JP2827237B2 - 電子機器テスト回路 - Google Patents
電子機器テスト回路Info
- Publication number
- JP2827237B2 JP2827237B2 JP63311283A JP31128388A JP2827237B2 JP 2827237 B2 JP2827237 B2 JP 2827237B2 JP 63311283 A JP63311283 A JP 63311283A JP 31128388 A JP31128388 A JP 31128388A JP 2827237 B2 JP2827237 B2 JP 2827237B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- test operation
- circuit
- input
- switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Electric Clocks (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、電子機器中に組み込まれ、自己或は周囲装
置に対してテストを行なうテスト回路の制御に関する。
置に対してテストを行なうテスト回路の制御に関する。
［従来の技術］ 従来の電子機器のテスト回路は、機器動作中におい
て、入力条件成立時随時、又はテスト機能に入ることの
できるモードを特定しその状態下においてテスト動作の
ためのスイッチ入力があった場合或は、リセットがかけ
られると同時にスイッチ入力があった場合に動作する。
て、入力条件成立時随時、又はテスト機能に入ることの
できるモードを特定しその状態下においてテスト動作の
ためのスイッチ入力があった場合或は、リセットがかけ
られると同時にスイッチ入力があった場合に動作する。
［発明が解決しようとする課題］ 本来テスト機能というものはデバイス及び製品の工場
サイド又は販売サイドによって使われるもので、一般ユ
ーザーには必要のないものであり、機能によっては、ユ
ーザーにとっては故障と間違いやすいものもある。例え
ばデジタル時計における全点灯表示などは、工場又は販
売点にとっては表示切れチェック，歩度測定に必要なも
のであるが、ユーザーにとっては表示がまっ黒になって
しまうのであるから故障であるかの様に見える。
サイド又は販売サイドによって使われるもので、一般ユ
ーザーには必要のないものであり、機能によっては、ユ
ーザーにとっては故障と間違いやすいものもある。例え
ばデジタル時計における全点灯表示などは、工場又は販
売点にとっては表示切れチェック，歩度測定に必要なも
のであるが、ユーザーにとっては表示がまっ黒になって
しまうのであるから故障であるかの様に見える。
本発明はこの様な問題を解決するためのもので電池投
入後、電子機器が動作を開始した後１回のみテスト機能
を動作させるものである。
入後、電子機器が動作を開始した後１回のみテスト機能
を動作させるものである。
［課題を解決するための手段］ 本発明の電子機器テスト回路は、自己又は周囲装置に
対して何らかのテストを行なうテスト動作手段を有する
電子機器テスト回路において、 スイッチ入力を検出しスイッチ入力状態か否かを検出
するスイッチ検出手段と、 機器全体を初期化するシステムリセット信号が生じた
ときセットされ、前記テスト動作手段がアクティブから
ノンアクティブに変じたときリセットされるテストイネ
ーブル記憶手段と、 前記スイッチ検出手段がテスト動作スイッチ入力状態
を検出しかつ、前記テストイネーブル手段がイネーブル
信号を出力していることを検出すると、前記テスト動作
手段を動作させるテスト条件検出手段とを有することを
特徴とする。
対して何らかのテストを行なうテスト動作手段を有する
電子機器テスト回路において、 スイッチ入力を検出しスイッチ入力状態か否かを検出
するスイッチ検出手段と、 機器全体を初期化するシステムリセット信号が生じた
ときセットされ、前記テスト動作手段がアクティブから
ノンアクティブに変じたときリセットされるテストイネ
ーブル記憶手段と、 前記スイッチ検出手段がテスト動作スイッチ入力状態
を検出しかつ、前記テストイネーブル手段がイネーブル
信号を出力していることを検出すると、前記テスト動作
手段を動作させるテスト条件検出手段とを有することを
特徴とする。
［実施例］ 以下、本発明の電子機器テスト回路を実施例を用いて
説明する。
説明する。
第１図は請求項１に基づく実施例の構成図である。テ
ストイネーブル記憶手段10はリセット信号によってセッ
トされ、初期状態においてＨである。今、テスト動作、
又は動作開始条件をスイッチA,Bが共にH,Hとなった場合
とすると、スイッチ検出手段12は、スイッチA,BがH,Hで
あればテスト条件検出手段11に対して検出信号を出力す
る。テスト条件検出手段11はテストイネーブル記憶手段
10がセット状態であり、テストスイッチ検出信号が出力
されている状態を検出するとテスト動作手段13を動作又
は動作開始させる。テスト動作手段13は、テスト動作中
か否かの信号をテストイネーブル記憶手段10に出力し、
テストイネーブル記憶手段は、テスト動作が動作から停
止に変じたとき、リセットされる。
ストイネーブル記憶手段10はリセット信号によってセッ
トされ、初期状態においてＨである。今、テスト動作、
又は動作開始条件をスイッチA,Bが共にH,Hとなった場合
とすると、スイッチ検出手段12は、スイッチA,BがH,Hで
あればテスト条件検出手段11に対して検出信号を出力す
る。テスト条件検出手段11はテストイネーブル記憶手段
10がセット状態であり、テストスイッチ検出信号が出力
されている状態を検出するとテスト動作手段13を動作又
は動作開始させる。テスト動作手段13は、テスト動作中
か否かの信号をテストイネーブル記憶手段10に出力し、
テストイネーブル記憶手段は、テスト動作が動作から停
止に変じたとき、リセットされる。
第３図は第１図の構成図に基づく回路図である。30は
立ち下りとりこみのＤタイプのフリップフロップであ
り、リセットパルスによりセットされる。今フリップフ
ロップ30のセットにリセットパルスが入力されると、Ｑ
出力はＨとなる。スイッチA,Bのうち少なくとも一方が
レベルであればアンドゲート32は閉じており従ってアン
ドゲート31も閉じているため、テスト動作回路33は動作
しない。更にフリップフロップ30のCL入力はＬレベルで
ある。次にスイッチA,BにＨレベルが印加されると、ア
ンドゲート32が開き、アンドゲート31も開くためテスト
動作回路33が動作する。このときフリップフロップのCL
入力はＨとなる。テスト動作回路33は所定の動作が終了
又は、何らかの入力によるテスト動作解除要求があった
とき、動作を終了又は中断しする。このときフリップフ
ロップのCL入力はＬレベルとなり、フリップフロップは
立ち下りで入力信号をとりこむので、Ｄ入力は出力を
とりこみＱ出力はＬとなる。Ｑ出力が一端Ｌとなると、
ゲート31は二度と開かなくなるため、リセット信号が入
力された後１回だけテスト動作回路33が動作することに
なる。尚、以上の動作はマイコンによっても実現でき、
フリップフロップ30をリセット直後にセット，テスト動
作終了又は中断によってリセットするテストイネーブル
フラグを用いて実現する。
立ち下りとりこみのＤタイプのフリップフロップであ
り、リセットパルスによりセットされる。今フリップフ
ロップ30のセットにリセットパルスが入力されると、Ｑ
出力はＨとなる。スイッチA,Bのうち少なくとも一方が
レベルであればアンドゲート32は閉じており従ってアン
ドゲート31も閉じているため、テスト動作回路33は動作
しない。更にフリップフロップ30のCL入力はＬレベルで
ある。次にスイッチA,BにＨレベルが印加されると、ア
ンドゲート32が開き、アンドゲート31も開くためテスト
動作回路33が動作する。このときフリップフロップのCL
入力はＨとなる。テスト動作回路33は所定の動作が終了
又は、何らかの入力によるテスト動作解除要求があった
とき、動作を終了又は中断しする。このときフリップフ
ロップのCL入力はＬレベルとなり、フリップフロップは
立ち下りで入力信号をとりこむので、Ｄ入力は出力を
とりこみＱ出力はＬとなる。Ｑ出力が一端Ｌとなると、
ゲート31は二度と開かなくなるため、リセット信号が入
力された後１回だけテスト動作回路33が動作することに
なる。尚、以上の動作はマイコンによっても実現でき、
フリップフロップ30をリセット直後にセット，テスト動
作終了又は中断によってリセットするテストイネーブル
フラグを用いて実現する。
第２図は請求項２に基づく実施例の構成図であるテス
トイネーブル記憶手段70はリセット信号によってセット
され、初期状態においてＨである。今、テスト動作，条
件をスイッチA,Bが共にH,Hである場合とすると、スイッ
チ検出手段22は、スイッチA,BがH,Hであればテスト条件
検出手段21に対して検出信号を出力する。テスト条件検
出手段21はテストイネーブル記憶手段20がセット状態で
あり、テストスイッチ検出信号が出力されている状態を
検出するとテスト動作手段23を動作又は動作開始させ
る。テストイネーブル記憶手段20はテスト条件検出手段
21の出力がＨからＬに変じたときリセットされる。即
ち、第４図は第２図の構成図に基づく回路図である。40
は立ち下りとりこみのＤタイプのフリップフロップであ
り、リセットパルスによりセットされる。今フリップフ
ロップ40のセットにリセットパルスが入力されると、Ｑ
出力はＨとなる。スイッチA,Bのうち少なくとも一方が
Ｌレベルであればアンドゲート42は閉じており従ってア
ンドゲート41も閉じているため、テスト動作回路43は動
作しない。更にフリップフロップ40のCL入力はＬレベル
である。次にスイッチA,BにＨレベルが印加されると、
アンドゲート42が開き、アンドゲート41も開くためテス
ト動作回路33が動作する。このときフリップフロップの
CL入力はＨとなる。次にスイッチA,Bの少なくともどち
らか一方がＬとなるとアンドゲート42,41が閉じ、フリ
ップフロップ41のCLにＬレベルが与えられ、フリップフ
ロップ41は立ち下りで出力をとりこむので、Ｑ出力は
Ｌとなり、以降再びオアゲート41が開くことはない。即
ちリセット信号が入力された後１回だけテスト動作回路
43が動作することになる。尚、以上の動作はマイコンに
よっても実現でき、フリップフロップ40をリセット直後
にセット、テスト動作終了又は中断によってセットする
テストイネーブルフラグを用いて実現する。
トイネーブル記憶手段70はリセット信号によってセット
され、初期状態においてＨである。今、テスト動作，条
件をスイッチA,Bが共にH,Hである場合とすると、スイッ
チ検出手段22は、スイッチA,BがH,Hであればテスト条件
検出手段21に対して検出信号を出力する。テスト条件検
出手段21はテストイネーブル記憶手段20がセット状態で
あり、テストスイッチ検出信号が出力されている状態を
検出するとテスト動作手段23を動作又は動作開始させ
る。テストイネーブル記憶手段20はテスト条件検出手段
21の出力がＨからＬに変じたときリセットされる。即
ち、第４図は第２図の構成図に基づく回路図である。40
は立ち下りとりこみのＤタイプのフリップフロップであ
り、リセットパルスによりセットされる。今フリップフ
ロップ40のセットにリセットパルスが入力されると、Ｑ
出力はＨとなる。スイッチA,Bのうち少なくとも一方が
Ｌレベルであればアンドゲート42は閉じており従ってア
ンドゲート41も閉じているため、テスト動作回路43は動
作しない。更にフリップフロップ40のCL入力はＬレベル
である。次にスイッチA,BにＨレベルが印加されると、
アンドゲート42が開き、アンドゲート41も開くためテス
ト動作回路33が動作する。このときフリップフロップの
CL入力はＨとなる。次にスイッチA,Bの少なくともどち
らか一方がＬとなるとアンドゲート42,41が閉じ、フリ
ップフロップ41のCLにＬレベルが与えられ、フリップフ
ロップ41は立ち下りで出力をとりこむので、Ｑ出力は
Ｌとなり、以降再びオアゲート41が開くことはない。即
ちリセット信号が入力された後１回だけテスト動作回路
43が動作することになる。尚、以上の動作はマイコンに
よっても実現でき、フリップフロップ40をリセット直後
にセット、テスト動作終了又は中断によってセットする
テストイネーブルフラグを用いて実現する。
［発明の効果］ 以上述べた様に本発明のテスト回路は、システムリセ
ット信号によってセットされ、テスト動作回路の動作か
ら停止への移行、又はテスト条件の成立から非成立への
移行によってリセットされるテストイネーブル記憶手段
を設け、テストイネーブル記憶手段がセット状態であり
かつ、テスト入力条件成立となった場合にのみテスト動
作回路が動作する様構成したので、ユーザーがどの様な
パターンでスイッチ入力を行なってもテスト動作には入
らす、テスト動作を異常動作又は故障と間違えるという
問題はなくなるという効果を持つ。又工場検査、販売店
検査においても、従来ある特定モードでしかできなかっ
たテスト操作、例えば歩度測定及びLCDパネルチェック
のための全点灯は時刻修正モードにて行なうなどがダイ
レクトに行なえる様になるので、工数が減るとともに、
コストダウンに継る。又、テスト動作によっては表面に
は表われないけれども消費電流が増加したりするものも
あり、ユーザーが誤ってテスト動作をさせてしまった場
合、電池寿命が短かくなるという不具合もあったが、本
発明によれば、工場出荷にて、又は販売店にて１回テス
トを行なえば２度とテスト動作はできなくなるので、こ
の様な不具合もなくなるという効果を有する。
ット信号によってセットされ、テスト動作回路の動作か
ら停止への移行、又はテスト条件の成立から非成立への
移行によってリセットされるテストイネーブル記憶手段
を設け、テストイネーブル記憶手段がセット状態であり
かつ、テスト入力条件成立となった場合にのみテスト動
作回路が動作する様構成したので、ユーザーがどの様な
パターンでスイッチ入力を行なってもテスト動作には入
らす、テスト動作を異常動作又は故障と間違えるという
問題はなくなるという効果を持つ。又工場検査、販売店
検査においても、従来ある特定モードでしかできなかっ
たテスト操作、例えば歩度測定及びLCDパネルチェック
のための全点灯は時刻修正モードにて行なうなどがダイ
レクトに行なえる様になるので、工数が減るとともに、
コストダウンに継る。又、テスト動作によっては表面に
は表われないけれども消費電流が増加したりするものも
あり、ユーザーが誤ってテスト動作をさせてしまった場
合、電池寿命が短かくなるという不具合もあったが、本
発明によれば、工場出荷にて、又は販売店にて１回テス
トを行なえば２度とテスト動作はできなくなるので、こ
の様な不具合もなくなるという効果を有する。
第１図は本発明の実施例を示す構成図。 第２図は本発明の他の実施例を示す構成図。 第３図は本発明の実施例を示す回路図。 第４図は本発明の他の実施例を示す回路図。 10,20……テストイネーブル記憶手段 11,21……テスト条件検出手段 12,22……テストスイッチ検出手段 30,40……立ち下りとりこみＤタイプフリップフロップ
Claims (1)
- 【請求項１】自己又は周囲装置に対して何らかのテスト
を行なうテスト動作手段を有する電子機器テスト回路に
おいて、 スイッチ入力を検出しスイッチ入力状態か否かを検出す
るスイッチ検出手段と、 機器全体を初期化するシステムリセット信号が生じたと
きセットされ、前記テスト動作手段がアクティブからノ
ンアクティブに変じたときリセットされるテストイネー
ブル記憶手段と、 前記スイッチ検出手段がテスト動作スイッチ入力状態を
検出しかつ、前記テストイネーブル手段がイネーブル信
号を出力していることを検出すると、前記テスト動作手
段を動作させるテスト条件検出手段とを有することを特
徴とする電子機器テスト回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63311283A JP2827237B2 (ja) | 1988-12-09 | 1988-12-09 | 電子機器テスト回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63311283A JP2827237B2 (ja) | 1988-12-09 | 1988-12-09 | 電子機器テスト回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02157676A JPH02157676A (ja) | 1990-06-18 |
| JP2827237B2 true JP2827237B2 (ja) | 1998-11-25 |
Family
ID=18015272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63311283A Expired - Fee Related JP2827237B2 (ja) | 1988-12-09 | 1988-12-09 | 電子機器テスト回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2827237B2 (ja) |
-
1988
- 1988-12-09 JP JP63311283A patent/JP2827237B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02157676A (ja) | 1990-06-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |