JP4256712B2 - Terminal arrangement apparatus and terminal arrangement method - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づける端子配置装置および端子配置方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体集積回路装置には、論理回路が搭載されたダイと呼ばれる半導体チップと、その半導体チップが覆われてなる半導体パッケージとが備えられている。半導体パッケージとしては、電子機器に組み込まれる回路基板への高密度実装が容易なBGA(Ball Grid Array)パッケージやPGA(Pin Grid Array)パッケージが広く用いられている。このような半導体パッケージには、電子機器の回路基板に接続するための端子(外部端子と称する)と、半導体チップに搭載された論理回路の外部接続ピンであるパッドにワイヤボンディングされた内部端子と、それら外部端子と内部端子が接続されてなる配線パターンとが備えられている。一方、半導体チップには、複数の出力バッファセルが備えられており、これら複数の出力バッファセルは、上記パッド,ボンディングワイヤ,内部端子を介して、半導体パッケージに備えられた複数の外部端子に接続されている。
【0003】
ここで、複数の出力バッファセルが同時にオフ状態からオン状態に変化すると、それら複数の出力バッファセルに対応して備えられた複数の外部端子の信号も同時に‘H’レベルから‘L’レベルに変化する。同様に、複数の出力バッファセルが同時にオン状態からオフ状態に変化すると、上記複数の外部端子の信号も同時に‘L’レベルから‘H’レベルに変化する。これに伴い、複数の外部端子側が有する負荷容量に応じた充放電電流が電源ラインやグラウンドラインに同時に瞬時に流れる。すると、電源ラインやグラウンドラインにノイズが発生する。
【0004】
そこで、半導体パッケージの設計にあたり、同時に動作可能な出力バッファセル数に制限を設け、この制限を考慮しながら電源端子およびグラウンド端子を含めた外部端子の配置を行なう端子配置装置が提案されている。例えば、半導体チップのパッド番号を表示するとともに編集作業を行なう第1端子情報編集部と、半導体パッケージの外部端子番号を表示するとともに編集作業を行なう第2端子情報編集部とを備え、これら第1端子情報編集部,第2端子情報編集部を連動させて外部端子の配置を視覚的に行なう端子配置装置が提案されている(特許文献1参照)。
【特許文献1】
特開平11−328240号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
半導体集積回路装置の設計にあたっては、必要な電源端子数やグラウンド端子数がチェックされ、その結果によっては半導体パッケージや半導体チップのサイズ変更が発生する場合がある。このため、外部端子の配置は、半導体チップに搭載される論理回路の設計の初期段階で実施することが好ましい。
【0006】
しかし、上記特許文献1に提案された端子配置装置は、半導体パッケージの外部端子番号と半導体チップのパッド番号との対応が既に割り付けられた、論理回路の設計がほぼ完了している時点における外部端子配置を行なうものであるため、論理回路の設計初期段階における外部端子の配置情報の入力は困難である。従って、複数の出力バッファセルの同時動作に伴う複数の外部端子側の負荷容量に応じた充放電電流に起因して発生するノイズを考慮した外部端子配置に欠ける点がある。
【0007】
また、上記特許文献1に提案された端子配置装置は、同時に動作する複数の出力バッファセルに対応する複数の外部端子情報を、テストパターン印加によるシミュレーションの結果から抽出するものであり、このため正確な情報を得るには相当数のテストパターンが必要とされる。しかし、近年の大規模集積回路ではこのようなシミュレーション自体が困難であり、従って現実的ではないという問題もある。
【0008】
さらに、論理回路の設計がほぼ完了しているため、同時に動作する複数の出力バッファセルに対応する複数の外部端子を同じグループ(同時動作グループ)に割り付ける制御は、上記シミュレーションの結果から行なうのみであり、ある同時動作グループの出力バッファセルに対応する外部端子を、別の同時動作グループに割り付けて同時動作させるというような試行を行なうことは困難である。従って、半導体パッケージ上の端子に、半導体チップのパッドである論理回路の外部接続ピンを対応づけるにあたり、複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した端子配置に欠けるという問題がある。
【0009】
本発明は、上記事情に鑑み、複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した端子配置を行なうことができる端子配置装置および端子配置方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する本発明の端子配置装置は、半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づける端子配置装置において、
半導体パッケージ上の端子に、電源ピン、グラウンドピン、および回路仕様の外部接続ピンを対応づける対応づけ機能と、
半導体パッケージ上の端子と外部出力ピンとの対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なうチェック機能と、
半導体パッケージ上の端子に対応づけられた、論理回路の外部接続ピンのうちの外部出力ピンを、操作に応じて、同時に動作する外部出力ピンのグループに分けるグループ分け機能と、
前記グループ分け機能により分けられたグループのうちの1つ以上のグループを操作に応じて指定するグループ指定機能とを備え、
前記チェック機能は、前記グループ指定機能で指定された1つ以上のグループのいずれかに属する外部出力ピンが同時に動作するものと見なして、上記チェックを行なうものであることを特徴とする。尚、ここでいう外部出力ピンには、双方向性機能を有する外部入出力ピンも含まれる。
【0011】
本発明の端子配置装置は、半導体パッケージ上の端子と論理回路仕様の外部接続ピンを対応づけるとともに、その対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なうものであるため、回路設計の初期段階から回路情報との整合性をチェックしながら半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づけることができる。従って、電源端子やグラウンド端子の配置、および複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した適切な端子配置を行なうことができる。
【0012】
このようにすると、同時に動作する外部出力ピンのグループの組み合わせをチェックすることができる。
【0013】
また、上記対応づけ機能は、上記端子と、電源ピン、グラウンドピン、および上記外部接続ピンとを対応づけるとともに、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに、さらに、駆動能力の情報を持つ出力バッファセルを対応づけるものであり、
上記チェック機能は、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに対してさらに対応づけられた出力バッファセルの駆動能力の情報と、上記端子と上記電源ピンおよび上記グラウンドピンとの対応づけとに基づいて、上記チェックを行なうものであることも好ましい態様である。
【0014】
このようにすると、出力バッファセルの駆動能力に応じて半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づけることができる。
【0015】
さらに、上記対応づけ機能により上記端子に対応づけられた外部接続ピンと、上記回路仕様に基づいて設計された論理回路上の外部接続ピンとの間で名称と入出力属性が一致しているか否かをチェックする確認機能を有するものであってもよい。
【0016】
このような確認機能を有すると、半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを確実に対応づけることができる。
【0017】
また、上記目的を達成する本発明の端子配置方法は、半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づける端子配置方法において、
半導体パッケージ上の端子に、電源ピン、グラウンドピン、および回路仕様の外部接続ピンを対応づける対応づけステップと、
半導体パッケージ上の端子と外部出力ピンとの対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なうチェックステップと、
半導体パッケージ上の端子に対応づけられた、論理回路の外部接続ピンのうちの外部出力ピンを、操作に応じて、同時に動作する外部出力ピンのグループに分けるグループ分けステップと、
上記グループ分けステップにより分けられたグループのうちの1つ以上のグループを操作に応じて指定するグループ指定ステップとを有し、
上記チェックステップは、上記グループ指定ステップで指定された1つ以上のグループのいずれかに属する外部出力ピンが同時に動作するものと見なして、上記チェックを行なうものであることを特徴とする。
【0018】
本発明の端子配置方法は、回路設計の初期段階から回路情報との整合性をチェックしながら半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づけることができる。従って、電源端子やグラウンド端子の配置、および複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した適切な端子配置を行なうことができる。
【0019】
このようにすると、同時に動作する外部出力ピンのグループの組み合わせをチェックすることができる。
【0020】
また、上記対応づけステップは、上記端子と、電源ピン、グラウンドピン、および上記外部接続ピンとを対応づけるとともに、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに、さらに、駆動能力の情報を持つ出力バッファセルを対応づけるステップであり、
上記チェックステップは、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに対してさらに対応づけられた出力バッファセルの駆動能力の情報と、上記端子と上記電源ピンおよび上記グラウンドピンとの対応づけとに基づいて、上記チェックを行なうステップであることも好ましい態様である。
【0021】
このようにすると、出力バッファセルの駆動能力に応じて半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づけることができる。
【0022】
さらに、上記対応づけステップにより上記端子に対応づけられた外部接続ピンと、上記回路仕様に基づいて設計された論理回路上の外部接続ピンとの間で名称と入出力属性が一致しているか否かをチェックする確認ステップを有するものであってもよい。
【0023】
このような確認ステップを有すると、半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを確実に対応づけることができる。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について説明する。
【0025】
図1は、本発明の一実施形態の端子配置装置のブロック図である。
【0026】
図1に示す端子配置装置10は、本発明の一実施形態の端子配置方法が適用されてなる装置であり、この端子配置装置10には、テンプレートシート生成部11と、端子配置シート編集部12と、出力同時動作グループ名組み合わせ生成部13と、出力同時動作端子数制約チェック部14と、回路ポート情報抽出部15と、回路情報比較部16とが備えられている。
【0027】
テンプレートシート生成部11は、パッケージライブラリファイル21からの情報に基づいてテンプレートシートを生成する。生成されたテンプレートシートに対して操作者が所望のデータを入力することにより端子配置シート22が生成される。以下、図2、図3、図4を参照して詳細に説明する。
【0028】
図2は、パッケージライブラリファイルの構成を示す図である。
【0029】
図2に示すパッケージライブラリファイル21は、論理回路の外部接続ピンである半導体チップのパッド番号(PAD)と、半導体パッケージの端子の番号(PIN)と、電源もしくはグラウンド(power/ground)の名称とから構成されている。ここでは、番号(PAD)1〜14と、それら番号(PAD)1〜14に対応する端子番号A1〜A14と、端子番号A1,A10,A14で表わされる端子が電源端子である旨を示す名称OVDDとが示されている。このように、半導体パッケージの端子のうちの電源端子の端子配置はあらかじめ定められている。
【0030】
図3は、2つのフィールドとテンプレートシートを示す図である。
【0031】
図3には、第1フィールド26と、第2フィールド27と、テンプレートシート28とが示されている。尚、これら第1フィールド26,第2フィールド27,テンプレートシート28は、端子配置装置10の表示部(図示せず)に表示される。最初の時点では、第1フィールド26,第2フィールド27のみ表示される。
【0032】
第1フィールド26は、テンプレートボタン(Template)26_1と、グループボタン(Group)26_2と、チェックボタン(Check)26_3とから構成されている。
【0033】
テンプレートボタン26_1は、テンプレート28を生成するためのボタンであり、このテンプレートボタン26_1が操作者により操作されると、前述した図2に示すパッケージライブラリファイル21からの情報に基づいてテンプレートシート28が生成される。
【0034】
グループボタン26_2は、半導体パッケージ上の端子に対応づけられた、論理回路の外部接続ピンのうちの外部出力ピンを、操作に応じて、同時に動作する外部出力ピンのグループに分けるグループ分け機能の役割を担うボタンである。
【0035】
チェックボタン26_3は、半導体パッケージ上の端子と外部出力ピンとの対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを、後述する出力同時動作端子数制約チェック部14に対して行なわせるためのボタンである。
【0036】
第2フィールド27は、パッド部(PAD)27_1と、端子部(PIN)27_2と、信号部(SIGNAL)27_3と、セル部(CELL)27_4と、入出力部(IN/OUT)27_5と、グループ部(GROUP)27_6と、電源係数部(OVDD)27_7と、グラウンド係数部(OVSS)27_8と、メッセージ部(Message)27_9とから構成されている。
【0037】
パッド部27_1および端子部27_2は、前述した図2に示すパッケージライブラリファイル21を構成するパッド番号(PAD)および端子番号(PIN)を表示するための部分である。また、信号部27_3は、半導体パッケージの端子の信号名を表示するための部分である。
【0038】
テンプレートボタン26_1が操作されると、テンプレートシート28が生成される。ここでは、テンプレートシート28の、パッド部27_1,端子部27_2,信号部27_3に、図2に示すパッケージライブラリファイル21の内容が表示されている。
【0039】
セル部27_4は、半導体チップのパッドに接続されたIOセル名を表示するための部分である。
【0040】
入出力部27_5は、信号部27_3に表示される信号の入出力属性を表示するための部分である。
【0041】
グループ部27_6は、同時動作する出力バッファセルのグループ名を表示するための部分である。
【0042】
電源係数部27_7は、出力バッファセルの、電源側のドライブ係数の累積値(本発明にいう駆動能力の情報の一例に相当)を表示するための部分である。
【0043】
グラウンド係数部27_8は、出力バッファセルの、グラウンド側のドライブ係数の累積値(本発明にいう駆動能力の情報の他の一例に相当)を表示するための部分である。これらのドライブ係数の累積値については後述する。
【0044】
メッセージ部27_9は、同時動作する出力バッファセルの動作チェック結果(OK/NG)を表示するための部分である。再び図1を参照して説明を続ける。
【0045】
図1に示す端子配置装置1を構成する端子配置シート編集部12は、本発明にいう、半導体パッケージ上の端子に、電源ピン、グラウンドピン、および回路仕様の外部接続ピンを対応づける対応づけ機能の役割を担う部分であり、この端子配置シート編集部12は、端子番号(もしくは半導体チップのパッド番号)に対応して、図3に示すテンプレートシート28の、信号部27_3,セル部27_4,入出力部27_5の部分に、信号名,IOセル名,入出力属性を割り付ける。これにより、雛形であるテンプレートシート28が編集されて端子配置シート22が生成される。
【0046】
図4は、端子配置シート編集部で編集されて生成された端子配置シートを示す図である。
【0047】
図4に示す端子配置シート22には、端子番号A2〜A9,A11〜A13に対応して割り付けられた信号名N1〜N8,N9〜N11が表示されている。また、端子番号A2〜A5,A6〜A8,A11〜12,A13に対応して割り付けられたIOセル名OBT1,OBT2,OBT3,OBT4が表示されている。さらに、端子番号A2〜A9,A11〜A13に対応して割り付けられた入出力属性OUTが表示されている。
【0048】
ここで、操作者によりグループボタン26_2の操作が行なわれる。すると、同時動作する出力バッファセルのグループ名が割り付けられる。換言すれば、同時動作する出力バッファセルに対応する端子から出力される出力信号および双方向信号に対して、それら出力バッファセルのグループ名が定義される。
【0049】
図5は、図4に示す端子配置シートに、グループボタンが操作されて同時動作する出力バッファセルのグループ名が割り付けられた状態を示す図である。
【0050】
図5に示す端子配置シート22のグループ部27_6の部分には、同時動作する4つの出力バッファセルOBT1に対してグループ名A,同時動作する3つの出力バッファセルOBT2に対してグループ名B,同時動作する1つの出力バッファセルOBT2と2つの出力バッファセルOBT3と1つの出力バッファセルOBT4とに対してグループ名Cが割り付けられてなる状態が表示されている。
【0051】
また、図1に示す出力同時動作グループ名組み合わせ生成部13は、本発明にいうグループ指定機能の役割を担うものであり、グループボタン26_2が操作されて割り付けられたグループのうちの1つ以上のグループを操作に応じて指定する。ここでは、3つのグループの全ての組み合わせ(A,B,C,AB,BC,AC,ABC)を指定する。
【0052】
さらに、図1に示す出力同時動作端子数制約チェック部14は、本発明にいうチェック機能の役割を担うものであり、この出力同時動作端子数制約チェック部14は、半導体パッケージ上の端子と外部出力ピンとの対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なう。さらに詳細には、この出力同時動作端子数制約チェック部14は、出力同時動作グループ名組み合わせ生成部13で指定された1つ以上のグループのいずれかに属する外部出力ピンが同時に動作するものと見なして、チェックを行なう。
【0053】
また、前述した端子配置シート編集部12は、端子と、電源ピン、グラウンドピン、および外部接続ピンとを対応づけるとともに、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに、さらに、ドライブ係数の累積値を持つ出力バッファセルを対応づける役割を担うものであり、出力同時動作端子数制約チェック部14は、上記端子と上記外部出力ピンとの対応づけに対してさらに対応づけられた出力バッファセルのドライブ係数の累積値と、上記端子と上記電源ピンおよび上記グラウンドピンとの対応づけとに基づいて、上記チェックを行なう。以下、図6を参照して説明する。
【0054】
図6は、図5に示す端子配置シートに、ドライブ係数の累積値が表示された状態を示す図である。
【0055】
出力バッファセルOBT1,OBT2,OBT3,OBT4のドライブ係数は、図1に示す出力同時動作ルールファイル23で定義されており、それぞれ、3,2,3,4となっている。図6に示す端子配置シート22の電源係数部27_7における端子番号A1と端子番号A10との間には、各出力バッファセルOBT1,OBT2の、電源側のドライブ係数の累積値(3、6、9、12、14、16、18、20)が表示されている。また、電源係数部27_7における端子番号A10と端子番号A14との間には、各出力バッファセルOBT3,OBT4の、電源側のドライブ係数の累積値(3、6、10)が表示されている。
【0056】
ここで、出力同時動作端子数制約チェック部14は、全ての出力同時動作グループの組み合わせについてチェック(計算)を行ない、以下の場合にエラー表示(NG)を行なう。
【0057】
OVDD(OVSS)の許容ドライブ係数<ΣOVDD(OVSS)間の出力バッファセルのドライブ係数/2
但し、OVDD/OVSSは、出力バッファセルの電源/グラウンドを示す。
【0058】
尚、ここでは、計算対象の出力バッファセルの両側にOVDD(OVSS)が存在するため、加算した結果(累積値)を2で割る。
【0059】
上記許容ドライブ係数および出力バッファセルのドライブ係数は、出力同時動作ルールファイル23で定義されている。
【0060】
図7は、出力同時動作端子数制約チェック部による計算を説明するための端子配置シートを示す図である。
【0061】
図7に示す端子配置シート22には、全ての出力同時動作グループの組み合わせ(A,B,C,AB,BC,AC,ABC)が表示されている。
【0062】
ここで、出力同時動作グループ名=ABCを対象としたときの、PAD=10のメッセージ部(Message)27_9の欄にはNG(出力同時動作端子数エラー)が表示されている。この出力同時動作端子数エラーは、以下のようにして算出される。
【0063】
計算対象としては、半導体チップにおけるPAD=10の電源の両側に配置される出力バッファセルの中で、出力同時動作グループ名がAまたはBまたはCが定義されてなる、PAD=2〜9、PAD=11〜13に割り付けられる出力バッファセルである。
【0064】
ここで、OVDDの許容ドライブ係数(図7に示すspec)は8(出力同時動作ルールファイル23より)である。
【0065】
また、PAD1とPAD10と間における出力バッファセルのドライブ係数ΣOVDD(図7に示すval)は、
ΣOVDD=(OBT1のドライブ係数×OBT1の個数+OBT2のドライブ係数×OBT2の個数)/2+(OBT3のドライブ係数×OBT3の個数+OBT4のドライブ係数×OBT4の個数)/2=10である。
【0066】
従って、メッセージ部27_9の、PAD10に対応する部分にNG(spec=8,val=10)が表示される。尚、PAD10とPAD14と間における出力バッファセルのドライブ係数ΣOVDDは、10/2=5であるため、メッセージ部27_9の、PAD14に対応する部分にOKが表示される。さらに、PAD14とPAD1と間における出力バッファセルのドライブ係数ΣOVDDは0であり、このためメッセージ部27_9の、PAD1に対応する部分にOKが表示される。また、NGが表示された場合(エラーが発生した場合)は、電源/グラウンドの追加、端子配置の変更を実施し、エラーがなくなるまで上記計算を繰り返し行なう。
【0067】
その後、図1に示す回路ポート情報抽出部15で、回路データ24から外部接続ピンに接続する回路ポート情報25を抽出する。
【0068】
さらに、回路情報比較部16において、回路ポート情報25と端子配置シート22の端子割り付け情報が一致しているかおよびそれらファイルの信号数の過不足チェックと、同一信号に対してIOセル名が一致しているかおよび入出力属性が一致しているのかのチェックが行なわれる。
【0069】
このように、本実施形態の端子配置装置10は、半導体パッケージ上の端子と論理回路仕様の外部接続ピンを対応づけるとともに、その対応づけが、所定の出力端子同時動作制約に合致した対応づけであるか否かのチェックを行なうものであるため、回路設計の初期段階から回路情報との整合性をチェックしながら半導体パッケージ上の端子に論理回路の外部接続ピンを対応づけることができる。従って、電源端子やグラウンド端子の配置、および複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した適切な端子配置を行なうことができる。
【0070】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の端子配置装置および端子配置方法によれば、複数の出力バッファセルの同時動作に起因して発生するノイズを考慮した端子配置を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態の端子配置装置のブロック図である。
【図2】パッケージライブラリファイルの構成を示す図である。
【図3】2つのフィールドとテンプレートシートを示す図である。
【図4】端子配置シート編集部で編集されて生成された端子配置シートを示す図である。
【図5】図4に示す端子配置シートに、グループボタンが操作されて同時動作する出力バッファセルのグループ名が割り付けられた状態を示す図である。
【図6】図5に示す端子配置シートに、ドライブ係数の累積値が表示された状態を示す図である。
【図7】出力同時動作端子数制約チェック部による計算を説明するための端子配置シートを示す図である。
【符号の説明】
10 端子配置装置
11 テンプレートシート生成部
12 端子配置シート編集部
13 出力同時動作グループ名組み合わせ生成部
14 出力同時動作端子数制約チェック部
15 回路ポート情報抽出部
16 回路情報比較部
21 パッケージライブラリファイル
22 端子配置シート
23 出力同時動作ルールファイル
24 回路データ
25 回路ポート情報
26 第1フィールド
26_1 テンプレートボタン(Template)
26_2 グループボタン(Group)
26_3 チェックボタン(Check)
27 第2フィールド
27_1 パッド部(PAD)
27_2 端子部(PIN)
27_3 信号部(SIGNAL)
27_4 セル部(CELL)
27_5 入出力部(IN/OUT)
27_6 グループ部(GROUP)
27_7 電源係数部(OVDD)
27_8 グラウンド係数部(OVSS)
27_9 メッセージ部(Message)
28 テンプレートシート
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a terminal arrangement apparatus and a terminal arrangement method for associating external connection pins of a logic circuit with terminals on a semiconductor package.
[0002]
[Prior art]
A semiconductor integrated circuit device includes a semiconductor chip called a die on which a logic circuit is mounted, and a semiconductor package covered with the semiconductor chip. As a semiconductor package, a BGA (Ball Grid Array) package or a PGA (Pin Grid Array) package that can be easily mounted on a circuit board incorporated in an electronic device is widely used. Such a semiconductor package includes a terminal (referred to as an external terminal) for connection to a circuit board of an electronic device, an internal terminal wire-bonded to a pad that is an external connection pin of a logic circuit mounted on a semiconductor chip. In addition, a wiring pattern in which these external terminals and internal terminals are connected is provided. On the other hand, the semiconductor chip is provided with a plurality of output buffer cells, and the plurality of output buffer cells are connected to the plurality of external terminals provided in the semiconductor package via the pads, bonding wires, and internal terminals. Has been.
[0003]
Here, when the plurality of output buffer cells simultaneously change from the OFF state to the ON state, the signals of the plurality of external terminals provided corresponding to the plurality of output buffer cells also simultaneously change from the “H” level to the “L” level. Change. Similarly, when the plurality of output buffer cells simultaneously change from the on state to the off state, the signals of the plurality of external terminals also change from the “L” level to the “H” level at the same time. Along with this, charging / discharging currents corresponding to the load capacities of the plurality of external terminal sides instantaneously simultaneously flow through the power supply line and the ground line. Then, noise is generated in the power supply line and the ground line.
[0004]
Therefore, in designing a semiconductor package, there has been proposed a terminal arrangement device that places a limit on the number of output buffer cells that can be operated simultaneously, and that arranges external terminals including a power supply terminal and a ground terminal in consideration of this restriction. For example, a first terminal information editing unit that displays a pad number of a semiconductor chip and performs an editing operation and a second terminal information editing unit that displays an external terminal number of a semiconductor package and performs an editing operation are provided. There has been proposed a terminal arrangement device that visually arranges external terminals by linking a terminal information editing unit and a second terminal information editing unit (see Patent Document 1).
[Patent Document 1]
JP 11-328240 A
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
In designing a semiconductor integrated circuit device, the number of necessary power supply terminals and ground terminals is checked, and depending on the result, the size of the semiconductor package or semiconductor chip may change. For this reason, it is preferable to arrange the external terminals in the initial stage of designing the logic circuit mounted on the semiconductor chip.
[0006]
However, the terminal arrangement device proposed in Patent Document 1 is configured so that the correspondence between the external terminal number of the semiconductor package and the pad number of the semiconductor chip has already been assigned, and the design of the logic circuit is almost completed. Since the layout is performed, it is difficult to input the layout information of the external terminals at the initial design stage of the logic circuit. Accordingly, there is a lack of external terminal arrangement in consideration of noise generated due to charge / discharge currents according to load capacitances on the plurality of external terminal sides accompanying simultaneous operation of the plurality of output buffer cells.
[0007]
Further, the terminal arrangement device proposed in Patent Document 1 extracts a plurality of pieces of external terminal information corresponding to a plurality of output buffer cells operating simultaneously from the result of a simulation by applying a test pattern, and is therefore accurate. A considerable number of test patterns are required to obtain such information. However, in recent large-scale integrated circuits, such a simulation itself is difficult, and therefore there is a problem that it is not realistic.
[0008]
Furthermore, since the design of the logic circuit is almost completed, control for assigning a plurality of external terminals corresponding to a plurality of output buffer cells operating simultaneously to the same group (simultaneous operation group) is performed only from the result of the simulation. It is difficult to make an attempt to allocate an external terminal corresponding to an output buffer cell of a certain simultaneous operation group to another simultaneous operation group for simultaneous operation. Therefore, when associating the external connection pins of the logic circuit, which is the pad of the semiconductor chip, with the terminals on the semiconductor package, there is a problem that the terminal arrangement in consideration of the noise generated due to the simultaneous operation of a plurality of output buffer cells is lacking. There is.
[0009]
In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a terminal arrangement device and a terminal arrangement method that can perform terminal arrangement in consideration of noise generated due to simultaneous operation of a plurality of output buffer cells.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
The terminal arrangement device of the present invention that achieves the above object is a terminal arrangement device that associates external connection pins of a logic circuit with terminals on a semiconductor package.
An association function for associating a power supply pin, a ground pin, and an external connection pin of a circuit specification with a terminal on a semiconductor package;
A check function for checking whether or not the correspondence between the terminal on the semiconductor package and the external output pin is a correspondence that matches a predetermined output terminal simultaneous operation constraint;
A grouping function that divides the external output pins of the external connection pins of the logic circuit associated with the terminals on the semiconductor package into groups of external output pins that operate simultaneously according to the operation;
A group designating function for designating one or more groups out of the groups divided by the grouping function according to an operation;
The check function is characterized in that the check is performed on the assumption that external output pins belonging to any one or more groups designated by the group designation function operate simultaneously. The external output pins referred to here include external input / output pins having a bidirectional function.
[0011]
The terminal arrangement apparatus according to the present invention associates terminals on a semiconductor package with external connection pins of a logic circuit specification, and checks whether or not the correspondence matches a predetermined output terminal simultaneous operation constraint. Therefore, it is possible to associate the external connection pins of the logic circuit with the terminals on the semiconductor package while checking the consistency with the circuit information from the initial stage of the circuit design. Accordingly, it is possible to perform an appropriate terminal arrangement in consideration of noise generated due to the arrangement of the power supply terminal and the ground terminal and the simultaneous operation of a plurality of output buffer cells.
[0012]
In this way, the combination of groups of external output pins operating simultaneously can be checked.
[0013]
The association function associates the terminal with a power supply pin, a ground pin, and the external connection pin, and further associates the terminal with the external output pin, and further has an output buffer having driving capability information. To associate cells,
The check function is based on the output buffer cell drive capability information further associated with the association between the terminal and the external output pin, and the association between the terminal, the power supply pin, and the ground pin. It is also a preferable aspect that the above check is performed.
[0014]
In this way, the external connection pins of the logic circuit can be associated with the terminals on the semiconductor package in accordance with the drive capability of the output buffer cell.
[0015]
Further, whether or not the name and the input / output attribute match between the external connection pin associated with the terminal by the association function and the external connection pin on the logic circuit designed based on the circuit specification. It may have a confirmation function for checking.
[0016]
With such a confirmation function, the external connection pins of the logic circuit can be reliably associated with the terminals on the semiconductor package.
[0017]
Further, the terminal arrangement method of the present invention that achieves the above object is a terminal arrangement method in which external connection pins of a logic circuit are associated with terminals on a semiconductor package.
An association step of associating a power supply pin, a ground pin, and an external connection pin of a circuit specification with a terminal on a semiconductor package;
A check step for checking whether the correspondence between the terminal on the semiconductor package and the external output pin is a correspondence that matches a predetermined output terminal simultaneous operation constraint;
A grouping step that divides the external output pins of the external connection pins of the logic circuit associated with the terminals on the semiconductor package into groups of external output pins that operate simultaneously according to the operation;
A group designation step for designating one or more groups among the groups divided by the grouping step according to an operation;
In the check step, the check is performed on the assumption that external output pins belonging to any one or more groups specified in the group specifying step operate simultaneously.
[0018]
According to the terminal arrangement method of the present invention, external connection pins of a logic circuit can be associated with terminals on a semiconductor package while checking consistency with circuit information from the initial stage of circuit design. Accordingly, it is possible to perform an appropriate terminal arrangement in consideration of noise generated due to the arrangement of the power supply terminal and the ground terminal and the simultaneous operation of a plurality of output buffer cells.
[0019]
In this way, the combination of groups of external output pins operating simultaneously can be checked.
[0020]
The associating step associates the terminal with the power supply pin, the ground pin, and the external connection pin, and further associates the terminal with the external output pin, and further includes an output buffer having driving capability information. The step of associating cells,
The checking step is based on information on the driving capability of the output buffer cell further associated with the association between the terminal and the external output pin, and the association between the terminal, the power supply pin, and the ground pin. It is also a preferred aspect that it is a step of performing the above check.
[0021]
In this way, the external connection pins of the logic circuit can be associated with the terminals on the semiconductor package in accordance with the drive capability of the output buffer cell.
[0022]
Furthermore, whether or not the name and input / output attribute match between the external connection pin associated with the terminal in the association step and the external connection pin on the logic circuit designed based on the circuit specification. It may have a confirmation step for checking.
[0023]
With such a confirmation step, the external connection pins of the logic circuit can be reliably associated with the terminals on the semiconductor package.
[0024]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.
[0025]
FIG. 1 is a block diagram of a terminal arrangement apparatus according to an embodiment of the present invention.
[0026]
A terminal arrangement device 10 shown in FIG. 1 is an apparatus to which a terminal arrangement method according to an embodiment of the present invention is applied. The terminal arrangement apparatus 10 includes a template sheet generation unit 11 and a terminal arrangement sheet editing unit 12. A simultaneous output operation group name combination generation unit 13, a simultaneous output operation terminal number constraint check unit 14, a circuit port information extraction unit 15, and a circuit information comparison unit 16.
[0027]
The template sheet generation unit 11 generates a template sheet based on information from the package library file 21. The terminal arrangement sheet 22 is generated when the operator inputs desired data to the generated template sheet. Hereinafter, a detailed description will be given with reference to FIGS. 2, 3, and 4.
[0028]
FIG. 2 is a diagram showing the structure of the package library file.
[0029]
The package library file 21 shown in FIG. 2 includes a pad number (PAD) of a semiconductor chip which is an external connection pin of a logic circuit, a terminal number (PIN) of a semiconductor package, a name of a power supply or ground (power / ground), It is composed of Here, numbers (PAD) 1 to 14, terminal numbers A1 to A14 corresponding to the numbers (PAD) 1 to 14, and names indicating that the terminals represented by the terminal numbers A1, A10, and A14 are power terminals. OVDD is shown. Thus, the terminal arrangement of the power supply terminals among the terminals of the semiconductor package is determined in advance.
[0030]
FIG. 3 is a diagram showing two fields and a template sheet.
[0031]
FIG. 3 shows a first field 26, a second field 27, and a template sheet 28. The first field 26, the second field 27, and the template sheet 28 are displayed on a display unit (not shown) of the terminal arrangement device 10. At the first time, only the first field 26 and the second field 27 are displayed.
[0032]
The first field 26 includes a template button (Template) 26_1, a group button (Group) 26_2, and a check button (Check) 26_3.
[0033]
The template button 26_1 is a button for generating the template 28. When the template button 26_1 is operated by the operator, the template sheet 28 is generated based on the information from the package library file 21 shown in FIG. Is done.
[0034]
The group button 26_2 functions as a grouping function that divides the external output pins among the external connection pins of the logic circuit associated with the terminals on the semiconductor package into groups of external output pins that operate simultaneously according to operations. It is a button that bears.
[0035]
The check button 26_3 checks whether or not the correspondence between the terminal on the semiconductor package and the external output pin is a correspondence that matches a predetermined output terminal simultaneous operation constraint. 14 is a button for causing the user to perform the operation.
[0036]
The second field 27 includes a pad part (PAD) 27_1, a terminal part (PIN) 27_2, a signal part (SIGNAL) 27_3, a cell part (CELL) 27_4, an input / output part (IN / OUT) 27_5, a group Section (GROUP) 27_6, power supply coefficient section (OVDD) 27_7, ground coefficient section (OVSS) 27_8, and message section (Message) 27_9.
[0037]
The pad portion 27_1 and the terminal portion 27_2 are portions for displaying the pad number (PAD) and the terminal number (PIN) constituting the package library file 21 shown in FIG. The signal portion 27_3 is a portion for displaying the signal names of the terminals of the semiconductor package.
[0038]
When the template button 26_1 is operated, a template sheet 28 is generated. Here, the contents of the package library file 21 shown in FIG. 2 are displayed on the pad portion 27_1, the terminal portion 27_2, and the signal portion 27_3 of the template sheet 28.
[0039]
The cell part 27_4 is a part for displaying the name of the IO cell connected to the pad of the semiconductor chip.
[0040]
The input / output unit 27_5 is a part for displaying input / output attributes of signals displayed on the signal unit 27_3.
[0041]
The group part 27_6 is a part for displaying the group name of the output buffer cells operating simultaneously.
[0042]
The power supply coefficient section 27_7 is a section for displaying the cumulative value of the drive coefficient on the power supply side of the output buffer cell (corresponding to an example of drive capability information in the present invention).
[0043]
The ground coefficient part 27_8 is a part for displaying the accumulated value of the drive coefficient on the ground side of the output buffer cell (corresponding to another example of information on the driving ability in the present invention). The accumulated values of these drive coefficients will be described later.
[0044]
The message part 27_9 is a part for displaying an operation check result (OK / NG) of simultaneously operating output buffer cells. The description will be continued with reference to FIG.
[0045]
The terminal arrangement sheet editing unit 12 constituting the terminal arrangement apparatus 1 shown in FIG. 1 is an association function for associating power supply pins, ground pins, and external connection pins of circuit specifications with terminals on a semiconductor package according to the present invention. The terminal arrangement sheet editing unit 12 corresponds to the terminal number (or the pad number of the semiconductor chip) and corresponds to the signal part 27_3, the cell part 27_4, and the input part of the template sheet 28 shown in FIG. A signal name, an IO cell name, and an input / output attribute are assigned to the output unit 27_5. Thereby, the template sheet 28 which is a template is edited, and the terminal arrangement sheet 22 is generated.
[0046]
FIG. 4 is a diagram illustrating a terminal arrangement sheet generated by being edited by the terminal arrangement sheet editing unit.
[0047]
In the terminal arrangement sheet 22 shown in FIG. 4, signal names N1 to N8 and N9 to N11 assigned to terminal numbers A2 to A9 and A11 to A13 are displayed. In addition, IO cell names OBT1, OBT2, OBT3, and OBT4 assigned to terminal numbers A2 to A5, A6 to A8, A11 to 12, and A13 are displayed. In addition, input / output attributes OUT assigned to terminal numbers A2 to A9 and A11 to A13 are displayed.
[0048]
Here, the operator operates the group button 26_2. Then, a group name of output buffer cells that operate simultaneously is assigned. In other words, group names of output buffer cells are defined for output signals and bidirectional signals output from terminals corresponding to simultaneously operating output buffer cells.
[0049]
FIG. 5 is a diagram showing a state in which the group name of the output buffer cell that operates simultaneously when the group button is operated is assigned to the terminal arrangement sheet shown in FIG.
[0050]
The group portion 27_6 of the terminal arrangement sheet 22 shown in FIG. 5 includes a group name A for four output buffer cells OBT1 that operate simultaneously, a group name B for three output buffer cells OBT2 that operate simultaneously, A state in which a group name C is assigned to one output buffer cell OBT2, two output buffer cells OBT3, and one output buffer cell OBT4 that are operating is displayed.
[0051]
Further, the simultaneous output operation group name combination generation unit 13 shown in FIG. 1 plays a role of the group designation function according to the present invention, and one or more of the groups assigned by operating the group button 26_2. Specify the group according to the operation. Here, all combinations (A, B, C, AB, BC, AC, ABC) of the three groups are designated.
[0052]
Furthermore, the output simultaneous operation terminal number constraint check unit 14 shown in FIG. 1 plays the role of the check function referred to in the present invention. It is checked whether or not the correspondence with the output pin is a correspondence that matches a predetermined output terminal simultaneous operation constraint. More specifically, the output simultaneous operation terminal number constraint check unit 14 considers that external output pins belonging to one or more groups designated by the output simultaneous operation group name combination generation unit 13 operate simultaneously. And check.
[0053]
Further, the terminal arrangement sheet editing unit 12 described above associates the terminal with the power supply pin, the ground pin, and the external connection pin, and further associates the accumulated value of the drive coefficient with the association between the terminal and the external output pin. The output simultaneous operation terminal number constraint check unit 14 has a role of associating output buffer cells with the output buffer cell drive coefficient further associated with the association between the terminal and the external output pin. The check is performed based on the accumulated value and the correspondence between the terminal, the power supply pin, and the ground pin. Hereinafter, a description will be given with reference to FIG.
[0054]
FIG. 6 is a diagram showing a state in which the cumulative value of the drive coefficient is displayed on the terminal arrangement sheet shown in FIG.
[0055]
The drive coefficients of the output buffer cells OBT1, OBT2, OBT3, and OBT4 are defined in the output simultaneous operation rule file 23 shown in FIG. 1, and are 3, 2, 3, and 4, respectively. Between the terminal number A1 and the terminal number A10 in the power supply coefficient section 27_7 of the terminal arrangement sheet 22 shown in FIG. 6, the cumulative value (3, 6, 9) of the drive coefficient on the power supply side of each output buffer cell OBT1, OBT2 , 12, 14, 16, 18, 20) are displayed. Further, between the terminal number A10 and the terminal number A14 in the power supply coefficient section 27_7, the cumulative value (3, 6, 10) of the drive coefficient on the power supply side of each output buffer cell OBT3, OBT4 is displayed.
[0056]
Here, the simultaneous output operation terminal number restriction check unit 14 checks (calculates) all combinations of the simultaneous output operation groups, and displays an error display (NG) in the following cases.
[0057]
Allowable drive coefficient of OVDD (OVSS) <drive coefficient of output buffer cell between ΣOVDD (OVSS) / 2
However, OVDD / OVSS indicates the power supply / ground of the output buffer cell.
[0058]
Here, since OVDD (OVSS) exists on both sides of the output buffer cell to be calculated, the addition result (cumulative value) is divided by two.
[0059]
The allowable drive coefficient and the output buffer cell drive coefficient are defined in the output simultaneous operation rule file 23.
[0060]
FIG. 7 is a diagram illustrating a terminal arrangement sheet for explaining the calculation by the simultaneous output operation terminal number constraint check unit.
[0061]
In the terminal arrangement sheet 22 shown in FIG. 7, combinations of all output simultaneous operation groups (A, B, C, AB, BC, AC, ABC) are displayed.
[0062]
Here, when the output simultaneous operation group name = ABC is targeted, NG (output simultaneous operation terminal number error) is displayed in the field of the message part (Message) 27_9 of PAD = 10. This output simultaneous operation terminal number error is calculated as follows.
[0063]
As a calculation target, among output buffer cells arranged on both sides of a PAD = 10 power source in a semiconductor chip, an output simultaneous operation group name is defined as A, B, or C, PAD = 2 to 9, PAD = Output buffer cells assigned to 11-13.
[0064]
Here, the allowable drive coefficient (spec shown in FIG. 7) of OVDD is 8 (from the simultaneous output operation rule file 23).
[0065]
The drive coefficient ΣOVDD (val shown in FIG. 7) of the output buffer cell between PAD1 and PAD10 is
ΣOVDD = (drive coefficient of OBT1 × number of OBT1 + drive coefficient of OBT2 × number of OBT2) / 2 + (drive coefficient of OBT3 × number of OBT3 + drive coefficient of OBT4 × number of OBT4) / 2 = 10.
[0066]
Therefore, NG (spec = 8, val = 10) is displayed in the part corresponding to PAD10 in the message part 27_9. Since the drive coefficient ΣOVDD of the output buffer cell between PAD10 and PAD14 is 10/2 = 5, OK is displayed in the part corresponding to PAD14 in message part 27_9. Further, the drive coefficient ΣOVDD of the output buffer cell between PAD14 and PAD1 is 0, so that OK is displayed in the part corresponding to PAD1 in message part 27_9. When NG is displayed (when an error occurs), the power supply / ground is added and the terminal arrangement is changed, and the above calculation is repeated until there is no error.
[0067]
Thereafter, the circuit port information extraction unit 15 shown in FIG. 1 extracts circuit port information 25 connected to the external connection pins from the circuit data 24.
[0068]
Further, in the circuit information comparison unit 16, whether the circuit port information 25 matches the terminal allocation information of the terminal arrangement sheet 22, and the number of signals in those files is checked. And whether the input / output attributes match is checked.
[0069]
As described above, the terminal arrangement device 10 of the present embodiment associates the terminals on the semiconductor package with the external connection pins of the logic circuit specifications, and the correspondence is a correspondence that matches the predetermined output terminal simultaneous operation restriction. Since it is checked whether or not there is, the external connection pins of the logic circuit can be associated with the terminals on the semiconductor package while checking the consistency with the circuit information from the initial stage of circuit design. Accordingly, it is possible to perform an appropriate terminal arrangement in consideration of noise generated due to the arrangement of the power supply terminal and the ground terminal and the simultaneous operation of a plurality of output buffer cells.
[0070]
【The invention's effect】
As described above, according to the terminal arrangement device and the terminal arrangement method of the present invention, it is possible to perform terminal arrangement in consideration of noise generated due to simultaneous operation of a plurality of output buffer cells.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram of a terminal arrangement device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a package library file.
FIG. 3 is a diagram showing two fields and a template sheet.
FIG. 4 is a diagram illustrating a terminal arrangement sheet generated by being edited by a terminal arrangement sheet editing unit.
5 is a diagram showing a state in which group names of output buffer cells that operate simultaneously when a group button is operated are assigned to the terminal arrangement sheet shown in FIG. 4; FIG.
6 is a diagram showing a state in which the cumulative values of drive coefficients are displayed on the terminal arrangement sheet shown in FIG.
FIG. 7 is a diagram showing a terminal arrangement sheet for explaining calculation by the simultaneous output terminal number restriction check unit;
[Explanation of symbols]
10 Terminal arrangement device
11 Template sheet generator
12 Terminal layout sheet editor
13 Output simultaneous operation group name combination generator
14 Output simultaneous operation terminal number restriction check part
15 Circuit port information extraction unit
16 Circuit information comparator
21 Package library file
22 Terminal Arrangement Sheet
23 Output simultaneous operation rule file
24 Circuit data
25 Circuit port information
26 First field
26_1 Template button (Template)
26_2 Group button (Group)
26_3 Check button (Check)
27 Second field
27_1 Pad part (PAD)
27_2 Terminal (PIN)
27_3 Signal section (SIGNAL)
27_4 Cell part (CELL)
27_5 Input / output unit (IN / OUT)
27_6 Group Department (GROUP)
27_7 Power supply coefficient section (OVDD)
27_8 Ground coefficient part (OVSS)
27_9 Message part (Message)
28 Template sheet

Claims (2)

半導体パッケージ上の端子に半導体チップのパッドである論理回路の外部接続ピンを対応づける端子配置装置において、
半導体パッケージ上の端子に、電源ピン、グラウンドピン、および外部出力ピンを含む回路仕様の外部接続ピンを対応づける端子配置シートを表示する表示部と、
半導体パッケージ上の端子と外部接続ピンとの対応づけに基づいて、電源ピンもしくはグランドピンの許容ドライブ係数が、電源ピン間もしくはグランドピン間に配置された外部出力ピンに対応づけられた出力バッファセルのドライブ係数の累積値の1/2未満であるか否かのチェックを行なう出力同時動作端子数制約チェック部と、
時に動作する外部出力ピンのグループのうちの、2つ以上のグループの組み合わせ操作者の操作に応じて指定する出力同時動作グループ名組み合わせ生成部とを備え、
前記チェックは、前記出力同時動作グループ名組み合わせ生成部で指定されたつ以上のグループのいずれかに属する外部出力ピンが同時に動作するものと見なして、前記チェックを行なうものであることを特徴とする端子配置装置。
In a terminal arrangement device that associates external connection pins of a logic circuit, which is a pad of a semiconductor chip, with terminals on a semiconductor package,
A display unit that displays a terminal arrangement sheet that associates external connection pins of a circuit specification including power supply pins, ground pins, and external output pins with terminals on a semiconductor package;
Based on the correspondence between the terminal on the semiconductor package and the external connection pin, the allowable drive coefficient of the power supply pin or the ground pin corresponds to the external output pin arranged between the power supply pins or between the ground pins. An output simultaneous operation terminal number constraint check unit for checking whether or not the cumulative value of the drive coefficient is less than ½ ,
And an external output pin of the group of output co-operation group name combination generating unit for designating in response to operation of the operator to a combination of two or more groups that operate simultaneously,
Characterized in that said checking unit, it is assumed that the external output pins belonging to one of two or more groups specified by the output simultaneous operation group name combination generating unit operate simultaneously, and performs the check A terminal arrangement device.
半導体パッケージ上の端子に半導体チップのパッドである論理回路の外部接続ピンを対応づける端子配置方法において、
端子配置装置の表示部に、半導体パッケージ上の端子に、電源ピン、グラウンドピン、および外部出力ピンを含む回路仕様の外部接続ピンを対応づける端子配置シートを表示する表示ステップと、
半導体パッケージ上の端子と外部接続ピンとの対応づけに基づいて、電源ピンもしくはグランドピンの許容ドライブ係数が、電源ピン間もしくはグランドピン間に配置された外部出力ピンに対応づけられた出力バッファセルのドライブ係数の累積値の1/2未満であるか否かのチェックを、操作者による、前記端子配置シートに表示されたボタンの操作により、端子配置装置の出力同時動作端子数制約チェック部が行なうチェックステップと、
時に動作する外部出力ピンのグループのうちの、2つ以上のグループの組み合わせ、操作者による、前記端子配置シートに表示されたボタンの操作に応じて、端子配置装置の出力同時動作グループ名組み合わせ生成部が指定するグループ指定ステップとを有し、
前記チェックステップは、前記グループ指定ステップで指定されたつ以上のグループのいずれかに属する外部出力ピンが同時に動作するものと見なして、前記チェックを行なうものであることを特徴とする端子配置方法。
In a terminal arrangement method for associating an external connection pin of a logic circuit, which is a pad of a semiconductor chip, with a terminal on a semiconductor package,
A display step for displaying a terminal arrangement sheet for associating the external connection pins of the circuit specifications including the power supply pins, the ground pins, and the external output pins with the terminals on the semiconductor package on the display unit of the terminal arrangement device ;
Based on the correspondence between the terminal on the semiconductor package and the external connection pin, the allowable drive coefficient of the power supply pin or the ground pin corresponds to the external output pin arranged between the power supply pins or between the ground pins. Whether or not the cumulative value of the drive coefficient is less than ½ is checked by the simultaneous output terminal number constraint check unit of the terminal arrangement device by the operation of the button displayed on the terminal arrangement sheet by the operator. Check step and
Of group of the external output pins that operate simultaneously, the combination of two or more groups, by the operator, in response to operation of the button displayed on the terminal arrangement sheet, simultaneous output operation group of terminals arranged device A group specifying step specified by the name combination generation unit ,
The check step, it is assumed that the external output pins belonging to one of two or more groups specified by the group specifying step are operated at the same time, terminal arrangement wherein the and performs the check .
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