JP2817672B2 - 半導体メモリ - Google Patents
半導体メモリInfo
- Publication number
- JP2817672B2 JP2817672B2 JP7206094A JP20609495A JP2817672B2 JP 2817672 B2 JP2817672 B2 JP 2817672B2 JP 7206094 A JP7206094 A JP 7206094A JP 20609495 A JP20609495 A JP 20609495A JP 2817672 B2 JP2817672 B2 JP 2817672B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- input
- address
- time
- address signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
- G11C7/1087—Data input latches
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
- G11C7/1093—Input synchronization
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1018—Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体メモリに関し、特
にバーストモードを持つ高速メモリの書き込み方法に関
する。
にバーストモードを持つ高速メモリの書き込み方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】近年、CPUと主記憶に用いるDRAM
の速度差が問題となっている。飛躍的に高速化したCP
Uの要求に対して、速度の改善が少ないDRAMが答え
られない。このため、高速なCPUを使うコンピュータ
システムでは、主記憶に比較して少量ではあるが高速な
キャッシュメモリをCPUチップ内または外付けで接続
し、この速度差を吸収する。
の速度差が問題となっている。飛躍的に高速化したCP
Uの要求に対して、速度の改善が少ないDRAMが答え
られない。このため、高速なCPUを使うコンピュータ
システムでは、主記憶に比較して少量ではあるが高速な
キャッシュメモリをCPUチップ内または外付けで接続
し、この速度差を吸収する。
【0003】キャッシュメモリは主記憶の内、一部のデ
ータのコピーを持っている。このデータのコピーは連続
したアドレスを持つ複数のデータを単位とし、この単位
をページと呼ぶ。CPUは通常、キャッシュメモリに対
してアクセスを行う。キャッシュメモリ内に所望するデ
ータがないときには主記憶から新たに所望するデータを
キャッシュメモリにコピーする。この際、コピーはペー
ジ単位で行われる。
ータのコピーを持っている。このデータのコピーは連続
したアドレスを持つ複数のデータを単位とし、この単位
をページと呼ぶ。CPUは通常、キャッシュメモリに対
してアクセスを行う。キャッシュメモリ内に所望するデ
ータがないときには主記憶から新たに所望するデータを
キャッシュメモリにコピーする。この際、コピーはペー
ジ単位で行われる。
【0004】このため、このようなシステムでは主記憶
には、キャッシュメモリに対し連続したアドレスを持つ
データ列を高速に入出力できることが要求される。この
ため、先頭アドレスを指定するのみで、これを含むデー
タ列をクロック信号に同期して入出力する方法がある。
これをバースト入出力といい、1つのアドレスを指定す
ることによって入出力されるデータ列の長さをバースト
長と呼ぶ。バースト入出力を行うメモリの典型的な例と
してシンクロナスDRAMがある。
には、キャッシュメモリに対し連続したアドレスを持つ
データ列を高速に入出力できることが要求される。この
ため、先頭アドレスを指定するのみで、これを含むデー
タ列をクロック信号に同期して入出力する方法がある。
これをバースト入出力といい、1つのアドレスを指定す
ることによって入出力されるデータ列の長さをバースト
長と呼ぶ。バースト入出力を行うメモリの典型的な例と
してシンクロナスDRAMがある。
【0005】通常、汎用DRAM(ファースツページモ
ードを持つDRAM)はアドレスアクセス時間が20n
s(50MHz)程度である。シンクロナスDRAMで
は、1つのデータの処理にかかる時間は基本的には汎用
DRAMと同一であるが、内部の処理を多重化し、複数
のデータを同時に処理することにより、1データ当たり
の見かけ上の処理時間を短縮し、入出力を高速化し10
0MHz以上の速度を得る。内部処理の多重化には、パ
イプライン方式とプリフェッチ方式とがある。
ードを持つDRAM)はアドレスアクセス時間が20n
s(50MHz)程度である。シンクロナスDRAMで
は、1つのデータの処理にかかる時間は基本的には汎用
DRAMと同一であるが、内部の処理を多重化し、複数
のデータを同時に処理することにより、1データ当たり
の見かけ上の処理時間を短縮し、入出力を高速化し10
0MHz以上の速度を得る。内部処理の多重化には、パ
イプライン方式とプリフェッチ方式とがある。
【0006】パイプライン方式は、内部の処理をいくつ
かのステージに分割し、1つのデータに関する情報を各
ステージで順次処理する。つまり、第1のステージで処
理された第1のデータは、次のクロックサイクルで第2
のステージで処理される。それと同時に第2のデータは
第1のデータのステージで処理される。各ステージは並
列に同時に行われるため、ステージ数分のデータが並列
処理されることになる。この方式では、ステージ数を増
し、各ステージの処理を短縮すれば並列度が上がり、バ
ースト入出力の速度は増加する。ただし、DRAM内部
の処理関係で、各ステージを区切れる箇所は限られてい
る。また、最小クロック周期は最も時間のかかるステー
ジに合わせなければならない。さらに、各ステージ間を
接続する回路でのオーバーヘッドも増加するため、ステ
ージ数は事実上3〜4程度に制限される。つまり、デー
タの多重度も3〜4に制限される。
かのステージに分割し、1つのデータに関する情報を各
ステージで順次処理する。つまり、第1のステージで処
理された第1のデータは、次のクロックサイクルで第2
のステージで処理される。それと同時に第2のデータは
第1のデータのステージで処理される。各ステージは並
列に同時に行われるため、ステージ数分のデータが並列
処理されることになる。この方式では、ステージ数を増
し、各ステージの処理を短縮すれば並列度が上がり、バ
ースト入出力の速度は増加する。ただし、DRAM内部
の処理関係で、各ステージを区切れる箇所は限られてい
る。また、最小クロック周期は最も時間のかかるステー
ジに合わせなければならない。さらに、各ステージ間を
接続する回路でのオーバーヘッドも増加するため、ステ
ージ数は事実上3〜4程度に制限される。つまり、デー
タの多重度も3〜4に制限される。
【0007】プリフェッチ方式は、内部処理を全て並列
に行い、入出力部でパラレル−シリアル変換を行う。こ
の方式で多重度を上げるためには、並列に処理するデー
タの数を増加させる。このためには、同一の回路が並列
分だけ必要であり、回路規模が大きくなり、これを実現
するためのチップ面積が増大する。また、この方式で
は、データの入出力は並列分を単位として行わなければ
ならず、並列分を下回る単位のデータの入出力はできな
い。このため並列度を上げると機能上の自由度が低下す
る。これらの理由により並列度、つまり多重度は2程度
に制限される。
に行い、入出力部でパラレル−シリアル変換を行う。こ
の方式で多重度を上げるためには、並列に処理するデー
タの数を増加させる。このためには、同一の回路が並列
分だけ必要であり、回路規模が大きくなり、これを実現
するためのチップ面積が増大する。また、この方式で
は、データの入出力は並列分を単位として行わなければ
ならず、並列分を下回る単位のデータの入出力はできな
い。このため並列度を上げると機能上の自由度が低下す
る。これらの理由により並列度、つまり多重度は2程度
に制限される。
【0008】このように上記2方式はどちらもデータの
多重度を上げることにより、高速化することができる
が、各々の理由により多重度には限界がある。内部処理
の多重化をさらに進め、入出力の高速化を図るために、
上記2方式の併用が考えられる。つまり、パイプライン
方式での一部または全部のステージにおいてプリフェッ
チ方式を採用する方式であり、パイプライン、プリフェ
ッチ併用方式(以下、併用方式)と呼ぶ。
多重度を上げることにより、高速化することができる
が、各々の理由により多重度には限界がある。内部処理
の多重化をさらに進め、入出力の高速化を図るために、
上記2方式の併用が考えられる。つまり、パイプライン
方式での一部または全部のステージにおいてプリフェッ
チ方式を採用する方式であり、パイプライン、プリフェ
ッチ併用方式(以下、併用方式)と呼ぶ。
【0009】メモリの内部処理は読み出し時には、
(1)外部信号(コマンド、アドレス)のラッチおよび
これらの処理、(2)セルアレイからデータの読み出
し、(3)外部へのデータ出力の順で行われる。また、
書き込み時には(1)外部信号(コマンド、アドレス、
データ)のラッチおよびこれらの処理、(2)セルアレ
イへのデータの書き込みの順で行われる。
(1)外部信号(コマンド、アドレス)のラッチおよび
これらの処理、(2)セルアレイからデータの読み出
し、(3)外部へのデータ出力の順で行われる。また、
書き込み時には(1)外部信号(コマンド、アドレス、
データ)のラッチおよびこれらの処理、(2)セルアレ
イへのデータの書き込みの順で行われる。
【0010】ここで、読み出し時における外部へのデー
タ出力、および、書き込み時におけるデータのラッチ
は、外部との信号のやりとりであるので、プリフェッチ
で多重化することはできない。これに対しセルアレイに
対する入出力は、入出力経路を多重化することにより、
プリフェッチによる多重化が可能である。また、コマン
ドのラッチおよび処理については、1つのコマンドに対
してプリフェッチ分の複数のデータを入出力することが
決定しているので、処理系統は1つでも、複数のデータ
に対する処理が行われることになる。アドレスのラッチ
および処理についても同様に、1つの外部アドレスに対
してプリフェッチ分の複数データに対する内部アドレス
を決定することができる。
タ出力、および、書き込み時におけるデータのラッチ
は、外部との信号のやりとりであるので、プリフェッチ
で多重化することはできない。これに対しセルアレイに
対する入出力は、入出力経路を多重化することにより、
プリフェッチによる多重化が可能である。また、コマン
ドのラッチおよび処理については、1つのコマンドに対
してプリフェッチ分の複数のデータを入出力することが
決定しているので、処理系統は1つでも、複数のデータ
に対する処理が行われることになる。アドレスのラッチ
および処理についても同様に、1つの外部アドレスに対
してプリフェッチ分の複数データに対する内部アドレス
を決定することができる。
【0011】このように各処理で、プリフェッチの有無
が異なるので、併用方式の場合、この処理時間でステー
ジを区切ることになる。このとき、各処理が複数のステ
ージによって構成されるのは構わない。
が異なるので、併用方式の場合、この処理時間でステー
ジを区切ることになる。このとき、各処理が複数のステ
ージによって構成されるのは構わない。
【0012】以下、この併用方式の従来例について説明
する。
する。
【0013】図3は従来例を示す回路図、図4は従来例
の動作を示すタイミング図である。
の動作を示すタイミング図である。
【0014】図4の従来例はアドレス入力からアドレス
の内部処理を行う第1のステージと、内部処理されたア
ドレスで示されるセルに対してデータの入出力を行う第
2のステージを含んでいる。実際には読み出し時にはこ
の後、データを出力するまでの処理を行うステージが必
要であるが、本発明部分とは関係がないので、ここでは
省略されている。
の内部処理を行う第1のステージと、内部処理されたア
ドレスで示されるセルに対してデータの入出力を行う第
2のステージを含んでいる。実際には読み出し時にはこ
の後、データを出力するまでの処理を行うステージが必
要であるが、本発明部分とは関係がないので、ここでは
省略されている。
【0015】第2のステージは2ビットのプリフェッチ
動作を行う。このため、同時に動作する2つのライトア
ンプ9,10と、それぞれに接続されるデータラッチ回
路5,6を備えている。データラッチ回路5,6に対す
る入力は、ラッチパルス発生回路4’から出力されるラ
ッチ信号LP0,LP1によってそれぞれ行われる。
動作を行う。このため、同時に動作する2つのライトア
ンプ9,10と、それぞれに接続されるデータラッチ回
路5,6を備えている。データラッチ回路5,6に対す
る入力は、ラッチパルス発生回路4’から出力されるラ
ッチ信号LP0,LP1によってそれぞれ行われる。
【0016】本従来例は2ビットのプリフェッチ動作と
したが、さらに多数のビットの並列動作としても構わな
い。
したが、さらに多数のビットの並列動作としても構わな
い。
【0017】書き込み時、時間T0において、基準クロ
ック信号CLKによって、書き込みコマンド信号CMD
と、外部アドレス端子からは、バースト動作で最初に書
き込むべきアドレス(外部アドレス信号)が入力され
る。
ック信号CLKによって、書き込みコマンド信号CMD
と、外部アドレス端子からは、バースト動作で最初に書
き込むべきアドレス(外部アドレス信号)が入力され
る。
【0018】外部アドレスEAが入力されるのは、コマ
ンド入力時のみである。
ンド入力時のみである。
【0019】アドレスバッファ回路1は、外部アドレス
信号AE0をラッチし、これに基づいて内部アドレス発
生回路2がバースト動作を行うために、外部アドレス信
号EA0から内部アドレス信号IA0を生成する。内部
アドレス信号IA0の生成にはある程度(数ns)の時
間を要する。
信号AE0をラッチし、これに基づいて内部アドレス発
生回路2がバースト動作を行うために、外部アドレス信
号EA0から内部アドレス信号IA0を生成する。内部
アドレス信号IA0の生成にはある程度(数ns)の時
間を要する。
【0020】外部アドレス入力と同時に最初に書き込ま
れるべきデータED0がデータインフバッファ回路3に
入力される。このデータはバーストの先頭データであ
る。このデータは、データラッチ回路5または6に入力
される。どちらのデータラッチ回路に入力するかで、ラ
イトアンプ9,10のどちらに書き込むか、また、どの
メモリセルに書き込むかが決定される。したがって、デ
ータラッチ回路5,6にデータを格納するためにラッチ
信号LP0,LP1のどちらを活性化するかを判断する
ためには、アドレス信号IA0が必要になる。
れるべきデータED0がデータインフバッファ回路3に
入力される。このデータはバーストの先頭データであ
る。このデータは、データラッチ回路5または6に入力
される。どちらのデータラッチ回路に入力するかで、ラ
イトアンプ9,10のどちらに書き込むか、また、どの
メモリセルに書き込むかが決定される。したがって、デ
ータラッチ回路5,6にデータを格納するためにラッチ
信号LP0,LP1のどちらを活性化するかを判断する
ためには、アドレス信号IA0が必要になる。
【0021】先に述べたように、ある程度の時間(数n
s)がたたないと、内部アドレス信号IA0の生成が行
われない。したがって、これが終わるまで、データの格
納を待つことになる。
s)がたたないと、内部アドレス信号IA0の生成が行
われない。したがって、これが終わるまで、データの格
納を待つことになる。
【0022】ここでは、内部アドレス信号IA0の発生
を待って、これからデータED0をデータラッチ回路5
に格納している。
を待って、これからデータED0をデータラッチ回路5
に格納している。
【0023】次の基準クロック信号においては、バース
ト2番目のデータED1が外部から入力される。データ
ED1はデータED0と同様の処理を経てデータラッチ
回路6に格納される。データラッチ回路5,6の出力は
それぞれデータバス7,8を通じてライトアンプ9,1
0により対をなしてメモリセルアレイ11に書き込まれ
る。
ト2番目のデータED1が外部から入力される。データ
ED1はデータED0と同様の処理を経てデータラッチ
回路6に格納される。データラッチ回路5,6の出力は
それぞれデータバス7,8を通じてライトアンプ9,1
0により対をなしてメモリセルアレイ11に書き込まれ
る。
【0024】
【発明が解決しようとする課題】併用方式を含め、プリ
フェッチ方式では、チップ外部からシリアルに入力され
る複数のデータを内部では並列処理し、内部で並列に処
理されたデータをチップ外部にシリアルに出力するため
に、データのパラレル−シリアル変換を行う。
フェッチ方式では、チップ外部からシリアルに入力され
る複数のデータを内部では並列処理し、内部で並列に処
理されたデータをチップ外部にシリアルに出力するため
に、データのパラレル−シリアル変換を行う。
【0025】通常、外部アドレス信号と第1のデータは
同時に外部から入力される。また、何番目のデータが、
並列処理されるデータの内、どれに対応するかは第1の
データと同時に入力されるアドレス信号によって決定さ
れる。
同時に外部から入力される。また、何番目のデータが、
並列処理されるデータの内、どれに対応するかは第1の
データと同時に入力されるアドレス信号によって決定さ
れる。
【0026】したがって、従来例では外部から入力され
たアドレス信号が内部で処理されるまではパラレル→シ
リアル変換を行うことはできない。
たアドレス信号が内部で処理されるまではパラレル→シ
リアル変換を行うことはできない。
【0027】読み出し時には、データのパラレル→シリ
アル変換は、セルアレイのアクセス後に行われる。セル
アレイをアクセスするためには、アドレス信号の内部処
理を終了していなくてはならない。したがって、パラレ
ル→シリアル変換時には既にアドレス信号の内部処理は
終了しているので問題はない。
アル変換は、セルアレイのアクセス後に行われる。セル
アレイをアクセスするためには、アドレス信号の内部処
理を終了していなくてはならない。したがって、パラレ
ル→シリアル変換時には既にアドレス信号の内部処理は
終了しているので問題はない。
【0028】しかし、書き込み時には、セルアレイのア
クセス時にアクセスされる全てのデータがプリフェッチ
されていなければならないため、この前にシリアル→パ
ラレル変換が終了しなければならない。変換されるデー
タはシリアル入力される。したがって、最終データの変
換をセルアレイのアクセス時に間に合わせるためには、
それより前に入力されるデータは、最終データより早い
時間に変換を行なう必要がある。
クセス時にアクセスされる全てのデータがプリフェッチ
されていなければならないため、この前にシリアル→パ
ラレル変換が終了しなければならない。変換されるデー
タはシリアル入力される。したがって、最終データの変
換をセルアレイのアクセス時に間に合わせるためには、
それより前に入力されるデータは、最終データより早い
時間に変換を行なう必要がある。
【0029】このため、書き込み時にはシリアル→パラ
レル変換を行うために、アドレス内部処理はセルアレイ
のアクセスに先んじて行う必要がある。
レル変換を行うために、アドレス内部処理はセルアレイ
のアクセスに先んじて行う必要がある。
【0030】逆に、アドレス内部処理が、データが入力
されてからラッチされるまでの時間より長い場合には、
データのラッチを遅らせる必要がある。このため、書き
込みの速度が遅くなる。
されてからラッチされるまでの時間より長い場合には、
データのラッチを遅らせる必要がある。このため、書き
込みの速度が遅くなる。
【0031】本発明の目的は、高速なバーストモードを
持つ半導体メモリを提供することである。
持つ半導体メモリを提供することである。
【0032】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体メモリ
は、バースト入力機能を持ち、内部データ処理におい
て、複数のデータラッチ回路を持ち、外部からシリアル
に入力されるデータを前記データラッチ回路に格納する
ことによりシリアル−パラレル変換を行い、バースト入
力の最初のデータは、外部から入力されるアドレス信号
とは無関係に、前記複数のデータラッチ回路の内、格納
される可能性のある回路に全て格納し、次データ以降
は、外部から入力されたアドレス信号にしたがって、そ
れぞれ、前記複数のデータラッチ回路の内の1つに格納
する。
は、バースト入力機能を持ち、内部データ処理におい
て、複数のデータラッチ回路を持ち、外部からシリアル
に入力されるデータを前記データラッチ回路に格納する
ことによりシリアル−パラレル変換を行い、バースト入
力の最初のデータは、外部から入力されるアドレス信号
とは無関係に、前記複数のデータラッチ回路の内、格納
される可能性のある回路に全て格納し、次データ以降
は、外部から入力されたアドレス信号にしたがって、そ
れぞれ、前記複数のデータラッチ回路の内の1つに格納
する。
【0033】本発明の半導体メモリでは、外部アドレス
と同一の基準クロックをもって入力され、プリフェッチ
される内部アドレス信号が決定される以前にチップに入
力される第1のデータは、このデータをラッチする可能
性のあるラッチ回路全てにラッチする。次の基準クロッ
クでアドレスが決定された後、チップに入力される第2
以降のデータは、アドレス信号によってラッチされるべ
きラッチ回路のみに入力される。
と同一の基準クロックをもって入力され、プリフェッチ
される内部アドレス信号が決定される以前にチップに入
力される第1のデータは、このデータをラッチする可能
性のあるラッチ回路全てにラッチする。次の基準クロッ
クでアドレスが決定された後、チップに入力される第2
以降のデータは、アドレス信号によってラッチされるべ
きラッチ回路のみに入力される。
【0034】これにより、第1のデータラッチ時に内部
でのアドレス信号処理が終了していなくても、第1のデ
ータ、第2以降のデータ共に外部からアドレスで指定さ
れるプリフェッチ回路にラッチされる。
でのアドレス信号処理が終了していなくても、第1のデ
ータ、第2以降のデータ共に外部からアドレスで指定さ
れるプリフェッチ回路にラッチされる。
【0035】
【発明の実施の形態】 次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
【0036】図1は本発明の一実施形態を示す回路図、
図2は本実施形態の動作を示すタイミング図である。
図2は本実施形態の動作を示すタイミング図である。
【0037】本実施形態では、従来例と同様にアドレス
入力からアドレスの内部処理を行う第1のステージと、
内部処理されたアドレスで示されるセルに対してデータ
の入出力を行う第2のステージを含んでいる。実際には
読み出し時にはこの後、データを出力するまでの処理を
行う第3のステージが必要であるが、本発明に関係がな
いので、ここでは省略されている。また、本実施形態で
は本発明で最低必要なパイプライン構成を示したが、こ
れをさらに細分化したパイプライン構成にしても構わな
い。
入力からアドレスの内部処理を行う第1のステージと、
内部処理されたアドレスで示されるセルに対してデータ
の入出力を行う第2のステージを含んでいる。実際には
読み出し時にはこの後、データを出力するまでの処理を
行う第3のステージが必要であるが、本発明に関係がな
いので、ここでは省略されている。また、本実施形態で
は本発明で最低必要なパイプライン構成を示したが、こ
れをさらに細分化したパイプライン構成にしても構わな
い。
【0038】第2のステージは2ビットのプリフェッチ
動作を行う。このため、同時に動作する2つのライトア
ンプ9,10と、それぞれに接続されるデータラッチ回
路5,6を備えている。データラッチ回路5,6に対す
る入力は、ラッチパルス発生回路4から出力されるラッ
チ信号LP0,LP1によってそれぞれ行われる。
動作を行う。このため、同時に動作する2つのライトア
ンプ9,10と、それぞれに接続されるデータラッチ回
路5,6を備えている。データラッチ回路5,6に対す
る入力は、ラッチパルス発生回路4から出力されるラッ
チ信号LP0,LP1によってそれぞれ行われる。
【0039】本実施形態ビットのプリフェッチ動作とし
たが、さらに多数なビットの並列動作としても構わな
い。
たが、さらに多数なビットの並列動作としても構わな
い。
【0040】次に、本実施形態の動作を図2のタイミン
グ図により説明する。
グ図により説明する。
【0041】書き込み時、時間T0において、基準クロ
ック信号CLKによって、書き込みコマンド信号CMD
と、バースト動作で最初に書き込むべきアドレス(外部
アドレス信号)が入力される。
ック信号CLKによって、書き込みコマンド信号CMD
と、バースト動作で最初に書き込むべきアドレス(外部
アドレス信号)が入力される。
【0042】外部アドレスEAが入力されるのは、コマ
ンド入力時のみである。
ンド入力時のみである。
【0043】アドレスバッファ回路1は、外部アドレス
信号EA0をラッチし、これに基づいて内部アドレス発
生回路2が、バースト動作を行うために、外部アドレス
信号EA0から内部アドレス信号IA0を生成する。I
A0の生成にはある程度(数ns)の時間を要する。
信号EA0をラッチし、これに基づいて内部アドレス発
生回路2が、バースト動作を行うために、外部アドレス
信号EA0から内部アドレス信号IA0を生成する。I
A0の生成にはある程度(数ns)の時間を要する。
【0044】外部アドレス入力と同時に最初に書き込ま
れるべきデータED0がデータインバッファ回路3に入
力される。このデータはバーストの先頭データである。
このデータは、ラッチ信号LP0,LP1により、双方
のデータデータラッチ回路5および6に入力される。し
たがって、この時点では双方のラッチ回路5,6の内容
は同一である。この動作はアドレス信号とは無関係に行
われるため、先に述べた外部アドレスEA0からの内部
アドレス信号IA0の生成が行われていなくても構わな
い。
れるべきデータED0がデータインバッファ回路3に入
力される。このデータはバーストの先頭データである。
このデータは、ラッチ信号LP0,LP1により、双方
のデータデータラッチ回路5および6に入力される。し
たがって、この時点では双方のラッチ回路5,6の内容
は同一である。この動作はアドレス信号とは無関係に行
われるため、先に述べた外部アドレスEA0からの内部
アドレス信号IA0の生成が行われていなくても構わな
い。
【0045】次の基準クロック信号CLKにおいては、
バースト2番目のデータED1が外部から入力される。
データED1はデータED0と対をなしてセルアレイに
書き込まれる。この時点までには、内部アドレス信号I
A0は生成を終えているので、データED1をラッチす
べきデータラッチ回路を決定することができる。ここで
は、ラッチ信号LP1によりデータED1をデータラッ
チ回路6にラッチする例を示した。したがって、データ
ラッチ回路5にはデータED0がラッチされたままであ
り、この時点において、2つのデータED0,ED1が
外部アドレス信号EA0にしたがって、それぞれ正しい
データラッチ回路5,6にラッチされ、これの出力がデ
ータバス7,8を通じて、ライトアンプ9,10を動作
させることによって、それぞれのデータが正しく所望の
メモリセルに書き込まれることになる。この方法によ
り、内部アドレスIA0が決定するまでデータED0の
処理を行えないという、従来例の欠点を回避できる。
バースト2番目のデータED1が外部から入力される。
データED1はデータED0と対をなしてセルアレイに
書き込まれる。この時点までには、内部アドレス信号I
A0は生成を終えているので、データED1をラッチす
べきデータラッチ回路を決定することができる。ここで
は、ラッチ信号LP1によりデータED1をデータラッ
チ回路6にラッチする例を示した。したがって、データ
ラッチ回路5にはデータED0がラッチされたままであ
り、この時点において、2つのデータED0,ED1が
外部アドレス信号EA0にしたがって、それぞれ正しい
データラッチ回路5,6にラッチされ、これの出力がデ
ータバス7,8を通じて、ライトアンプ9,10を動作
させることによって、それぞれのデータが正しく所望の
メモリセルに書き込まれることになる。この方法によ
り、内部アドレスIA0が決定するまでデータED0の
処理を行えないという、従来例の欠点を回避できる。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、高速
なバストモードを持つ半導体メモリを提供することがで
きる。
なバストモードを持つ半導体メモリを提供することがで
きる。
【図1】本発明の一実施形態を示す回路図である。
【図2】図1の実施形態の動作を示すタイミング図であ
る。
る。
【図3】従来例を示す回路図である。
【図4】図3の従来例のタイミング図である。
1 アドレスバッファ回路 2 内部アドレス発生回路 3 データインバッファ回路 4、4’ ラッチパルス発生回路 5,6 データラッチ回路 7,8 データバス 9,10 ライトアンプ 11 メモリセルアレイ CLK 基準クロック信号 CMD 書き込みコマンド信号 EA,EA0,EA1 外部アドレス信号 ED,ED0,ED1 外部データ信号 IA,IA0 内部アドレス信号 LPO、LP1 ラッチ信号 T0〜T9 時間
Claims (1)
- 【請求項1】 バースト入力機能を持ち、内部データ処
理において、複数のデータラッチ回路を持ち、外部から
シリアルに入力されるデータを前記データラッチ回路に
格納することによりシリアル−パラレル変換を行い、前
記バースト入力の最初のデータは、外部から入力される
アドレス信号とは無関係に、前記複数のデータラッチ回
路の内、格納される可能性のある回路に全て格納し、次
データ以降は、外部から入力されたアドレス信号にした
がって、それぞれ、前記複数のデータラッチ回路の内の
1つに格納する半導体メモリ。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7206094A JP2817672B2 (ja) | 1995-08-11 | 1995-08-11 | 半導体メモリ |
US08/688,440 US5768212A (en) | 1995-08-11 | 1996-07-30 | Semiconductor memory |
DE69616710T DE69616710T2 (de) | 1995-08-11 | 1996-08-02 | Halbleiterspeicher |
EP96112560A EP0762427B1 (en) | 1995-08-11 | 1996-08-02 | Semiconductor memory |
TW085109434A TW318904B (ja) | 1995-08-11 | 1996-08-05 | |
CN96109239A CN1106019C (zh) | 1995-08-11 | 1996-08-09 | 半导体存储器 |
KR1019960033322A KR100194571B1 (ko) | 1995-08-11 | 1996-08-10 | 반도체 메모리 및 그 기입 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7206094A JP2817672B2 (ja) | 1995-08-11 | 1995-08-11 | 半導体メモリ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0955089A JPH0955089A (ja) | 1997-02-25 |
JP2817672B2 true JP2817672B2 (ja) | 1998-10-30 |
Family
ID=16517712
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7206094A Expired - Fee Related JP2817672B2 (ja) | 1995-08-11 | 1995-08-11 | 半導体メモリ |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5768212A (ja) |
EP (1) | EP0762427B1 (ja) |
JP (1) | JP2817672B2 (ja) |
KR (1) | KR100194571B1 (ja) |
CN (1) | CN1106019C (ja) |
DE (1) | DE69616710T2 (ja) |
TW (1) | TW318904B (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5978281A (en) * | 1999-01-04 | 1999-11-02 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for preventing postamble corruption within a memory system |
US6081479A (en) * | 1999-06-15 | 2000-06-27 | Infineon Technologies North America Corp. | Hierarchical prefetch for semiconductor memories |
US6775759B2 (en) * | 2001-12-07 | 2004-08-10 | Micron Technology, Inc. | Sequential nibble burst ordering for data |
US20040194500A1 (en) * | 2003-04-03 | 2004-10-07 | Broadway Entertainment, Inc. | Article of jewelry |
US7652922B2 (en) | 2005-09-30 | 2010-01-26 | Mosaid Technologies Incorporated | Multiple independent serial link memory |
WO2007036050A1 (en) * | 2005-09-30 | 2007-04-05 | Mosaid Technologies Incorporated | Memory with output control |
US11948629B2 (en) | 2005-09-30 | 2024-04-02 | Mosaid Technologies Incorporated | Non-volatile memory device with concurrent bank operations |
US20070076502A1 (en) | 2005-09-30 | 2007-04-05 | Pyeon Hong B | Daisy chain cascading devices |
US7688652B2 (en) * | 2007-07-18 | 2010-03-30 | Mosaid Technologies Incorporated | Storage of data in memory via packet strobing |
US8825967B2 (en) | 2011-12-08 | 2014-09-02 | Conversant Intellectual Property Management Inc. | Independent write and read control in serially-connected devices |
US9384851B2 (en) * | 2014-02-06 | 2016-07-05 | SK Hynix Inc. | Semiconductor devices and semiconductor systems including the same |
JP6468763B2 (ja) * | 2014-09-08 | 2019-02-13 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | データ処理装置 |
CN109745693A (zh) * | 2018-12-08 | 2019-05-14 | 郑州工业应用技术学院 | 一种跳高高度自动显示装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4775990A (en) * | 1984-01-18 | 1988-10-04 | Sharp Kabushiki Kaisha | Serial-to-parallel converter |
JPS6139297A (ja) * | 1984-07-30 | 1986-02-25 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
JP2696026B2 (ja) * | 1991-11-21 | 1998-01-14 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US5610864A (en) * | 1994-12-23 | 1997-03-11 | Micron Technology, Inc. | Burst EDO memory device with maximized write cycle timing |
-
1995
- 1995-08-11 JP JP7206094A patent/JP2817672B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-07-30 US US08/688,440 patent/US5768212A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-08-02 EP EP96112560A patent/EP0762427B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-08-02 DE DE69616710T patent/DE69616710T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-08-05 TW TW085109434A patent/TW318904B/zh not_active IP Right Cessation
- 1996-08-09 CN CN96109239A patent/CN1106019C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1996-08-10 KR KR1019960033322A patent/KR100194571B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100194571B1 (ko) | 1999-06-15 |
DE69616710T2 (de) | 2002-08-22 |
EP0762427B1 (en) | 2001-11-07 |
US5768212A (en) | 1998-06-16 |
CN1106019C (zh) | 2003-04-16 |
TW318904B (ja) | 1997-11-01 |
JPH0955089A (ja) | 1997-02-25 |
CN1147135A (zh) | 1997-04-09 |
DE69616710D1 (de) | 2001-12-13 |
EP0762427A1 (en) | 1997-03-12 |
KR970012754A (ko) | 1997-03-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2817679B2 (ja) | 半導体メモリ | |
US9548088B2 (en) | Semiconductor memory asynchronous pipeline | |
JP4070051B2 (ja) | 半導体メモリ装置のデータマスキング方法とその回路、及び該回路を有する半導体メモリ装置 | |
JP3304577B2 (ja) | 半導体記憶装置とその動作方法 | |
US5926839A (en) | Method and apparatus of burst read and pipelined dynamic random access memory having multiple pipelined stages with DRAM controller and buffers integrated on a single chip | |
US6201760B1 (en) | Apparatus and method for performing data read operation in DDR SDRAM | |
KR100679370B1 (ko) | 메모리 소자에서의 워드 순서지정 방법 | |
JP2817672B2 (ja) | 半導体メモリ | |
US6539454B2 (en) | Semiconductor memory asynchronous pipeline | |
KR100637947B1 (ko) | 데이터의 순차적 니블 버스트 오더링메모리 장치 및 그 방법 | |
US20060198236A1 (en) | Write address synchronization useful for a DDR prefetch SDRAM | |
US11467965B2 (en) | Processing-in-memory (PIM) device | |
JPH09265777A (ja) | 同期型dram | |
US6272595B1 (en) | N-way set-associative cache memory which includes a store hit buffer for improved data access | |
JP2817685B2 (ja) | 半導体メモリ | |
JP2001067871A (ja) | 半導体メモリ装置及びライトデータマスキング方法 | |
JPH10134576A (ja) | 半導体メモリ装置 | |
JP2001210079A (ja) | 半導体記憶装置の動作方法 | |
JP2007328907A (ja) | 同期型バースト半導体メモリ装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |