JP2850481B2 - 残留塩素計 - Google Patents
残留塩素計Info
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- JP2850481B2 JP2850481B2 JP2109002A JP10900290A JP2850481B2 JP 2850481 B2 JP2850481 B2 JP 2850481B2 JP 2109002 A JP2109002 A JP 2109002A JP 10900290 A JP10900290 A JP 10900290A JP 2850481 B2 JP2850481 B2 JP 2850481B2
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- Japan
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- residual chlorine
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- residual
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Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は、例えば３か月程度の長期間ノーメンテナン
スが要求される配水モニターに使用される残留塩素計に
係るものであり、詳しくはスパンドリフトを時間的に補
償するような改善を図った残留塩素計に関するものであ
る。
スが要求される配水モニターに使用される残留塩素計に
係るものであり、詳しくはスパンドリフトを時間的に補
償するような改善を図った残留塩素計に関するものであ
る。
＜従来の技術＞ 第３図は残留塩素計の概要の説明に供する図である。
第３図において、残留塩素計は、試料水１が流入流出
する容器２内に、銀電極３と回転電極４からなる残塩検
出センサー５が設けられ、この時に前記回転電極４にあ
ってはガラス，セラミックビーズ等の研磨材６内に挿入
され、この様な状態で回転電極表面が研磨されながら、
残塩検出センサー５の測定値に基づいて演算回路７にお
いて試料水２の残留塩素を演算・測定する構造となって
いる。
する容器２内に、銀電極３と回転電極４からなる残塩検
出センサー５が設けられ、この時に前記回転電極４にあ
ってはガラス，セラミックビーズ等の研磨材６内に挿入
され、この様な状態で回転電極表面が研磨されながら、
残塩検出センサー５の測定値に基づいて演算回路７にお
いて試料水２の残留塩素を演算・測定する構造となって
いる。
＜発明が解決しようとする課題＞ このような技術にあって、以下のような問題点があっ
た。
た。
スパン校正は、一般的にドリフトに応じて短い周期で
行なっており、又、回転電極は第３図に示すように研磨
状態で測定が行なわれているが例えば３か月程度の長期
間ノーメンテナンスという訳にはいかない。尚、自動的
にスパン調整をすることができる構成は考えられるが、
長期間安定にスパン点を供給できるスパン液については
現在得られていない。
行なっており、又、回転電極は第３図に示すように研磨
状態で測定が行なわれているが例えば３か月程度の長期
間ノーメンテナンスという訳にはいかない。尚、自動的
にスパン調整をすることができる構成は考えられるが、
長期間安定にスパン点を供給できるスパン液については
現在得られていない。
本発明は、従来の技術の有するこのような問題点に鑑
みてなされたものであり、その目的とするところは、予
め実験的に求められたスパンドリフトのデータに基づ
き、CPUを用いてプログラムにより経過時間に対しドリ
フト補償分を演算して、スパンドリフトを補償すること
により長期間安定で信頼性の高い残留塩素計を提供する
ものである。
みてなされたものであり、その目的とするところは、予
め実験的に求められたスパンドリフトのデータに基づ
き、CPUを用いてプログラムにより経過時間に対しドリ
フト補償分を演算して、スパンドリフトを補償すること
により長期間安定で信頼性の高い残留塩素計を提供する
ものである。
＜課題を解決するための手段＞ 上記目的を達成するために、本発明は、試料水内に残
塩検出センサーが設けられ、該残塩検出センサーの測定
値に基づいて前記試料水の残留塩素を測定する残留塩素
計において、 予め実験的に求められたスパンドリフトのデータに基
づいて演算で使用するスパン係数やパラメータを設定す
る条件設定手段と、 該条件設定手段により設定される値を取入れ、前記残
塩検出センサーで検出される試料水に含まれる残留塩素
に係わる検出信号を取込んで、該検出信号について、前
記スパン係数やパラメータ及び予めプログラムされた演
算式を用いて、時間経過に対して自動的に刻々と変化さ
せたりその変化割合を変えたりしてドリフト補償分を演
算し、スパンドリフトを補償する演算をし、その時の残
留塩素濃度を演算する残留塩素濃度演算手段と、 を具備したことを特徴とするものである。
塩検出センサーが設けられ、該残塩検出センサーの測定
値に基づいて前記試料水の残留塩素を測定する残留塩素
計において、 予め実験的に求められたスパンドリフトのデータに基
づいて演算で使用するスパン係数やパラメータを設定す
る条件設定手段と、 該条件設定手段により設定される値を取入れ、前記残
塩検出センサーで検出される試料水に含まれる残留塩素
に係わる検出信号を取込んで、該検出信号について、前
記スパン係数やパラメータ及び予めプログラムされた演
算式を用いて、時間経過に対して自動的に刻々と変化さ
せたりその変化割合を変えたりしてドリフト補償分を演
算し、スパンドリフトを補償する演算をし、その時の残
留塩素濃度を演算する残留塩素濃度演算手段と、 を具備したことを特徴とするものである。
＜実施例＞ 実施例について図面を参照して説明する。
尚、以下の図面において、第３図と重複する部分は同
一番号を付してその説明は省略する。
一番号を付してその説明は省略する。
第１図は本発明の残留塩素計の具体的実施例の説明に
供する図である。
供する図である。
第２図は第１図の説明に供する図であり、横軸に経過
時間（ｔ）を取り、縦軸に残塩濃度のスパン（Ｆ）をと
った時の残留塩素計のスパンドリフトの特性曲線を示
す。
時間（ｔ）を取り、縦軸に残塩濃度のスパン（Ｆ）をと
った時の残留塩素計のスパンドリフトの特性曲線を示
す。
第１図乃至第２図において、８は残塩検出センサー５
で検出される試料水２に含まれる残留塩素に係わる検出
信号が導かれるプリアンプである。９はプリアンプ８で
増幅された残塩検出センサー５の検出信号をA/D（アナ
ログ／デジタル）変換するA/D変換回路である。10はA/D
変換回路８でデジタル変換された信号を取込んで、予め
決められた演算式、及び操作キー等の条件設定手段（以
下「操作キー」という）11によって設定される演算で使
用されるスパン係数やパラメータ（補償係数）等によっ
て、残留塩素濃度を演算してその演算結果を表示部12で
表示するために出力したり、例えばアナログ計器等が設
けられる場合においてはそこにアナログ出力を供給する
ためのD/A（デジダル／アナログ）変換回路13にこの演
算結果を出力したりする残留塩素濃度演算手段である。
尚、D/A変換回路13は必要に応じて設けられるものであ
り、残留塩素濃度演算手段10内に設けられるようにして
もよい事はいうまでもない。
で検出される試料水２に含まれる残留塩素に係わる検出
信号が導かれるプリアンプである。９はプリアンプ８で
増幅された残塩検出センサー５の検出信号をA/D（アナ
ログ／デジタル）変換するA/D変換回路である。10はA/D
変換回路８でデジタル変換された信号を取込んで、予め
決められた演算式、及び操作キー等の条件設定手段（以
下「操作キー」という）11によって設定される演算で使
用されるスパン係数やパラメータ（補償係数）等によっ
て、残留塩素濃度を演算してその演算結果を表示部12で
表示するために出力したり、例えばアナログ計器等が設
けられる場合においてはそこにアナログ出力を供給する
ためのD/A（デジダル／アナログ）変換回路13にこの演
算結果を出力したりする残留塩素濃度演算手段である。
尚、D/A変換回路13は必要に応じて設けられるものであ
り、残留塩素濃度演算手段10内に設けられるようにして
もよい事はいうまでもない。
ところで、前記残留塩素濃度演算手段10を前記目的を
達成するための構成とするために、具体的には、例え
ば、I/O（入出力インターフェイス）10a,ROM（リードオ
ンリメモリ）10b,RAM（ランダムアクセスメモリ）10c及
び演算結果を外部に出力したりする演算／指令等の制御
機能を有する演算制御部（CPU）10dを主構成要素とす
る。そして、ROM10bに予め決められた（プログラムされ
た）演算式等を格納する。又、RAM10cには、I/O10aを介
して入力する、操作キー11の操作・設定により演算で使
用される、予め実験的に求められたスパンドリフトのデ
ータに基づいてきめられたスパン係数やパラメータ（補
償係数）等を格納する。
達成するための構成とするために、具体的には、例え
ば、I/O（入出力インターフェイス）10a,ROM（リードオ
ンリメモリ）10b,RAM（ランダムアクセスメモリ）10c及
び演算結果を外部に出力したりする演算／指令等の制御
機能を有する演算制御部（CPU）10dを主構成要素とす
る。そして、ROM10bに予め決められた（プログラムされ
た）演算式等を格納する。又、RAM10cには、I/O10aを介
して入力する、操作キー11の操作・設定により演算で使
用される、予め実験的に求められたスパンドリフトのデ
ータに基づいてきめられたスパン係数やパラメータ（補
償係数）等を格納する。
従って、CPU10dにおいて、I/O10aからA/D変換回路９
の検出信号を入力すると、この検出信号について、RAM1
0cに格納される演算で使用されるスパン係数やパラメー
タをROM10bに格納されているプログラムにより時間経過
に対して自動的に刻々と変化させたり、その変化割合を
変えたりして、その時の残留塩素濃度（残塩濃度）を演
算する。
の検出信号を入力すると、この検出信号について、RAM1
0cに格納される演算で使用されるスパン係数やパラメー
タをROM10bに格納されているプログラムにより時間経過
に対して自動的に刻々と変化させたり、その変化割合を
変えたりして、その時の残留塩素濃度（残塩濃度）を演
算する。
ここで、前記残塩濃度のスパンＦは、第２図のよう
に、時間経過ｔと共に時間の関数ｆ（α,t）により減少
していく。即ち、式で表わすと、 Ｆ＝F0・ｆ（α・ｔ） …（１） で表わすことができる［但し、F0をスパンの初期値、α
を関数を決定する定数即ち関数を決定するパラメータ
（補償係数）とする］。
に、時間経過ｔと共に時間の関数ｆ（α,t）により減少
していく。即ち、式で表わすと、 Ｆ＝F0・ｆ（α・ｔ） …（１） で表わすことができる［但し、F0をスパンの初期値、α
を関数を決定する定数即ち関数を決定するパラメータ
（補償係数）とする］。
従って、関数ｆ（α・ｔ）の逆関数｛1/f（α・
ｔ）｝を発生させて、これをスパンＦに乗算すれば、ス
パン変化は補償することができる。スパン変化は補償値
をＦ′とすれば、これは、即ち、（１）式から、 Ｆ′＝Ｆ・｛1/f（α・ｔ）｝＝F0 …（２） として求めることができる。つまり、スパン係数，パラ
メータ及びプログラムにより、検出信号を時間経過ｔに
対して刻々と変化させたり変化割合を変えたりして、経
過時間ｔに対してドリフト補償分を演算し更にスパンド
リフトを補償する演算をすることができ、長期間安定で
信頼性の高いその時の残留塩素濃度（残塩濃度）を演算
する事ができる。
ｔ）｝を発生させて、これをスパンＦに乗算すれば、ス
パン変化は補償することができる。スパン変化は補償値
をＦ′とすれば、これは、即ち、（１）式から、 Ｆ′＝Ｆ・｛1/f（α・ｔ）｝＝F0 …（２） として求めることができる。つまり、スパン係数，パラ
メータ及びプログラムにより、検出信号を時間経過ｔに
対して刻々と変化させたり変化割合を変えたりして、経
過時間ｔに対してドリフト補償分を演算し更にスパンド
リフトを補償する演算をすることができ、長期間安定で
信頼性の高いその時の残留塩素濃度（残塩濃度）を演算
する事ができる。
尚、パラメータ（補償係数）αは任意に操作キー10に
より設定することができる。
より設定することができる。
＜発明の効果＞ 本発明は、以上説明したように構成されているので、
次に記載するような効果を奏する。
次に記載するような効果を奏する。
：スパンのドリフトを自動的にプログラムによる演算
により補償するように構成できる。
により補償するように構成できる。
：これにより、長期間に渡り安定した出力を得ること
ができる。
ができる。
：これにより、長期間ノーメンテナンスの製品が実現
できる。
できる。
：低コストでしかも簡単に実現できる。
第１図は本発明の残留塩素計の具体的実施例の説明に供
する図、第２図は第１図の説明に供する図、第３図は残
留塩素計の概要の説明に供する図である。 ２……試料水、５……残塩検出センサー、８……プリア
ンプ、９……A/D変換回路、10……残留演算濃度演算手
段、11……条件設定手段（操作キー）、12……表示部。
する図、第２図は第１図の説明に供する図、第３図は残
留塩素計の概要の説明に供する図である。 ２……試料水、５……残塩検出センサー、８……プリア
ンプ、９……A/D変換回路、10……残留演算濃度演算手
段、11……条件設定手段（操作キー）、12……表示部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松井 勉 東京都武蔵野市中町２丁目９番32号 横 河電機株式会社内 (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 27/46 316 G01N 27/26 381 G01N 27/26 371
Claims (1)
- 【請求項１】試料水内に残塩検出センサーが設けられ、
該残塩検出センサーの測定値に基づいて前記試料水の残
留塩素を測定する残留塩素計において、 予め実験的に求められたスパンドリフトのデータに基づ
いて演算で使用するスパン係数やパラメータを設定する
条件設定手段と、 該条件設定手段により設定される値を取入れ、前記残塩
検出センサーで検出される試料水に含まれる残留塩素に
係わる検出信号を取込んで、該検出信号について、前記
スパン係数やパラメータ及び予めプログラムされた演算
式を用いて、時間経過に対して自動的に刻々と変化させ
たりその変化割合を変えたりしてドリフト補償分を演算
し、スパンドリフトを補償する演算をし、その時の残留
塩素濃度を演算する残留塩素濃度演算手段と、 を具備したことを特徴とする残留塩素計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2109002A JP2850481B2 (ja) | 1990-04-25 | 1990-04-25 | 残留塩素計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2109002A JP2850481B2 (ja) | 1990-04-25 | 1990-04-25 | 残留塩素計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH046452A JPH046452A (ja) | 1992-01-10 |
| JP2850481B2 true JP2850481B2 (ja) | 1999-01-27 |
Family
ID=14499080
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2109002A Expired - Fee Related JP2850481B2 (ja) | 1990-04-25 | 1990-04-25 | 残留塩素計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2850481B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2752898B2 (ja) * | 1993-06-16 | 1998-05-18 | 株式会社小松製作所 | Ｖ曲げ加工におけるスプリングバック角度計測装置 |
| US5802788A (en) * | 1994-02-22 | 1998-09-08 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho Komatsu Plastics Industry Co., Ltd. | Fixing device for tensioning member for prestressed concrete |
| JP7288181B2 (ja) * | 2019-03-14 | 2023-06-07 | 東亜ディーケーケー株式会社 | データ処理機能付きケーブル、測定システム及び制御システム |
-
1990
- 1990-04-25 JP JP2109002A patent/JP2850481B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH046452A (ja) | 1992-01-10 |
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