JP2880585B2 - 半導体集積回路の試験装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、テレビ受像機のカラ
ーキラー機能やＶＴＲ再生機のドロップアウト検出機能
等を有する半導体集積回路の試験装置に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来からテレビ受像機のカラーキラー機
能やＶＴＲ再生機のドロップアウト検出機能は集積回路
化され基本的には図４に示すようなブロックで試験され
る。カラーキラーやドロップアウト検出機能の動作は、
入力信号が通常の大きさであればＯＦＦしているが、あ
る一定レベルより小さくなった時はじめてＯＮし、一旦
ＯＮになるとヒステリシスを持っているのでその分だけ
入力信号を大きくしてやらないとＯＦＦに戻らない。試
験ではＯＮする入力信号振幅とヒステリシスを測定す
る。

【０００３】図４は従来の半導体集積回路の試験装置の
ブロック図である。可変振幅信号源１は被試験半導体集
積回路２に入力信号を供給し、振幅のステップ調整（例
えば０．５ｄＢステップ）が可能である。被試験半導体
集積回路２の内部には３つのブロックが有り、入力信号
は検波部２１により検波され、外付けコンデンサ４と平
滑部２２により平滑される。平滑されたＤＣ電圧は、ヒ
ステリシスコンパレータ２３によって基準電圧Ｖｒｅｆ
と比較され、出力はオシロスコープ３によって観測され
る。

【０００４】次に動作について被試験半導体集積回路２
がテレビ受像機のカラーキラー回路の場合について説明
する。カラーキラー回路の場合、入力信号の周波数は
３．５８ＭＨｚであり、入力信号振幅を大きいものから
徐々に小さくしてゆき出力が変化した点（図４では出力
がＬｏｗ電圧からＨｉｇｈ電圧になる点）の入力信号振
幅を求めるものである。この回路動作をカラーキラーＯ
Ｎ動作と呼ぶ。また前述のようにヒステリシスコンパレ
ータ２３によってヒステリシスを持たせているため一旦
出力がＨｉｇｈ電圧になると、入力信号振幅をヒステリ
シス分大きくしなければ簡単にＬｏｗ電圧に戻らない
（ＯＦＦに戻らない）。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】このような試験で注意
しなければならないことは、可変振幅信号源１内部の振
幅を変化させる部分に振幅の切換え時がスムーズでない
リレー式アッテネータを使用したものは適当ではない。
振幅の切換え時がスムーズな電子式アッテネータを使用
したもので、どのような場合でも波形の連続性が保たれ
る可変振幅信号源が必要である。

【０００６】理由は、カラーキラー回路は３．５８ＭＨ
ｚを対象としているため、平滑部２２の時定数が小さく
入力信号振幅を１ステップ変える時に信号が欠落した
り、ノイズが発生したり、切換えのタイミングが悪く大
振幅になることが一瞬でもあれば、この信号の変動によ
って出力が誤動作してしまうからである。一度誤動作す
るとヒステリシスを持っている為ＯＦＦに戻らず、あた
かもその時設定した入力信号振幅値でカラーキラーＯＮ
動作が起っている様に見える。

【０００７】図５に誤動作時の各部の電圧波形を示す。
図５において、横軸は時間軸であり、（１）入力波形、
（２）ａ点の電圧波形、（３）出力波形はそれぞれタイ
ミングを合せてある。この例は、入力信号振幅を１ステ
ップ変える瞬間に信号が欠落した場合である。（１）に
示すように入力波形に欠落が起ると、その瞬間（２）の
ａ点の電圧にノイズが入った様になり基準電圧Ｖｒｅｆ
を一瞬下回ってヒステリシスコンパレータ２３が動作
し、出力がＬｏｗ電圧からＨｉｇｈ電圧に変化してしま
う。本来欠落が無ければ（３）の出力波形は点線の様に
なる。

【０００８】この欠落の影響を出来るだけ少なくする為
にはコンデンサ４の容量を大きくすればよいが、欠落の
幅はリレー式アッテネータを使った最悪の場合５ｍｓも
あるため、欠落の影響が無視できるほどの容量を付けた
場合は応答が遅くなりすぎて試験装置を自動化する際問
題となる。また、振幅の切換え時がスムーズな電子式ア
ッテネータを使用したものが理想ではあるが、高周波系
の可変振幅信号源にはリレー式アッテネータを使用した
ものが圧倒的に多い。

【０００９】この発明は上記課題を解決するもので、リ
レー式アッテネータを使用した可変振幅信号源を用いて
も誤動作の起らないカラーキラー回路やドロップアウト
回路を構成する半導体集積回路の試験装置を提供するこ
とを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
にこの発明の半導体集積回路の試験装置は、半導体集積
回路の検波部へ信号を送出する可変振幅信号源と、半導
体集積回路のヒステリシスコンパレータの比較結果を表
示する出力表示部と、半導体集積回路の平滑部の外付け
コンデンサの電圧を一時的に固定する電圧固定部とを備
えている。

【００１１】

【作用】この発明の構成によれば、可変振幅信号源から
の入力信号の振幅を変化させるときに、電圧固定部によ
り、平滑部の外付けコンデンサの電圧を一時的に固定す
るので、リレー式アッテネータを使用した可変振幅信号
源を用いても入力信号の切換え時の欠落やノイズに影響
されることなく、ヒステリシスを有したカラーキラー回
路やドロップアウト回路を構成する半導体集積回路の試
験を正確に行うことができる。

【００１２】

【実施例】

〔第１の実施例〕この発明の第１の実施例について図面
を参照しながら説明する。図１はこの発明の第１の実施
例における半導体集積回路の試験装置のブロック図を示
すものである。図１において、可変振幅信号源１は被試
験半導体集積回路２に入力信号を供給し、振幅のステッ
プ調整（例えば０．５ｄＢステップ）が可能である。被
試験半導体集積回路２の内部には従来例と同じように３
つのブロックが有り、入力信号は検波部２１により検波
され、外付けコンデンサ４と平滑部２２により平滑され
る。平滑されたＤＣ電圧は、ヒステリシスコンパレータ
２３によって基準電圧Ｖｒｅｆと比較され、出力はオシ
ロスコープ３（出力表示部）によって観測される。

【００１３】被試験半導体集積回路２の平滑部２２と外
付けコンデンサ４を接続しているａ点（被試験半導体集
積回路２の端子）には更に電圧固定部５が接続されてい
る。電圧固定部５には、ａ点の電圧を測定する電圧計５
３がある。また、リレー５１と可変電圧源５２が直列に
接続され、リレー５１が閉じることによって可変電圧源
５２の電圧が直接ａ点に印加される。リレー５１が開い
ていれば入力信号に応じた検波出力ＤＣ電圧がａ点に発
生し、被試験半導体集積回路２の通常動作となる。

【００１４】次に動作について従来例と同じく被試験半
導体集積回路２がテレビ受像機のカラーキラー回路の場
合について説明する。カラーキラー回路の場合、入力信
号の周波数は３．５８ＭＨｚであり、入力信号振幅を大
きいものから徐々に小さくしてゆき出力が変化した点
（図１では出力がＬｏｗ電圧からＨｉｇｈ電圧になる
点）の入力信号振幅を求めるものである。この回路動作
をカラーキラーＯＮ動作と呼ぶ。またヒステリシスコン
パレータ２３によってヒステリシスを持たせているため
一旦出力がＨｉｇｈ電圧になると、入力信号振幅をヒス
テリシス分大きくしなければ簡単にＬｏｗ電圧に戻らな
い。このヒステリシスを求めることも重要な試験の一つ
である。

【００１５】図２に図１の試験装置においてカラーキラ
ーＯＮ動作を行う場合のフローチャートを示す。先ず可
変振幅信号源１から出力がＬｏｗ電圧になる被試験半導
体集積回路２にとって充分大きな入力信号を出力する
（ステップＳ１）。次に入力信号を徐々に小さくしてい
くのであるが、可変振幅信号源１により入力信号振幅を
１ステップ下げる前に電圧計５３によってａ点の電圧を
測定する（ステップＳ２）。可変電圧源５２を測定した
ａ点の電圧と同じ値に設定し（ステップＳ３）、リレー
５１を閉じてａ点の電圧を固定する（ステップＳ４）。
その間に可変振幅信号源１により入力信号振幅を１ステ
ップ（例えば０．５ｄＢ）さげる（ステップＳ５）。

【００１６】従来例の場合カラーキラー回路は平滑部の
時定数が小さく入力信号振幅を１ステップ変える瞬間に
可変振幅信号源１の特性により信号が欠落したり、ノイ
ズが発生したり、切換えのタイミングが悪く大振幅にな
ることがあり、この信号の変動によって出力が誤動作し
てしまう現象があったが、この実施例では、既にａ点の
電圧は固定されているので被試験半導体集積回路２の出
力が変化することはない。

【００１７】そして入力信号が安定した後にリレー５１
を開いて通常動作に戻し（ステップＳ６）、出力が変化
するかオシロスコープ３で確認する（ステップＳ７）。
出力に変化が無い場合、ステップＳ２へ戻り（ステップ
Ｓ８）、続いてａ点の電圧を電圧計５３によって測定
し、可変電圧源５２を測定した値に設定し、リレー５１
を閉じてａ点の電圧を固定する。そして可変振幅信号源
１により入力信号振幅を再度１ステップ下げる。入力信
号が安定した後リレー５１を開いて出力が変化するか確
認する。出力に変化が無い場合、続いてａ点の電圧を電
圧計５３によって測定し・・・・と、この順序で繰返
す。

【００１８】最終的に出力に変化があれば（Ｌｏｗ電圧
からＨｉｇｈ電圧になれば）その時点での可変振幅信号
源１の設定振幅値がカラーキラーＯＮ動作の入力信号振
幅となる（ステップＳ９）。次にヒステリシスを求める
場合、カラーキラーＯＮ動作の入力信号振幅を徐々に大
きくしてゆき出力がＨｉｇｈ電圧からＬｏｗ電圧になる
点の入力信号振幅変化量がヒステリシスであるので、カ
ラーキラーＯＮ動作の入力信号振幅を求めた時の逆の要
領で可変振幅信号源１により入力信号の振幅を１ステッ
プずつ上げてその都度出力を確認し変化するまでこれを
繰返す。その際、当然のことであるが可変振幅信号源１
を１ステップ変化させる間ａ点の電圧を固定させること
を忘れてはならない。

【００１９】また、電圧固定部５はサンプル＆ホールド
回路を利用しても実現可能であることは言うまでもな
い。 〔第２の実施例〕この発明の第２の実施例について図面
を参照しながら説明する。図３はこの発明の第２の実施
例における半導体集積回路の試験装置のブロック図を示
すものである。第１の実施例では、図１に示す電圧固定
部５により、ａ点の電圧を１度測定して入力信号振幅を
変化させる間、ａ点を以前の電圧と同じ値に固定させる
ようにしたが、この第２の実施例では、電圧固定部５′
により、出力の変化が起り得ない一定の電圧値にａ点を
固定するようにしたものであり、ａ点の電圧を測るＤＣ
電圧計５３（図１）の手順を除けば第１の実施例の順序
と同じ様に使用できる。

【００２０】つまり、カラーキラーＯＮ動作を求める場
合は可変電圧源５４を基準電圧Ｖｒｅｆに対して充分高
い電圧に設定しておき、ヒステリシスを求める場合はそ
の逆に可変電圧源５４を基準電圧Ｖｒｅｆに対して充分
低い電圧に設定すれば良い。可変電圧源５４はこの２値
の出力ができるもので充分である。以上のように上記実
施例の半導体集積回路の試験装置によれば、入力信号振
幅を変化させる間、平滑部のコンデンサ４の電圧を固定
するので、全くのリレー式アッテネータを使用した可変
振幅信号源を用いても、切換え時の間欠やノイズに影響
されることなくヒステリシスを有したカラーキラー回路
やドロップアウト回路を構成する半導体集積回路の試験
を正確に行なうことができる。

【００２１】

【発明の効果】この発明の半導体集積回路の試験装置
は、入力信号振幅を切換える間、平滑部の外付けコンデ
ンサの電圧を一時的に固定するので、電子式アッテネー
タを使用した可変振幅信号源を用いずに高周波系の可変
振幅信号源で一般的なリレー式アッテネータを使用した
信号源を用いた場合でも、切換え時の欠落やノイズによ
る出力の誤動作を防ぐことができ、ヒステリシスを有し
たカラーキラー回路やドロップアウト回路を構成する半
導体集積回路の試験が容易に且つ正確に行なうことがで
きる。

【００２２】しかも平滑部の時定数は大きくする必要も
ないので応答は速く、試験装置を自動化すれば極めて高
い生産性を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１の実施例の半導体集積回路の試
験装置のブロック図である。

【図２】図１におけるカラーキラーＯＮ動作試験のフロ
ーチャートである。

【図３】この発明の第２の実施例の半導体集積回路の試
験装置のブロック図である。

【図４】従来の半導体集積回路の試験装置のブロック図
である。

【図５】図４における誤動作時の各部波形図である。

【符号の説明】

１ 可変振幅信号源 ２ 被試験半導体集積回路 ３ オシロスコープ ４ 外付けコンデンサ ５ 電圧固定部 ５′ 電圧固定部 ２１ 検波部 ２２ 平滑部 ２３ ヒステリシスコンパレータ ５１ リレー ５２ 可変電圧源 ５３ 電圧計 ５４ 可変電圧源

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入力信号を検波する検波部と、前記検波
   部の出力電圧を平滑する平滑部と、前記平滑部の出力電
   圧を入力とするヒステリシスコンパレータとを内蔵し、
   外部に前記平滑部の平滑用のコンデンサを外付けした半
   導体集積回路を試験する装置であって、 前記半導体集積回路の検波部へ信号を送出する可変振幅
   信号源と、前記ヒステリシスコンパレータの比較結果を
   表示する出力表示部と、前記コンデンサの電圧を一時的
   に固定する電圧固定部とを備えた半導体集積回路の試験
   装置。