JP2822675B2 - LSI chip design system - Google Patents

LSI chip design system

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JP2822675B2
JP2822675B2 JP3004927A JP492791A JP2822675B2 JP 2822675 B2 JP2822675 B2 JP 2822675B2 JP 3004927 A JP3004927 A JP 3004927A JP 492791 A JP492791 A JP 492791A JP 2822675 B2 JP2822675 B2 JP 2822675B2
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package
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はLSIチップ設計システ
ム、特に1つのチップと複数の既存LSIパッケージと
の間の組立条件の検証が同時に行えるLSIチップ設計
システムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an LSI chip design system, and more particularly to an LSI chip design system capable of simultaneously verifying assembly conditions between one chip and a plurality of existing LSI packages.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、チップ設計はまず、チップ内部の
設計を行うシステムとしてLSIチップレイアウトCA
Dがあり、チップ内のトランジスター、チップパッドの
配置、回路配線などを、チップ製造工程等の各種条件に
合致したチップを設計することができる。
2. Description of the Related Art Conventionally, a chip design is first performed by an LSI chip layout CA as a system for designing the inside of the chip.
D, and it is possible to design a chip that matches the various conditions such as the chip manufacturing process, such as the arrangement of the transistors and chip pads in the chip and the circuit wiring.

【0003】次にチップのレイアウト設計が終了した
後、チップと既存のLSIパッケージが組立可能かの組
立検証をパッケージを設計する専用CADを用いておこ
なっていた。また従来のLSIパッケージ設計専用CA
Dでは、1つのチップと複数種類のLSIパッケージと
の組立検証を同時にできなく、チップを搭載したいLS
Iパッケージの種類数だけ組立検証を行い、不具合な点
を再度LSIチップレイアウトCADにおいて、レイア
ウトを変更することを数回繰り返しLSIチップの設計
を行っていた。
Next, after the layout design of the chip is completed, assembly verification as to whether the chip and an existing LSI package can be assembled has been performed using a dedicated CAD for designing the package. In addition, conventional LSI package design CA
In D, assembly verification of one chip and multiple types of LSI packages cannot be performed at the same time.
The assembly verification is performed for the number of types of the I package, and the defective point is repeatedly changed in the LSI chip layout CAD several times to design the LSI chip.

【0004】また既存のLSIパッケージとの間の組立
条件が満足したい時は、新規にチップにあわせてLSI
パッケージを設計する。
When it is desired to satisfy the assembling conditions with an existing LSI package, an LSI is newly added to the chip.
Design the package.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来のLSIチップ設
計システムは、チップを設計する際、特にLSIパッケ
ージ組立条件を満足させるために重要なパッドのレイア
ウトは、LSIパッケージとの組立条件は考慮されず、
チップ内の配線等のレイアウトの条件のみで決定される
ため、つぎに既存のLSIパッケージを利用しようとし
た場合、組立条件を満足させるためパッドのレイアウト
を変更させなければならない場合がほとんどであるが、
パッドのレイアウトがほぼ決定されているので再レイア
ウトすることは、高密度に集積してあるチップ内部の配
線や、トランジスターの配置などを修正することが必要
となり困難であるという欠点と、チップレイアウトを行
う前に搭載したいLSIパッケージに合ったパッドのレ
イアウトをきめることは、チップ内の配線や、トランジ
スターの配置の条件が考慮できないため、やはり後でパ
ッドのレイアウトが変更され、再度組立条件をチェック
しなくてはならないという欠点と、1つのチップを複数
種類のLSIパッケージに搭載したい場合、従来のLS
Iパッケージ設計専用CADでも同時に複数のLSIパ
ッケージとの組立条件を検証できなく、複数種類のLS
Iパッケージに対して同時に組立可能な条件を算出する
ことが困難であったという欠点と、既存のLSIパッケ
ージが利用できなく新規にLSIパッケージを設計しな
ければならない場合が多いという欠点があった。
In a conventional LSI chip design system, when designing a chip, the layout of pads, which is particularly important for satisfying the LSI package assembly conditions, does not take into account the assembly conditions with the LSI package. ,
Since the layout is determined only by the layout conditions such as the wiring in the chip, when the existing LSI package is next used, in most cases, the layout of the pads must be changed to satisfy the assembly conditions. ,
Since the layout of the pads is almost determined, it is difficult to re-layout because it is necessary to correct the wiring inside the chip, the arrangement of transistors, etc., which are integrated at high density. It is difficult to determine the layout of the pads suitable for the LSI package to be mounted before mounting, because the conditions of the wiring in the chip and the arrangement of the transistors cannot be considered, so the layout of the pads is changed later, and the assembly conditions are checked again. In order to mount one chip on a plurality of types of LSI packages, the conventional LSI
In the case of I-package design CAD, it is not possible to verify the assembly conditions with multiple LSI packages at the same time.
There is a drawback that it is difficult to calculate conditions that can be assembled simultaneously with the I package, and that there are many cases where an existing LSI package cannot be used and a new LSI package must be designed.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明のLSIパッケー
ジ設計システムは、 (A)既に設計が終了しているLSIパッケージの形
、材質、特性のデータが複数納められているLSIパ
ッケージデータベース、 (B)LSIパッケージデータベースより、CAD上で
設計を行っているチップのデータ及び、LSIパッケー
ジ外形、LSIパッケージ外部ピン数の条件より条件に
合致するLSIパッケージを検索するLSIパッケージ
検索部、 (C)チップとLSIパッケージを組み立てる作業(
気的接続作業)における組立条件を満足するか検証する
組立チェックを複数のLSIパッケージとの間で同時に
行う組立チェック部、 (D)チップパッドとワイヤーで電気的に接続するLS
Iパッケージの外部ピンにつながっている内部リードを
指定するピンコネ部、 (E)チップパッドや、チップ内の配線、トランジスタ
ー配置のチップレイアウトをおこなうチップレイアウト
部、(F)ユーザからの指示により前記回路レイアウト部と
前記ピンコネ部の各部に処理を行わせるよう指示するユ
ーザインタフェース部、 とを含み、前記ユーザインタフ
ェース部を通して前記チップレイアウト部によるチップ
レイアウトが実施され、前記ピンコネ部によるLSIパ
ッケージとの内部リードの接続変更が行われたとき、前
記チップレイアウト部で設定されたチップとLSIパッ
ケージとの間の組立条件を前記組立チェック部が検証す
ることを特徴とするものである
An LSI package design system according to the present invention comprises: (A) an LSI package database in which a plurality of data on the shape , material, and characteristics of an already designed LSI package are stored; ) An LSI package search unit for searching for an LSI package that meets the conditions from the LSI package database based on the data of the chip being designed on CAD, the outer shape of the LSI package, and the number of external pins of the LSI package; work to assemble the LSI package (power
(D) an assembly check unit for simultaneously performing an assembly check with a plurality of LSI packages to verify whether or not assembly conditions are satisfied in an air connection operation ;
-Pin section that specifies the internal leads are connected to an external pin of the I package, (E) chip pads and the wiring in the chip, the chip layout section that performs chip layout of the transistor arrangement, the circuit in accordance with an instruction from the (F) User Layout part and
A user instructing each part of the pin connector to perform processing.
A user interface unit; and
Chip by the chip layout section through the base section
The layout is implemented, and the LSI
When the connection of the internal lead to the package is changed,
The chip and LSI package set in the chip layout section
The assembly check section verifies the assembly conditions between the cage and the cage.
It is characterized by that .

【0007】[0007]

【実施例】次に、本発明について、図面を参照して説明
する。
Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

【0008】図1は本発明の一実施例を示すブロック図
である。1は中央処理装置(CPU)と主記憶装置とを
備えた処理装置、2はマウス、3はキーボード、4はデ
ィスプレー、5は磁気記録装置であり処理装置とのデー
タ,作業指示を入出力する。ユーザーインターフェース
部10はマウス2,キーボード3より作業指示及びデー
タの入力を受け、各部に作業指示,データを与えたり、
設計対象物であるチップ、チップを搭載したいLSIパ
ッケージ及び、各種エラー表示等をディスプレーに表示
する。LSIパッゲージデータベース11は既存のLS
Iパッケージの形状データ等のデータが複数登録されて
いる。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention. 1 is a processing device having a central processing unit (CPU) and a main storage device, 2 is a mouse, 3 is a keyboard, 4 is a display, and 5 is a magnetic recording device, which inputs and outputs data and work instructions with the processing device. . The user interface unit 10 receives input of work instructions and data from the mouse 2 and the keyboard 3 and gives work instructions and data to each unit,
A chip to be designed, an LSI package on which the chip is to be mounted, and various error indications are displayed on a display. The LSI package database 11 uses the existing LS
A plurality of data such as shape data of the I package are registered.

【0009】LSIパッケージ選択部12はユーザイン
ターフェース部10より指示されたLSIパッケージの
外形条件、外部ピン数及び、13でのレイアウトされて
いるLSIチップの外形等のデータによって、11のL
SIパッケージデータベースより、条件に合致するパッ
ケージデータを選択し、選択したデータを処理装置1の
主記憶装置に記憶する。チップレイアウト部13は設計
したいLSIチップの外形を決めたり、トランジスター
配置、チップパッドの配置、内部配線等の設計をユーザ
インターフェース部10を通し対話的にチップレイアウ
トしそのデータを逐次主記憶装置に記憶していく、一般
的なLSIレイアウトCADの機能を備えている。
The LSI package selection unit 12 determines the L of 11 based on data such as the external condition of the LSI package specified by the user interface unit 10, the number of external pins, and the external shape of the LSI chip laid out at 13.
From the SI package database, package data matching the conditions is selected, and the selected data is stored in the main storage device of the processing device 1. The chip layout unit 13 interactively lays out the design of the LSI chip to be designed, and arranges the layout of the transistors, the arrangement of the chip pads, the internal wiring, etc. through the user interface unit 10 and sequentially stores the data in the main storage device. It has the function of a general LSI layout CAD.

【0010】ピンコネ部14は、LSIパッケージ選択
部12により主記憶装置に記憶されているLSIパッケ
ージの内部リードとチップレイアウト部13でレイアウ
ト中のチップパッドをユーザインターフェース部10を
通しての指示により接続を設定あるいは変化させる。組
立チェック部15はチップレイアウト部13や、ピンコ
ネ処理部14で組立条件が変化したとき(例えば、パッ
ドを移動したり、ピンコネを行ったとき)、チップレイ
アウト部13に記録されているチップと複数のLSIパ
ッケージとの間の組立条件をチェックし、結果をディス
プレー4に表示する。
The pin connector section 14 sets the connection between the internal leads of the LSI package stored in the main memory by the LSI package selecting section 12 and the chip pads being laid out by the chip layout section 13 through an instruction through the user interface section 10. Or change it. The assembling check unit 15 determines whether the chip layout unit 13 or the pin connection processing unit 14 changes the chip recorded in the chip layout unit 13 when the assembling conditions change (for example, when a pad is moved or a pin connection is performed). Is checked for assembly conditions with the LSI package, and the result is displayed on the display 4.

【0011】図2は本発明の対象であるチップ、LSI
パッケージを示す上面図であり、20は設計をおこなっ
ているLSIチップ、21はLSIパッケージの1種類
であるリードフレームの内部リード、22は内部リード
21のチップの内部のレイアウトの対象物である内部回
路、23はLSIパッケージの1種類であるリードフレ
ームでのチップを載せるアイランド、24はLSIチッ
プ20の設計を行っているチップのチップパッド、25
はチップパッドと内部リードを電気的に接続させるボン
ディングワイヤーである。
FIG. 2 shows a chip or LSI which is the object of the present invention.
It is a top view which shows a package, 20 is the LSI chip which is designing, 21 is the internal lead of the lead frame which is one kind of LSI package, 22 is the internal object which is the internal layout object of the internal lead 21 chip. Circuit, 23 is an island for mounting a chip in a lead frame, which is one type of LSI package, 24 is a chip pad of a chip for designing the LSI chip 20, 25
Is a bonding wire for electrically connecting the chip pad and the internal lead.

【0012】またこの図2は本発明の一実施例のディス
プレー表示画面例を説明する図であり、ディスプレー上
に設計対象であるチップ20、内部回路22、チップパ
ッド24が表示されておりまたチップ20を搭載したい
複数のLSIパッケージの内の1つのLSIパッケージ
の内部リード21とアイランド23、チップパッドと表
示されているLSIパッケージとの電気的接続を表すボ
ンディングワイヤー25が表示されている。また表示す
るLSIパッケージと、ボンディングワイヤーは任意の
LSIパッケージに切り換えることができる。
FIG. 2 is a view for explaining an example of a display screen of an embodiment of the present invention. A chip 20 to be designed, an internal circuit 22, and a chip pad 24 are displayed on the display. A bonding wire 25 indicating an electrical connection between the internal lead 21 of one of the plurality of LSI packages on which the LSI 20 is to be mounted, the island 23, and the LSI package indicated as the chip pad is displayed. The LSI package to be displayed and the bonding wire can be switched to an arbitrary LSI package.

【0013】図3は本発明に関連する組立条件の一例を
説明する上面図であり、チップとLSIパッケージの1
種類であるリードフレームとの主な組立条件を説明して
おり、31はLSIチップ、32はリードフレームのア
イランド、33はリードフレームの内部リードとチップ
パッドを電気的に接続させるボンディングワイヤー(以
下ワイヤーと称す)、34はチップパッド、35はリー
ドフレームの内部リードである。
FIG. 3 is a top view for explaining an example of assembly conditions related to the present invention.
The main assembly conditions with the lead frame are described, 31 is an LSI chip, 32 is an island of the lead frame, 33 is a bonding wire (hereinafter referred to as a wire) for electrically connecting the internal lead of the lead frame and the chip pad. ), 34 is a chip pad, and 35 is an internal lead of the lead frame.

【0014】つぎの41〜46は1つ1つのワイヤーに
対しての組立条件であり、41はワイヤーの長さの条
件、42は内部リード上のワイヤーの長さの条件、43
はチップ上のワイヤーの長さの条件、44はワイヤーと
そのワイヤーが交差しているペレットの外部辺との角度
の条件、45はワイヤーと隣接の内部リードとの間隔の
条件、46はワイヤーと隣接のチップパッドとの間隔の
条件をそれぞれ示す。
The following 41 to 46 are assembling conditions for each wire, 41 is the condition of the length of the wire, 42 is the condition of the length of the wire on the internal lead, 43
Is the condition of the length of the wire on the chip, 44 is the condition of the angle between the wire and the outer side of the pellet where the wire intersects, 45 is the condition of the distance between the wire and the adjacent internal lead, 46 is the condition of the wire The conditions for the distance between adjacent chip pads are shown below.

【0015】また50,51は1つ1つのパッドの組立
条件であり、50はチップパッドと隣接チップパッドの
間隔の条件を表し、51はチップパッドの寸法の条件を
表す。また60はチップの外形とリードフレームのアイ
ランド32との間隔に関する条件を表す。
Reference numerals 50 and 51 denote conditions for assembling each pad, 50 denotes a condition of a space between a chip pad and an adjacent chip pad, and 51 denotes a condition of a dimension of a chip pad. Numeral 60 denotes a condition relating to the distance between the outer shape of the chip and the island 32 of the lead frame.

【0016】次に動作を説明する。ユーザーインターフ
ェース10を通しチップレイアウト部13を使いチップ
20の外形等データを入力、チップパッド24の配置を
含む内部回路22のレイアウトを対話的に行っていく。
またチップレイアウトの初期の段階、または設計途中で
搭載したいLSIパッケージを変更したいとき等で、設
計をしているチップを搭載したいLSIパッケージをL
SIパッケージデータベース11よりLSIパッケージ
選択部12を使い選択する。また搭載したいLSIパッ
ケージは複数種類選択可能である。
Next, the operation will be described. Through the user interface 10, data such as the external shape of the chip 20 is input using the chip layout unit 13, and the layout of the internal circuit 22 including the arrangement of the chip pads 24 is interactively performed.
Also, at the initial stage of the chip layout, or when it is desired to change the LSI package to be mounted in the course of design, the LSI package on which the chip to be designed
An LSI package is selected from the SI package database 11 using an LSI package selection unit 12. A plurality of types of LSI packages to be mounted can be selected.

【0017】さらにピンコネ部14を使い、設計中のチ
ップのチップパッドと、選択したLSIパッケージの内
部リードとの電気的接続を設定する。その後チップレイ
アウト部13でのチップのレイアウト作業中、及びピン
コネ部14でのチップパッドと選択されたLSIパッケ
ージの内部リードの電気的接続を変更したときの様にチ
ップとLSIパッケージの組立条件が変更されたとき即
座に、組立チェック部15が働き、組立上不具合な点に
ついてユーザーインターフェース部10を通し、ディス
プレー4にエラーを表示する。
Further, the electrical connection between the chip pad of the chip under design and the internal lead of the selected LSI package is set by using the pin connector 14. Thereafter, assembling conditions of the chip and the LSI package are changed during the layout of the chip in the chip layout unit 13 and when the electrical connection between the chip pad in the pin connector unit 14 and the internal lead of the selected LSI package is changed. Immediately when the operation is performed, the assembly checking unit 15 operates, and an error is displayed on the display 4 through the user interface unit 10 with respect to a defect in assembly.

【0018】このことにより、チップレイアウト設計時
にチップを搭載したい複数のLSIパッケージとの組立
条件を満足させながらチップ内部のレイアウトを行うこ
とができる。最後に設計したチップ及び、組立条件を考
慮したLSIパッケージ、またそのLSIパッケージと
の電気的接続に関するデータを処理装置1より磁気記録
装置5を用い磁気テープに出力する。
Thus, the layout inside the chip can be performed while satisfying the assembling conditions with a plurality of LSI packages on which the chip is to be mounted when designing the chip layout. Finally, the processing device 1 outputs the designed chip, the LSI package in consideration of the assembly conditions, and data on the electrical connection with the LSI package to the magnetic tape using the magnetic recording device 5.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上説明したように、本発明はチップの
設計をする際、チップ内部回路とチップパッドのレイア
ウトをチップを搭載したい複数の既存のLSIパッケー
ジとの間の組立検証を同時に行いながら行うことができ
るCADシステムであり、チップ内部の回路レイアウト
と搭載したい複数のLSIパッケージとの組立検証を同
時におこなうことにより、再レイアウトを行わずに、既
存のLSIパッケージに搭載できるチップを短時間で設
計でき、また既存LSIパッケージに搭載できる様に考
慮しながらチップを設計していくので、新規設計LSI
パッケージを減らすことによる、LSI製品の設計、製
造時間、費用を減らすという効果がある。
As described above, according to the present invention, when designing a chip, the layout of the internal circuit of the chip and the layout of the chip pads are simultaneously performed while verifying the assembly between a plurality of existing LSI packages on which the chip is to be mounted. This is a CAD system that can be implemented. By simultaneously verifying the circuit layout inside the chip and the multiple LSI packages to be mounted, the chip that can be mounted on the existing LSI package in a short time without re-layout Since the chip is designed while considering it so that it can be designed and mounted on an existing LSI package, a new design LSI
The effect of reducing the number of packages is to reduce the design, manufacturing time, and cost of the LSI product.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

【図2】図1に示すLSIパッケージを示す上面図であ
る。
FIG. 2 is a top view showing the LSI package shown in FIG.

【図3】組立条件の一例を説明するための上面図であ
る。
FIG. 3 is a top view for explaining an example of assembly conditions.

【符号の説明】 11 LSIパッケージデータベース 12 LSIパッケージ選択部 13 チップレイアウト部 14 ピンコネ部[Description of Signs] 11 LSI package database 12 LSI package selection unit 13 Chip layout unit 14 Pin connector unit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 (A)既に設計が終了しているLSIパ
ッケージの形状、材質、特性のデータが複数納められて
いるLSIパッケージデータベース、 (B)LSIパッケージデータベースより、CAD上で
設計を行っているチップのデータ及び、LSIパッケー
ジ外形、LSIパッケージ外部ピン数の条件より条件に
合致するLSIパッケージを検索するLSIパッケージ
検索部、 (C)チップとLSIパッケージを組み立てる作業(
気的接続作業)における組立条件を満足するか検証する
組立チェックを複数のLSIパッケージとの間で同時に
行う組立チェック部、 (D)チップパッドとワイヤーで電気的に接続するLS
Iパッケージの外部ピンにつながっている内部リードを
指定するピンコネ部、 (E)チップパッドや、チップ内の配線、トランジスタ
ー配置のチップレイアウトをおこなうチップレイアウト
部、(F)ユーザからの指示により前記回路レイアウト部と
前記ピンコネ部の各部に処理を行わせるよう指示するユ
ーザインタフェース部、 とを含み、前記ユーザインタフェース部を通して前記チ
ップレイアウト部によるチップレイアウトが実施され、
前記ピンコネ部によるLSIパッケージとの内部リード
の接続変更が行われたとき、前記チップレイアウト部で
設定されたチップとLSIパッケージとの間の組立条件
を前記組立チェック部が検証する ことを特徴とするLS
Iチップ設計システム。
1. A design is performed on a CAD based on (A) an LSI package database in which a plurality of data of the shape , material, and characteristics of an already designed LSI package are stored, and (B) an LSI package database. chip data and which are, LSI package search unit for searching the LSI package that matches the LSI package outline, condition than the condition of the number of LSI package external pins, the work of assembling the (C) chips and LSI packages (electrostatic
(D) an assembly check unit for simultaneously performing an assembly check with a plurality of LSI packages to verify whether or not assembly conditions are satisfied in an air connection operation ;
-Pin section that specifies the internal leads are connected to an external pin of the I package, (E) chip pads and the wiring in the chip, the chip layout section that performs chip layout of the transistor arrangement, the circuit in accordance with an instruction from the (F) User Layout part and
A user instructing each part of the pin connector to perform processing.
A user interface unit, and the user interface unit.
The chip layout is implemented by the top layout section,
Internal lead to LSI package by the pin connector
When the connection change of
Assembling conditions between set chip and LSI package
Characterized in that the assembly check unit verifies
I-chip design system.
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JPS59197189A (en) * 1983-04-22 1984-11-08 株式会社日立製作所 Printed board and lsi terminal assining system
JPS6127908A (en) * 1984-07-17 1986-02-07 Kao Corp Preventive for chapping
JPS6442772A (en) * 1987-08-10 1989-02-15 Nec Corp System for checking design rule for lsi
JP2653403B2 (en) * 1987-12-10 1997-09-17 富士通株式会社 Method for manufacturing semiconductor device
JPH02140967A (en) * 1988-11-21 1990-05-30 Nec Corp Automatic layout device

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