、90
3 を駆動してセンサ81 〜83 の検出位置を変更して基
板1のサイズに合わせておく。また、複数組のセンサ8
1 〜83 を設けた構成(図5)では、上述の各処理を開
始する前に、使用するセンサ81 〜83 の切り替えを行
う。
【0066】次に、露光ステージ41の制御の手順を図
11に示すフローチャートに従って、以下に説明する。
まず、基板1が搬入位置LPから露光部4に搬入される
までの間、露光装置の停止等による終了をチェックし、
基板1が露光部4に搬入されると、その基板1の位置ズ
レ補正を以下のように行う(ステップS11、12)。
【0067】基板1が露光部4に搬入されると、上述し
たようにエッジ検出用のCPU101から一定時間ごと
に転送されて通信用メモリ112に記憶されている基板
エッジの位置ズレデータを取り出す(ステップS1
3)。
【0068】取り出した各エッジの位置ズレデータに基
づいて、露光ステージ41の底板47に設置された3個
の駆動機構45の駆動量を算出し、各駆動機構45を駆
動して、露光ステージ41を原点位置に対してX、Y、
θ方向に変位させながら、Z方向駆動機42によって、
露光ステージ41を上昇させる(ステップS14)。各
駆動機構45による露光ステージ41の位置補正は、例
えば、光量検出器831 、光量検出器832 で同じ量の
位置ズレが検出されていれば、Y方向にズレていること
になるので、駆動機構45aを駆動して露光ステージ4
1を前記位置ズレ量と等しい距離だけY方向に移動させ
る。また、光量検出器833 で位置ズレ量が検出されて
いれば、X方向にズレていることになるので、駆動機構
45bと駆動機構45cとを駆動して露光ステージ41
を前記位置ズレ量と等しい距離だけX方向に移動させ
る。さらに、光量検出器831 、光量検出器832 とで
異なる長さの位置ズレ量が検出されていれば、θ方向に
ズレていることになるので、露光ステージ41が基板1
の搬入された角度だけ回転変位するように、駆動機構4
5bと駆動機構45cとをそれぞれ別個に駆動する。
【0069】上述にように、露光ステージ41が、搬入
された基板1の位置ズレ量と同じ量だけ変位して上昇
し、基板1の底面に当接したら、基板1を底面から吸着
保持する(ステップS15)。なお、このとき基板搬送
機7の吸着は解除されている。
【0070】基板1を吸着保持した後、露光ステージ4
1は、各駆動機構45によって、上述した基板1の位置
ズレ量に応じたX、Y、θ方向の各変位量と、同じ変位
量だけそれぞれ逆方向に駆動されることにより原点位置
に復帰する。露光ステージ41の原点位置への復帰によ
り、基準位置に対する基板1のプリアライメントが完了
する。露光ステージ41が原点位置に復帰している間
に、露光ステージ41はZ方向駆動機42によって上昇
され、基板1とマスク2とが所定のギャップになった位
置で停止する(ステップS16)。以上のように、基板
1とマスク2とがプリアライメントされて近接保持され
た状態で、アライメントスコープを用いて基板1とマス
ク2との正確な位置合わせが行われた後、露光処理がな
される。
【0071】なお、上述した実施例では、露光ステージ
41を上昇させている間に、露光ステージ41を水平面
内で変位させたが、本発明はこれに限定されず、基板を
露光ステージ41上に載置する前であれば、例えば、基
板搬送機7で基板1を露光部4に搬送している間に、露
光ステージ41を水平面内で変位させ、基板1が露光部
4に搬入されると、変位した状態で露光ステージ41を
上昇させて基板1を吸着してもよいし、また、露光ステ
ージ41を水平面内で変位させた後、上昇させるように
してもよく、あるいは、この露光ステージ41の水平面
内の変位を、上昇前から上昇中にかけて行なってもよ
い。
【0072】また、本発明における搬入位置は、基板1
が露光ステージ41の上方に搬入される前の位置であれ
ば、各種の近接露光装置の構成に応じて適正な位置、位
置検出用のセンサを配置し易い位置等を搬入位置として
定めればよい。但し、定めた搬入位置で検出した位置ズ
レ状態で、原点位置にある露光ステージ上に基板を搬送
できる搬送機構を備えることが必要である。
【0073】次に、請求項2に記載の発明に対応した第
二実施例装置の構成を図13を参照して説明する。この
第二実施例装置は、上述した第一実施例装置の構成に加
えて、複数の装置間において発生するプリアライメント
による位置合わせの相対的なズレを調整できるように構
成したことを特徴とする。
【0074】具体的には、図13に示すように、複数の
装置間において発生するプリアライメントによる位置合
わせの相対的なズレ量をオフセット量として指示するた
めの指示装置114と、指示されたオフセットデータを
記憶しておくメモリ115とを、駆動制御部110に備
えたものである。この指示装置114は、本発明におけ
るオフセット量指示手段に相当し、例えば、タッチパネ
ルやキーボード(K/B)等で構成されている。
【0075】このオフセット量は、サンプル基板を用い
て、本実施例装置と他の露光装置とにおいて発生するプ
リアライメントによる位置合わせの相対的なズレ量を予
め計測しておき、求めたオフセット量を指示装置114
から入力し、メモリ115に記憶しておく。
【0076】例えば、他の露光装置で露光処理を経た基
板1を、本実施例装置に搬入する場合では、サンプル基
板を他の露光装置で露光処理した後、本実施例装置に搬
入してプリアライメントを行い、プリアライメント後の
サンプル基板1のアライメントマークをアライメントス
コープで読み取り、本実施例装置のプリアライメントに
より読み取れるべきアライメントマークの位置とのズレ
量を計測する。また、ズレ量が大きいために、サンプル
基板のアライメントマークが本装置のアライメントスコ
ープの視野内に入らないときには、アライメントスコー
プを移動させて、その移動量からズレ量を求める。求め
たズレ量をオフセット量として設定しておく。なお、複
数枚のサンプル基板を用いて、複数個のズレ量を計測
し、その平均値を求めてオフセット量としてもよい。
【0077】また、本実施例装置で最初に露光処理を行
った基板1を、他の露光装置に搬入する場合では、何種
類かのオフセット量を設定し、設定したオフセット量を
用いて、本実施例装置で最初に露光処理を行った後、対
象となる露光装置でプリアライメントを行い、その装置
で行ったプリアライメントが最も正確に行えたときのオ
フセット量を選択する。
【0078】上述のように設定したオフセット量を用い
て、露光ステージ41の駆動制御部110は、以下に示
すように、露光ステージ41を制御することにより、本
実施例装置と他の露光装置とにおいて発生するプリアラ
イメントによる位置合わせの相対的なズレを調整する。
これを図14のフローチャートを参照して説明する。
【0079】まず、ステップS11ないしS13の処理
は、上述した第一実施例において説明した図11のフロ
ーチャートのステップS11ないしS13の処理と同じ
である。
【0080】次に、本実施例では、ステップS13にお
いて通信用メモリ112から取り出した基板エッジの位
置ズレデータと、上述したようにメモリ115に記憶さ
れているオフセット量とを加算して、露光ステージ41
の変位量を算出する(ステップS13−A)。
【0081】そして、ステップS13−Aで算出した露
光ステージ41の変位量に基づいて、露光ステージ41
の底板47に設置された3個の駆動機構45の駆動量を
算出し、各駆動機構45を駆動して、露光ステージ41
を原点位置に対してX、Y、θ方向に変位させながら、
Z方向駆動機42によって、露光ステージ41を上昇さ
せる(ステップS14)。各駆動機構45による露光ス
テージ41の変位は、上述した第一実施例と同じであ
る。
【0082】次に、露光ステージ41が、所定の変位量
だけ変位して上昇し、基板1の底面に当接したら、基板
1を底面から吸着保持する(ステップS15)。後は、
第一実施例と同様に、露光ステージ41を原点位置に復
帰させ、基板1とマスク2とを所定のギャップに近接さ
せ(ステップS16)、基板1とマスク2とがプリアラ
イメントされて近接保持された状態で、アライメントス
コープを用いて基板1とマスク2との正確な位置合わせ
が行われた後、露光処理がなされる。
【0083】上述したように、本実施例装置では、基準
位置に対する位置ズレと、本実施例装置と他の露光装置
の間において発生するプリアライメントによる位置合わ
せの相対的なスレとを、露光ステージ41の変位によっ
て同時に補正された状態でアライメントが行える。すな
わち、複数の装置間において発生するプリアライメント
による位置合わせの相対的なズレがあっても、本実施例
装置を介在させることにより、装置間において発生する
プリアライメントによる位置合わせの相対的なズレを本
実施例装置で補正するので、他の装置では、その装置の
プリアライメントにより、それぞれ正確なアライメント
を行え、本実施例装置でも、正確なアライメントを行う
ことができる。
【0084】次に、請求項3に記載の発明に対応した第
三実施例装置の構成を説明する。この第三実施例装置
は、上述した第一実施例装置の構成に加えて、露光済の
基板1を所定の搬出位置に搬出できるように構成したこ
とを特徴とする。なお、この第三実施例装置は、製造ラ
インに組み込まれており、本実施例装置による露光処理
の後に、後工程(例えば、他の近接露光装置による露光
処理等)がある場合の実施例である。
【0085】具体的には、上述した第二実施例装置と同
様、図13に示すように、指示装置114とメモリ11
5とを駆動制御部110に備えたものである。但し、本
実施例では、この指示手段114から露光ステージ41
の原点位置と基板1の所定の搬出位置とのズレを調整す
るための移動量が指示され、指示された移動量データが
メモリ115に記憶される構成である。本実施例の駆動
制御部110は、本発明におけるプリアライメント制御
手段と、搬出制御手段とに相当する。
【0086】次に、移動量の設定について図15を参照
して説明する。図中、符号11 は、本実施例の露光部4
で露光が終了した状態にある基板1の位置、すなわち、
露光ステージ41が原点位置にある状態で保持されてい
る基板1の位置を示し、符号12 は、その基板1が露光
部4からアンローダ位置ULPに搬送された状態の基板
1の位置を示す。露光部4からアンローダ位置ULPへ
の搬送は、上述した第一実施例でもふれたように、基板
搬送機7の吸着支持部7bに基板1を支持して行われ
る。12 に搬送された基板1は、アンローダロボット5
2によって、所定の搬出位置OP、すなわち、後工程の
搬入位置に搬送される。この搬出位置OP(後工程の搬
入位置)に搬送された状態の基板1の位置を、符号13
で示す。また、符号14 は、後工程で搬入したい基板1
の位置、すなわち、露光部4からの所定の搬出位置を示
す。
【0087】基板搬送機7、アンローダロボット52
は、定形的な動作を行うので、基板位置12 、13 は、
基板位置11 (露光ステージ41の原点位置)に対応し
た位置関係にあり、基板位置14 に対する基板位置13
のX、Y、θ方向のズレ量が、設定すべき移動量に相当
する。このとき、基板搬送機7とアンローダロボット5
2とは、本発明における搬出用搬送機に相当する。
【0088】なお、アンローダロボット52を備えず
に、基板搬送機7によって露光部4から搬出位置に直接
基板1を搬送する構成であれば、基板位置11 から基板
位置13 へ基板1は搬送される。このとき、基板搬送機
7が本発明における搬出用搬送機に相当する。
【0089】上述のように設定された移動量を用いて、
露光済の基板1の搬出時の動作を、図16に示すフロー
チャートと、図17に示す動作説明図を参照して以下に
説明する。
【0090】まず、露光が終了すると、露光ステージ4
1は基板1を基板搬送機7に渡すために、基板受け渡し
位置に降下されるが、この基板受け渡し位置に降下駆動
されるまでに、設定されている(メモリ115に記憶さ
れている)移動量に相当する分だけ、露光ステージ41
をX、Y、θ方向に変位させる(ステップS21)。こ
の変位は、上述した第一実施例と同様に駆動機構45a
〜45cによって実現する。このとき、図17(a)に
示すように、基板1は、露光ステージ41が原点位置に
あるときに支持された状態(一点鎖線で示す)に対し
て、設定された移動量だけ水平面内で変位している。
【0091】次に、露光ステージ41は、基板受け渡し
位置で基板1が基板搬送機7に受け取られると、吸着を
解除して、待機位置までさらに降下する。一方、基板1
を受け取った基板搬送機7は、基板1を吸着支持部7b
で吸着支持する(ステップS22)。このとき、図17
(b)に示すように、基板搬送機7は上述したような変
位状態で基板1を吸着する。
【0092】そして、基板搬送機7は、基板1をアンロ
ーダ位置ULPに搬送して、アンローダロボット52に
基板1を渡し、基板1を渡されたアンローダロボット5
2は、アンローダアーム53を図の右方向に伸ばして基
板1を搬出位置OPまで運ぶ(ステップS23)。この
とき、図17(c)に示すように、排出位置OPに運ば
れた基板1は、後工程に搬入したい所定の位置(図15
の14 )に運ばれることになる。
【0093】なお、アンローダロボット52を備えない
構成の場合、上述したステップS23の処理は、基板搬
送機7が直接基板1を搬出位置OPに搬出することにな
り、この場合にも、図17(d)に示すように、基板1
を所定の搬出位置に搬送できる。
【0094】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の発明によれば、基準位置に対する基板のエッ
ジの位置ズレの検出を搬入位置で行なえるように構成し
たことにより、位置ズレ検出手段を比較的自由に設置す
ることができるようになったので、所望の検出位置の位
置ズレを検出するように、位置ズレ検出手段を配置する
ことが可能となり、位置ズレの検出精度を向上させるこ
とができる。また、位置ズレ検出手段の配置に自由度が
持てるようになったことにより、種々のサイズの基板に
対してもそれぞれのサイズの基板のエッジの位置ズレを
検出できるように、位置ズレ検出手段を配置することが
できる。
【0095】また、請求項2に記載の発明によれば、基
準位置に対する位置ズレと、本発明に係る装置と他の露
光装置の間において発生するプリアライメントによる位
置合わせの相対的なズレとを、露光ステージの変位によ
って同時に補正された状態でアライメントが行えるよう
に構成したので、複数の装置間において発生するプリア
ライメントによる位置合わせの相対的なズレがあって
も、本発明に係る装置を介在させることにより、装置間
において発生するプリアライメントによる位置合わせの
相対的なズレを本発明に係る装置で補正するので、他の
装置では、その装置のプリアライメントにより、それぞ
れ正確なアライメントを行え、本発明に係る装置でも、
正確なアライメントを行うことができる。
【0096】さらに、請求項3に記載の発明によれば、
露光ステージの水平面内の変位により基板を所定の搬出
位置に搬出する構成であり、簡単な構成で基板を所定の
搬出位置に搬出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一実施例に係る近接露光装置の概略
構成を示す平面図である。
【図2】本実施例装置で用いるセンサの構成を示す図で
ある。
【図3】本実施例装置に取り付けられたセンサの構成と
配置を示す平面図である。
【図4】本実施例装置に取り付けられたセンサの構成と
配置を示す正面図である。
【図5】本実施例装置に取り付けられたセンサの変形例
を示す平面図である。
【図6】露光ステージを水平面内で変位させる駆動機構
の一つを抜き出して示した平面図である。
【図7】図6の正面図である。
【図8】露光ステージを水平面内で変位させる各駆動機
構の配置を示す平面図である。
【図9】位置ズレ検出部の構成と、露光ステージの駆動
制御部の構成および、それらの関係を示すブロック図で
ある。
【図10】位置ズレ検出部の計測の手順を示すフローチ
ャートである。
【図11】露光ステージの駆動制御部によるプリアライ
メンの動作手順を示すフローチャートである。
【図12】受光データに基づいたエッジの位置ズレ量の
算出方式を説明するための図である。
【図13】本発明の第二、第三実施例の露光ステージの
駆動制御部等の構成を示すブロック図である。
【図14】第二実施例の露光ステージの駆動制御部によ
るプリアライメンの動作手順を示すフローチャートであ
る。
【図15】露光済の基板の搬出動作を示す図である。
【図16】第三実施例の露光ステージの駆動制御部によ
る基板搬出動作の手順を示すフローチャートである。
【図17】第三実施例の露光ステージの駆動制御部によ
る基板搬出動作を説明するための図である。
【図18】従来例に係る近接露光装置の外観を示す正面
図である。
【図19】従来例に係る近接露光装置の外観を示す平面
図である。
【図20】従来例のプリアライメントにおける基板の位
置ズレ検出方法を説明するための図である。
【図21】従来例によるプリアライメントの手順を説明
するための図である。
【符号の説明】
1 … 基板 2 … マスク 3 … 基板ローダ部 4 … 露光部 5 … 基板アンローダ部 6 … 露光光学系 7 … 基板搬送機 7a … 搬入用基板吸着支持部 7b … 搬出用基板吸着支持部(搬出用搬送機) 8 … 位置ズレ検出用センサ(位置ズレ検出手段) 41 … 露光ステージ 42 … Z方向昇降駆動機(昇降駆動手段) 45a、45b、45c … 駆動機構(水平駆動手
段) 110 … 露光ステージの駆動制御部 (プリアライメント制御手段、搬出制御手段) 114 … 指示装置(オフセット量指示手段、移動量
指示手段)
フロントページの続き (72)発明者 久岡 勝幸 京都市伏見区羽束師古川町322番地 大 日本スクリーン製造株式会社 洛西工場 内 (72)発明者 田頭 明 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天 神北町1番地の1 大日本スクリーン製 造株式会社内 (72)発明者 和田 康之 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天 神北町1番地の1 大日本スクリーン製 造株式会社内 (56)参考文献 特開 平4−40462(JP,A) 特開 昭64−36016(JP,A) 特開 昭63−318737(JP,A) 特開 平5−326361(JP,A) 特開 平5−283315(JP,A) 特開 昭63−128639(JP,A) 特開 平5−182891(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/027 G03B 27/02 G03B 7/20 G03B 9/00

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マスクに描画された所定のパターンを基
    板の表面に塗布した感光剤に焼き付ける近接露光装置に
    おいて、 前記基板を載置する露光ステージと、 前記露光ステージを昇降駆動する昇降駆動手段と、 前記露光ステージを原点位置を中心に水平面内で駆動す
    る水平駆動手段と、 前記露光ステージの上方に搬入される前の所定位置(以
    下、「搬入位置」という)にある基板に対して非接触状
    態で、基準位置に対する前記基板のエッジの位置ズレ量
    を検出する位置ズレ検出手段と、 前記位置ズレ検出手段で検出した位置ズレ量が、前記露
    光ステージの原点位置に対する前記基板のエッジの位置
    ズレ量になるように、前記搬入位置にある前記基板を前
    記露光ステージ上に搬送する基板搬送機と、 前記露光ステージ上に前記基板を載置する前に、前記位
    置ズレ検出手段によって検出された位置ズレ量に相当す
    る分だけ、前記露光ステージが原点位置に対して水平面
    内で変位するように前記水平駆動手段を制御するととも
    に、前記露光ステージ上に前記基板を載置した後、前記
    昇降駆動手段によって前記露光ステージが上昇駆動さ
    れ、前記基板と前記マスクとが所定のギャップに設定さ
    れる前に、前記露光ステージが原点位置に復帰するよう
    に前記水平駆動手段を制御するプリアライメント制御手
    段と、 を備えたことを特徴とする近接露光装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の近接露光装置におい
    て、 前記基準位置に対するオフセット量を指示するオフセッ
    ト量指示手段を備え、前記プリアライメント制御手段
    は、前記露光ステージ上に前記基板を載置する前に、前
    記露光ステージを原点位置に対して水平面内で変位させ
    る変位量を、前記位置ズレ検出手段によって検出された
    位置ズレ量に前記オフセット量指示手段で指示されたオ
    フセット量を加算した量になるように前記水平駆動手段
    を制御することを特徴とする近接露光装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の近接露光装置におい
    て、 前記露光ステージの前記原点位置と前記基板の所定の搬
    出位置とのズレを調整するための移動量を指示する移動
    量指示手段と、 前記露光ステージから前記搬出位置へ前記基板を搬出す
    る際、前記昇降駆動手段によって前記露光ステージを基
    板受け渡し位置にまで降下駆動する前に、前記移動量指
    示手段で指示された移動量に相当する分だけ、前記露光
    ステージが原点位置に対して水平面内で変位するように
    前記水平駆動手段を制御する搬出制御手段と、 前記露光ステージから、前記受け渡し位置で前記基板を
    受け取り、かつ、前記受け取った基板をその位置関係の
    まま前記搬出位置に搬送する搬出用搬送機と、 を備えたことを特徴とする近接露光装置。
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