CN214046000U - 测试电路及测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例提供一种测试电路及测试设备，包括：第一偏置电路(10)、第二偏置电路(20)和隔离电路(30)；其中，第一偏置电路(10)的输入端和第二偏置电路(20)的输入端与音频分析仪的第一端连接，第一偏置电路(10)的输出端分别与隔离电路(30)的第一端和待测试设备的第一端连接，第二偏置电路(20)的输出端分别与隔离电路(30)的第二端和待测试设备的第二端连接。用于实现对待测试设备的功能测试，提高测试电路的通用性。

Description

测试电路及测试设备

技术领域

本实用新型涉及音频设备的测试技术领域，尤其涉及一种测试电路及测试设备。

背景技术

电子设备可以具有音频播放部件的功能。在电子设备出厂之前，通常要对音频播放部件的功能进行测试。

在相关技术中，测试电路包括：音频分析仪和电子设备。其中，音频分析仪与电子设备连接，音频分析仪向音频播放部件发送第一音频信号，音频播放部件根据第一音频信号向音频分析仪发送第二音频信号，音频分析仪根据第一音频信号和第二音频信号，确定音频播放部件的功能优劣。

在实际应用中，当音频播放部件的内阻与音频分析仪的内阻匹配时，音频播放部件可以接收第一音频信号，并根据第一音频信号向音频分析仪发送第二音频信号，当音频播放部件的内阻与音频分析仪的内阻不匹配时，音频播放部件无法接收第一音频信号，进而导致功能测试失败，降低测试电路的通用性。

发明内容

本实用新型实施例提供一种测试电路及测试设备。用于实现对待测试设备的功能测试，提高测试电路的通用性。

第一方面，本申请实施例提供一种测试电路，包括：第一偏置电路10、第二偏置电路20和隔离电路30；其中，

第一偏置电路10的输入端和第二偏置电路20的输入端与音频分析仪的第一端连接，第一偏置电路10的输出端分别与隔离电路30的第一端和待测试设备的第一端连接，第二偏置电路20的输出端分别与隔离电路30的第二端和待测试设备的第二端连接；

第一偏置电路10用于根据音频分析仪发送的第一差分信号向待测试设备发送第一待处理信号；第二偏置电路20用于根据音频分析仪发送的第二差分信号向待测试设备发送第二待处理信号；隔离电路30用于隔离第一待处理信号和第二待处理信号；其中，第一待处理信号和第二待处理信号用于使电子设备确定待测试设备的内阻与测试电路的内阻匹配，电子设备中包括待测试设备。

在一种可能的设计中，第一偏置电路10包括：电阻R1；其中，

电阻R1的一端与音频分析仪的第一端连接，电阻R1的另一端分别与隔离电路30的第一端和待测试设备的第一端连接。

在一种可能的设计中，第一偏置电路10包括：电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、反相器N1、三极管Q1和电源V1；其中，

三极管Q1的第一端通过电阻R1与音频分析仪的第一端连接；

三极管Q1的第二端通过电阻R2与电源V1连接；

三极管Q1的第三端分别与电阻R3的一端、电阻R4的一端和反相器N1的输出端连接；

电阻R3的另一端接地，电阻R4的另一端分别与隔离电路30的第一端和待测试设备的第一端连接，反相器N1的输入端还与电源V1连接。

在一种可能的设计中，第二偏置电路20包括：电阻R5；其中，

电阻R5的一端与音频分析仪的第二端连接，电阻R5的另一端与隔离电路30的第二端和待测试设备的第二端连接。

在一种可能的设计中，第二偏置电路20包括：电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、反相器N2、三极管Q2和电源V2；其中，

三极管Q2的第一端通过电阻R5与音频分析仪的第一端连接；

三极管Q2的第二端通过电阻R6与电源V2连接；

三极管Q2的第三端分别与电阻R7的一端、电阻R7的一端和反相器N2的输出端连接；

电阻R7的另一端接地，电阻R8的另一端分别与隔离电路30的第一端和待测试设备的第一端连接，反相器N2的输入端还与电源V2连接。

在一种可能的设计中，隔离电路30包括：电容C1；其中，

电容C1的一端与第一偏置电路10的输出端连接，电容C1的另一端与第二偏置电路20的输出端连接。

在一种可能的设计中，隔离电路30还包括：二极管D1；其中，

二极管D1的阳极与第一偏置电路10的输出端连接，二极管D1的阴极与第二偏置电路20的输出端连接。

在一种可能的设计中，电容C1为钽电容。

在一种可能的设计中，二极管D1为发光二极管。

第二方面，本申请实施例提供一种测试设备，包括上述第一方面中任一项的测试电路。

本申请提供一种测试电路及测试设备，其中，测试电路包括：第一偏置电路10、第二偏置电路20和隔离电路30；其中，所述第一偏置电路10的输入端和所述第二偏置电路20的输入端与音频分析仪的第一端连接，所述第一偏置电路10的输出端分别与所述隔离电路30的第一端和待测试设备的第一端连接；所述第二偏置电路20的输出端分别与所述隔离电路30的第二端和所述待测试设备的第二端连接；所述第一偏置电路10用于根据所述音频分析仪发送的第一差分信号向所述待测试设备发送第一待处理信号；所述第二偏置电路20用于根据所述音频分析仪发送的第二差分信号向所述待测试设备发送第二待处理信号；所述隔离电路30用于隔离所述第一待处理信号和所述第二待处理信号；其中，所述第一待处理信号和所述第二待处理信号用于使电子设备确定所述待测试设备的内阻与所述测试电路的内阻匹配，所述电子设备中包括所述待测试设备。在上述测试电路中，第一偏置电路10根据音频分析仪发送的第一差分信号向待测试设备发送第一待处理信号；第二偏置电路20根据音频分析仪发送的第二差分信号向待测试设备发送第二待处理信号，以使电子设备根据第一待处理信号和第二待处理信号确定待测试设备的内阻与测试电路的内阻匹配，从而使得待测试设备可以接收第一音频信号，实现对待测试设备的功能测试，提高测试电路的通用性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请实施例的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请发送的测试电路的现有结构示意图；

图2为本申请实施例提供的测试电路的结构示意图一；

图3为本申请实施例提供的测试电路的结构示意图二；

图4为本申请实施例提供的测试电路的结构示意图三；

图5为本申请实施例提供的测试电路的结构示意图四。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在对本申请发送的测试电路进行说明之前，首先结合图1对现有技术中的测试电路进行说明。

图1为本申请发送的测试电路的现有结构示意图。如图1所示，包括：音频分析仪和电子设备。其中，音频分析仪包括输出端(AP Gen)和接收端(AP Det)，电子设备包括音频播放部件。

其中，输出端和接收端分别与音频播放部件。输出端向音频播放部件提高第一音频信号，音频播放部件根据第一音频信号向接收端发送第二音频信号，音频分析仪根据第一音频信号和第二音频信号，确定音频播放部件的功能优劣。

在现有技术中，由于音频播放部件的结构设计不同，例如印制电路板(PrintedCircuit Board，PCB)和/或芯片类型不同，因此使得音频播放部件的输出端的内阻(为600欧姆)与部分音频播放部件的内阻(通常大于或等于1500欧姆)不匹配，导致部分音频播放部件无法接收第一音频信号，即无法实现对部分音频播放部件的功能测试，降低测试电路的通用性。

在本申请中，为了能够成功地对音频播放部件的功能进行测试，提高测试电路的通用性，本申请提供一种测试电路，使得音频播放部件的内阻能够与测试电路的内阻匹配，保障音频播放部件可以接收第一音频信号，实现成功地对音频播放部件的功能进行测试，提高测试电路的通用性。

下面以具体地实施例对本申请的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。

图2为本申请实施例提供的测试电路的结构示意图一。如图2所示，测试电路包括：第一偏置电路10、第二偏置电路20和隔离电路30；其中，

第一偏置电路10的输入端和第二偏置电路20的输入端与音频分析仪的第一端连接；

第一偏置电路10的输出端分别与隔离电路30的第一端和待测试设备(deviceunder test，DUT)的第一端连接；

第二偏置电路20的输出端分别与隔离电路30的第二端和待测试设备的第二端连接；

第一偏置电路10用于根据音频分析仪发送的第一差分信号向待测试设备发送第一待处理信号；

第二偏置电路20用于根据音频分析仪发送的第二差分信号向待测试设备发送第二待处理信号；

隔离电路30用于隔离第一待处理信号和第二待处理信号，避免第一待处理信号和第二待处理信号对彼此造成干扰；

其中，第一待处理信号和第二待处理信号用于使电子设备确定待测试设备的内阻与测试电路的内阻匹配，电子设备中包括待测试设备。

具体的，音频分析仪的第一端用于输出第一音频信号，该第一音频信号为差分信号。

音频分析仪的第一端通过差分信号线分别向第一偏置电路10提供第一差分信号、向第二偏置电路20提供第二差分信号。

其中，第一差分信号和第二差分信号的振幅相同、相位相反。其中，第一待处理信号和第二待处理信号的振幅不相同、相位相反。

进一步地，电子设备接收到第一待处理信号和第二待处理信号之后，可以根据第一待处理信号和第二待处理信号，确定测试电路的内阻与待测试设备的内阻匹配。具体的，电子设备若确定第一待处理信号和第二待处理信号的振幅差值(电压差值)大于或等于预设阈值，则确定测试电路的内阻与待测试设备的内阻匹配。

在测试电路的内阻与待测试设备的内阻匹配时，待测试设备可以接收第一待处理信号和第二待处理信号，并使第一待处理信号和第二待处理信号在待测试设备中通过，进而向音频分析仪发送第二音频信号(包括第一输出信号和第二输出信号，第一待处理信号通过待测试设备之后变化为第一输出信号，第二待处理信号通过待测试设备之后变化为第二输出信号)。具体的，音频分析仪对第二音频信号进行处理，实现对待测试设备的功能测试的方法可以参见现有技术，此处不再赘述。

在图2实施例提供的测试电路中，第一偏置电路10根据音频分析仪发送的第一差分信号向待测试设备发送第一待处理信号；第二偏置电路20根据音频分析仪发送的第二差分信号向待测试设备发送第二待处理信号，以使电子设备根据第一待处理信号和第二待处理信号确定待测试设备的内阻与测试电路的内阻匹配，从而使得待测试设备可以接收第一音频信号，实现对待测试设备的功能测试，提高测试电路的通用性。

在上述实施例的基础上，下面结合图3对本申请提供的测试电路做进一步地详细说明，具体的，请参见图3实施例。

图3为本申请实施例提供的测试电路的结构示意图二。在图2的基础上，如图3所示，第一偏置电路10包括：电阻R1；其中，电阻R1的一端与音频分析仪的第一端连接，电阻R1的另一端分别与隔离电路30的第一端和待测试设备的第一端连接。

第二偏置电路20包括：电阻R5；其中，电阻R5的一端与音频分析仪的第二端连接，电阻R5的另一端分别与隔离电路30的第二端和待测试设备的第二端连接。

隔离电路30包括：电容C1；其中，电容C1的一端与第一偏置电路10的输出端连接；电容C1的另一端与第二偏置电路20的输出端连接。

其中，电阻R1与电阻R5的阻值不同。可选地，电容C1可以为钽电容，还可以为瓷片电容、云母电容等。

具体的，第一差分信号通过电阻R1之后得到第一待处理信号；第二差分信号通过电阻R5之后得到第二待处理信号。

可选地，可以通过如下可行的方法，确定电阻R1的阻值和电阻R5的阻值：在电阻R1和电阻R5为滑动变阻器、以及待测试设备为第一设备的条件下，设置电阻R1的初始值为第一初始值、电阻R5的初始值为第二初始值；按照第一预设调整步长，调节电阻R1，改变第一初始值；按照第二预设调整步长，调节电阻R5，改变第二初始值；当音频分析仪可以接收到第一输出信号和第二输出信号时，读取电阻R1的阻值-第一目标值，读取电阻R5的阻值-第二目标值；将第一目标值确定为电阻R1的阻值，将第二目标值确定为电阻R5的阻值。

可选地，第一预设调整步长和第二预设调整步长可以相同、也可以不相同。例如，当第一预设调整步长和第二预设调整步长不相同时，第一预设调整步长可以为5欧姆，第二预设调整步长可以为10欧姆。需要说明的是，本申请中不对第一预设调整步长和第二预设调整步长的具体取值进行限定。

需要说明的是，第一设备为可以通过图1的测试电路实现测试的设备，例如第一设备可以为音频播放部件。当第一设备为音频播放部件时，该音频播放部件的内阻与音频分析仪的输出端(即第一端)的内阻匹配。

可选地，可以通过如下可行的方法确定电容C1的容值：在图1所示的电子设备中的音频播放部件为第一设备时，根据图1所示的连接关系，音频测试仪向第一设备发送第一音频信号，第一设备根据第一音频信号向音频测试仪发送参考音频信号；在图2所示的待测试设备为第一设备时，在将第一目标值确定为电阻R1的阻值，将第二目标值确定为电阻R5的阻值之后，将电容C1的初始值设置为第一容值，根据图2所示的连接关系，音频测试仪向电阻R1发送第一差分信号，电阻R1根据第一差分信号向第一设备发送第一信号，音频测试仪向电阻R1发送第二差分信号，电阻R1根据第二差分信号向第一设备发送第二信号，第一设备根据第一信号和第二信号向音频测试仪发送测试音频信号；在第一容值的基础上，根据第三调整步长，对电容C1的容值进行调节，当参考音频信号和测试音频信号的相似度大于或等于预设阈值时，读取电容C1的容值，得到第二容值，将第二容值确定为电容C1的容值。

可选地，第三调整步长可以为3法拉、5法拉等。具体的，本申请不对第三调整步长的具体取值进行限定。

在图3所示的测试电路中，电子设备接收到第一待处理信号和第二待处理信号之后，可以确定测试电路的内阻(高阻态，大于1500欧姆)与待测试设备的内阻(大于或等于1500欧姆)匹配。

在图3所示的测试电路中，通过电阻R1、电阻R5和电容C1，可以使得测试电路的内阻与待测试设备的内阻匹配，进而使得待测试设备可以接收第一音频信号，实现对待测试设备的功能测试，避免现有技术音频播放部件的结构设计不同导致测试电路的通用性较低的问题，提高了测试电路的通用性。

在上述实施例的基础上，下面结合图4对本申请提供的测试电路作进一步地说明，具体的，请参见图4。

图4为本申请实施例提供的测试电路的结构示意图三。在图3的基础上，如图4所示，测试电路还可以包括：二极管D1；其中，

二极管D1的阳极与第一偏置电路10的输出端连接，二极管D1的阴极与第二偏置电路20的输出端连接。

需要说明的是，当二极管D1的阳极与第一偏置电路10的输出端连接，二极管D1的阴极与第二偏置电路20的输出端连接时，第一偏置电路10的输出端的电压值小于第二偏置电路20的输出端的电压值，即电阻R1的阻值可以大于电阻R5的阻值。

在一种可能的设计中，二极管D1可以为发光二极管。

具体的，当二极管D1为发光二极管时，若二极管D1发光，则可以确定测试电路出现故障。

在上述实施例的基础上，下面结合图5对本申请提供的测试电路作进一步地详细说明，具体的，请参见图5。

图5为本申请实施例提供的测试电路的结构示意图四。在图2的基础上，如图5所示，第一偏置电路10包括：电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、反相器N1、三极管Q1和电源V1；其中，

三极管Q1的第一端通过电阻R1与音频分析仪的第一端连接；

三极管Q1的第二端通过电阻R2与电源V1连接；

三极管Q1的第三端分别与电阻R3的一端、电阻R4的一端和反相器N1的输出端连接；

电阻R3的另一端接地，电阻R4的另一端分别与隔离电路30的第一端和待测试设备的第一端连接，反相器N1的输入端还与电源V1连接。

在一种可能的设计中，第二偏置电路20包括：电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、反相器N2、三极管Q2和电源V2；其中，

三极管Q2的第一端通过电阻R5与音频分析仪的第一端连接；

三极管Q2的第二端通过电阻R6与电源V2连接；

三极管Q2的第三端分别与电阻R7的一端、电阻R7的一端和反相器N2的输出端连接；

电阻R7的另一端接地，电阻R8的另一端分别与隔离电路30的第一端和待测试设备的第一端连接，反相器N2的输入端还与电源V2连接。

在图5中，电源V1和电源V2相同，可以用于提供5伏的直流电压。

可选地，可以将电源V2和反相器N2省去，使得电源V1还通过电阻R6与三极管Q2的第二端连接，使反相器N1的输出端还与三极管Q2的第三端连接。

具体的，在图5中，第一偏置电路10和第二偏置电路20的工作过程相同，此处以第一偏置电路10为例，对第一偏置电路10的工作过程进行说明：电阻R1接收第一差分信号，第一差分信号通过电阻R1后变为第一处理信号，由于第一差分信号为音频信号，因此第一处理信号为具有过零点的正弦波，为了避免第一处理信号无法通过三极管Q1，因此在三极管Q1的第二端增加电源V1，使得第一处理信号的最低点被提高，当最低点提高后的第一处理信号通过三极管Q1之后，通过增加反相电压(通过反相器N1实现)，将最近点还原至原来的位置，得到第一处理信号，第一处理信号通过电阻R4之后，得到第一待处理信号。

本申请实施例还提供一种测试设备，包括上述图2至图5实施例中的任一实施例中所示的测试电路。

具体的，可以将图2至图5实施例中的任一实施例中所示的测试电路制作成一个测试设备，在测试设备分别连接音频测试仪和电子设备之后，可以对电子设备中的待测试设备进行功能测试，无需考虑待测试设备的PCB设计和芯片类型，提高了测试电路的通用性。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种测试电路，其特征在于，包括：第一偏置电路(10)、第二偏置电路(20)和隔离电路(30)；其中，

所述第一偏置电路(10)的输入端和所述第二偏置电路(20)的输入端与音频分析仪的第一端连接，所述第一偏置电路(10)的输出端分别与所述隔离电路(30)的第一端和待测试设备的第一端连接，所述第二偏置电路(20)的输出端分别与所述隔离电路(30)的第二端和所述待测试设备的第二端连接；

所述第一偏置电路(10)用于根据所述音频分析仪发送的第一差分信号向所述待测试设备发送第一待处理信号；所述第二偏置电路(20)用于根据所述音频分析仪发送的第二差分信号向所述待测试设备发送第二待处理信号；所述隔离电路(30)用于隔离所述第一待处理信号和所述第二待处理信号；其中，所述第一待处理信号和所述第二待处理信号用于使电子设备确定所述待测试设备的内阻与所述测试电路的内阻匹配，所述电子设备中包括所述待测试设备。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一偏置电路(10)包括：电阻R1；其中，

所述电阻R1的一端与音频分析仪的第一端连接，所述电阻R1的另一端分别与所述隔离电路(30)的第一端和所述待测试设备的第一端连接。

3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一偏置电路(10)包括：电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、反相器N1、三极管Q1和电源V1；其中，

所述三极管Q1的第一端通过所述电阻R1与所述音频分析仪的第一端连接；

所述三极管Q1的第二端通过所述电阻R2与所述电源V1连接；

所述三极管Q1的第三端分别与所述电阻R3的一端、所述电阻R4的一端和所述反相器N1的输出端连接；

所述电阻R3的另一端接地，所述电阻R4的另一端分别与所述隔离电路(30)的第一端和所述待测试设备的第一端连接，所述反相器N1的输入端还与所述电源V1连接。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的测试电路，其特征在于，所述第二偏置电路(20)包括：电阻R5；其中，

所述电阻R5的一端与所述音频分析仪的第二端连接，所述电阻R5的另一端与所述隔离电路(30)的第二端和所述待测试设备的第二端连接。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的测试电路，其特征在于，所述第二偏置电路(20)包括：电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、反相器N2、三极管Q2和电源V2；其中，

所述三极管Q2的第一端通过所述电阻R5与所述音频分析仪的第一端连接；

所述三极管Q2的第二端通过所述电阻R6与所述电源V2连接；

所述三极管Q2的第三端分别与所述电阻R7的一端、所述电阻R7的一端和所述反相器N2的输出端连接；

所述电阻R7的另一端接地，所述电阻R8的另一端分别与所述隔离电路(30)的第一端和所述待测试设备的第一端连接，所述反相器N2的输入端还与所述电源V2连接。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的测试电路，其特征在于，所述隔离电路(30)包括：电容C1；其中，

所述电容C1的一端与所述第一偏置电路(10)的输出端连接，所述电容C1的另一端与所述第二偏置电路(20)的输出端连接。

7.根据权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述隔离电路(30)还包括：二极管D1；其中，

所述二极管D1的阳极与所述第一偏置电路(10)的输出端连接，所述二极管D1的阴极与所述第二偏置电路(20)的输出端连接。

8.根据权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述电容C1为钽电容。

9.根据权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述二极管D1为发光二极管。

10.一种测试设备，其特征在于，包括如权利要求1至9中任一项所述的测试电路。

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