JP2775474B2 - 二値画像縮小装置及び方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題（第15図） 課題を解決するための手段（第1,2図） 作用 実施例（第３〜14図） 発明の効果 〔概要〕 被変換画素の配列平面上に、希望の縮小率に応じて分
割領域を設定し、当該平面上に投影された変換画素が位
置する分割領域に対応する論理式に近い近傍の被変換画
素の濃度から各変換画素の濃度を決定する画像縮小装置
及び方法に関し、 細線消失防止に際し、画像の繋がりの不連続性をなく
し、高画質の画像を得ることを目的とし、 変換画素の近傍に位置する被変換画素群の濃度データ
を順次入力し、縮小率に基づき被変換画素群の中から縮
小により間引かれる細線上の間引き対象画素を検知する
為に必要な間引きデータの発生を行い、変換画素が位置
する分割領域を判定し、入力した被変換画素群、間引き
データ、判定された分割領域及び直前の変換画素又は変
換画素群までの画像の繋がり状態に基づき注目する変換
画素の画像の繋がり状態を表す履歴情報を導出し、間引
きデータ、分割領域、被変換画素の濃度データ及び履歴
情報に基づき間引き対象か否かを検知して変換画素の濃
度を算出する構成である。

〔産業上の利用分野〕

本発明は二値画像縮小装置及び方法に係り、被変換画
素が配列された平面に対して分割領域を設定し、当該平
面上に変換画素が位置する分割領域に対応する論理式に
従って近傍被変換画素の濃度から各変換画素の濃度を決
定する二値画像縮小装置及び方法に関する。

〔従来の技術〕

従来、画像の縮小を行う場合にSPC（Selective Proce
ssing Coversion）法、論理和法、九分割法、高速投影
法（特開昭58−97958号）等が提案されており、いずれ
も変換画素の近傍の被変換画素４画素から変換画素の濃
度を求める方法である。SPC法では、縮小時に画像が細
る傾向にあり、白，黒画素の抜け（欠落）が目立つ。ま
た、論理和法、九分割法では画像が太り、黒画素による
潰れが増える欠点を持っている。

一方、高速投影法は白、黒画素の抜けや潰れが少ない
方法として知られているが、SPC法同様に倍率に応じて
白黒の細線が消える欠点がある。そこで、この細線消失
を防止する為の方式として幾つかの方式が考案されてい
る。

特開昭61−147668号では、細線を保存する変換画素の
選択として距離を目安に、より近い変換画素に細線を表
現するようにしている。

また、特願昭63−63802号，特願昭62−213673号では
前後の変換画素の状態から予め決められた変換画素に細
線を表現するようにしている（詳細は各明細書を参照の
こと）。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の細線保存法では、距離又は予め決めた形で変換
画素に細線を表現する為、上下左右の画像と細線との繋
がりが不連続になる欠点があった。

第15図の2/3に縮小する場合を例にとると、Ｓが被変
換画素,Rが変換画素，○が白画素，●が黒画素である。
Ｓ_＊２列（＊：任意）に間引かれる画素列を検出し、縦
に細線が出現したと仮定する。

S₀₂,S₁₂の状態は細線ではない（S₀₃,S₁₃が黒の為）の
で、通常の方式に基づきR₀₁＝白,R₀₂＝黒となる。S₁₂,S
₂₂に対するR₁₁＝白,R₁₂＝黒も同様である。

然るにそれに続けてS₂₂,S₃₂に黒の細線が出現した場
合、従来の距離による選択（特開昭61−147668号）で
は、Ｓ_＊２列に対してＲ_＊１列のほうがＲ_＊２列よりも
距離的に近い為、R₂₁＝黒,R₂₂＝白という結果となる。

R₀₂→R₁₂→R₂₁と黒線が繋がることになり、R₂₁から始
まる細線と前ライン（Ｒ_＊１）の画像（R₁₂）までの細
線とが不連続となる場合がある。予め変換画素の選択を
決めておく方法（特願昭63−63802号，特願昭63−21367
3号）も同様の状態が起こり得る。

そこで、本発明は直前変換画素または直前変換画素群
（前ライン）までの画像の繋がり状態を示す履歴情報に
基づいて細線保存の変換画素を選択することにより画像
の繋がりの不連続性をなくし、高画質の変換画像を得る
ことのできる二値画像縮小装置及び方法を提供すること
を目的としたものである。

〔課題を解決するための手段〕

以上の技術的課題を解決する為、第一の発明は第１図
に示すように、被変換画素が配列された平面上に、希望
する縮小率に応じて分割領域を設定し、当該平面上に投
影された変換画素が位置する分割領域に対応する論理式
に従って近傍の被変換画素の濃度から各変換画素の濃度
を決定する画像縮小装置において、変換画素の近傍に位
置する所定の被変換画素群の濃度データを順次入力する
被変換画素入力手段１と、前記縮小率に基づいて被変換
画素群の中から縮小により間引かれる細線上の間引き対
象画素を検知する為に必要な間引きデータの発生を行う
間引きデータ発生手段３と、変換画素が位置する分割領
域を判定する分割領域判定手段４と、入力した被変換画
素群、間引きデータ、判定された分割領域及び直前の変
換画素または変換画素群までの画像の繋がり状態に基づ
いて注目する変換画素の画像の繋がり状態を表す履歴情
報を導出する履歴情報導出手段２と、間引きデータ、変
換画素が位置する分割領域、被変換画素の濃度データ及
び履歴情報に基づいて間引き対象か否かを検知して変換
画素の濃度を算出する変換画素濃度算出手段５とを有す
るものである。

一方、第二の発明は第２図に示すように、被変換画素
が配列された平面上に、希望する縮小率に応じて分割領
域を設定し、当該平面上に投影された変換画素が位置す
る分割領域に対応する論理式に従って近傍の被変換画素
の濃度から変換画素の濃度を決定する画像縮小装置にお
いて、前記変換画素の近傍に位置する所定の被変換画素
群の濃度データを順次入力する過程（S1）と、前記縮小
率に基づいて被変換画素群の中から縮小により間引かれ
る細線上の間引き対象画素を検知する為に必要な間引き
データの発生を行う過程（S2）と、変換画素が位置する
分割領域を判定する過程（S3）と、入力した被変換画素
群、間引きデータ、判定された分割領域及び直前の変換
画素または変換画素群までの画像の繋がり状態に基づい
て注目する変換画素の画像の繋がり状態を表す履歴情報
を導出する過程（S4）と、間引きデータ、変換画素が位
置する分割領域、被変換画素の濃度データ及び前記履歴
情報に基づいて間引き対象か否かを検知して変換画素の
濃度を算出する過程（S5）とを有するものである。

〔作用〕

本発明（第一の発明及び第二の発明）により画像の縮
小を行う場合には、現時点で濃度を定めようとする対象
である変換画素に対して、ステップS1において当該変換
画素の近傍に位置する所定の被変換画素群の濃度データ
を順次被変換画素入力手段１により入力する。

ここで、「所定の」とは当該変換画素の濃度を定める
際に影響を与える被変換画素群であって、例えば被変換
画素上において当該変換画素から一定の距離内にある被
変換画素である。

ステップS2では、前記間引きデータ発生手段３は前記
縮小率に基づいて被変換画素群の中から縮小により間引
かれる細線上の間引き対象画素を検知するために必要な
間引きデータの発生を行う。

ここで、「間引き対象画素」とは被変換画素が前記縮
小率分の１未満の線幅を持つ細線（黒又は白画素が線状
に連続的に配列されたもの）を形成する場合に、従来の
SPC法や高速投影法によって縮小変換の際に消去されて
しまう被変換画素のことであり、間引きデータとは当該
被変換画素が間引き対象画素であるか否かの判断を行う
為に必要なデータであって、前記縮小率に基づいて定め
られる。これはある被変換画素が間引かれるか否かは、
隣接する変換画素位置より定められるものであり、当該
変換画素位置は始点の座標を規定した後は、希望する縮
小倍率によって一義的に定めることができる。

ステップS3では、前記分割領域判定手段４は縮小率に
基づいて現時点の変換画素がどの分割領域に位置するか
を判定する。

ステップS4で前記履歴情報導出手段２は入力した前記
被変換画素群、間引きデータ直前の変換画素または変換
画素群までの細線上の画像の繋がり状態を表す履歴情報
及び判定された分割領域に基づいて注目する現時点の変
換画素の細線としての繋がり状態を表す履歴情報を導出
する。導出された履歴情報は通常記憶される。

ここで、履歴情報を導出するようにしたのは、間引き
データにより消失される細線をどこの変換画素について
再現するかの選択を容易に行うことができるようにする
ためである。

また、「直前の変換画素群」とは、例えば直前のライ
ンを形成する複数の変換画素である。

更に、ステップS5では、変換画素濃度算出手段５によ
り前記間引きデータ、判定された当該変換画素が位置す
る分割領域、前記被変換画素群の濃度データ及び前記履
歴情報に基づいて変換画素の濃度を算出する。以上の手
順は各変換画素毎に繰り返される。

〔実施例〕

本発明による実施例について説明する。

実施例に係る画像縮小装置を第３図に示す。

本装置はＸ軸及びＹ軸方向に細線消失を防止しながら
画像の縮小を行う装置であって、縮小率として１＞p,q
≧1/2に対応するものである。尚、ｐはＸ軸方向の縮小
率、ｑはＹ軸方向の縮小率である。

本装置は被変換画素平面内に現時点の変換画素を投影
させた場合に当該変換画素の近傍に位置する所定の被変
換画素群の各濃度データを順次入力する被変換画素入力
手段111と、原画像の被変換画素の濃度データが格納さ
れている二次元画像メモリ110と、どの変換画素に細線
を保存すべきかを選択するために、入力した被変換画素
群、間引きデータ、判定された分割領域及び直前の変換
画素又は変換画素群までの画像の繋がり状態に基づき注
目する現時点の変換画素の画像の繋がり状態を表す履歴
情報を導出かつ記憶する画像履歴導出記憶回路112とを
有する。

さらに、本実施例に係る装置は二次元画像メモリ110
に対するアクセス制御、前記被変換画素入力手段111に
対する制御、分割領域の判定を行う分割領域判定手段４
及び縮小率に基づいて被変換画素群の中から縮小により
間引かれる細線上にある間引き対象画素を検知するため
に必要な間引きデータを発生させる間引きデータ発生手
段３として、また、現時点の変換画素の位置情報から当
該変換画素が属する四区分領域（本実施例では分割領域
と一致するように設定している）の判定を行う四区分領
域の判定を行う区分領域判定手段（本実施例では前記分
割領域判定手段４と同一のものである）としての制御部
113と、前記被変換画素群の濃度、前記分割領域及び前
記間引きデータに基づいて当該変換画素の濃度を算出す
る被変換画素濃度算出手段５としての変換画素濃度算出
論理論理演算回路115とを有する。

被変換画素入力手段111は第３図に示すように、８個
のシフトレジスタ111a〜111hを有している。シフトレジ
スタ111a,111eは第１ライン目に存在する被変換画素を
保持するものである。同様に、シフトレジスタ111h,111
fは第２ライン目、シフトレジスタ111c,111gは第３ライ
ン目、シフトレジスタ111d,111hは第４ライン目、に存
在する被変換画素を保持するものである。

前記画像履歴導出記憶回路112は、被変換画素と前記
制御部113からの間引き情報から画像の現時点までの繋
がりを見てどの変換画素に細線を表現したらよいかを決
めるものである。

第４図に画像履歴導出記憶回路112のブロック図を示
す。

本回路112は同図に示すように、入力した被変換画素
群、間引きデータ、判定された分割領域及び直前の画像
の履歴を検出してその繋がり状態を把握する画像履歴検
出論理回路112aと、縦及び横の細線に関連した繋がり状
態を示す履歴情報について各々１ライン分のデータを記
憶し前記変換画素濃度算出論理演算回路115に送出する
１ライン記憶回路112b,112cとを有するものであり、当
該各１ライン記憶回路112b,112cに記憶された変換画素
は次のライン処理での細線保存に利用される。

第７図の（ａ）には縦１の細線に関連したエッジ・パ
ターンを示し、当該エッジ・パターン、前記被変換画素
群及び間引きデータに基づいて、前記画像履歴導出記憶
回路112はどの変換画素、すなわち同図に示したx₁,x₂の
どちらかの系列に細線を表現するかを決定する。

第９図には、横１の細線についても前記画像履歴導出
記憶回路112は同様に直前のラインまたは直前画像にエ
ッジ・パターンが現れるか否かに応じて変換画素y₁,y₂
のどちらの変換画素行に細線を表現するかを決定する。

すなわち、第７図及び第９図において、（１）に相当
するパターンが検出された場合には、x₁またはy₁の変換
画素列に関して細線を表現し、（２）に相当するパター
ンが検出された場合には、x₂,y₂の変換画素列に関して
細線を表現することになる。

前記制御部113は希望するＸ軸方向及びＹ軸方向に関
する縮小率p,qに基づいて現時点での変換画素が属する
前記分割領域の判定を行うと共に、当該変換画素の近傍
に位置する各被変換画素に間引き対象があるか否かを検
出する為に必要な間引きデータ発生及び現時点の変換画
素の前記各四区分割領域に属するか否かを判定するもの
である。

ここで、「間引きデータ」とは第11図に示すように、
Ｘ軸方向に関しては直前の変換画素R₁₀の被変換画像平
面内での座標位置x₀＞0.0,現時点の変換画素R₁₁の座標
位置x₁＞0.0,次の変換画素R₁₂の座標位置x₂＞0.0,とい
う条件を満たしているか否か及び前記変換画素R₁₀からR
₁₁に移行する際に通過する被変換画素の数xshift0,変換
画素R₁₁からR₁₂に移行する際に通過する被変換画素の数
xshift1の値を表示する１ビット又は２ビットのデータ
であり、Ｙ軸方向に関しては直前の変換画素R₀₁の被変
換画素平面内での座標位置y₀＞0.0,現時点の変換画素R
₁₁の座標位置y₁＞0.0,次の変換画素R₂₁の座標位置y₂＞
0.0,という条件を満たしているか否か及び前記変換画素
R₀₁からR₁₁に移行する際に通過する被変換画素の数yshi
ft0,変換画素R₁₁からR₂₁に移行する際に通過する被変換
画素の数yshift1の値を表示するデータである（表１の
ように前記画像履歴に応じて細線対象のパターンを選択
している）。更に、本実施例においては現時点の変換画
素を囲む４個の被変換画素が形成する正方形の領域を４
個に四等区分する四区分領域のどの領域に変換画素が位
置するかのデータをも間引きデータとして使用する これは参照する被変換画素の数をあまり増やさずに間
引き対象の細線パターンを検知する為である。

即ち、第５図、第６図に示すように変換画素が領域G
1,G4に位置する場合にはn,n＋1,n＋２ライン目のデータ
で足り、変換画素が領域G2,G3に位置する場合にはｎ−
1,n,n＋１ライン目のデータを読み出すことで間引き対
象のデータを検知することができる。言い換えれば、変
換画素が四区分領域G1,G4に位置する場合、画素A,B,C,
D,E,F,I,J,G,Hの10画素を参照し、変換画素が区分領域G
2,G3に位置する場合、画素A,B,C,D,E,F,L,K,I,Jの10画
素が参照される。

以上のように、四区分領域の情報を利用して参照画素
を限定した形での間引き対象となる細線パターンを第12
図に示す。同図に示すパターンは縮小率１＞p,q≧1/2に
対応した細線パターンを示すものであって、線幅１のパ
ターンが対象となる。

次に本実施例に係る装置の動作について説明する。

二次元画像メモリ110に格納されている被変換画素を
縮小率ｐ＝2/3で縮小する場合について説明する。

第３図に示すように、前記制御部113は縮小変換の対
象となる原画像が格納されているメモリ110に対して一
定語長単位毎（第３図に示す場合は４ビット毎）に読み
出して、各時点の変換画素の近傍に位置する被変換画素
群の各濃度データを最大順次４ライン分ずつを前記被変
換画素入力手段111のシフト・レジスタ111a,111b,111c,
111dに入力させる。

すなわち、第６図に示した現時点の変換画素を被変換
画像平面内の被変換画素A,B,C,Dで形成される格子内に
投影される場合には、当該変換画素に対して各被変換画
素群Ａ〜Ｐの各濃度データが各ライン（ｎ−１ライン
目、ｎライン目、ｎ＋１ライン目、ｎ＋２ライン目）毎
に各シフトレジスタa,c,e,gに入力させる。

当該制御部113は所定のタイミングで当該シフトレジ
スタ111a,111c,111e,111gに入力して保持されている各
被変換画素の濃度データを移動させ前記シフトレジスタ
111b,111d,111f,111hに移動保持させ前記変換画素濃度
算出論理演算回路115に送出させることになる。

その際、当該制御部113は第５図に示されているよう
に現時点での変換画素の近傍に位置している４個のABCD
の被変換画素群によって形成される格子内を４区分した
各四区分領域g₁,g₂,g₃,g₄すなわち、第５図及び第６図
に示した被変換画素が配列された平面内で４個の被変換
画素で形成される最小の格子単位を４つの面積の等しい
矩形（正方形を含む）に区分された領域のいずれかに位
置するかを判断して当該領域を区別する３ビットのデー
タを前記論理演算回路115に送出する。

尚、本実施例では第13図に示すように四区分領域と同
じ大きさ及び境界をもつ分割領域を設定している。この
ため四区分領域の指定、分割領域及び間引きデータの発
生（一部分）手段が四区分領域の条件で全て実現でき、
大幅な処理の簡略化ができることになる。

同時に、当該制御部113は二次元画像メモリ110から読
み出されて前記被変換画素入力手段111に保持されてい
る前記被変換画素群の中から間引き対象画素を判断する
ために必要な前記間引きデータの発生を行い、同時に変
換画素が属する分割領域（四区分領域と同じものを利
用）を判定し、当該領域を示す信号を前記論理回路115
に送出する。

その際、前記履歴情報導出記憶手段２としての画像履
歴導出記憶回路112は入力した現時点の変換画素近傍の
被変換画素群、制御部113により発生した間引きデータ
及び直前の変換画素または直前ライン上の変換画素群ま
での画像の繋がり状態に基づいて履歴情報を導出しかつ
記録する。

この点について第８図の流れ図及び第14図（ａ）また
は（ｂ）により説明する。

すなわち、画像履歴導出記憶回路112の画像履歴検出
論理回路112aはステップSP1で前記被変換画素入力手段1
11に注目する変換画素（例えば第14図（ａ）のR₁₀）近
傍に位置する被変換画素群（例えば第14図（ａ）のS₀₀,
S₀₁,S₀₂,S₁₀,S₁₁,S₁₂,S₂₀,S₂₁,S₂₂）が入力すると、ス
テップSP2において、注目する変換画素R₁₀から制御部11
3により発生させた第11図に示す間引きデータ及び被変
換画素群の濃度データに基づき表１−１、表１−２によ
り注目する変換画素近傍の被変換画素群内に間引きによ
り消失されるべき細線があるか否かを判断する。

当該被変換画素群に間引き対象の細線が存在しない場
合にはステップSP12に進み、注目する現時点の変換画素
の履歴情報R2を０として次の変換画素に対する処理に移
行する。

一方、ステップSP2で当該画像履歴導出記憶回路112に
より間引きにより消失される画素列があると判断した場
合、すなわち、第14図（ａ）に示す注目する変換画素R
₁₀は四区分領域g₂（分割領域G2でもある）であって、第
11図に示すようにxshift1＝,yshift0＝1,x₁＜0,x₂＞0,y
₀＜0,y₁＞０であるので条件３に相当し、第12図のNO.3
のD,Cすなわち、S₁₁,S₂₁が細線パターンに相当するの
で、ステップSP3に進み、現在注目している変換画素R₁₀
（x₁系列とする）の直前の変換画素R₀₀（やはりx₁系
列）に対応付けられた履歴情報R2が１であるか否かを判
断する。

当該履歴情報がR2＝１であると判断した場合には、ス
テップSP4に進み、第７図の（ａ）または（ｂ）に示し
た被変換画素群のパターンと、現時点の変換画素に対応
する前記被変換画素入力手段111に入力した被変換画素
配列とを比較する。

尚、図中“×”印は変換画素の位置を表す。

被変換画素入力手段111に入力した被変換画素配列が
第７図の（１）または（２）のパターンであると判断し
た場合には、ステップSP8に進み、当該現時点の変換画
素x₁に対して縦細線を再現し、当該変換画素に対して履
歴情報R2に１を対応させ、当該画素と同一ラインにある
次の変換画素（x₂系列）の履歴情報R2を０とし、ステッ
プSP7へ進み、次のライン（本例では１ラインには２個
の変換画素しか存在しないものとする）にある変換画素
に処理を進めることになる。

一方、ステップSP3で現時点の直前の変換画素R₀₀（x₁
系列）の履歴情報R2が１でないと判断した場合（第７図
（ａ）の場合）には、ステップSP9に進み、当該画素R₀₀
を含む直前の同一ラインにある次の変換画素R₀₁（x₂系
列）の履歴情報R2が１であるか否かを判断する。

履歴情報R2が１であると判断した場合には、ステップ
SP5に進み、現時点の変換画素（x₁系列）の近傍に位置
する前記被変換画素入力手段111により入力した被変換
画素群の配列が第７図の（ａ），（ｂ）のうちのパター
ン（１），（２）であるか否かを判断する。

当該配列が当該パターンのいずれかに該当する場合に
は、ステップSP6に進み、現時点の変換画素（x₁系列）
を含む同一のライン上の変換画素（x₂系列）に対して縦
細線を保存し、現時点の変換画素（x₁系列）の履歴情報
をR2＝０とし、次の変換画素（x₂系列）に対応する履歴
情報R2＝１を導出し、当該履歴情報を記憶することにな
る。

当該処理が終了した場合にはステップSP7へ進み、次
の次の変換画素に対して同様な処理を行うことになる。

また、ステップSP3で現時点の変換画素R₁₀（x₁系列）
の直前の変換画素R₀₀（x₁系列）の履歴情報及び当該画
素を含む直前のラインの次の変換画素（x₂系列）の履歴
情報R2が１でない場合にはステップSP10に進み、現時点
の変換画素R₁₀（x₁系列）の近傍の被変換画素群の配列
が第７図（ａ）（ｂ）に示したパターン（１）であるか
否かが判断され、そうであると判断された場合（第14図
（ａ）の被変換画素群S₁₀,S₁₁,S₁₂,S₂₀,S₂₁,S₂₂は第７
図（ａ）に示したパターン（１）に相当する）には、当
該場合は細線の始点と判断されステップSP8に進み、前
述したように現変換画素R₁₀の履歴情報R2を１とし次の
変換画素R₁₁の履歴情報R2を０とし、x₁系列する。

一方、ステップSP10で当該パターンは第７図に示した
パターン（１）でないと判断した場合には、ステップSP
11に進み、現時点の変換画素近傍の被変換画素群の配列
パターンが第７図の配列パターン（２）であるか否かが
判断され、そうであると判断された場合には、ステップ
SP6に進み、前述した場合と同様の処理を行うことにな
る。

一方、ステップSP11で第７図に示したパターン（２）
と入力した被変換画素の配列が同一でないと判断した場
合には、ステップSP12に進み、現時点の変換画素の履歴
情報R2を０とおくことになる。

こうして現時点の変換画素についての処理が終了した
場合には、ステップSP1に戻り次の、または次の次の変
換画素について以上の処理を繰り返すことになる。

以上の説明は縦細線を再現する場合についての説明で
あったが、横細線を再現する場合にも同様に、第10図に
示した流れ図（ステップSH1〜ステップSH10）にしたが
って、第９図に示したパターン（１）（２）と現時点の
変換画素の近傍に位置する入力した被変換画素群の配列
と比較することにより、各変換画素に対して履歴情報を
対応させることになる。

尚、第８図に示した処理の流れ図は変換画素のライン
単位（２個）毎に処理を行うのに対して、第10図に示し
た処理の流れ図は各画素毎に処理を行うようにしている
が、どちらで処理を行っても同様である。

ここで、変換画素R₂₀細線保存として黒画素とするこ
とに注目する。通常の論理では白画素とするが、前ライ
ンに細線が存在する為である。第14図の（ｂ）では、S
₁₁,S₁₂に細線に準ずるパターン（第７図の（２）のパタ
ーン）が現われたので、縦方向に対して変換画素X₂に相
当する画素列に細線を保存するようにする。従って、後
のS₄₁,S₅₁に細線が現れた時に変換画素R₃₁に細線を保存
するようにする。

以上、細線の不連続な部分が繋がった形となり、すっ
きりとした細線の直線が得られる。

こうして、画像履歴導出記憶回路112により導出され
記憶された履歴情報、前記被変換画素入力手段111によ
り入力した現時点の変換画素の近傍の被変換画素群の濃
度データ、前記制御部113から出力された間引きデー
タ、判定された分割領域及び前記四区分領域（本例では
分割領域と同一の境界を有する）は前記変換画素濃度算
出手段５としての変換画素濃度算出論理演算回路115に
送出され、当該論理演算回路115は間引きデータ及び表
１−１、表１−２に基づいて間引き対象画素を検知し、
判定された分割領域、表２、表３に示す論理式、被変換
画素の濃度データ及び履歴情報に基づいて各変換画素の
濃度が算出されることになる。

本実施例では、四区分領域を設定し、かつ前記分割領
域と同一の領域区分を行っているため、間引き対象画素
の検出を容易に行うことができることになる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明では間引きにより消失され
るべき細線を再現する際に、細線としての画像の繋がり
状態を履歴情報を用いて、細線保存を行うべき変換画素
を選択することとしている。

したがって、細線等の画像の繋がりの不連続性をなく
し、高画質の縮小画像を得ることができることになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は第一の発明に係る原理ブロック図、第２図は第
二の発明に係る原理ブロック図、第３図は実施例に係る
画像縮小装置の回路ブロック図（１＞p,q≧1/2に対
応）、第４図は実施例に係る画像履歴導出記憶回路のブ
ロック図、第５図は四区分領域を示す図、第６図は実施
例に係る縮小率（１＞p,q≧1/2）の場合の参照画素を示
す図、第７図は縦１の細線を再現する為の変換画素の選
択を変更するエッジ・パターンを示す図、第８図は縦１
の細線を再現する為の変換画素の選択を変更する手順を
示す図、第９図は横１の細線を再現する為の変換画素の
選択を変更するエッジ・パターンを示す図、第10図は横
１の細線を再現する為の変換画素の選択を変更するため
の手順を示す図、第11図は実施例に係る間引き対象の被
変換画像を検知する為に必要な間引きデータの説明図、
第12図は実施例に係る縮小率１＞p,q≧1/2の場合の細線
パターンを示す図、第13図は実施例に係る分割領域を示
す図、第14図は実施例に係る縮小率2/3の場合の変換画
素へ細線を保存する図、第15図は従来例に係る細線保存
法による縮小率2/3の場合の変換画素に細線保存する状
態を示す図である。 1,111……被変換画素入力手段 ２（112）……履歴情報導出手段（画像履歴導出記憶回
路） ３（113）……間引きデータ発生手段（制御部） ４（113）……分割領域判定手段（制御部） ５（115）……変換画素濃度算出手段（変換画素濃度算
出論理演算回路）

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被変換画素が配列された平面上に、希望す
   る縮小率に応じて分割領域を設定し、当該平面上に投影
   された変換画素が位置する分割領域に対応する論理式に
   従って近傍の被変換画素の濃度から各変換画素の濃度を
   決定する画像縮小装置において、 変換画素の近傍に位置する所定の被変換画素群の濃度デ
   ータを順次入力する被変換画素入力手段（１）と、 前記縮小率に基づいて被変換画素群の中から縮小により
   間引かれる細線上の間引き対象画素を検知する為に必要
   な間引きデータの発生を行う間引きデータ発生手段
   （３）と、 変換画素が位置する分割領域を判定する分割領域判定手
   段（４）と、 入力した被変換画素群、間引きデータ、判定された分割
   領域及び直前の変換画素または変換画素群までの画像の
   繋がり状態に基づいて注目する変換画素の画像の繋がり
   状態を表す履歴情報を導出する履歴情報導出手段（２）
   と、 間引きデータ、変換画素が位置する分割領域、被変換画
   素の濃度データ及び履歴情報に基づいて間引き対象か否
   かを検知して変換画素の濃度を算出する変換画素濃度算
   出手段（５）とを有することを特徴とする二値画像縮小
   装置。
2. 【請求項２】被変換画素が配列された平面上に、希望す
   る縮小率に応じて分割領域を設定し、当該平面上に投影
   された変換画素が位置する分割領域に対応する論理式に
   従って近傍の被変換画素の濃度から変換画素の濃度を決
   定する画像縮小方式において、 前記変換画素の近傍に位置する所定の被変換画素群の濃
   度データを順次入力する過程（S1）と、 前記縮小率に基づいて被変換画素群の中から縮小により
   間引かれる細線上の間引き対象画素を検知する為に必要
   な間引きデータの発生を行う過程（S2）と、 変換画素が位置する分割領域を判定する過程（S3）と、 入力した被変換画素群、間引きデータ、判定された分割
   領域及び直前の変換画素または変換画素群までの画像の
   繋がり状態に基づいて注目する変換画素の画像の繋がり
   状態を表す履歴情報を導出する過程（S4）と、 間引きデータ、変換画素が位置する分割領域、被変換画
   素の濃度データ及び前記履歴情報に基づいて間引き対象
   か否かを検知して変換画素の濃度を算出する過程（S5）
   とを有することを特徴とする二値画像縮小方法。