JP2778874B2 - 周波数検出回路 - Google Patents

周波数検出回路

Info

Publication number
JP2778874B2
JP2778874B2 JP4164827A JP16482792A JP2778874B2 JP 2778874 B2 JP2778874 B2 JP 2778874B2 JP 4164827 A JP4164827 A JP 4164827A JP 16482792 A JP16482792 A JP 16482792A JP 2778874 B2 JP2778874 B2 JP 2778874B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
circuit
logic
output
frequency
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP4164827A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH063386A (ja
Inventor
洋 出田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP4164827A priority Critical patent/JP2778874B2/ja
Priority to US08/064,429 priority patent/US5410196A/en
Priority to KR1019930011426A priority patent/KR960016507B1/ko
Priority to DE4320674A priority patent/DE4320674C2/de
Publication of JPH063386A publication Critical patent/JPH063386A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2778874B2 publication Critical patent/JP2778874B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03JTUNING RESONANT CIRCUITS; SELECTING RESONANT CIRCUITS
    • H03J7/00Automatic frequency control; Automatic scanning over a band of frequencies
    • H03J7/18Automatic scanning over a band of frequencies
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、入力信号の周波数帯
域を検出する周波数検出回路に関し、特に複数の異なる
周波数帯域を持った入力信号を処理する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図9に従来の周波数検出回路103の構
成を示す。その周波数が検出されるべき入力信号は、入
力端子11に入力する。そして入力信号の周波数が比較
的安定している期間においてその周波数を検出する必要
等があるため、信号抜き取り回路21において、端子1
3から入力されるサンプリング信号Gに従って一定期間
(サンプリング期間)で抜き取りが、即ちサンプリング
が行われる。サンプリングされた入力信号Sは、周波数
検波回路30によって、入力信号の周波数に応じた値を
サンプリング期間だけ有する直流信号Kに変換される。
この信号Kはサンプル/ホールド回路24を介して電圧
比較回路25で、所定の基準電圧と比較される。その結
果は判定信号として出力端子12に与えられる。
【0003】周波数検波回路30は例えば図9に示され
るように、共振回路34と、共振回路34が有する共振
周波数とサンプリングされた入力信号Sの周波数との差
異だけ入力信号の位相をシフトさせて位相検波回路22
に与える移相回路23と、位相検波回路22とから構成
される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の周波数検出回路
は以上のように構成されており、入力信号のサンプリン
グを行っていたので、周波数検波回路30の出力はサン
プリング期間においてのみ意味のあるものとなってい
る。したがって、そのような信号Kをそのまま電圧比較
回路25に与えたのでは出力端子12に与えられる判定
信号は入力信号の周波数を表すものとはいえない。この
ためサンプル/ホールド回路24において、サンプリン
グ信号Gに従って周波数検波回路30の出力をサンプリ
ングし、信号Kの有する値を保持してから電圧比較回路
25に与える必要があった。
【0005】ここにおいて、安定した結果を得るために
はサンプル/ホールド回路24の時定数を大きくするこ
とが望ましい。そのためサンプル/ホールド回路24に
は外部端子42を介して接続される容量34が必要であ
った。ところが容量34の集積化は困難であり、また外
部端子42の存在も集積度の向上を阻むものである。即
ち従来の周波数検出回路はその集積化が困難であるとい
う問題点を有していた。
【0006】この発明は上記の問題点を解消するために
なされたもので、外部端子及びそれに接続される容量を
用いることを回避して集積化し、安定に周波数を検出す
ることができる周波数検出回路を得ることを目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる周波数
検出回路は、入力端子と、出力端子と、制御信号を受け
て制御信号に従って入力端子に与えられる入力信号を一
定期間抜き取ってサンプル信号を出力する信号抜き取り
回路と、サンプル信号の周波数が所定の周波数帯域に存
在するか否かを示す判定信号を出力する周波数判定回路
と、判定信号を受けて出力端子に出力信号を与える出力
回路と、を備える。そして出力回路は制御信号に従って
判定信号を保持するラッチ回路と、制御信号に従って判
定信号に所定の処理を行って出力信号を得る論理回路
有する。
【0008】
【0009】望ましくは、論理回路は、判定信号が所定
の上限値以上に出力信号と異なる論理となった場合に出
力信号を反転させる。
【0010】更に望ましくは、論理回路は、判定信号の
論理と出力信号論理との不一致の回数を計数する計数回
路と、不一致の回数と上限値とを比較する回数比較回路
と、を備える。あるいは論理回路は、制御信号に従って
動作する複数段のシフトレジスタと、シフトレジスタの
各段における論理と出力信号の論理との不一致の数を計
数する計数回路と、不一致の回数と上限値とを比較する
回数比較回路と、を備える。
【0011】
【作用】この発明におけるラッチ回路は制御信号に従っ
て判定信号を保持するため、出力信号として、判定信号
のうちサンプル信号に対応するもののみが出力端子に与
えられる。そしてラッチ回路は外部端子や容量を必要と
することなく、判定信号を保持する。具体的には、判定
信号が出力信号と異なる論理となる事象が起きても、所
定の上限値以上にその事象が生じなければこれを有効と
しない。計数回路や、シフトレジスタがその事象の計数
を行う。これによって前記判定信号の結果の安定性が向
上する。
【0012】
【0013】
【実施例】A.発明の前駆的思想. 図1にこの発明の前駆的思想にかかる周波数検出回路1
00の構成をブロック図で示す。入力端子11と出力端
子12の間には、信号抜き取り回路21、周波数検波回
路30、電圧比較回路25、出力回路50が、この順に
直列に接続されている。
【0014】信号抜き取り回路21には周波数を検出す
べき入力信号が入力端子11を介して入力され、これを
端子13を介して入力されたサンプリング信号Gに従っ
て一定期間(サンプリング期間)だけ抜き取る。つまり
サンプリングを行う。このサンプリングは、入力がFM
変調されている場合等、時々刻々と周波数が変化してい
る場合に、周波数帯域の検出を行う期間を比較的周波数
が特定できる期間に限定するためである。例えば、ビデ
オ信号をFM変調した信号波の周波数帯域を検出する場
合、ビデオ信号の同期信号期間をサンプリングのタイミ
ングとすることによって、周波数の検出を安定に行うこ
とができる。
【0015】周波数検波回路30は共振回路34、移相
回路23、位相検波回路22から構成されており、移相
回路23と共振回路34は端子41を介して接続されて
いる。移相回路23及び位相検波回路22のそれぞれに
は、サンプリングされた入力信号Sが与えられる。
【0016】位相回路23は、サンプリングされた入力
信号Sが有する周波数と共振回路34の共振周波数とを
比較し、その差異に従ってサンプリングされた入力信号
Sの位相をシフトさせ、信号SSを位相検波回路22に
供給する。
【0017】図2に移相回路23の動作をグラフで示し
た。横軸はサンプリングされた入力信号Sの周波数であ
り、縦軸はサンプリングされた入力信号Sに対する信号
SSの位相のずれを示す。サンプリングされた入力信号
Sの周波数が共振回路34の共振周波数よりも低ければ
位相を遅らせて信号SSを生成し、サンプリングされた
入力信号Sの周波数が共振回路34の共振周波数よりも
高ければ位相を進めて信号SSを生成する。その位相の
変化は共振周波数近傍で大きなものとなっている。共振
周波数は、共振回路34を構成する容量31,32及び
インダクタ33の素子定数で定まる。
【0018】位相検波回路22では、入力された2つの
信号S,SSの位相を検波し、その結果を直流電圧等に
変換して信号Kを出力する。上記のように信号SSの位
相は共振回路34の共振周波数と信号Sとの周波数の差
異によって異なるものである。したがってサンプリング
期間においては、位相検波回路22の出力、即ち周波数
検波回路30から出力される信号Kは、サンプリングさ
れた入力信号Sの周波数が共振回路34の共振周波数よ
りもどの程度高いか、又はどの程度低いかを示す直流信
号となる。つまり周波数検波回路30はサンプリングさ
れた入力信号Sを弁別する動作を行う。
【0019】電圧比較回路25は、サンプリング期間で
あるか否かを問わずに信号Kを所定の基準電圧と比較し
て2値論理の判定信号Pを出力する。サンプリング期間
においては、判定信号Pはサンプリングされた入力信号
Sの周波数が所望の周波数、即ち共振回路34の共振周
波数よりも高いか低いかの判定を示すものとなってい
る。しかしサンプリング期間以外においては、判定信号
Pは入力信号に関する情報を有していない。
【0020】このため判定信号Pのうち意味のある、即
ちサンプリングされた入力信号Sの周波数についての情
報を有する部分のみを出力端子12に与えるべく、出力
回路50は判定信号Pを出力信号Jに変換する。
【0021】出力回路50はサンプリング信号Gに従っ
て動作し、判定信号Pのうち意味のある部分、即ちサン
プリング期間における判定信号Pの示す論理のみを出力
信号Jとして出力する。発明の前駆的思想においては、
出力回路50はラッチ回路26のみによって構成されて
いる。
【0022】ラッチ回路26はサンプリング信号Gに従
って判定信号Pをラッチするため、サンプリング期間以
外において判定信号Pが与える論理は除去される。つま
りサンプリングされた入力信号Sについて以外の情報を
有する部分はラッチ回路26を通過することができな
い。言い換えれば、連続する2つのサンプリング期間に
ついて、先のサンプリング期間においてラッチ回路26
において保持された内容(判定信号P)は、次のサンプ
リング期間においてラッチ回路26が動作するまでは更
新されない。
【0023】したがって従来の周波数検出回路103で
サンプル/ホールド回路24が果たしていた機能は、ラ
ッチ回路26によって代替される。そしてラッチ回路2
6はたとえばフリップフロップで構成することができる
のでその機能を発揮するのに容量34は必要でなく、し
たがって外部端子42も不要となる。
【0024】B.第実施例. 容量34の容量値を大きくしてサンプル/ホールド回路
24の動作を安定させるという従来の技術における工夫
に対応する手法を、この発明においても採ることができ
る。
【0025】図3にこの発明の第実施例にかかる周波
数検出回路101の構成をブロック図で示す。出力回路
50がラッチ回路26のみならず、これに前置された論
理回路27からも構成されている点のみ発明の前駆的思
と異なるものである。
【0026】論理回路27もラッチ回路26と同様に、
サンプリング信号Gに従って動作する。そして判定信号
Pの結果が信頼するに足るものであるか否かを調べ、前
者であればラッチ回路26に判定信号Pの結果を伝えて
ラッチさせるものである。詳しく言えば、先行するある
サンプリングで既に得られた出力信号Jの結果と異なる
論理が、続いて行われたサンプリングで得られた判定信
号Pによって論理回路27へと伝達された場合、出力信
号Jの論理の反転を行うか否かを吟味する。そしてその
信頼性が高い場合には出力信号Jの論理の反転を行い、
低い場合には出力信号Jの論理の反転を行わないのであ
る。
【0027】この信頼性の高低は、サンプリング信号G
が活性化する度に判定信号Pから得られる情報を数え、
出力信号Jと異なる論理を有するとの情報を所定の上限
回数以上得られるか否かによって判断する。このような
論理回路27を設けることにより、出力信号Jの安定性
を増大させることは、以下の具体的構成において詳述さ
れる。
【0028】(B−1)第1の具体的構成. 図4は論理回路27の動作を示すフローチャートであ
る。まずステップ51において、判定信号Pを電圧比較
回路25から得る。このステップ51はサンプリング信
号Gが活性化しているか否に係わらず常に実行されてお
り、判定信号Pは論理回路27に与えられている。
【0029】次にステップ52において判定信号Pと出
力信号Jとの論理の一致/不一致を吟味する。記述のよ
うに、この段階では判定信号Pには入力信号の周波数に
関する情報以外の不要な成分が含まれている。
【0030】ステップ52において判定信号Pと出力信
号Jの論理が一致するのであれば出力信号の論理反転
を行う必要がないため、フロー62を介してステップ5
6に進み、サンプリング信号Gに同期して計数変数Nを
ゼロにする。そしてステップ52に戻り、新たに得られ
ている判定信号Pについて再度ステップ52を実行す
る。
【0031】逆にステップ52において判定信号Pと出
力信号Jの論理が不一致であれば出力信号の論理反転
を行う可能性があるため、フロー61を介してステップ
53に進み、サンプリング信号Gに同期して計数変数N
を1増加させる。
【0032】ステップ53の実行により、判定信号Pと
出力信号Jの論理の不一致が連続した場合には計数変数
Nはその値を増してゆく。そしてその値がある上限を示
す固定変数Mと比較される(ステップ54)。計数変数
Nの値が固定変数M未満ではフロー64を介してステッ
プ52に戻るが、その値が固定変数M以上になるとフロ
ー63を介してステップ55に進む。
【0033】ステップ54で判定信号Pと出力信号Jの
論理が不一致が確実なものであるとされたので、ステッ
プ55では出力信号Jを論理反転させる。この出力信号
Jはラッチ回路26に与えられ、ラッチ回路26はこれ
をサンプリング信号Gと同期して保持する(図3)。
【0034】このように動作する論理回路27をラッチ
回路26に前置することにより、出力端子12から得ら
れる情報は安定したものとなる。例えば入力信号の周波
数帯域が過渡期を経て共振回路34の共振周波数の前後
で遷移する場合、過渡期には判定信号Pにチャタリング
が生じる。しかし第1の具体的構成によれば、連続して
M回以上判定信号Pと出力信号Jの論理が不一致となっ
た場合のみ出力信号Jを反転させる。よって出力信号J
においては判定信号Pで生じたチャタリングは取り除か
れ、入力信号の周波数の遷移を安定して検出することが
できる。
【0035】図5に、図4のフローチャートで示された
動作を行う論理回路27の構成例をブロック図で示し
た。判定信号Pはまず入力判定部27aに入力される。
入力判定部27aは切り換えスイッチを備えており、出
力反転回路27fの出力、即ち出力信号Jが“H”であ
れば上側に、“L”であれば下側にそれぞれ切り替わ
る。これにより、出力信号Jが“H”であれば判定信号
Pの論理反転された信号が、出力信号Jが“L”であれ
ば判定信号Pが、計数回路27bの計数入力端に与えら
れる。換言すれば計数回路27bの計数入力端には、判
定信号Pと出力信号Jとが一致する場合には“L”が、
不一致の場合には“H”が、それぞれ与えられることに
なり、入力判定部27aは図4に示したステップ52に
対応している。
【0036】計数回路27bは、サンプリング信号Gを
クロックとして動作する。そして、計数回路27bの計
数入力端に与えられた“H”の数を計数するので、図4
に示したステップ53に対応している。
【0037】一方、計数回路27bは、ゲート回路27
cによってリセットされる。このリセットはサンプリン
グ信号Gに従って、入力判定部27aの出力が“L”の
場合に行われるので、図4に示したステップ56に対応
している。
【0038】計数回路27bによって計数された結果は
比較回路27eの入力端Aに与えられる。比較回路27
eの入力端Bには、上限を示す固定変数Mを記憶してい
る固定変数記憶回路27dが接続されている。そして比
較回路27eの出力のうち、i)A=B,ii)A>B
のいずれかが活性化した場合にT−フリップフロップか
らなる出力反転回路27fを反転させる。よって比較回
路27eは、出力信号Jと判定信号とが、サンプリン
グ信号Gの与えるタイミングにおいてM回以上論理の不
一致があったことを検出するものであり、図4に示した
ステップ54に対応している。また出力反転回路27f
は図4に示したステップ55に対応している。
【0039】以上のことから、図5に示された構成を有
する論理回路27は図3に示された周波数検出回路10
1を具現化し、この発明の第実施例を達成するもので
あることがわかる。
【0040】(B−2)第2の具体的構成. 図6に論理回路27の他の構成例をブロック図で示し
た。第1の具体的構成と同様に、入力判定部27aは判
定信号Pを入力し、判定信号Pと出力信号Jとが一致す
る場合には“L”を、不一致の場合には“H”を、それ
ぞれ出力する。
【0041】入力判定部27aにはn段のシフトレジス
タ27gの入力が接続されており、サンプリング信号G
に従って判定信号Pと出力信号Jとの一致/不一致がシ
フトレジスタ27gに順次伝達されてゆく。
【0042】シフトレジスタ27gの各段における論理
状態は、切り換え回路27hによって順次計数回路27
bに与えられる。切り換え回路27hは、サンプリング
信号Gの周波数のn倍以上の大きさの周波数を有するク
ロックで切り換えられるので、あるサンプリング期間か
ら次のサンプリング期間の間で保持されるシフトレジス
タ27gの内容を計数回路27bに与えることができ
る。
【0043】計数回路27bも切り換え回路27hの切
り換えを行うクロックと同一のクロックで動作するた
め、シフトレジスタ27gの内容のうち、“H”となっ
ているものが幾つあるかについて数えることができる。
【0044】その結果は第1の具体的構成と同様にし
て、固定変数記憶回路27dにおいて記憶された固定変
数M(<n)と比較回路27eにおいて比較される。そ
してシフトレジスタ27gの内容のうち、“H”となっ
ているものがM個以上あれば、出力反転回路27fによ
って出力信号Jが反転される。
【0045】以上の構成からわかるように、第1の具体
的構成と同様に、図6に示された構成を有する論理回路
27をラッチ回路26に前置することにより、出力端子
12から得られる情報は安定したものとなる。但し、第
2の具体的構成においてはn回の連続したサンプリング
期間における判定信号と出力信号Jとの一致/不一致
を一度に監視している。したがって連続して不一致とな
らなくてもn回のうちM回不一致となった場合には、判
定信号と出力信号Jとが不一致であることが確認され
たとし、出力信号Jを反転させるようにすることができ
る。
【0046】なおシフトレジスタ27gには入力判定部
27aの出力が順次伝達されるので、一旦出力信号Jを
反転させることとなった場合にはシフトレジスタ27g
をリセットしておく必要がある。そのため出力反転回路
27fの入力端Tとシフトレジスタ27gのリセット端
子Rとは共通に接続されている。
【0047】以上のことから、図6に示された構成を有
する論理回路27は図3に示された周波数検出回路10
1を具現化し、第1の具体的構成と同様にこの発明の第
実施例を達成し、従って同様の効果を奏するものであ
ることがわかる。
【0048】図7は図6に示した論理回路27の動作を
示すフローチャートである。ステップ51はサンプリン
グ信号Gが活性化しているか否に係わらず常に実行され
ており、判定信号Pが論理回路27に与えられているの
は第1の具体的構成と同一である。
【0049】ステップ58において、判定信号と出力
信号Jとの一致/不一致を示す入力判定部27aの出力
を順次シフトレジスタ27gに伝達する。そのタイミン
グはサンプリング信号Gに従う。そして切り換え回路2
7h及び計数回路27bによって、シフトレジスタ27
gの有するn段のレジスタのうち、出力信号Jと不一致
の論理を有するものがいくつ有るかを計数する。
【0050】そしてステップ59では、比較回路27e
によって計数結果が固定変数Mと比較され、不一致の数
が充分であると判断されればフロー65を介してステッ
プ60へと進む。不一致の数が不十分であると判断され
ればフロー66を介してステップ58へと戻る。
【0051】判定信号Pと出力信号Jの論理が不一致が
確実なものであるとされたので、ステップ60では出力
信号Jを論理反転させる。一方、シフトレジスタ27g
はリセットされる。出力信号Jはラッチ回路26に与え
られ、ラッチ回路26はこれをサンプリング信号Gと同
期して保持する(図3)。
【0052】C.第実施例. 図8はこの発明の第実施例である周波数検出回路10
3の構成をブロック図で示したものであり、周波数検波
回路30の構成が、発明の前駆的思想及び第実施例と
異なっている。
【0053】第実施例では、周波数検波回路30は直
列に接続された帯域制限回路28、振幅検波回路29か
ら構成されている。帯域制限回路28は、サンプリング
された入力信号Sが予め設定した特定の周波数帯域にあ
る場合のみこれを通過させる。そして振幅検波回路29
は通過した信号を検波する。従って、周波数検波回路3
0は全体として特定の周波数成分の信号の大きさを信号
Kとして電圧比較回路25に与えることになる。よって
その後、電圧比較回路25から得られる判定信号Lに対
して論理回路27、ラッチ回路26からなる出力回路5
0によって第実施例と同様の処理を行うことにより、
容量34や外部端子42を必要とするこなく安定して入
力信号の周波数の検出を行うことができる。
【0054】また第実施例においても論理回路27の
具体的構成は、前節で示した第1及び第2の具体的構成
のいずれであってもよい。更に、図示しないが、発明の
前駆的思想のように出力回路50をラッチ回路26のみ
で構成することもできる。
【0055】
【発明の効果】以上に説明したようにこの発明にかかる
周波数検出回路によれば、ラッチ回路は外部端子や容量
を必要とすることなく、判定信号を保持するので、周波
数検出回路の集積度を向上することができる。しかも、
判定信号が出力信号と異なる論理となる事象が起きて
も、所定の上限値以上にその事象が生じなければ論理回
路はこれを有効としないので、検出の安定性が向上す
る。
【0056】
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の前駆的思想の構成を示すブロック図
である。
【図2】この発明の前駆的思想の動作を説明するグラフ
である。
【図3】この発明の第実施例の第1の具体的構成を示
すブロック図である。
【図4】この発明の第実施例の第1の具体的構成の動
作を説明するフローチャートである。
【図5】この発明の第実施例の第1の具体的構成に用
いられる論理回路の構成を示すブロック図である。
【図6】この発明の第実施例の第2の具体的構成に用
いられる論理回路の構成を示すブロック図である。
【図7】この発明の第実施例の第2の具体的構成の動
作を説明するフローチャートである。
【図8】この発明の第実施例の構成を示すブロック図
である。
【図9】従来の技術を説明するブロック図である。
【符号の説明】
11 入力端子 12 出力端子 21 信号抜き取り回路 30 周波数検波回路 25 電圧比較回路 26 ラッチ回路 27 論理回路 50 出力回路 S サンプリングされた入力信号 P 判定信号 J 出力信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 23/15

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力端子と、 出力端子と、 制御信号を受けて前記制御信号に従って前記入力端子に
    与えられる入力信号を一定期間抜き取ってサンプル信号
    を出力する信号抜き取り回路と、 前記サンプル信号の周波数が所定の周波数帯域に存在す
    るか否かを示す判定信号を出力する周波数判定回路と、 前記判定信号を受けて前記出力端子に出力信号を与える
    出力回路と、 を備え、 前記出力回路は、前記制御信号に従って前記判定信号を
    保持するラッチ回路と、 前記制御信号に従って前記判定信号に所定の処理を行っ
    て前記出力信号を得る論理回路と を有する周波数検出回
    路。
  2. 【請求項2】 前記サンプル信号は複数出力され、 前記論理回路は、一のサンプル信号に基づいて得られた
    一の出力信号の論理に対し、前記一のサンプル信号に続
    く複数の前記サンプル信号から得られた複数の前記判定
    信号が所定の上限値以上に前記一の出力信号と異なる論
    理となった場合に前記出力信号を反転させる、 請求項
    記載の周波数検出回路。
  3. 【請求項3】 前記論理回路は、 前記判定信号の論理と、前記出力信号論理との不一致の
    回数を計数する計数回路と、 前記不一致の回数と前記上限値とを比較する回数比較回
    路と、 を備える 請求項記載の周波数検出回路。
  4. 【請求項4】 前記論理回路は、前記制御信号に従って動作する複数段のシフトレジスタ
    と、 前記シフトレジスタの各段における論理と前記出力信号
    の論理との不一致の数を計数する計数回路と、 前記不一致の回数と前記上限値とを比較する回数比較回
    路と、 を備える請求項記載の周波数検出回路。
JP4164827A 1992-06-23 1992-06-23 周波数検出回路 Expired - Fee Related JP2778874B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4164827A JP2778874B2 (ja) 1992-06-23 1992-06-23 周波数検出回路
US08/064,429 US5410196A (en) 1992-06-23 1993-05-21 Circuit for finding the frequency band of an input signal which might have different frequency bands
KR1019930011426A KR960016507B1 (ko) 1992-06-23 1993-06-22 다른 주파수 대역을 가지는 주파수 대역 검출회로
DE4320674A DE4320674C2 (de) 1992-06-23 1993-06-22 Frequenzerkennungsschaltung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4164827A JP2778874B2 (ja) 1992-06-23 1992-06-23 周波数検出回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH063386A JPH063386A (ja) 1994-01-11
JP2778874B2 true JP2778874B2 (ja) 1998-07-23

Family

ID=15800679

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4164827A Expired - Fee Related JP2778874B2 (ja) 1992-06-23 1992-06-23 周波数検出回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5410196A (ja)
JP (1) JP2778874B2 (ja)
KR (1) KR960016507B1 (ja)
DE (1) DE4320674C2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5734274A (en) * 1996-03-11 1998-03-31 Intel Corporation Fuse-programmable method and apparatus for preventing a semiconductor device from operating at speed greater than an approved speed
US6252428B1 (en) * 1999-04-07 2001-06-26 Advanced Micro Devices, Inc. Method and apparatus for detecting a sinusoidal signal
JP4871494B2 (ja) 2004-03-31 2012-02-08 パナソニック株式会社 映像信号処理装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5531919A (en) * 1978-08-30 1980-03-06 Oki Electric Ind Co Ltd Frequency comparator
JPS57158567A (en) * 1981-03-26 1982-09-30 Pioneer Electronic Corp Frequency and voltage converting circuit
US5258720A (en) * 1984-03-02 1993-11-02 Itt Corporation Digital sample and hold phase detector
JPH0760568B2 (ja) * 1988-02-18 1995-06-28 三菱電機株式会社 Fm変調周波数判別装置
US5189378A (en) * 1990-09-12 1993-02-23 Nec Corporation Tone signal detecting circuit
US5180935A (en) * 1990-11-09 1993-01-19 Motorola, Inc. Digital timing discriminator

Also Published As

Publication number Publication date
DE4320674C2 (de) 1997-08-07
KR960016507B1 (ko) 1996-12-12
DE4320674A1 (de) 1994-06-09
JPH063386A (ja) 1994-01-11
KR940006339A (ko) 1994-03-23
US5410196A (en) 1995-04-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4353032A (en) Glitch detector
US5886552A (en) Data retiming circuit
EP0840458A2 (en) PLL circuit and its automatic adjusting circuit
US3950705A (en) Noise rejection method and apparatus for digital data systems
JP2778874B2 (ja) 周波数検出回路
US6960960B2 (en) Frequency detector detecting variation in frequency difference between data signal and clock signal
US5304854A (en) Signal transient improvement circuit
US20020009171A1 (en) High speed phase alignment process and device
US3995272A (en) Signal conditioning circuit
IE54055B1 (en) A method of bringing an oscillator into phase with an incoming signal and an apparatus for carrying out the method
US7023944B2 (en) Method and circuit for glitch-free changing of clocks having different phases
KR100417549B1 (ko) 클럭신호발생장치및클럭신호발생방법
US7177375B2 (en) Limit detector with hysteresis
US11239849B2 (en) Locked loop circuit and method with multi-phase synchronization
US5831455A (en) Polarity detector
JPH0713927A (ja) 非同期同期変換回路
JPS6323413A (ja) 判定回路
JPS63155874A (ja) 映像中間周波信号処理回路
JP2765417B2 (ja) クロック抽出回路
SU1367169A1 (ru) Устройство фазового пуска
JPH066728A (ja) 音声復調回路
JP3042009B2 (ja) Pll周波数シンセサイザ
JP2523992B2 (ja) タイミング再生回路
JPH06196966A (ja) 移動平均フィルタ
JPH0879066A (ja) 位相同期回路のロック検出器

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees