JP2795985B2 - 電子部品組立データ作成装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は、一般に電子部品組立データ作成装置に関
し、特に印刷配線基板上にチップ部品（即ち、電子部
品）を実装する複数台のチップマウンタと、このチップ
マウンタが印刷配線基板上にチップ部品を実装するに際
して必要な組立データを作成する組立データ作成機とを
備えた電子部品組立データ作成装置に関するものであ
る。

（従来の技術） 一般に、複数台のチップマウンタを用いて各種チップ
部品を印刷配線基板上に実装する作業では、各チップ部
品の印刷配線基板上における位置決めを高精度に行なう
必要がある。そのため、従来より、上記位置決めを行な
うのに必要な組立データを、実装対象たるチップ部品の
種別や印刷配線基板上のチップ部品の実装位置等の諸条
件に基づいて各チップマウンタに共通なデータとして作
成し、この作成した共通な組立データに基づき、上記各
チップマウンタの駆動を制御していた。

（発明が解決しようとする課題） ところで、上述した従来の組立データを作成工程で
は、個々のチップマウンタの特性や、各チップマウンタ
を構成している部品の摩耗等によるチップ部品の実装作
業時の誤差（即ち、位置ズレ）等は考慮していない。よ
って、上記各要因により、印刷配線基板上に実装された
チップ部品に所定の実装位置とズレが生じると、この位
置ズレが生じた組立データを個々のチップ部品毎、チッ
プマウンタ毎に位置ズレが生じないように修正する作業
を必要とした。

ところが、このようなやり方で各チップマウンタにお
いて生じた各種チップ部品の実装位置ズレを修正すると
非常な手間がかかることとなるので、各チップマウンタ
における各種チップ部品の実装作業の能率が著しく低下
するという不具合がある。

第５図は、各チップマウンタに共通な組立データと、
この共通な組立データに基づき、上記従来の組立データ
の作成工程を経て印刷配線基板上に組立てられた後のチ
ップ抵抗器の基板上における実装位置ズレとを示した例
である。

従来、第５図にて示したような実装位置ズレが生じた
場合において、例えば、実装位置誤差x,m（ここで、x,y
は、基板上の任意の位置を原点としたときのチップ抵抗
器の中心部の基板上における座標を示す）が0.08以内で
あり、又、上記と同様にチップ抵抗器と基板との実装位
置ズレを示す角度誤差（θ）についても10゜以内であれ
ば修正不要としていた。このような前提に立って第５図
を参照すると、符号R1で示すチップ抵抗器については実
装位置ズレの修正は不要、符号R2と符号R10で示すチッ
プ抵抗器については上記修正が必要ということとなる。
符号R2と符号R10で示すチップ抵抗器については、これ
らチップ抵抗器を把持して基板上に搬送するのに、同一
規格のノズル（No.2）を同一回転角度（90゜）で用いる
こととしているので、上述したように各チップマウンタ
毎にチップ抵抗器の実装位置ズレを修正しようとすると
無駄な作業を行なうこととなる。

以上説明したように、従来の方法では、印刷配線基板
上に実装されたチップ部品に所定の実装位置とズレが生
じると、この位置ズレが生じた組立データを個々のチッ
プ部品毎、チップマウンタ毎に位置ズレが生じないよう
に修正する作業を必要としたので、この作業に非常な手
間がかかることとなり、各チップマウンタにおける各種
チップ部品の実装作業の能率が著しく低下するという不
具合があった。

従って本発明は、上記事情を考慮してなされたもの
で、その目的は、予め各種チップ部品毎に設定されてい
る各チップマウンタに共通な組立データを、各チップマ
ウンタの試運転動作時に各チップマウンタ毎に補正する
ことにより、各チップマウンタの実運転時に上記補正作
業を不要とし、もって各種チップ部品の実装作業の高能
率化を図ることが可能な電子部品組立データ作成装置を
提供することにある。

〔発明の構成〕

（課題を解決するための手段） 上記目的を達成するために本発明に係る電子部品組立
データ作成装置は、基板上における電子部品の実装位置
を示す電子部品組立データの供給を受けて、外部から駆
動指令が与えられたときに、前記データに基づき、供給
された電子部品を、保持している基板上に載置、固定す
る複数台の電子部品組立装置と、前記複数台の電子部品
組立装置が前記データに基づいて前記基板上に載置した
電子部品の該基板に対する相対位置を検知するととも
に、これら検知した相対位置と前記データとの間の誤差
を演算する誤差演算手段と、予め与えられた電子部品の
実装位置情報を基に作成した電子部品組立データを、全
ての電子部品組立装置に係る共通データとして保持する
とともに、この共通データに基づき、前記各電子部品組
立装置が試運転動作したときに前記誤差演算手段から出
力された各電子部品組立装置毎の誤差データを受けて、
前記共通データと前記各誤差データとから実運転時にお
ける各電子部品組立装置毎の電子部品組立データを作成
する電子部品組立データ作成手段と、を備えた構成とし
た。

（作 用） 上記構成によれば、複数台の電子部品組立装置は、夫
々供給された電子部品を受けて、これを保持している基
板上に載置、固定するものである。これら複数台の電子
部品組立装置は、電子部品組立データ作成手段から、基
板上における電子部品の実装位置を示す電子部品組立デ
ータの供給を受け、外部から駆動指令が与えられること
によって、前記データに基づき、供給された電子部品を
前記基板上に載置、固定する。誤差演算手段は、複数台
の電子部品組立装置が前記電子部品組立データに基づい
て前記基板上に載置した電子部品の該基板に対する相対
位置を検知する。これとともに誤差演算手段は、これら
検知した相対位置と前記電子部品組立データとの間の誤
差を、各電子部品組立装置毎に演算してこれら演算結果
を電子部品組立データ作成手段に出力することとなる。
電子部品組立データ作成手段は、電子部品の実装位置情
報が予め与えられると、この実装位置情報を基に電子部
品組立データを作成する。そしてこの作成した電子部品
組立データを、全ての電子部品組立装置に係る共通デー
タとして保持する。電子部品組立データ作成手段は、
又、この共通データを各電子部品組立装置に出力すると
ともに、各電子部品組立装置がこの共通データに基づき
試運転動作したときに前記誤差演算手段から出力された
各電子部品組立装置毎の誤差データを受ける。そして、
前記共通データと前記各電子部品組立装置毎の誤差デー
タとから、実運転時における各電子部品組立装置毎の電
子部品組立データを作成し、これら電子部品組立データ
を、対応する電子部品組立装置に供給する。

上述した説明内容から明らかなように、電子部品組立
データ作成手段から各電子部品組立装置に対して共通デ
ータが与えられ、各電子部品組立装置がこの共通データ
に基づき試運転動作したときには、前記誤差演算手段か
らは、各電子部品組立装置毎の誤差データが電子部品組
立データ作成手段に対して出力されることとなる。

従って、各種電子部品の実装作業の高能率化を図るこ
とができるようになった。

（実施例） 以下、図面により本発明の一実施例について説明す
る。

第１図は、本発明の一実施例に従う電子部品組立デー
タ作成装置の全体的な構成を示したブロック図である。
本発明の一実施例に従う電子部品組立データ作成装置
は、第１図にて示すように、組立データ作成機１を始
め、外部記憶装置２及びチップマウンタ（＃１）３、チ
ップマウンタ（＃２）４、……、チップマウンタ（＃
Ｎ）Ｎを備えた構成となっている。第１図では、図示の
都合上、チップマウンタは３台分だけしか記載していな
いが、本実施例に従う電子部品組立データ作成装置で
は、多数のチップマウンタが第２図（ａ）、第２図
（ｂ）にて示すフイルム48の移動方向に沿って略等間隔
で一列に並設されているものとする。上記各チップマウ
ンタ3,4,……,Nは、第２図（ａ）、第２図（ｂ）にて示
すようなフィルム48から、各チップ部品47を真空チャッ
ク等で吸付けて、XYステージ上に固定的に載置されてい
る印刷配線基板46上に載置するようになっている。な
お、第２図（ｂ）にて示したフイルム48の幅方向一側に
は、図のごとく多数の送り穴48aが略等間隔に形成され
ている。のみならず、上記フィルム48の上部には、第２
図（ａ）にて、示すように、テープ49が貼着されてい
る。このテープ49は、上記チップ部品47が各チップマウ
ンタ3,4,……,Nが並設されている位置まで運搬されるま
での間、各チップ部品47がフィルム48から脱落するのを
防止するために貼着されているものである。

上述した各チップマウンタ3,4,……,Nには、第１図に
て示すように同一構成のものが用いられている。

チップマウンタ（＃１）３は、第１図を参照して明ら
かなように、位置誤差検出回路６を始め、メモリ９、シ
ステム制御装置10、Ｘ・Ｙステージドライバ11、Ｘ・Ｙ
ステージ12、カメラ13、カメラコントロールユニット14
及びモニタ15を備えた構成となっている。上記各部につ
き、更に詳述しれば以下のようである。

メモリ９は、システム制御装置10を通して組立データ
作成機１から与えられた組立データを記憶する。メモリ
９は、又は、システム制御装置10からデータ読出し要求
があったときには、記憶している組立データをシステム
制御装置に出力する。ここで、メモリ９が記憶する組立
データとは、基板上における各種チップ部品（即ち、各
種電子部品）毎の実装位置を示すデータである。このデ
ータは、同一種類のチップ部品について全てのチップマ
ウンタ（＃１）３〜（＃Ｎ）Ｎに共通なデータと、この
共通なデータに基づき、各チップマウンタ（＃１）３〜
（＃Ｎ）Ｎが試運転動作したことによって得られた同一
種類のチップ部品に関する各々のチップマウンタ（＃
１）３〜（＃Ｎ）Ｎに特有の組立データと大別される。
メモリ９が記憶する上記各データについては、後に詳述
する。

Ｘ・Ｙステージドライバ11は、システム制御装置10の
制御下で、Ｘ・Ｙステージ12を２軸方向（即ち、Ｘ軸方
向とＹ軸方向）に移動するために設けられている。Ｘ・
Ｙステージドライバ11は、システム制御装置10から出力
される組立データ（即ち、基板上に実装しようとするチ
ップ部品の実装位置を示す情報）を受ける。そして、こ
の組立データを、Ｘ・Ｙステージ12が２軸方向に移動可
能なように信号変換してＸ・Ｙステージ12に出力するよ
うになっている。ここで、Ｘ・Ｙステージ12の駆動源に
ステッピングモータを採用した場合を想定すると、上述
したＸ・Ｙステージドライバ11では、これらステッピン
グモータを駆動するために、前記実装位置情報を、前記
実装位置情報と対応したパルス信号に変換する信号変換
動作を実行することとなる。

Ｘ・Ｙステージ12は、第２図（ｃ）にて示すような基
板46（符号7,8は、パッドと称される電極を示す）をス
テージ上に固定的に保持した状態で、例えば上述したよ
うなステッピングモータを駆動源として２軸方向（Ｘ軸
方向、Ｙ軸方向）に移動可能となっている。Ｘ・Ｙステ
ージ12は、真空チャック等により第２図（ｂ）にて示す
フィルム48上から剥されたチップ部品47が第２図（ｃ）
にて示す基板46上に実装させるように、Ｘ・Ｙステージ
ドライバ11から出力された信号に基づいて２軸方向に移
動するようになっている。

カメラ13は、カメラコントロールユニット14の制御下
で撮像動作を実行する。即ちカメラ13は、カメラコント
ロールユニット14の制御下で、Ｘ・Ｙステージ12上に載
置された基板46に対するチップ部品47の実装作業を撮像
し、この撮像の結果得られた実装作業時の画像データ
を、カメラコントロールユニット14を通してモニタ15に
出力するようになっている。モニタ15は、カメラコント
ロールユニット14から出力された上記画像データを画像
として表示する。

カメラコントロールユニット14は、カメラ13から出力
された上記実装作業時の画像データを、システム制御装
置10に転送する。例えば、各チップマウンタ（＃１）３
〜（＃Ｎ）Ｎの試運転動作時に、作業者がモニタ15上に
表示された画像を観察した結果、基板46上におけるチッ
プ部品47の実装位置が第４図（ｂ）（第４図（ｂ）にお
いて、符号7,8は、基板46上に設けられたパッドと称さ
れる電極を示す）にて示すように位置ズレを生じている
と認識し、この位置ズレを、第４図（ａ）にて示すよう
な正常位置に修正する必要があると判断して手動にてＸ
・Ｙステージ12を移動すると、第４図（ｂ）にて示す画
像データと第４図（ａ）にて示す画像データとがともに
カメラコントロールユニット14からシステム制御装置10
に対して与えられることとなる。

位置誤差検出回路６は、システム制御装置10を通して
第４図（ｂ）にて示すような画像データと、第４図
（ａ）にて示すような画像データとが与えられたとき
に、両画像データから、基板46上においてチップ部品47
の実装位置ズレが生じているときのデータ（即ち、共通
データ）とチップ部品47の実装位置ズレが生じていない
ときのデータ（即ち、作業者が手動によりＸ・Ｙステー
ジ12を移動させたことにより得られたデータ）との間の
差分を誤差として求める。位置誤差検出回路６は、上記
誤差データを、システム制御装置10を通して組立データ
作成機１に出力する。

ここで、位置誤差検出回路６が前記両データ間の誤差
を演算するに際して必要となる各チップマウンタ（＃
１）３〜（＃Ｎ）Ｎに共通な組立データと、位置誤差検
出回路６によって求められた誤差とにつき、具体例を挙
げて説明する。

第５図は、例えば、前述したチップ抵抗器のごとき複
数種類のチップ部品についての、各チップマウンタ（＃
１）３〜（＃Ｎ）Ｎに共通な組立データと、この共通な
組立データに基づき、チップマウンタ（＃１）３を試運
転動作させた後、作業者が手動によりＸ・Ｙステージ12
を移動させたことにより得られた組立データとの間の誤
差とを示している。第５図において、R1,R2,……,R10,
……,R18,……は、夫々基板46上に実装すべきチップ部
品の種別を表わしている。x,yは、基板46上に実装され
た各チップ部品の中心位置が上記基板46上のいずれに位
置するかを示す座標である。このx,yの値は、例えば、
矩形状を呈する基板を上方から見て、その左下側の頂点
を原点としたときに、該左下側の頂点と右下側の頂点と
を結ぶ辺をｘ軸、該左下の頂点と左上の頂点とを結ぶ辺
をｙ軸と定義して規定される座標面（第１象限に対応）
上に存在する。又、θは、各種チップ部品が基板46上に
実装されたときの、基板46の長手方側軸方向とチップ部
品47の長手側軸線方向とがなす角度である。又、第５図
において、ノズル番号1,2は、第２図（ａ），（ｂ）に
て示したような状態で搬送されてきた各種チップ部品47
を搬送して基板46上に載置するために、各チップマウン
タ（＃１）３〜（＃Ｎ）Ｎが具備するヘッド（既述の真
空チャックと同一物）の規格を示している。この種のヘ
ッドは各種チップ部品を把持した状態で360゜回転可能
に構成されている。従って、上述したθは、基板46の長
手側軸線方向と各種チップ部品47の長手側軸線方向とが
なす角度を示していると同時に、上記各ヘッドの回転角
度をも示していることになる。更に、第５図において、
Δx,Δｙは前記のように、上述した共通な組立データに
係る基板46上での各種チップ部品47の中心位置と、各チ
ップマウンタに共通な組立データに基づき、チップマウ
ンタ（＃１）３を試運転動作させた後、作業者が手動に
よりＸ・Ｙステージ12を移動させたことによって得られ
た基板46上における各種チップ部品の中心位置との間の
誤差を示している。位置誤差検出回路６は、チップマウ
ンタ（＃１）３の試運転動作時、システム制御装置10を
通してカメラコントロールユニット14から与えられる画
像データに基づき、上述した誤差を算出し、この算出し
た誤差を誤差データとして組立データ作成機１に出力す
ることとなる。

上記共通な組立データに基づいて、各種チップ部品47
を基板46上に実装するに際しては、実装位置ズレは必ず
発生する。しかしながら、各チップマウンタ（＃１）３
〜（＃Ｎ）ＮにおけるＸ・Ｙステージ12,20,28棟の停止
精度、繰り返し精度等を考慮して、例えばΔx,Δｙが0.
1mm以内であり、Δθが３゜以内であれば、この程度の
位置ズレは実装上特に問題とはならないので、本実施例
では、位置誤差検出回路６における誤差の算出は行なわ
ないこととした。

第６図は、前記第５図にて示した誤差データ中からヘ
ッドの規格を示すノズル番号毎及びヘッドの回転角度毎
に分類して得られたチップマウンタ（＃１）３の誤差デ
ータを示したものである。本実施例では、第６図を参照
して明らかなように、ノズル番号１及びノズル番号２の
ヘッドにおいては、それぞれの回転角度が０゜の場合に
は、共通な組立データとこの共通な組立データにより基
板46上に実装した各種チップ部品47の位置との間に誤差
が生じても補正を行なわないこととし、ノズル番号２で
回転角度が90゜のヘッドの場合だけ、ｘの値を−0.22m
m、θの値を＋6.6゜補正することとした。上記内容は、
既述の第５図にて示した共通な組立データと、上述した
誤差が生じたことによって共通な組立データの補正が行
なわれたことにより得られた第７図にて示すチップマウ
ンタ（＃１）３に特有の組立データとを比較対照すれば
明らかである。なお、第７図については、組立データ作
成機１の項で説明する。

システム制御装置10は、位置誤差検出回路６を始め、
メモリ９、Ｘ・Ｙステージドライバ11、カメラコントロ
ールユニット14等をその制御下に置く。システム制御装
置10は、チップマウンタ（＃１）３の試運転動作時、メ
モリ９から各チップマウンタに共通な組立データを読出
し、この読出した組立データに基づいてＸ・Ｙステージ
12を駆動すべく、前記読出した組立データをＸ・Ｙステ
ージドライバ11に出力する。システム制御装置10は、
又、カメラコントロールユニット14に対して駆動指令信
号を出力するとともに、カメラコントロールユニット14
を通してカメラ13から出力された画像データを位置誤差
検出回路６に出力する。前述した内容から明らかなよう
に、チップマウンタ（＃１）３の試運転動作時、第４図
（ｂ）にて示したような実装位置ズレが生じた場合に
は、位置誤差検出回路６において上述したような誤差の
演算動作が実行される。システム制御装置10は、チップ
マウンタ（＃１）３の試運転動作時、位置誤差検出回路
６から上述したような誤差データが出力されると、該誤
差データを組立データ作成機１に出力するようになって
いる。

チップマウンタ（＃２）４も、第１図を参照して明ら
かなように、位置誤差検出回路16を始め、メモリ17、シ
ステム制御装置18、Ｘ・Ｙステージドライバ19、Ｘ・Ｙ
ステージ20、カメラ21、カメラコントロールユニット22
及びモニタ23を備えた構成となっている。又、チップマ
ウンタ（＃Ｎ）Ｎも、第１図を参照して明らかなよう
に、やはり位置誤差検出回路24を始め、メモリ25、シス
テム制御装置26、Ｘ・Ｙステージドライバ27、Ｘ・Ｙス
テージ28、カメラ29、カメラコントロールユニット30及
びモニタ31を備えた構成となっている。チップマウンタ
（＃１）３を構成している各部の機能と、チップマウン
タ（＃２）４、チップマウンタ（＃Ｎ）Ｎを構成してい
る各部の機能とは同一であるので、これらのチップマウ
ンタ（＃２）４は、チップマウンタ（＃Ｎ）Ｎを構成し
ている各部の詳細な説明は省略する。

組立データ作成機１は、所謂印刷配線基板（以下、
「PCB」と略記する）−CAD等から得られる各基板46上に
おけるチップ部品実装位置情報に基づき、前記第５図に
て示したようなチップマウンタ（＃１）３〜チップマウ
ンタ（＃Ｎ）Ｎに共通な組立データを作成するようにな
っているものである。組立データ作成機１は、演算処理
部32を始め、メモリ33、I/Oポート34,35に備えた構成と
なっている。組立データ作成機１の演算処理部32は、メ
モリ33に記憶されているプログラムに従って、上記PCB
−CAD等から得られたチップ部品実装位置情報に基づき
作成した上記共通な組立データを、チップマウンタ（＃
１）３〜チップマウンタ（＃Ｎ）Ｎの試運転動作時にお
ける組立データとして、I/Oポート34を通して外部記憶
装置２に出力する。演算処理部32は、又、各チップマウ
ンタ（＃１）３〜（＃Ｎ）Ｎの試運転動作時、上記組立
データを、I/Oポート35を通して各チップマウンタ（＃
１）３〜（＃Ｎ）Ｎに出力する。演算処理部32は、チッ
プマウンタ（＃１）３〜（＃Ｎ）Ｎの試運転動作時、各
チップマウンタ（＃１）３〜（＃Ｎ）Ｎの位置誤差検出
回路（6,16,24）から各種チップ部品の実装位置ズレを
示す誤差データがI/Oポート35を通して夫々与えられる
と、これら各誤差データを受ける。そして、これら各誤
差データを、I/Oポート34を通して外部記憶装置２に一
旦記憶させる。演算処理部32は、I/Oポート34を通して
外部記憶装置２から前述した各種チップ部品毎に共通な
組立データとこれら各誤差データとを読出して、この読
出した各種チップ部品毎に共通な組立データを、各種チ
ップ部品毎に且つ各チップマウンタ（＃１）３〜（＃
Ｎ）Ｎ別に得られた誤差データによって補正することに
より、各種チップ部品毎に各チップマウンタ（＃１）３
〜（＃Ｎ）Ｎ別の組立データを作成する。そして、これ
ら組立データをI/Oポート34を通して外部記憶装置２に
記憶させる。演算処理部32は、各チップマウンタ（＃
１）３〜（＃Ｎ）Ｎの実運転動作時、外部記憶装置２に
記憶させておいた上記各チップマウンタ（＃１）３〜
（＃Ｎ）Ｎ別の組立データを、I/Oポート34を通して読
出し、これら読出した各チップマウンタ別の組立データ
を、I/Oポート35を通して各チップマウンタ （＃１）３〜（＃Ｎ）Ｎに夫々出力する。

これにより、各チップマウンタ（＃１）３〜（＃Ｎ）
Ｎは、各チップマウンタ別の組立データに従って、実運
転動作を行なうこととなる。即ち、前述した共通な組立
データを用いたときとは異なって、第４図（ａ）にて示
すように、各種チップ部品を実装位置ズレを生じること
なく基板46上に実装することが可能となる。

第７図は、位置誤差検出回路６から演算処理部32に、
第５図右方の欄に記載するような各種チップ部品別の誤
差データが与えられたときに、演算処理部32が第６図に
て示した補正データに基づいて、各種チップ部品別の共
通な組立データ（第５図左方の欄に記載）を補正した結
果得られたチップマウンタ（＃１）３における各種チッ
プ部品別の組立データを示す。第７図にて示した組立デ
ータの詳細については、前記第５図に関する記述内容と
略同様であるので、その説明は省略する。

次に第１図にて図示した組立データ作成機１が具備す
る演算処理部32の動作を、第４図にて図示したフローチ
ャートを参照しながら説明する。

演算処理部32は、PCB−CAD等から得られる各基板６上
におけるチップ部品実装位置情報を入力する（ステップ
51）。そして、各チップマウンタ（＃１）３〜（＃Ｎ）
Ｎの位置誤差検出回路（6,16,24）から、前述した共通
な組立データを各チップマウンタ別に補正するための誤
差データが与えられているか否かをチェックする（ステ
ップ52）。ステップ52において、上記誤差データが与え
られていないと判断すると、ステップ51にて入力したチ
ップ部品実装位置情報に基づいて各チップマウンタ（＃
１）３〜（＃Ｎ）Ｎに共通な組立データを作成する（ス
テップ53）。そして、このステップ53にて作成した共通
な組立データを、各チップマウンタ（＃１）３〜（＃
Ｎ）Ｎに転送する（ステップ54）。各チップマウンタ
（＃１）３〜（＃Ｎ）Ｎが、上記共通な組立データに基
づいて、各種チップ部品を基板に対して実装するための
作業の試運転動作を行なう。次いで作業者が実装位置ズ
レを観察したことで各チップマウンタのＸ・Ｙステージ
を手動で移動させる等のプロセスを経て各位置誤差検出
回路（6,16,24）から与えられた誤差データを受ける
（ステップ55,56）。そして、上記誤差データが予め設
定された値よりも大きいと判断した場合（例えば、Δｘ
が0.1mm以上）には、ステップ58に移行して、チップマ
ウンタ別の組立データを作成する。そして、これら組立
データを、チップマウンタ毎又は各チップマウンタに夫
々固定される基板名毎に外部記憶装置２に記憶させる。
一方、上記誤差データが予め設定された値よりも小さい
と判断した場合（例えば、Δｘが0.1mm未満）には、上
述した共通な組立データをチップマウンタ別に補正する
作業はは行なわない（ステップ57）。

一方、ステップ52において、上述した誤差データが与
えられていると判断すると、実運転を行なおうとするチ
ップマウンタ（個々のチップマウンタ毎に定められてい
る識別No.のうちのいずれかの識別No.が外部から与えら
れることにより、演算処理部32が実運転動作を行なわせ
たいチップマウンタを識別する）と対応する誤差データ
を、外部記憶装置２から読出す（ステップ59,60）。そ
して、上述した各チップマウンタに対して共通な組立デ
ータを、上記誤差データで補正することにより、各チッ
プマウンタ（＃１）３〜（＃Ｎ）Ｎ別の組立データを作
成する（ステップ61）。ステップ61にて作成した組立デ
ータを、各チップマウンタ（＃１）３〜（＃ンＮ）Ｎに
夫々転送することにより（ステップ62）、各チップマウ
ンタ（＃１）３〜（＃Ｎ）Ｎは、各種チップ部品を各基
板６へ実装する作業を行うこととなる（ステップ63）。

以上のようにして、各チップマウンタ（＃１）３〜
（＃Ｎ）Ｎに共通な組立データから各チップマウンタ別
の組立データを作成し、これら各組立データに基づいて
各種チップ部品の各基板46上への実装作業を行なうこと
としたので、実装誤差の発生を最小限に抑制することが
可能となった。

〔発明の効果〕

以上説明したょうに、本発明によれば、予め与えられ
た電子部品の実装位置情報を基に作成した電子部品組立
データを、全ての電子部品組立装置に係る共通データと
して保持するとともに、この共通データに基づき、前記
各電子部品組立装置が試運転動作したときに誤差演算手
段から出力された各電子部品組立装置毎の誤差データを
受けて、前記共通データと前記各誤差データとから実運
転時における各電子部品組立装置毎の電子部品組立デー
タを作成することとしたので、予め各種電子部品毎に設
定されている各電子部品組立装置に共通な組立データ
を、各電子部品組立装置の試運転動作時により各電子部
品組立装置毎に補正することにより、各電子部品組立装
置の実運転時に上記補正作業を不要とし、もって各種電
子部品の実装作業の高能率化を図ることが可能な電子部
品組立データ作成装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例に従う電子部品組立データ
作成装置の全体的な構成を示したブロック図、第２図
（ａ），第２図（ｂ）は、本発明の一実施例に係る各種
電子部品を示した説明図、第２図（ｃ）は、本発明の一
実施例に係る各種電子部品が実装される基板を示した平
面図、第３図は、本発明の一実施例に従う組立データ作
成機が具備する演算処理部の動作を示すフローチャー
ト、第４図（ａ）及び第４図（ｂ）は、夫々本発明の一
実施例に従う各チップマウンタのカメラが撮像した画像
データを示した図、第５図は、複数種類のチップ部品に
つき各チップマウンタに共通な組立データと、位置誤差
検出回路によって求められた誤差データとを示した図、
第６図は、上述した各チップマウンタに共通な組立デー
タを、各チップマウンタ毎に補正するための補正値デー
タを示した図、第７図は、本発明の一実施例に従う組立
データ作成機が作成した補正後の各チップマウンタ毎の
組立データを示した図である。 １……組立データ作成機、3,4,……,N……チップマウン
タ、6,16,24……位置誤差検出回路、７……チップ、46
……基板。

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】基板上における電子部品の実装位置を示す
   電子部品組立データの供給を受けて、外部から駆動指令
   が与えられたときに、前記データに基づき、供給された
   電子部品を、保持している基板上に載置、固定する複数
   台の電子部品組立装置と、 前記複数台の電子部品組立装置が前記データに基づいて
   前記基板上に載置した電子部品の該基板に対する相対位
   置を検知するとともに、これら検知した相対位置と前記
   データとの間の誤差を演算する誤差演算手段と、 予め与えられた電子部品の実装位置情報を基に作成した
   電子部品組立データを、全ての電子部品組立装置に係る
   共通データとして保持するとともに、この共通データに
   基づき、前記各電子部品組立装置が試運転動作したとき
   に前記誤差演算手段から出力された各電子部品組立装置
   毎の誤差データを受けて、前記共通データと前記各誤差
   データとから実運転時における各電子部品組立装置毎の
   電子部品組立データを作成する電子部品組立データ作成
   手段と、 を備えたことを特徴とする電子部品組立データ作成装
   置。
2. 【請求項２】請求項１記載の電子部品組立データ作成装
   置において、 前記誤差演算手段は、前記各々の電子部品組立装置毎に
   設けられており、 前記電子部品組立データ作成手段は、前記各誤差演算手
   段によって演算された誤差の値が予め設定された誤差許
   容範囲内にあるときには、前記共通な組立データの補正
   は行なわず、又、誤差が生じた複数の電子部品組立装置
   同士において実装対象たる電子部品の種類が同一で且つ
   実装時の諸条件が同一であるときには、一方の電子部品
   組立装置に係る補正データを、別の電子部品組立装置に
   係る補正データとすることを特徴とする電子部品組立デ
   ータ作成装置。