JP2784360B2 - インダクタンス素子 - Google Patents
インダクタンス素子Info
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- conductive layer
- inductance element
- insulating substrate
- linear conductive
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Description
するのに適用し得るインダクタンス素子に関する。
べるインダクタンス素子が提案されている。すなわち、
例えば半導体集積回路装置構成用の半絶縁性半導体基板
でなる絶縁性基板1の主面1a上にスパイラルに形成さ
れ且つインダクタンスを呈する線状導電性層2と、絶縁
性基板1の主面1a上に線状導電性層2のスパイラルの
内側端及び外側端からそれらと一体にスパイラルの外側
にそれぞれ延長して形成されている引出し用導電性層3
及び4とを有する。
内側端からスパイラルの外側に延長している引出し用導
電性層3は、それが空隙5を介して線状導電性層2によ
って橋架されている態様で、線状導電性層2と立体交叉
している。
ス素子の構成である。
に述べるインダクタンス素子も提案されている。
同様の構成を有するインダクタンス素子において、線状
導電性層2及び引出し用導電性層3及び4が、蒸着法、
スパッタリング法などで形成されている絶縁性基板1側
の導電性層部Aと、その導電性層部A上に鍍金法によっ
て形成されている導電性層部Bとでなる。ただし、線状
導電性層2のスパイラルの内側端からスパイラルの外側
に延長している引出し用導電性層3については、空隙5
を介して橋架されている領域において、導電性層部B
が、それを導電性層部A上に鍍金法によって形成するこ
とが困難であることから、欠除されている。
タンス素子の構成である。
ンス素子、及び図13及び図14に示す従来のインダク
タンス素子は、引出し用導電性層3及び4間の遊端間で
インダクタンスを呈し、よって、半導体集積回路を構成
し得るインダクタンス素子として機能する。
す従来のインダクタンス素子の場合、線状導電性層2
が、引出し用導電性層3を橋架している領域を除いた全
域において、絶縁性基板1の主面1aと接して形成さ
れ、また、引出し用導電性層3及び4が、それらの全域
において、絶縁性基板1の主面1aと接して形成されて
いる。
インダクタンス素子の場合、比較的大きな寄生容量を有
する、という欠点を有していた。
ダクタンス素子の場合、引出し用導電性層3が、線状導
電性層2によって橋架されている領域において、導電性
層部Bを有さず導電性層部Aのみであるので、薄い厚さ
を有している。
インダクタンス素子の場合、引出し用導電性層3及び4
の延長端間で比較的大きな抵抗を有する、という欠点を
有していた。
新規なインダクタンス素子を提案せんとするものであ
る。
るインダクタンス素子は、図11及び図12で前述した
従来のインダクタンス素子の場合と同様の絶縁性基板上
に形成され且つインダクタンスを呈する線状導電性層を
有するインダクタンス素子において、上記線状導電性層
が、その延長途上の複数の位置において上記絶縁性基板
と局部的に接していることを除いて、上記絶縁性基板か
ら離間している。
素子は、図13及び図14で前述した従来のインダクタ
ンス素子の場合と同様の、絶縁性基板上にスパイラルに
形成され且つインダクタンスを呈する線状導電性層と、
上記絶縁性基板上に上記線状導電性層の上記スパイラル
の内側端からそれと一体に上記スパイラルの外側に上記
線状導電性層とそれによって橋架される態様で立体交叉
して延長して形成されている引出し用導電性層とを有す
るインダクタンス素子において、上記引出し用導電性層
が、上記線状導電性層のスパイラルの内側端からスパイ
ラルの外側の位置まで、外側に到るに従い幅広である領
域を有する。
素子は、本願第2番目の発明によるインダクタンス素子
において、上記線状導電性層が、その延長途上の複数の
位置において上記絶縁性基板と局部的に接していること
を除いて、上記絶縁性基板から離間し、また、上記引出
し用導電性層が、上記線状導電性層の上記スパイラルの
内側端側の位置またはその位置を含めた延長途上の複数
の位置において上記絶縁性基板と局部的に接しているこ
とを除いて、上記絶縁性基板から離間している。
ス素子によれば、インダクタンスを呈する線状導電性層
が、その延長途上の複数の位置において絶縁性基板と局
部的に接していることを除いて、絶縁性基板から離間し
ているので、図11及び図12で前述した従来のインダ
クタンス素子の場合に比し小さな寄生容量しか有しな
い。
素子によれば、引出し用導電性層が、線状導電性層のス
パイラルの内側端から外方に到るに従い幅広であるた
め、線状導電性層によって橋架されている領域が他の領
域に比し薄い厚さを有していても、同じ引出し用導電性
層の線状導電性層の内側端側の幅で、図13及び図14
で前述した従来のインダクタンス素子の場合に比し小さ
な抵抗しか有しない。
素子によれば、本願第1番目の発明によるインダクタン
ス素子の場合と同様の作用効果と、本願第2番目の発明
によるインダクタンス素子の場合と同様の作用効果とを
併せ有し、小さな寄生容量と小さな抵抗としか有しな
い。
るインダクタンス素子の第1の実施例を述べよう。図1
及び図2において、図11及び図12との対応部分には
同一符号を付し、詳細説明を省略する。
タンス素子は、線状導電性層2が、その延長途上の複数
の位置Pにおいて絶縁性基板1の主面1aと局部的に接
していることを除いて、絶縁性基板1の主面1aから離
間し、また、引出し用導電性層3及び4が、線状導電性
層2のスパイラルの内側端側及び外側端側の位置Qまた
はその位置Qを含めた延長線上の複数の位置Q(図示さ
れていない)において絶縁性基板1の主面1aと局部的
に接していることを除いて、絶縁性基板1の主面1aか
ら離間していることを除いて、図11及び図12で前述
した従来のインダクタンス素子の場合と同様の構成を有
する。
タンス素子によれば、インダクタンスを呈する線状導電
性層2が、その延長途上の複数の位置Pにおいて絶縁性
基板1と局部的に接していることを除いて、絶縁性基板
1から離間し、また、引出し用導電性層3及び4が、線
状導電性層2のスパイラルの内側端側及び外側端側の位
置Qにおいて絶縁性基板1と局部的に接していることを
除いて、絶縁性基板1から離間しているので、図11及
び図12で前述した従来のインダクタンス素子の場合に
比し小さな寄生容量しか有しないことは明らかである。
るインダクタンス素子の第2の実施例を述べよう。図3
及び図4において、図13及び図14との対応部分には
同一符号を付し、詳細説明を省略する。
タンス素子は、線状導電性層2のスパイラルの内側端か
らスパイラルの外側に線状導電性層2と立体交叉してい
る引出し用導電性層3が、線状導電性層2のスパイラル
の内側端からスパイラルの外側の位置まで外側に到るに
従い幅広である領域Mを有することを除いて、図13及
び図14で前述した従来のインダクタンス素子の場合と
同様の構成を有する。
広である領域Mが、その延長方向の両側に、線状導電性
層2のスパイラルの外側に到るに従い広がっている。
タンス素子によれば、引出し用導電性層3が、線状導電
性層2のスパイラルの内側端からスパイラルの外側の位
置まで外側に到るに従い幅広である領域Mを有するた
め、線状導電性層2によって橋架されている領域が、導
電性層部Bが欠除されていることによって、他の領域に
比し薄い厚さを有していても、同じ引出し用導電性層の
線状導電性層2の内側端側の幅で、図13及び図14で
前述した従来のインダクタンス素子の場合に比し小さな
抵抗しか有しない。
るインダクタンス素子の第3の実施例を述べよう。図5
及び図6において、図3及び図4との対応部分には同一
符号を付し、詳細説明を省略する。
タンス素子は、引出し用導電性層3の幅広である領域M
が、その延長方向の、領域Mから外側に延長している領
域K側の一方側にのみ、線状導電性層2のスパイラルの
外側に到るに従い広がっていることを除いて、図3及び
図4で上述した本発明によるインダクタンス素子の場合
と同様の構成を有する。
タンス素子によれば、上述した事項を除いて、図3及び
図4で上述した本発明によるインダクタンス素子の場合
と同様の構成を有するので、図3及び図4で上述した本
発明によるインダクタンス素子の場合と同様の作用効果
が得られる外、幅広の領域Mが、引出し用導電性層3の
幅広である領域Mから外側に延長している領域K側に広
がっているので、図3及び図4の場合に比し狭い領域M
の面積で効果的に電流を流すことができる。
るインダクタンス素子の第4の実施例を述べよう。図7
及び図8において、図3及び図4との対応部分には同一
符号を付し、詳細説明を省略する。
タンス素子は、線状導電性層2が、図1及び図2で上述
した本発明によるインダクタンス素子の場合と同様に、
その延長途上の複数の位置Pにおいて絶縁性基板1と局
部的に接していることを除いて、絶縁性基板1から離間
し、また、引出し用導電性層3及び4が、線状導電性層
2のスパイラルの内側端側及び外側端側の位置Qまたは
その位置を含めた延長線上の複数の位置Qにおいて絶縁
性基板1と局部的に接していることを除いて、絶縁性基
板1から離間していることを除いて、図3及び図4で上
述した本発明によるインダクタンス素子の場合と同様の
構成を有する。
タンス素子によれば、上述した事項を除いて、図3及び
図4で上述した本発明によるインダクタンス素子と同様
の構成を有するので、詳細説明は省略するが、図3及び
図4で上述した本発明による作用効果と、図1及び図2
で上述した本発明による作用効果とを併せ有することは
明らかである。
よるインダクタンス素子の第5の実施例を述べよう。図
9及び図10において、図5及び図6との対応部分には
同一符号を付し、詳細説明を省略する。
クタンス素子は、線状導電性層2が、図1及び図2で上
述した本発明によるインダクタンス素子、及び図7及び
図8で上述した本発明によるインダクタンス素子の場合
と同様に、その延長途上の複数の位置Pにおいて絶縁性
基板1と局部的に接していることを除いて、絶縁性基板
1から離間し、また、引出し用導電性層3及び4が、線
状導電性層2のスパイラルの内側端側及び外側端側の位
置Qまたはその位置を含めた延長線上の複数の位置Qに
おいて絶縁性基板1と局部的に接していることを除い
て、絶縁性基板1から離間していることを除いて、図5
及び図6で上述した本発明によるインダクタンス素子の
場合と同様の構成を有する。
クタンス素子によれば、上述した事項を除いて、図5及
び図6で上述した本発明によるインダクタンス素子と同
様の構成を有するので、詳細説明は省略するが、図5及
び図6で上述した本発明による作用効果と、図1及び図
2で上述した本発明による作用効果とを併せ有すること
は明らかである。
例を示す略線的平面図である。
例を示す、図1の2−2線上の断面図である。
例を示す略線的平面図である。
例を示す、図3の4−4線上の断面図である。
例を示す略線的平面図である。
例を示す、図5の6−6線上の断面図である。
例を示す略線的平面図である。
例を示す、図7の8−8線上の断面図である。
例を示す略線的平面図である。
施例を示す、図9の10−10線上の断面図である。
図である。
12−12線上の断面図である。
平面図である。
14−14線上の断面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 絶縁性基板上に形成され且つインダクタ
ンスを呈する線状導電性層を有するインダクタンス素子
において、 上記線状導電性層が、その延長途上の複数の位置におい
て上記絶縁性基板と局部的に接していることを除いて、
上記絶縁性基板から離間していることを特徴とするイン
ダクタンス素子。 - 【請求項2】 絶縁性基板上にスパイラルに形成され且
つインダクタンスを呈する線状導電性層と、 上記絶縁性基板上に上記線状導電性層の上記スパイラル
の内側端からそれと一体に上記スパイラルの外側に上記
線状導電性層とそれによって橋架される態様で立体交叉
して延長して形成されている引出し用導電性層とを有す
るインダクタンス素子において、 上記引出し用導電性層が、上記線状導電性層のスパイラ
ルの内側端からスパイラルの外側の位置まで、外側に到
るに従い幅広である領域を有することを特徴とするイン
ダクタンス素子。 - 【請求項3】 請求項2記載のインダクタンス素子にお
いて、 上記線状導電性層が、その延長途上の複数の位置におい
て上記絶縁性基板と局部的に接していることを除いて、
上記絶縁性基板から離間し、 上記引出し用導電性層が、上記線状導電性層の上記スパ
イラルの内側端側の位置またはその位置を含めた延長途
上の複数の位置において上記絶縁性基板と局部的に接し
ていることを除いて、上記絶縁性基板から離間している
ことを有することを特徴とするインダクタンス素子。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6272591A JP2784360B2 (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | インダクタンス素子 |
US07/787,136 US5281769A (en) | 1990-11-05 | 1991-11-04 | Dewall plating technique |
US08/133,211 US5639686A (en) | 1990-11-05 | 1993-10-07 | Method of fabricating circuit elements on an insulating substrate |
US08/449,277 US5550068A (en) | 1990-11-05 | 1995-05-24 | Process of fabricating a circuit element for transmitting microwave signals |
US08/608,520 US5652157A (en) | 1990-11-05 | 1996-02-28 | Forming a gate electrode on a semiconductor substrate by using a T-shaped dummy gate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6272591A JP2784360B2 (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | インダクタンス素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0541322A JPH0541322A (ja) | 1993-02-19 |
JP2784360B2 true JP2784360B2 (ja) | 1998-08-06 |
Family
ID=13208628
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6272591A Expired - Lifetime JP2784360B2 (ja) | 1990-11-05 | 1991-03-04 | インダクタンス素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2784360B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6248461B2 (ja) * | 2013-08-08 | 2017-12-20 | Tdk株式会社 | 積層型コモンモードフィルタ |
-
1991
- 1991-03-04 JP JP6272591A patent/JP2784360B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0541322A (ja) | 1993-02-19 |
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