JP2886797B2 - 欠陥画素補正方法および装置 - Google Patents
欠陥画素補正方法および装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＣＣＤ（Charge Coupl
ed Device)など固体撮像素子の欠陥画素を補正する方法
および装置に関するもので、とくに適正な補正が容易に
得られるようにしたものである。
ed Device)など固体撮像素子の欠陥画素を補正する方法
および装置に関するもので、とくに適正な補正が容易に
得られるようにしたものである。
【０００２】
【従来の技術】ＣＣＤに欠陥画素があると再生画像上に
白キズ等を生じ画質を著しく低下させる。これを補正し
て補うため、従来より欠陥画素の直前の画素信号をサン
プルホールドして欠陥画素の画素信号と入れ替えること
が行われてきた。（例えば、特開昭５０−１２８４１４
号公報および特開昭５７−５４４８１号公報参照）。
白キズ等を生じ画質を著しく低下させる。これを補正し
て補うため、従来より欠陥画素の直前の画素信号をサン
プルホールドして欠陥画素の画素信号と入れ替えること
が行われてきた。（例えば、特開昭５０−１２８４１４
号公報および特開昭５７−５４４８１号公報参照）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、ＣＣＤ
の欠陥画素については当該画素のサンプルは行わず、直
前の画素信号をサンプルホールドしてこれを欠陥画素の
画素信号として用いているが、実際の画素サンプル回路
においては、例えばサンプル用のスイッチングトランジ
スタの標遊容量を通してサンプルパルスが出力側に飛び
込み、従って、画素サンプルをしたときとしないときと
で、低域通過フィルタを通した後で得られる画像信号に
画素単位のレベルに差異を生じるが、この問題に対する
解決の一方法が前述の特開昭５７−５４４８１号公報に
記載されている。
の欠陥画素については当該画素のサンプルは行わず、直
前の画素信号をサンプルホールドしてこれを欠陥画素の
画素信号として用いているが、実際の画素サンプル回路
においては、例えばサンプル用のスイッチングトランジ
スタの標遊容量を通してサンプルパルスが出力側に飛び
込み、従って、画素サンプルをしたときとしないときと
で、低域通過フィルタを通した後で得られる画像信号に
画素単位のレベルに差異を生じるが、この問題に対する
解決の一方法が前述の特開昭５７−５４４８１号公報に
記載されている。
【０００４】しかし、上記特開昭５７−５４４８１号公
報記載の技術のみでは、完全に画素単位のレベル差をな
くすことはできない。すなわち、上記サンプルパルスの
飛び込みの影響は、これが欠陥画素のために１個（１サ
ンプル）抜けているところとそうでないところとでは、
飛び込んだサンプルパルスの後のリンギングの大きさが
異なって現われ、これが低域通過フィルタを通した後
「キズ」となって画面上で目立つことになる。
報記載の技術のみでは、完全に画素単位のレベル差をな
くすことはできない。すなわち、上記サンプルパルスの
飛び込みの影響は、これが欠陥画素のために１個（１サ
ンプル）抜けているところとそうでないところとでは、
飛び込んだサンプルパルスの後のリンギングの大きさが
異なって現われ、これが低域通過フィルタを通した後
「キズ」となって画面上で目立つことになる。
【０００５】とくに後者の「キズ」をなくすためには、
その原因となっているリンギングについて、その大き
さ、位相を調整する必要があるが、ＣＣＤにおいて、本
来欠陥画素は皆無であることが望ましいが、実際には存
在しこれが１画素単位で孤立して存在するので、これら
孤立した数か所の画素点をモニタ上で見ながら、「キ
ズ」が見えなくなるように上述のリンギングの大きさ、
位相を調整することは容易でない。
その原因となっているリンギングについて、その大き
さ、位相を調整する必要があるが、ＣＣＤにおいて、本
来欠陥画素は皆無であることが望ましいが、実際には存
在しこれが１画素単位で孤立して存在するので、これら
孤立した数か所の画素点をモニタ上で見ながら、「キ
ズ」が見えなくなるように上述のリンギングの大きさ、
位相を調整することは容易でない。
【０００６】本発明の目的は、上記欠陥画素に相当する
「キズ」が見えなくなるようにする調整を容易にする欠
陥画素補正方法、およびそれに使用する装置を提供する
ことにある。
「キズ」が見えなくなるようにする調整を容易にする欠
陥画素補正方法、およびそれに使用する装置を提供する
ことにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明欠陥画素補正方法は、欠陥画素をサンプルし
ないようにして欠陥画素の補正を行うテレビジョンカメ
ラ用固体撮像素子の欠陥画素補正方法において、前記欠
陥画素をサンプルしないサンプルパルス列に代えて任意
所望の画像パターンを表示する画素群をサンプルしない
サンプルパルス列を発生させ、該発生したサンプルパル
ス列を前記固体撮像素子に印加したとき前記画像パター
ンが視覚的に見えなくなるように調整し、該調整が完了
した後に、前記欠陥画素をサンプルしないサンプルパル
ス列を前記固体撮像素子に印加するようにしたことを特
徴とするものである。
め、本発明欠陥画素補正方法は、欠陥画素をサンプルし
ないようにして欠陥画素の補正を行うテレビジョンカメ
ラ用固体撮像素子の欠陥画素補正方法において、前記欠
陥画素をサンプルしないサンプルパルス列に代えて任意
所望の画像パターンを表示する画素群をサンプルしない
サンプルパルス列を発生させ、該発生したサンプルパル
ス列を前記固体撮像素子に印加したとき前記画像パター
ンが視覚的に見えなくなるように調整し、該調整が完了
した後に、前記欠陥画素をサンプルしないサンプルパル
ス列を前記固体撮像素子に印加するようにしたことを特
徴とするものである。
【０００８】また、本発明欠陥画素補正装置は、少なく
とも請求項１記載の任意所望の画像パターンを表示する
画素群をサンプルしないサンプルパルス列を発生させる
サンプルパルス列発生手段を具えていることを特徴とす
るものである。
とも請求項１記載の任意所望の画像パターンを表示する
画素群をサンプルしないサンプルパルス列を発生させる
サンプルパルス列発生手段を具えていることを特徴とす
るものである。
【０００９】また、本発明欠陥画素補正装置は、前記サ
ンプルパルス列発生手段が書き替え可能なメモリを含ん
でいるとともに、前記任意所望の画像パターンを前記書
き替え可能なメモリに記憶させるべく欠陥画素補正装置
外部から前記任意所望の画像パターンを表わす信号を入
力可能にしていることを特徴とするものである。
ンプルパルス列発生手段が書き替え可能なメモリを含ん
でいるとともに、前記任意所望の画像パターンを前記書
き替え可能なメモリに記憶させるべく欠陥画素補正装置
外部から前記任意所望の画像パターンを表わす信号を入
力可能にしていることを特徴とするものである。
【００１０】また、本発明欠陥画素補正装置は、前記サ
ンプルパルス列発生手段が、前記任意所望の画像パター
ンを記憶しているＲＯＭを含んでいることを特徴とする
ものである。
ンプルパルス列発生手段が、前記任意所望の画像パター
ンを記憶しているＲＯＭを含んでいることを特徴とする
ものである。
【００１１】
【作用】以上によれば、数少なくかつ不規則に散在して
いるＣＣＤの欠陥素子による「キズ」を見ながら、これ
が見えなくなるように調整要素を調整するのと違って、
きわめて明確な任意所望の画像パターンを見ながら調整
することができるので、調整し易く、かつ効率的であ
る。
いるＣＣＤの欠陥素子による「キズ」を見ながら、これ
が見えなくなるように調整要素を調整するのと違って、
きわめて明確な任意所望の画像パターンを見ながら調整
することができるので、調整し易く、かつ効率的であ
る。
【００１２】
【実施例】以下に添付図面を参照し実施例により本発明
を詳細に説明する。まず、本発明を理解するうえで必要
な従来技術について説明する。図１は、ＣＣＤ欠陥画素
補正装置の一例（従来技術）を示すブロック線図であ
る。
を詳細に説明する。まず、本発明を理解するうえで必要
な従来技術について説明する。図１は、ＣＣＤ欠陥画素
補正装置の一例（従来技術）を示すブロック線図であ
る。
【００１３】図１において、１はＣＣＤであり、このＣ
ＣＤの欠陥画素のアドレスがメモリ２に記憶されてい
る。キズ補正回路３は、テレビジョン水平および垂直駆
動パルス（それぞれＨＤおよびＶＤ）を計数する水平画
素カウンタと垂直画素カウンタを有し、これらカウンタ
の計数による画素アドレス値がデータバスＡを介して供
給されるメモリ２に記憶されているアドレス値と一致し
たとき、ＣＣＤ１からの画像出力を使用するテレビジョ
ン画像信号としてサンプルしないように、常時は相関２
重サンプル回路（ＣＤＳ）４に供給しているサンプルパ
ルスの供給を停止する。以上により、ＣＣＤの欠陥画素
については当該画素のサンプルが行われず、欠陥画素の
直前の画素がホールドされ、これが欠陥画素と置き替っ
てテレビジョン画像信号が形成されることになる。
ＣＤの欠陥画素のアドレスがメモリ２に記憶されてい
る。キズ補正回路３は、テレビジョン水平および垂直駆
動パルス（それぞれＨＤおよびＶＤ）を計数する水平画
素カウンタと垂直画素カウンタを有し、これらカウンタ
の計数による画素アドレス値がデータバスＡを介して供
給されるメモリ２に記憶されているアドレス値と一致し
たとき、ＣＣＤ１からの画像出力を使用するテレビジョ
ン画像信号としてサンプルしないように、常時は相関２
重サンプル回路（ＣＤＳ）４に供給しているサンプルパ
ルスの供給を停止する。以上により、ＣＣＤの欠陥画素
については当該画素のサンプルが行われず、欠陥画素の
直前の画素がホールドされ、これが欠陥画素と置き替っ
てテレビジョン画像信号が形成されることになる。
【００１４】また、図１において、ＣＣＤ駆動ＬＳＩ５
にはキズ補正回路３と同様ＨＤおよびＶＤが供給され、
ＣＣＤ１を駆動するための各種パルスを発生しＣＣＤ１
とセットで使用されているものである。また、パソコン
６は、アドレスバスおよびデータバスＢを介してＣＣＤ
１の欠陥画素のアドレスをメモリ２に記憶させるときに
使用するアドレス指定用であり、さらに、信号処理回路
７は、相関２重サンプル回路（ＣＤＳ）４から取り出さ
れたテレビジョン画像信号のガンマ、ペデスタルおよび
フレア等を調整し、この回路の出力をそのまま伝送路に
送出し、またはモニタに供給しても良好な画像が表示で
きるようにするための従来慣用のものである。
にはキズ補正回路３と同様ＨＤおよびＶＤが供給され、
ＣＣＤ１を駆動するための各種パルスを発生しＣＣＤ１
とセットで使用されているものである。また、パソコン
６は、アドレスバスおよびデータバスＢを介してＣＣＤ
１の欠陥画素のアドレスをメモリ２に記憶させるときに
使用するアドレス指定用であり、さらに、信号処理回路
７は、相関２重サンプル回路（ＣＤＳ）４から取り出さ
れたテレビジョン画像信号のガンマ、ペデスタルおよび
フレア等を調整し、この回路の出力をそのまま伝送路に
送出し、またはモニタに供給しても良好な画像が表示で
きるようにするための従来慣用のものである。
【００１５】次に、上述の相関２重サンプル回路（ＣＤ
Ｓ）４の概略構成を一点鎖線で囲んで図２に示し、その
回路動作を図３に示す信号波形図に従って説明する。Ｃ
ＣＤ１の出力信号（図３に（ａ）にて示す）は、増幅器
１１および１２に供給されそれぞれ所定レベルまで増幅
される。増幅器１１を含む系統（Ｗにて表示する）は画
像信号レベルをサンプルホールドする系統で、また増幅
器１２を含む系統（Ｂにて表示する）は黒の基準レベル
をサンプルホールドする系統である。増幅器１１の出力
は、図３に示すサンプルパルス（ｂ）のタイミングでス
イッチｓｗ１が閉じられることによりトリマコンデンサ
ｃ１およびコンデンサｃ２に充電され、高入力インピー
ダンスのバッファ増幅器１３を介して差動増幅器１４の
反転入力端子に印加される。
Ｓ）４の概略構成を一点鎖線で囲んで図２に示し、その
回路動作を図３に示す信号波形図に従って説明する。Ｃ
ＣＤ１の出力信号（図３に（ａ）にて示す）は、増幅器
１１および１２に供給されそれぞれ所定レベルまで増幅
される。増幅器１１を含む系統（Ｗにて表示する）は画
像信号レベルをサンプルホールドする系統で、また増幅
器１２を含む系統（Ｂにて表示する）は黒の基準レベル
をサンプルホールドする系統である。増幅器１１の出力
は、図３に示すサンプルパルス（ｂ）のタイミングでス
イッチｓｗ１が閉じられることによりトリマコンデンサ
ｃ１およびコンデンサｃ２に充電され、高入力インピー
ダンスのバッファ増幅器１３を介して差動増幅器１４の
反転入力端子に印加される。
【００１６】一方、増幅器１２の出力は、図３に示すサ
ンプルパルス（ｃ）のタイミングでスイッチｓｗ２が閉
じられることによりコンデンサｃ３が充電され、高入力
インピーダンスのバッファ増幅器１５を介してその出力
側に現われる。この信号レベルは、ＣＣＤ１の出力信号
（ａ）がサンプルパルス（ｃ）でサンプルされているた
め黒の基準レベルを示している。この信号は、サンプル
パルス（ｂ）がスイッチｓｗ１と同時にスイッチｓｗ３
にも供給されることによって、黒の基準レベルはコンデ
ンサｃ４に充電され、上述の画像信号（増幅器１１，ス
イッチｓｗ１、バッファ増幅器１３の系統）と同時にサ
ンプルされた信号となり、高入力インピーダンスのバッ
ファ増幅器１６および可変抵抗器ｖｒを介して差動増幅
器１４の非反転入力端子に印加される。
ンプルパルス（ｃ）のタイミングでスイッチｓｗ２が閉
じられることによりコンデンサｃ３が充電され、高入力
インピーダンスのバッファ増幅器１５を介してその出力
側に現われる。この信号レベルは、ＣＣＤ１の出力信号
（ａ）がサンプルパルス（ｃ）でサンプルされているた
め黒の基準レベルを示している。この信号は、サンプル
パルス（ｂ）がスイッチｓｗ１と同時にスイッチｓｗ３
にも供給されることによって、黒の基準レベルはコンデ
ンサｃ４に充電され、上述の画像信号（増幅器１１，ス
イッチｓｗ１、バッファ増幅器１３の系統）と同時にサ
ンプルされた信号となり、高入力インピーダンスのバッ
ファ増幅器１６および可変抵抗器ｖｒを介して差動増幅
器１４の非反転入力端子に印加される。
【００１７】差動増幅器１４の非反転入力端子に印加さ
れた黒基準レベルと、同増幅器の反転入力端子に印加さ
れた画像信号レベル間において減算が行われ、その出力
側にノイズの影響を受けない正しい信号レベルを有する
画像信号が得られ、この信号を後続の低減通過フィルタ
（ＬＰＦ）１７を介して取り出すことにより、サンプル
ホールド回路等で発生する高周波ノイズの影響が除去さ
れ連続したテレビジョン画像信号が得られる。
れた黒基準レベルと、同増幅器の反転入力端子に印加さ
れた画像信号レベル間において減算が行われ、その出力
側にノイズの影響を受けない正しい信号レベルを有する
画像信号が得られ、この信号を後続の低減通過フィルタ
（ＬＰＦ）１７を介して取り出すことにより、サンプル
ホールド回路等で発生する高周波ノイズの影響が除去さ
れ連続したテレビジョン画像信号が得られる。
【００１８】図３はまた、同図（ｄ）にスイッチｓｗ１
によるサンプリングパルス（図３（ｂ））の飛び込みの
信号波形を示しているが、欠陥画素のためにサンプリン
グパルスを供給しなかった時間付近においてはリンギン
グの出力が他の時間帯と異なっている。これは、上述し
たように、連続したテレビジョン画像信号を取り出すた
めに低域通過フィルタ（ＬＰＦ）１７を通した後におい
ても、表示画像上に「キズ」を発生させる。
によるサンプリングパルス（図３（ｂ））の飛び込みの
信号波形を示しているが、欠陥画素のためにサンプリン
グパルスを供給しなかった時間付近においてはリンギン
グの出力が他の時間帯と異なっている。これは、上述し
たように、連続したテレビジョン画像信号を取り出すた
めに低域通過フィルタ（ＬＰＦ）１７を通した後におい
ても、表示画像上に「キズ」を発生させる。
【００１９】この「キズ」を除去する方法の一例とし
て、リンギングを均等にすることで達成される。すなわ
ち、図２に示す相関２重サンプル回路（ＣＤＳ）４中の
トリマコンデンサｃ１や可変抵抗器ｖｒの微細な調整が
必要である。しかし、モニタ上に点状に散在する、それ
ぞれがきわめて小さい「キズ」を見つめながらこれが見
えなくなるように上記要素（トリマコンデンサや可変抵
抗器）を調整することは並大抵なことではなく、また調
整に多大な時間を要していた。
て、リンギングを均等にすることで達成される。すなわ
ち、図２に示す相関２重サンプル回路（ＣＤＳ）４中の
トリマコンデンサｃ１や可変抵抗器ｖｒの微細な調整が
必要である。しかし、モニタ上に点状に散在する、それ
ぞれがきわめて小さい「キズ」を見つめながらこれが見
えなくなるように上記要素（トリマコンデンサや可変抵
抗器）を調整することは並大抵なことではなく、また調
整に多大な時間を要していた。
【００２０】そこで本発明においては、ＣＣＤ自体が有
している欠陥画素を補正するための上述の補正方法（従
来の方法）を採用するにあたり、トリマコンデンサや可
変抵抗器の調整をより容易に、従って短時間に効率よく
行えないかを検討した結果として得られたのが本発明欠
陥画素補正方法であり、およびそれに使用する装置であ
る。
している欠陥画素を補正するための上述の補正方法（従
来の方法）を採用するにあたり、トリマコンデンサや可
変抵抗器の調整をより容易に、従って短時間に効率よく
行えないかを検討した結果として得られたのが本発明欠
陥画素補正方法であり、およびそれに使用する装置であ
る。
【００２１】まず、本発明欠陥画素補正方法は、上述の
ように点状に散在する、きわめて小さい「キズ」を見な
がら上述したトリマコンデンサや可変抵抗器など調整要
素を調整するのでなく、欠陥画素に関係なく、任意所望
の画像パターンに対応する構成画素があたかも欠陥画素
であるとの想定（実際には欠陥画素ではない）をした場
合にＣＣＤに供給されるサンプルパルス列、すなわち上
記画像パターンを表示する画素群をサンプルしないサン
プルパルス列を発生させ、そのサンプルパルス列を供給
したことにより生じるモニタ上の擬似的な「キズ」を見
ながら、その「キズ」が見えなくなるように調整要素を
調整する。
ように点状に散在する、きわめて小さい「キズ」を見な
がら上述したトリマコンデンサや可変抵抗器など調整要
素を調整するのでなく、欠陥画素に関係なく、任意所望
の画像パターンに対応する構成画素があたかも欠陥画素
であるとの想定（実際には欠陥画素ではない）をした場
合にＣＣＤに供給されるサンプルパルス列、すなわち上
記画像パターンを表示する画素群をサンプルしないサン
プルパルス列を発生させ、そのサンプルパルス列を供給
したことにより生じるモニタ上の擬似的な「キズ」を見
ながら、その「キズ」が見えなくなるように調整要素を
調整する。
【００２２】この調整は、数少なく点在する実際の欠陥
画素を見ながら調整するよりはるかに容易である。な
お、任意所望の画像パターンとしては、視覚的に目立つ
パターンであればどんなパターンでもよいが、画面の横
方向に連続しない１個の欠陥画素（１サンプル）の補正
を考える以上、横方向の画素配列とは１点で交わるよう
なパターンが望ましく、例えば、図４に示す画像パター
ンが考えられる。
画素を見ながら調整するよりはるかに容易である。な
お、任意所望の画像パターンとしては、視覚的に目立つ
パターンであればどんなパターンでもよいが、画面の横
方向に連続しない１個の欠陥画素（１サンプル）の補正
を考える以上、横方向の画素配列とは１点で交わるよう
なパターンが望ましく、例えば、図４に示す画像パター
ンが考えられる。
【００２３】以上により調整が完了すれば、この調整結
果は、ＣＣＤの本来の欠陥画素に対しても、それ用のサ
ンプルパルスが供給された時の調整結果と同じであるか
らキズは見えない筈である。従って、調整完了後は、欠
陥画素をサンプルしない通常の欠陥画素補正方法による
サンプルパルス列をＣＣＤに供給するようにする。
果は、ＣＣＤの本来の欠陥画素に対しても、それ用のサ
ンプルパルスが供給された時の調整結果と同じであるか
らキズは見えない筈である。従って、調整完了後は、欠
陥画素をサンプルしない通常の欠陥画素補正方法による
サンプルパルス列をＣＣＤに供給するようにする。
【００２４】以上においては、従来例における調整要素
が、たまたまトリマコンデンサであり、また可変抵抗器
であったため、これらを調整要素としたが、これらは一
例であり画像パターンが見えなくなるようにする調整要
素を、本発明は特定するものではない。
が、たまたまトリマコンデンサであり、また可変抵抗器
であったため、これらを調整要素としたが、これらは一
例であり画像パターンが見えなくなるようにする調整要
素を、本発明は特定するものではない。
【００２５】次に、上述した本発明欠陥画素補正方法に
使用する本発明欠陥画素補正装置について説明する。本
発明欠陥画素補正装置の実施例としては、従来技術の説
明に使用した図１に示すＣＣＤ欠陥画素補正装置のキズ
補正回路３に、本発明方法について上述した任意所望の
画像パターンに対応する構成画素をサンプルしないサン
プルパルス列発生手段、およびこの手段からのサンプル
パルス列により上述の調整要素の調整が完了した後には
欠陥画素の補正を行う本来の（従来の）キズ補正装置に
戻すためのパソコン等による処理を含むように構成する
のが好ましい。
使用する本発明欠陥画素補正装置について説明する。本
発明欠陥画素補正装置の実施例としては、従来技術の説
明に使用した図１に示すＣＣＤ欠陥画素補正装置のキズ
補正回路３に、本発明方法について上述した任意所望の
画像パターンに対応する構成画素をサンプルしないサン
プルパルス列発生手段、およびこの手段からのサンプル
パルス列により上述の調整要素の調整が完了した後には
欠陥画素の補正を行う本来の（従来の）キズ補正装置に
戻すためのパソコン等による処理を含むように構成する
のが好ましい。
【００２６】以下に本発明による欠陥画素補正装置の一
実施例を、その構成を示す図面を参照して説明する。図
５は、本発明欠陥画素補正装置の一実施例を示すブロッ
ク線図である。図５において、任意所望の画像パターン
を発生させるための画像パターン発生器８が従来技術の
説明において使用した図１に付加され、さらにこれをパ
ソコン６によって制御（アドレスの書き込み）し、ま
た、この画像パターン発生器８からの出力画像信号をキ
ズ補正回路３に供給するためのアドレスバスおよびデー
タバスＢおよびデータバスＣが新たに設けられた点が本
実施例の特徴である。図１と同一符号を付して示すその
他の部分については、図１と同じであるのでそれらの構
成、動作についての説明は省略する。
実施例を、その構成を示す図面を参照して説明する。図
５は、本発明欠陥画素補正装置の一実施例を示すブロッ
ク線図である。図５において、任意所望の画像パターン
を発生させるための画像パターン発生器８が従来技術の
説明において使用した図１に付加され、さらにこれをパ
ソコン６によって制御（アドレスの書き込み）し、ま
た、この画像パターン発生器８からの出力画像信号をキ
ズ補正回路３に供給するためのアドレスバスおよびデー
タバスＢおよびデータバスＣが新たに設けられた点が本
実施例の特徴である。図１と同一符号を付して示すその
他の部分については、図１と同じであるのでそれらの構
成、動作についての説明は省略する。
【００２７】画像パターン発生器８は、書き替え可能な
ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）またはＲＯＭ（読み
出し専用メモリ）によって構成され、例えば図４に示す
画像パターンを発生する。画像パターン発生器８がＲＡ
Ｍで構成される場合には、これに図４の画像パターンに
相当するアドレスを書き込む。また、画像パターン発生
器８がＲＯＭで構成される場合には、あらかじめ図４の
画像パターンのアドレスが書き込まれたものを用意する
必要がある。さらに、メモリ２には、ＣＣＤ１の欠陥画
素の位置に相当するアドレスがアドレスバスおよびデー
タバスＢを経由して書き込まれる。
ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）またはＲＯＭ（読み
出し専用メモリ）によって構成され、例えば図４に示す
画像パターンを発生する。画像パターン発生器８がＲＡ
Ｍで構成される場合には、これに図４の画像パターンに
相当するアドレスを書き込む。また、画像パターン発生
器８がＲＯＭで構成される場合には、あらかじめ図４の
画像パターンのアドレスが書き込まれたものを用意する
必要がある。さらに、メモリ２には、ＣＣＤ１の欠陥画
素の位置に相当するアドレスがアドレスバスおよびデー
タバスＢを経由して書き込まれる。
【００２８】以上の構成において、図２に示すトリマコ
ンデンサｃ１および可変抵抗器ｖｒを調整する場合、キ
ズ補正回路３の水平画素カウンタと垂直画素カウンタに
供給される欠陥画素のアドレスはデータバスＣを介して
画像パターン発生器８から供給されるようにパソコン６
が制御する。また、トリマコンデンサｃ１および可変抵
抗器ｖｒの調整が完了した後においては、キズ補正回路
３の水平画素カウンタと垂直画素カウンタに供給される
欠陥画素のアドレスがメモリ２からデータバスＡを介し
て供給されるようにパソコン６が制御する。
ンデンサｃ１および可変抵抗器ｖｒを調整する場合、キ
ズ補正回路３の水平画素カウンタと垂直画素カウンタに
供給される欠陥画素のアドレスはデータバスＣを介して
画像パターン発生器８から供給されるようにパソコン６
が制御する。また、トリマコンデンサｃ１および可変抵
抗器ｖｒの調整が完了した後においては、キズ補正回路
３の水平画素カウンタと垂直画素カウンタに供給される
欠陥画素のアドレスがメモリ２からデータバスＡを介し
て供給されるようにパソコン６が制御する。
【００２９】なお、図示しないデータ制御器によって、
パソコン６を切り離しても上記状態が保持されるように
することにより、通常のテレビジョンカメラ運用時には
メモリ２の欠陥画素のアドレスがキズ補正回路に供給さ
れる。また、上記のデータ制御を機械式のスイッチ（例
えば、トグルスイッチ等）で行うこともできる。再度、
トリマコンデンサｃ１および可変抵抗器ｖｒを調整する
必要がある場合、再度パソコン６を接続して同様に再調
整を行うことが可能である。さらに、パソコン６に要求
される機能をカメラ内蔵のコンピュータシステムに持た
せることも可能である。
パソコン６を切り離しても上記状態が保持されるように
することにより、通常のテレビジョンカメラ運用時には
メモリ２の欠陥画素のアドレスがキズ補正回路に供給さ
れる。また、上記のデータ制御を機械式のスイッチ（例
えば、トグルスイッチ等）で行うこともできる。再度、
トリマコンデンサｃ１および可変抵抗器ｖｒを調整する
必要がある場合、再度パソコン６を接続して同様に再調
整を行うことが可能である。さらに、パソコン６に要求
される機能をカメラ内蔵のコンピュータシステムに持た
せることも可能である。
【００３０】また、以上説明した本発明装置の実施例に
おいて、トリマコンデンサｃ１および可変抵抗器ｖｒを
調整する時にのみ、図４に示す画像パターンを発生する
ようにメモリ２の記憶内容を書き替え、調整完了後は、
ＣＣＤ１の欠陥画素のアドレスにその記憶内容を書き替
えるようにしてもよい。この場合、画像パターン発生器
８は不要となる。また、本発明装置の他の例として、図
４に示すような任意所望の画素パターンは調整すべきＣ
ＣＤによってパターンを変える必要がないので、キズ補
正回路用のメモリーをＲＯＭ化し、キズ補正回路３とメ
モリ２を一体化して回路部品化することも考えられる。
おいて、トリマコンデンサｃ１および可変抵抗器ｖｒを
調整する時にのみ、図４に示す画像パターンを発生する
ようにメモリ２の記憶内容を書き替え、調整完了後は、
ＣＣＤ１の欠陥画素のアドレスにその記憶内容を書き替
えるようにしてもよい。この場合、画像パターン発生器
８は不要となる。また、本発明装置の他の例として、図
４に示すような任意所望の画素パターンは調整すべきＣ
ＣＤによってパターンを変える必要がないので、キズ補
正回路用のメモリーをＲＯＭ化し、キズ補正回路３とメ
モリ２を一体化して回路部品化することも考えられる。
【００３１】
【発明の効果】本発明によれば、任意所望の画像パター
ンをモニタ上に表示させながら、これが見えなくなるよ
うに調整がなされたとき、欠陥画素の補正がなされたこ
とになるから、従来の欠陥画素そのものによるモニタ上
の「キズ」を見ながら調整を行うのに比較してはるかに
容易となり、従って調整のための時間も短縮され、生産
性が向上する。
ンをモニタ上に表示させながら、これが見えなくなるよ
うに調整がなされたとき、欠陥画素の補正がなされたこ
とになるから、従来の欠陥画素そのものによるモニタ上
の「キズ」を見ながら調整を行うのに比較してはるかに
容易となり、従って調整のための時間も短縮され、生産
性が向上する。
【図１】ＣＣＤ欠陥画素補正装置の一例（従来技術）を
示すブロック線図である。
示すブロック線図である。
【図２】図１に示すＣＣＤ欠陥画素補正装置中の相関２
重サンプル装置（ＣＤＳ）の概略構成を示す回路図であ
る。
重サンプル装置（ＣＤＳ）の概略構成を示す回路図であ
る。
【図３】図２に示す相関２重サンプル回路（ＣＤＳ）の
要部において、その回路動作を示す信号波形図である。
要部において、その回路動作を示す信号波形図である。
【図４】本発明欠陥画素補正方法および装置において使
用される任意所望の画像パターンの一例を示している。
用される任意所望の画像パターンの一例を示している。
【図５】本発明欠陥画素補正装置の一実施例を示すブロ
ック線図である。
ック線図である。
１ ＣＣＤ ２ メモリ ３ キズ補正回路 ４ 相関２重サンプル回路（ＣＤＳ） ５ ＣＣＤ駆動ＬＳＩ ６ パソコン ７ 信号処理回路 ８ 画像パターン発生器 11，12 増幅器 13，15，16 バッファ増幅器 14 差動増幅器 17 低域通過フィルタ（ＬＰＦ） HD 水平駆動パルス VD 垂直駆動パルス c1 トリマコンデンサ c2, c3, c4 コンデンサ vr 可変抵抗器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−292407（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−103574（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−188889（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H04N 5/30 - 5/335 H04N 5/14 - 5/217 H04N 17/00 - 17/06
Claims (4)
- 【請求項１】 欠陥画素をサンプルしないようにして欠
陥画素の補正を行うテレビジョンカメラ用固体撮像素子
の欠陥画素補正方法において、前記欠陥画素をサンプル
しないサンプルパルス列に代えて任意所望の画像パター
ンを表示する画素群をサンプルしないサンプルパルス列
を発生させ、該発生したサンプルパルス列を前記固体撮
像素子に印加したとき前記画像パターンが視覚的に見え
なくなるように調整し、該調整が完了した後に、前記欠
陥画素をサンプルしないサンプルパルス列を前記固体撮
像素子に印加するようにしたことを特徴とする欠陥画素
補正方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の欠陥画素補正方法におい
て使用する欠陥画素補正装置であって、該装置は、少な
くとも請求項１記載の任意所望の画像パターンを表示す
る画素群をサンプルしないサンプルパルス列を発生させ
るサンプルパルス列発生手段を具えていることを特徴と
する欠陥画素補正装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の欠陥画素補正装置におい
て、前記サンプルパルス列発生手段は書き替え可能なメ
モリを含んでいるとともに、前記任意所望の画像パター
ンを前記書き替え可能なメモリに記憶させるべく欠陥画
素補正装置外部から前記任意所望の画像パターンを表わ
す信号を入力可能にしていることを特徴とする欠陥画素
補正装置。 - 【請求項４】 請求項２記載の欠陥画素補正装置におい
て、前記サンプルパルス列発生手段は、前記任意所望の
画像パターンを記憶しているＲＯＭを含んでいることを
特徴とする欠陥画素補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7005626A JP2886797B2 (ja) | 1995-01-18 | 1995-01-18 | 欠陥画素補正方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7005626A JP2886797B2 (ja) | 1995-01-18 | 1995-01-18 | 欠陥画素補正方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08195910A JPH08195910A (ja) | 1996-07-30 |
| JP2886797B2 true JP2886797B2 (ja) | 1999-04-26 |
Family
ID=11616375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7005626A Expired - Lifetime JP2886797B2 (ja) | 1995-01-18 | 1995-01-18 | 欠陥画素補正方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2886797B2 (ja) |
-
1995
- 1995-01-18 JP JP7005626A patent/JP2886797B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08195910A (ja) | 1996-07-30 |
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