JP7025165B2 - 露光装置、搬送装置及び物品の製造方法 - Google Patents

露光装置、搬送装置及び物品の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP7025165B2
JP7025165B2 JP2017186844A JP2017186844A JP7025165B2 JP 7025165 B2 JP7025165 B2 JP 7025165B2 JP 2017186844 A JP2017186844 A JP 2017186844A JP 2017186844 A JP2017186844 A JP 2017186844A JP 7025165 B2 JP7025165 B2 JP 7025165B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
correction plate
unit
holding portion
holding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017186844A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019061142A (ja
Inventor
康弘 矢澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2017186844A priority Critical patent/JP7025165B2/ja
Publication of JP2019061142A publication Critical patent/JP2019061142A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7025165B2 publication Critical patent/JP7025165B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、露光装置、搬送装置及び物品の製造方法に関する。
半導体デバイスや液晶表示素子は、リソグラフィ工程を経て製造される。リソグラフィ工程で用いられる露光装置は、基板を保持して移動する基板ステージと、マスク(原版)を保持して移動するマスクステージとを有し、マスクのパターンを投影光学系を介して基板に投影して基板を露光する。
露光装置は、マスクのパターンの全体を一括して(同時に)基板上に転写するステッパーと、マスクステージと基板ステージとを同期走査しながらマスクのパターンを連続的に基板上に転写するスキャナーとに大別される。液晶表示素子を製造する場合には、表示領域の大型化が要求されるため、主に、スキャナーが用いられている。
露光装置において、マスクは、一般的に、その周辺部のみで保持(支持)される。スキャナーでは、近年、マスクの大型化が進んでいるため、マスクの自重による撓みが発生し、投影光学系の焦点深度のマージンがマスク側で消費されてしまう。従って、基板側のマージン(平面度など)を確保することが難しくなり、その結果、高い解像力を得ることが困難になってきている。
そこで、マスクステージに保持されたマスクの撓みを補正する技術が提案されている(特許文献1参照)。特許文献1には、マスク上に補正板を載置し、マスクと補正板との間の空間の圧力を調整することで、マスクの形状を高精度に制御する技術が開示されている。
特開2006-135085号公報
デバイスの製造工程においては、様々なマスクを用いて露光が行われるため、マスクごとに撓みを補正する必要がある。1つのマスクに対して1つの補正板を用意することが可能であればよいが、補正板は高額であるため、実際には、マスクよりも少ない補正板で複数のマスクの撓みの補正を行っている。従って、マスクを交換する場合には、前の露光で用いていた補正板を、次の露光に用いるマスクの上に載置する必要がある。この際、前の露光で用いていたマスクと補正板とが互いに張り付いている(密着している)場合があるため、マスクステージ上でマスクと補正板とを分離する動作を行っている。しかしながら、このような動作は、マスクの交換(マスクアンロード)のタクトに悪影響を与えてしまう。
本発明は、このような従来技術の課題に鑑みてなされ、マスクをステージからアンロードするのに有利な露光装置を提供することを例示的目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一側面としての露光装置は、マスクのパターンを基板に転写する露光装置であって、前記マスクと、前記マスクの上に載置されて前記マスクの形状を補正するための補正板とを保持するステージと、前記マスクを保持する第1保持部と、前記補正板を保持する第2保持部と、前記第1保持部及び前記第2保持部のそれぞれを駆動する駆動部とを含み、前記ステージから前記マスク及び前記補正板を持ち上げる搬送部と、を有し、前記搬送部は、前記ステージから前記マスク及び前記補正板を持ち上げる際に、前記マスクと前記補正板とが引き離されるように、前記駆動部を動作させることを特徴とする。
本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施形態によって明らかにされるであろう。
本発明によれば、例えば、マスクをステージからアンロードするのに有利な露光装置を提供することができる。
本発明の一側面としての露光装置の構成を示す概略図である。 図1に示す露光装置の搬送部の構成を示す概略図である。 本実施形態におけるマスクのアンロードの処理の流れを示す図である。 本実施形態におけるマスクのアンロードの処理の流れを示す図である。 本実施形態におけるマスクのアンロードの処理の流れを示す図である。 第1駆動部の具体的な構成の一例を示す図である。 第2駆動部の具体的な構成の一例を示す図である。 第1保持部及び第2保持部の構成の一例を示す図である。 第1保持部及び第2保持部の構成の一例を示す図である。 マスク及び補正板の位置検知又は位置非検知の判定を説明するための図である。
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施の形態について説明する。なお、各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。
図1は、本発明の一側面としての露光装置EXの構成を示す概略図である。
露光装置EXは、半導体デバイスや液晶表示素子の製造工程であるリソグラフィ工程に採用されるリソグラフィ装置である。露光装置EXは、原版であるマスクMに形成されたパターン(例えば、TFT回路など)を、感光剤(フォトレジスト)が塗布された基板Sに転写する(基板Sを露光する)。露光装置EXは、本実施形態では、レンズや大型の凹面ミラーを含み、マスクMのパターンを基板Sに投影する反射型の投影光学系POを有するミラースキャン型の露光装置として具現化される。
露光装置EXは、光源からの光でマスクMを照明する照明光学系ILと、マスクMやマスクMの上に載置される補正板MBを保持するマスクステージMSと、投影光学系POと、基板Sを保持する基板ステージSSとを有する。また、露光装置EXは、圧力調整部PUと、計測部MUと、搬送部CUと、制御部CNとを有する。制御部CNは、CPUやメモリなどを含み、プログラムに従って露光装置EXの各部を統括的に制御する。なお、以下では、鉛直方向にZ軸を定義し、Z軸に垂直な平面内でマスクM及び基板Sの走査方向にY軸を定義し、Y軸に直交する非走査方向にX軸を定義する。
光源は、例えば、超高圧水銀ランプなどを含み、露光光となる光を射出する。照明光学系ILは、光学素子を含み、光源からの光をマスクMに集光する。
マスクステージMSは、マスクMを吸着するための吸着部を含み、補正板MBが載置されたマスクMを保持しながら移動可能なステージ装置である。マスクステージMSは、照明光学系ILに対してマスクMを走査駆動するように構成され、Y軸方向に長いストロークを有し、X軸方向にマスクMの位置を微調整するのに必要なストロークを有する。補正板MBは、マスクMの形状、具体的には、マスクステージMSに保持されたマスクMの撓みを補正(矯正)するための板状部材である。マスクMの上に補正板MBを載置し、マスクMと補正板MBとの間の空間の圧力を圧力調整部PUで調整することで、マスクMの形状を高精度に制御することができる。また、マスクステージMSの近傍には、マスクステージMSに保持されたマスクMの位置及びマスクMの上に載置された補正板MBの位置を計測する計測部MUが配置されている。計測部MUは、例えば、レーザー干渉計を含む。
投影光学系POは、マスクMからの光を、その偏光特性を反射ミラーで変化させながら基板上に結像する。投影光学系POは、例えば、台形ミラー、凸面ミラー、凹面ミラーなどを含み、マスクMのパターン(マスクMの照明領域に存在するパターン)の像を基板上に形成する。基板上での投影領域は、所定の形状、例えば、円弧形状に設定される。
基板ステージSSは、基板Sを保持しながら、X軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の3次元方向に移動可能なステージ装置である。基板ステージSSに保持された基板Sと、マスクステージMSに保持されたマスクMとは、投影光学系POを介して、共役な位置関係に配置される。
搬送部CUは、投影光学系POの近傍に配置されている。搬送部CUは、基板Sに形成すべきパターンの変更などで、マスクステージMSに保持されたマスクMを交換する場合に、マスクステージMSからマスクM及び補正板MBを持ち上げて搬送する搬送装置である。
図2は、搬送部CUの構成を示す概略図である。搬送部CUは、図2に示すように、露光装置内でマスクM及び補正板MBを保管するストッカSTと、マスクストッカSTとマスクローダMLとの間でマスクM及び補正板MBを搬送する搬送ロボットMRとを含む。また、搬送部CUは、搬送ロボットMRとマスクステージMSとの間でマスクM及び補正板MBを搬送するマスクローダMLと、マスクローダMLの搬送経路上でマスクM及び補正板MBを一時的に待機させる待機室BSとを含む。
ストッカSTは、複数のマスクM及び補正板MBを同時に保管可能な保管棚であって、複数のマスクM及び補正板MBを、Z軸方向に間隔を有して収納する。また、ストッカSTは、マスクMや補正板MBをカセットCSに収納した状態で保管することも可能である。
搬送ロボットMRは、ストッカSTに保管されたカセットCSを搬入及び搬出する機能、及び、カセットCSに収納されているマスクM及び補正板MBをマスクローダMLに受け渡す機能を有する。
マスクローダMLは、マスクMを保持(把持)する第1保持部21と、補正板MBを保持(把持)する第2保持部22と、第1保持部21及び第2保持部22のそれぞれをZ軸方向に駆動する第1駆動部40とを含む。第1駆動部40は、第1保持部21及び第2保持部22を、それぞれのストロークで上昇及び下降させることが可能である。また、マスクローダMLは、マスクM及び補正板MBを保持するために第1保持部21及び第2保持部22を駆動する第2駆動部30と、第1保持部21、第2保持部22、第2駆動部30及び第1駆動部40を支持してX軸方向に移動可能なベース50を含む。
ここで、マスクMの交換(アンロード)について説明する。本実施形態では、1つのマスクMに対して1つの補正板MBを用意していないため、マスクMを交換する場合には、これまでのマスクMに載置されていた補正板MBを、次のマスクMの上に載置しなければならない。この際、マスクMと補正板MBとが互いに張り付いている(密着している)場合があるため、マスクMと補正板MBとを分離する動作が必要となる。
従来技術では、マスクローダは、マスクMや補正板MBを保持する保持部を1つしか有していない。そこで、従来技術では、まず、マスクM及び補正板MBをマスクローダに受け渡し可能な位置までマスクステージを移動させる。そして、マスクステージは、マスクMを吸着した状態で、マスクローダへの受け渡しまで待機する。次いで、マスクローダを下降させて、マスクMの上に載置された補正板MBのみをマスクローダに保持させて上昇させる。これにより、マスクMと補正板MBとが引き離される。そして、補正板MBを保持した状態でマスクローダを下降させて補正板MBをマスクMの上に再び載置する。次に、マスクステージによるマスクMの吸着を解除し、マスクローダにマスクM及び補正板MBを保持させる(回収する)。マスクローダに保持されたマスクM及び補正板MBは、搬送ロボットに受け渡される。次いで、補正板MBのみをマスクローダに保持させて、待機室に待機している次のマスクMに載置する。そして、待機室で補正板MBが載置されたマスクM(即ち、マスクM及び補正板MB)をマスクローダで保持してマスクステージに搬送する。
このように、従来技術では、マスクMと補正板MBとを引き離すために、マスクステージ上でマスクローダの上下駆動が2回必要となるため、マスクMのアンロードのタクトに悪影響を与えてしまう。そこで、本実施形態では、第1保持部21と、第2保持部22と、第1保持部21及び第2保持部22のそれぞれを駆動する第1駆動部40とを含むマスクローダMLを構成している。これにより、マスクMと補正板MBとの引き離しが容易となり、マスクMのアンロードを短縮することができる。
図3乃至図5を参照して、本実施形態におけるマスクMのアンロードについて具体的に説明する。図3乃至図5は、本実施形態におけるマスクMのアンロードの処理の流れを示す図である。
図3は、マスクMのアンロードの開始時のマスクローダMLの状態を示している。まず、マスクローダMLは、マスクMを交換するために、マスクM及び補正板MBを保持するマスクステージMSの上に移動する。本実施形態では、図3に示すように、第1保持部21は、マスクMの下面の周縁部を支持するための第1爪部(第1ハンド部)21aを含み、第2保持部22は、補正板MBの下面の周縁部を支持するための第2爪部(第2ハンド部)22aを含む。また、第2駆動部30は、第1爪部21aをマスクMの下面の周縁部に駆動し、第2爪部22aを補正板MBの下面の周縁部に駆動する。具体的には、第2駆動部30は、第1爪部21a及び第2爪部22aをX軸方向に開閉する開閉機構で構成されている。第2駆動部30は、第1爪部21aを開状態に駆動することで第1爪部21aによるマスクMの支持を開放し、第1爪部21aを閉状態に駆動することで第1爪部21aにマスクMを支持させる。同様に、第2駆動部30は、第2爪部22aを開状態に駆動することで第2爪部22aによる補正板MBの支持を解放し、第2爪部22aを閉状態に駆動することで第2爪部22aに補正板MBを支持させる。なお、マスクMのアンロードの開始時には、第2駆動部30は、第1爪部21a及び第2爪部22aを開状態に駆動する。
図4は、マスクM及び補正板MBの保持時のマスクローダMLの状態を示している。マスクローダMLは、マスクM及び補正板MBを保持する前、即ち、マスクステージMSからマスクM及び補正板MBを持ち上げる前に、マスクM及び補正板MBに対して第1保持部21及び第2保持部22を位置決めする。本実施形態では、計測部MUで計測されたマスクMの位置及び補正板MBの位置に基づいて、マスクM及び補正板MBを保持可能な位置に第1保持部21及び第2保持部22のそれぞれを位置決めするように、第1駆動部40及び第2駆動部30を動作させる。かかる位置決めは、制御部CNの制御下で行われる。なお、計測部MUで計測されたマスクMの位置及び補正板MBの位置ではなく、マスクステージMSにおけるマスクMの設計位置及び補正板MBの設計位置に基づいて、第1保持部21及び第2保持部22のそれぞれを位置決めしてもよい。第1保持部21及び第2保持部22のそれぞれを位置決めしたら、第2駆動部30によって、第1爪部21a及び第2爪部22aを閉状態に駆動し、第1保持部21でマスクMを保持し、第2保持部22で補正板MBを保持する。
図5は、マスクM及び補正板MBの持ち上げ時のマスクローダMLの状態を示している。第1保持部21及び第2保持部22のそれぞれでマスクM及び補正板MBを保持したら、第1駆動部40によって、マスクMを保持した第1保持部21及び補正板MBを保持した第2保持部22を上昇させる。そして、マスクローダMLは、マスクステージMSからマスクM及び補正板MBを持ち上げる際に、マスクMと補正板MBとが引き離されるように、第1駆動部40を動作させる。マスクMと補正板MBとを引き離すための動作は、制御部CNの制御下で行われる。本実施形態では、マスクステージMからマスクMを持ち上げる際の第1保持部21のZ軸方向の速度と、マスクステージMから補正板MBを持ち上げる際の第2保持部22のZ軸方向の速度との間に速度差を生じさせるように、第1駆動部40を動作させる。具体的には、補正板MBを持ち上げる際の第2保持部22のZ軸方向の速度がマスクMを持ち上げる際の第1保持部21のZ軸方向の速度よりも速くなるように、第1駆動部40を動作させる。これにより、第1保持部21と第2保持部22とがZ軸方向の間隔を変えながら上昇するため、マスクMと補正板MBとを引き離すことができる。マスクMと補正板MBとが引き離された後、第1保持部21及び第2保持部22は、マスクローダMLのX軸方向に移動可能な位置まで上昇する。この間、第1保持部21のZ軸方向の速度と第2保持部22とがZ軸方向の速度とが等しくなるように、第1駆動部40を動作させてもよい。これにより、マスクMと補正板MBとをZ軸方向に一定の間隔を有したまま上昇させることができる。
第1保持部21及び第2保持部22をマスクローダMLのX軸方向に移動可能な位置まで上昇させたら、第1保持部21に保持されたマスクMを搬送ロボットMRに受け渡す。この際、第2保持部22は、補正板MBの保持を継続する。次いで、第2保持部22に保持された補正板MBを、待機室BSに待機している次のマスクMに載置する。そして、待機室BSで補正板MBが載置されたマスクMを第1保持部21に保持させてマスクステージMSに搬送する。
図6は、第1駆動部40の具体的な構成の一例を示す図である。第1駆動部40は、第1保持部21及び第2保持部22のそれぞれを独立してZ軸方向に駆動するために、第1保持部21と連結する第1駆動軸41と、第2保持部22と連結する第2駆動軸42とを含む。第1駆動軸41及び第2駆動軸42は、第1駆動軸41及び第2駆動軸42のそれぞれを独立してZ軸方向に駆動可能な駆動機構(アクチュエータ)に接続されている。
図7(a)及び図7(b)は、第2駆動部30の具体的な構成の一例を示す図である。第2駆動部30は、第1爪部21a及び第2爪部21bのそれぞれを独立して開閉するために、第1爪部21aと連結する第1アクチュエータ(開閉軸)31と、第2爪部22aと連結する第2アクチュエータ(開閉軸)32とを含む。第1アクチュエータ31は、図7(a)に示すように、第1爪部21aをマスクMの下面の周縁部に駆動する(第1爪部21aを閉状態に駆動する)。第2アクチュエータ32は、図7(b)に示すように、第2爪部22aを補正板MBの下面の周縁部に駆動する(第2爪部22aを閉状態に駆動する)。
また、図8に示すように、第1保持部21に保持されたマスクM及び第2保持部22に保持された補正板MBを固定してもよい。図8は、第1保持部21及び第2保持部22の構成の一例を示す図である。第1保持部21は、第1爪部21aで支持されたマスクMの側面及び上面の周縁部を固定する第1固定部21bを含む。第2保持部22は、第2爪部22aで支持された補正板MBの側面及び上面の周縁部を固定する第2固定部22bを含む。第1固定部21b及び第2固定部22bのそれぞれは、第1爪部21aや第2爪部22aとは独立したアクチュエータを用いた駆動が可能である。また、第1固定部21b及び第2固定部22bのそれぞれは、制御部CNの制御下において、計測部MUで計測されたマスクMの位置及び補正板MBの位置に基づいて駆動することが可能である。
また、図9に示すように、マスクステージMSからマスクM及び補正板MBを持ち上げる前に、第1保持部21がマスクMを保持しているかどうか、及び、第2保持部22が補正板MBを保持しているかどうかを検知してもよい。図9は、第1保持部21及び第2保持部22の構成の一例を示す図である。第1検知部21cは、例えば、第1爪部21aと第1固定部21bとの間に配置され、第1保持部21がマスクMを保持しているかどうかを検知する。第2検知部22cは、例えば、第2爪部22aと第2固定部22bとの間に配置され、第2保持部22が補正板MBを保持しているかどうかを検知する。第1検知部21c及び第2検知部22cに適用可能なセンサは、接触式センサであってもよいし、非接触式センサであってもよい。本実施形態では、ファイバセンサなどの非接触式センサが第1検知部21cや第2検知部22cに適用されることを想定している。
制御部CNは、第1検知部21c及び第2検知部22cによる検知結果に基づいて、第1駆動部40及び第2駆動部30を制御する。例えば、第1検知部21cにより第1保持部21がマスクMを保持していないことが検知された場合、又は、第2検知部22cにより第2保持部22が補正板MBを保持していないことが検知された場合を考える。このような場合、マスクMのアンロードを継続することが難しいため、マスクステージMSからマスクM及び補正板MBを持ち上げることを中止する。
なお、第1固定部21bや第2固定部22bが吸着パッドである場合には、第1検知部21c及び第2検知部22cに圧力センサや流量センサを適用することで、マスクM及び補正板MBの固定状態、位置及び異常状態を検知することができる。例えば、図10を参照するに、パターン1では、吸着時に任意に設定した圧力を検知し、その際、流量が流れていない場合には、吸着による固定ができるため、マスクM及び補正板MBは正常な位置に位置していると検知することができる。従って、保持状態は正常と判定することができるため、マスクM及び補正板MBは正常な位置で保持(固定)されている(位置検知)とする。パターン2では、吸着時に任意に設定した圧力を検知し、その際、流量が流れている場合には、吸着状態ではあるが、リークにより流量を検知していると考えられる。従って、固定状態ではなく、マスクM及び補正板MBは正常な位置に位置していないため、マスクM及び補正板MBは正常な位置で保持(固定)されていない(位置非検知)とする。
本実施形態によれば、マスクMの交換(アンロード)において、マスクMと補正板MBとを引き離しに要する時間を短縮することができるため、マスクMをマスクステージMSからアンロードするのに有利である。なお、マスクMと補正板MBとの引き離しは、第1保持部21及び第2保持部22を上昇させている間に行うとよい。但し、第1保持部21及び第2保持部22は、上述したように、独立してZ軸方向に駆動することが可能である。従って、第1保持部21及び第2保持部22を上昇させた後、マスクローダMLをX軸方向に移動させている間にマスクMと補正板MBとの引き離しを行ってもよい。
本発明の実施形態における物品の製造方法は、例えば、デバイス(半導体素子、磁気記憶媒体、液晶表示素子など)などの物品を製造するのに好適である。かかる製造方法は、露光装置EXを用いて、感光剤が塗布された基板を露光する工程と、露光された基板を現像する工程を含む。また、かかる製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージングなど)を含みうる。本実施形態における物品の製造方法は、従来に比べて、物品の性能、品質、生産性及び生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
EX:露光装置 M:マスク MB:補正板 S:基板 MS:マスクステージ CU:搬送部 21:第1保持部 22:第2保持部 40:第1駆動部

Claims (9)

  1. マスクのパターンを基板に転写する露光装置であって、
    前記マスクと、前記マスクの上に載置されて前記マスクの形状を補正するための補正板とを保持するステージと、
    前記マスクを保持する第1保持部と、前記補正板を保持する第2保持部と、前記第1保持部及び前記第2保持部のそれぞれを駆動する駆動部とを含み、前記ステージから前記マスク及び前記補正板を持ち上げる搬送部と、を有し、
    前記搬送部は、前記ステージから前記マスク及び前記補正板を持ち上げる際に、前記マスクと前記補正板とが引き離されるように、前記駆動部を動作させることを特徴とする露光装置。
  2. 前記搬送部は、前記ステージから前記マスクを持ち上げる際の前記第1保持部の鉛直方向の速度と、前記ステージから前記補正板を持ち上げる際の前記第2保持部の鉛直方向の速度との間に速度差が生じるように、前記駆動部を動作させることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
  3. 前記搬送部は、前記マスクと前記補正板とが引き離された後、前記第1保持部の鉛直方向の速度と、前記第2保持部の鉛直方向の速度とが等しくなるように、前記駆動部を動作させることを特徴とする請求項1又は2に記載の露光装置。
  4. 前記ステージに保持された前記マスクの位置及び前記マスクの上に載置された前記補正板の位置を計測する計測部を更に有し、
    前記搬送部は、前記ステージから前記マスク及び前記補正板を持ち上げる前に、前記計測部で計測された前記マスクの位置及び前記補正板の位置に基づいて、前記マスク及び前記補正板を保持可能な位置に前記第1保持部及び前記第2保持部のそれぞれを位置決めするように、前記駆動部を動作させることを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の露光装置。
  5. 前記第1保持部は、前記マスクの下面の周縁部を支持するための第1ハンド部を含み、
    前記第2保持部は、前記補正板の下面の周縁部を支持するための第2ハンド部を含み、
    前記駆動部は、前記第1ハンド部を前記マスクの下面の周縁部に駆動する第1アクチュエータと、前記第2ハンド部を前記補正板の下面の周縁部に駆動する第2アクチュエータとを含むことを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載の露光装置。
  6. 前記第1保持部は、前記第1ハンド部で支持された前記マスクの側面及び上面の周縁部を固定する第1固定部を含み、
    前記第2保持部は、前記第2ハンド部で支持された前記補正板の側面及び上面の周縁部を固定する第2固定部を含むことを特徴とする請求項5に記載の露光装置。
  7. 前記ステージから前記マスクを持ち上げる前に、前記第1保持部が前記マスクを保持しているかどうかを検知する第1検知部と、
    前記ステージから前記補正板を持ち上げる前に、前記第2保持部が前記補正板を保持しているかどうかを検知する第2検知部と、
    を更に有し、
    前記搬送部は、前記第1検知部により前記第1保持部が前記マスクを保持していないことが検知された場合、又は、前記第2検知部により前記第2保持部が前記補正板を保持していないことが検知された場合には、前記ステージから前記マスク及び前記補正板を持ち上げることを中止することを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の露光装置。
  8. 基板に転写すべきパターンを有するマスクと、前記マスクの上に載置されて前記マスクの形状を補正するための補正板とを保持するステージから、前記マスク及び前記補正板を搬送する搬送装置であって、
    前記マスクを保持する第1保持部と、前記補正板を保持する第2保持部と、前記第1保持部及び前記第2保持部のそれぞれを駆動する駆動部とを含み、前記ステージから前記マスク及び前記補正板を持ち上げる搬送部を有し、
    前記搬送部は、前記ステージから前記マスク及び前記補正板を持ち上げる際に、前記マスクと前記補正板とが引き離されるように、前記駆動部を動作させることを特徴とする搬送装置。
  9. 請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の露光装置を用いて基板を露光する工程と、
    露光した前記基板を現像する工程と、
    現像された前記基板から物品を製造する工程と、
    を有することを特徴とする物品の製造方法。
JP2017186844A 2017-09-27 2017-09-27 露光装置、搬送装置及び物品の製造方法 Active JP7025165B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017186844A JP7025165B2 (ja) 2017-09-27 2017-09-27 露光装置、搬送装置及び物品の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017186844A JP7025165B2 (ja) 2017-09-27 2017-09-27 露光装置、搬送装置及び物品の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019061142A JP2019061142A (ja) 2019-04-18
JP7025165B2 true JP7025165B2 (ja) 2022-02-24

Family

ID=66178182

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017186844A Active JP7025165B2 (ja) 2017-09-27 2017-09-27 露光装置、搬送装置及び物品の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7025165B2 (ja)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030017935A1 (en) 2001-04-24 2003-01-23 Peemans Rudy Francois Alain Joseph Regeneration of catalysts used in the manufacture of bisphenols
JP2004095653A (ja) 2002-08-29 2004-03-25 Nikon Corp 露光装置
JP2006135085A (ja) 2004-11-05 2006-05-25 Canon Inc 露光装置及びデバイス製造方法
JP2008277579A (ja) 2007-04-27 2008-11-13 Canon Inc 露光装置およびデバイス製造方法
US20100245795A1 (en) 2009-03-26 2010-09-30 Hashemi Fardad A Intermediate vacuum seal assembly for sealing a chamber housing to a workpiece
JP2011060799A (ja) 2009-09-07 2011-03-24 Canon Inc 露光装置、露光方法、及びデバイス製造方法
JP2016531325A (ja) 2013-09-09 2016-10-06 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置及びそのような装置における光学波面変形を補正する方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0729791A (ja) * 1993-07-08 1995-01-31 Toshiba Corp 露光装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030017935A1 (en) 2001-04-24 2003-01-23 Peemans Rudy Francois Alain Joseph Regeneration of catalysts used in the manufacture of bisphenols
JP2004095653A (ja) 2002-08-29 2004-03-25 Nikon Corp 露光装置
JP2006135085A (ja) 2004-11-05 2006-05-25 Canon Inc 露光装置及びデバイス製造方法
JP2008277579A (ja) 2007-04-27 2008-11-13 Canon Inc 露光装置およびデバイス製造方法
US20100245795A1 (en) 2009-03-26 2010-09-30 Hashemi Fardad A Intermediate vacuum seal assembly for sealing a chamber housing to a workpiece
JP2011060799A (ja) 2009-09-07 2011-03-24 Canon Inc 露光装置、露光方法、及びデバイス製造方法
JP2016531325A (ja) 2013-09-09 2016-10-06 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置及びそのような装置における光学波面変形を補正する方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2019061142A (ja) 2019-04-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6855010B6 (ja) 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法
JP6245308B2 (ja) 基板搬送方法、デバイス製造方法、基板搬送装置および露光装置
JP6708233B2 (ja) 物体移動装置、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法
KR20130055701A (ko) 노광 방법 및 노광 장치, 그리고 디바이스 제조 방법
JP2004273702A (ja) 搬送装置及び搬送方法、露光装置
JP2014003259A (ja) ロード方法、基板保持装置及び露光装置
KR20090089820A (ko) 노광 장치 및 디바이스 제조 방법
JP2004095653A (ja) 露光装置
JP2001100169A (ja) 基板支持装置および基板処理装置
JP7025165B2 (ja) 露光装置、搬送装置及び物品の製造方法
JP2005044882A (ja) 搬送装置及び露光装置
JP2004221296A (ja) 基板保持装置及び露光装置、並びにデバイス製造方法
JP2003156322A (ja) 位置計測方法及び装置、位置決め方法、露光装置、並びにマイクロデバイスの製造方法
JP2005277117A (ja) 基板保持装置、露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法
JP5741926B2 (ja) 物体交換システム、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、デバイス製造方法、及び物体交換方法
TW201921572A (zh) 基板搬運裝置、曝光裝置、平板顯示器的製造方法、元件製造方法、基板搬運方法以及曝光方法
JP5825268B2 (ja) 基板検査装置
JP3624057B2 (ja) 露光装置
JP2007311374A (ja) 基板ホルダ、露光装置及びデバイスの製造方法
TW201919968A (zh) 基板搬運裝置、曝光裝置、平板顯示器的製造方法、元件製造方法、基板搬運方法以及曝光方法
TW201919967A (zh) 基板搬運裝置、曝光裝置、平板顯示器的製造方法、元件製造方法、基板搬運方法以及曝光方法
JP7355174B2 (ja) 基板搬送装置、露光装置、フラットパネルディスプレイ製造方法、デバイス製造方法、基板搬送方法、及び露光方法
JP2017175070A (ja) 保持装置、保持方法、リソグラフィ装置、および物品の製造方法
KR20110021653A (ko) 노광 장치 및 그것을 사용한 디바이스 제조 방법
JP6631655B2 (ja) 露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法及びデバイスの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200918

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20210103

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210712

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210726

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210914

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220114

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220210

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7025165

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151