JP2764518B2 - Tab用キャリヤテープおよびこれを用いたテープキャリヤパッケージ - Google Patents

Tab用キャリヤテープおよびこれを用いたテープキャリヤパッケージ

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JP2764518B2 JP5097495A JP9749593A JP2764518B2 JP 2764518 B2 JP2764518 B2 JP 2764518B2 JP 5097495 A JP5097495 A JP 5097495A JP 9749593 A JP9749593 A JP 9749593A JP 2764518 B2 JP2764518 B2 JP 2764518B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本願発明は、テープ・オートメイ
テッド・ボンディング(TAB)用キャリヤテープおよ
びこれを用いたテープキャリヤパッケージに関する。
【0002】
【従来の技術】LSI等の多端子型の半導体チップのパ
ッケージング方法として、いわゆるテープキャリヤパッ
ケージ(TCP)が採用されつつある。
【0003】このテープキャリヤパッケージは、表面に
リードパターンが形成されたフレキシブルな絶縁テープ
(キャリヤテープ)を用い、このキャリヤテープのデバ
イスホールに内向きに上記リードパターンから延出させ
たインナリードに、チップの端子に形成された金バンプ
を熱圧着接合して支持させる、TABの手法を採用した
パッケージである。
【0004】図6に、このようなTABの手法によって
半導体チップを支持するためのキャリヤテープ1の構成
例を示す。
【0005】ポリイミドフィルム等でできたキャリヤテ
ープ本体1aの表面には、複数本のリードパターン2が
エッチング等によって形成される。テープ本体1aの幅
方向中央には、デバイスホール3が開口させられるとと
もに、このデバイスホール3を囲むようにして、アウタ
リード2b、切断用スリット4が形成される。上記リー
ドパターン2は、上記スリット4のさらに外側に設けら
れたテストパッド5から延び、上記デバイスホール3の
四辺において、上記スリット4を横断して各先端がデバ
イスホール3の内縁からさらに内側に突出するように形
成されている。テープ本体1aにおける上記スリット4
とデバイスホール3とで挟まれる領域は、上記デバイス
ホール3の周囲を囲んでリード2を支持するサポートリ
ング6を構成している。
【0006】一般に、上記リードパターン2のうち、上
記サポートリング6からさらに内方に向けてデバイスホ
ール3内に延出する部分をインナリード2aと呼び、上
記スリット4を横断している部分をアウタリード2bと
呼んでいる。
【0007】上記のような構成が、長尺状のテープ本体
1aの長手方向に複数等間隔に形成されており、かかる
キャリヤテープ1をその両側縁に形成されたスプロケッ
トホール7を利用して長手方向にステップ送りしなが
ら、次に述べるチップボンディング(インナリードボン
ディング)が行われる。
【0008】半導体チップ8は、上記キャリヤテープ1
におけるデバイスホール3内に入り込みうる平面形態を
有しており、その上面四辺の端子面には金でできたバン
プ9(図7)があらかじめ形成されている。
【0009】ボンディングツール10は、図7に示すよ
うに、上記半導体チップ8を載置して加熱する下ツール
10aと、この下ツール10aの上方において上下動
し、上記インナリード2aを上記バンプ9に対して押し
つける上ツール10bとを備えている。半導体チップ8
に対するキャリヤテープ1の位置決めが行われた後、上
記上ツール10bが下動し、その先端部が上記インナリ
ード2aを一括して各バンプ9に押しつけ、熱圧着作用
によって、各インナリード2aが半導体チップ上の各端
子に接続される。
【0010】このようにして、半導体チップ8は、キャ
リヤテープ1に対して支持される。半導体チップ8の上
面回路面8aには、エポキシ樹脂等の熱硬化性の樹脂1
1が塗布されることによって、保護される。
【0011】次に、キャリヤテープ1における上記スリ
ット4をわたるアウタリード2bが切断されて、図8に
示す形態をもつ半導体装置12がキャリヤテープ1から
切り離され、必要に応じてアウタリード2bがフォーミ
ングされて、回路基板上に実装される。
【0012】上記のようなTABを利用したテープキャ
リヤパッケージ13においては、次のような利点があ
る。
【0013】第一に、リードがエッチングによって形成
可能であるので、微細リードとすることができ、これに
対応して、LSI等の半導体チップ上の電極ピッチをき
わめて小さくすることができる。このことにより、半導
体装置の実装におけるさらなる高密度化が可能となる。
【0014】第二に、チップの表面回路形成部分のみを
保護樹脂で覆えばよいので、いわゆる樹脂パッケージ型
の半導体装置に比較して、著しいパッケージングの薄型
化が可能となり、このことも、かかる半導体装置が搭載
される基板全体の薄型化、高密度化、多層化を促すこと
ができる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】図6に示す例は、従前
のテープキャリヤパッケージを説明する目的で、リード
の数を比較的少なく示しているが、実際には、インナリ
ードのピッチが100μm以下となる場合もある。ま
た、支持するべき半導体チップの集積度が今後もさらに
高まることが予想され、チップ外形も比較的大きなもの
もある。そうすると、従前のテープキャリヤパッケージ
の構成では、デバイスホール3が半導体チップの高集積
化に呼応して大きくなり、また、リードの配線密度も高
まる。すなわち、配線密度が高まるにもかかわらず、か
かる配線を形成するべき領域が、上記のごとくデバイス
ホールが大きくなる分減少させられ、複雑な配線パター
ンをキャリヤテープ上に形成しておくことが難しくな
る。
【0016】また、回路基板と協働して一定の回路を構
成するにあたっても、回路基板上に形成するべきパター
ンが複雑化せざるをえず、このことが、一定範囲の回路
基板上での複雑な配線を困難化しているのである。
【0017】要するに、従前のテープキャリヤパッケー
ジ、あるいはこれに用いられるTAB用キャリヤテープ
においては、デバイスホール内の領域が配線パターンの
配置のためには全く用いられていないのであり、その故
に、半導体チップの高集積化、リードピッチの狭ピッチ
化が進めば進むほど、半導体チップをめぐるその周囲の
配線の困難性が増大していくと考えられるのである。
【0018】本願発明は、上記のような知見のもとで考
え出されたものであって、テープキャリヤパッケージさ
れる半導体装置を、より効率良く回路基板に実装するこ
とができるようにすることをその基本的課題としてい
る。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本願発明では、次の各技術的手段を講じている。
【0020】
【0021】
【0022】
【0023】本願の請求項1に記載した発明は、所定幅
を有し、長手方向に一定長さを有するテープ本体を備
え、上記テープ本体には長手方向に複数のメモリチップ
保持部が形成されており、上記各メモリチップ保持部
は、テープ幅方向に対向する一対の窓孔と、テープ本体
裏面における上記各窓孔間の領域に形成されたリードパ
ターンと、このリードパターンから上記窓孔内に延びる
インナリードとを備えており、上記テープ本体の上面に
は、その長手方向に延びる複数の信号用配線パターンが
上記各メモリチップ保持部間をわたらせるように形成さ
れており、上記各メモリチップ保持部において、上記信
号用配線パターンの選択されたものが上記リードパター
ンの選択されたものに対してVIAホールを介して導通
させられていることに特徴づけられる。
【0024】さらに、本願の請求項2に記載した発明
は、請求項1のメモリチップ用キャリヤテープにおい
て、上記信号用配線パターンは、アドレスバス用パター
ンおよび/またはデータバス用パターンを含んでおり、
各バス用パターンは、各メモリチップ保持部において、
選択されたリードパターンに対してVIAホールを介し
て共通接続されていることに特徴づけられる。
【0025】さらに、請求項3に記載した発明は、請求
項1のメモリチップ用キャリヤテープにおいて、上記テ
ープ本体の上面には、その長手方向に上記各メモリチッ
プ保持部にわたって形成される電源用配線パターンとグ
ランド用配線パターンとをさらに備えており、上記各メ
モリチップ保持部において、上記電源用配線パターンと
グランド用配線パターンとの間を掛け渡すバイパスコン
デンサが搭載されていることに特徴づけられる。
【0026】そして、本願の請求項4に記載した発明
は、上記請求項1ないし3に記載したメモリチップ用キ
ャリヤテープを用いたメモリチップ用テープキャリヤパ
ッケージであって、メモリチップを、その上面バンプを
各メモリチップ保持部において各窓孔に延出するインナ
リードに接続することによって支持したものである。
【0027】
【作用および効果】本願発明は要するに、従来TAB用
キャリヤテープにおいてデバイスホールが設けられた領
域を、配線パターンを形成するべき領域として積極的に
利用し、キャリヤテープ上において、複雑な配線のとり
回しを可能とし、かかるキャリヤテープに半導体チップ
を支持してなるテープキャリヤパッケージを回路基板に
装填するにあたり、回路基板上の配線の複雑化を回避し
て、より効率的な半導体装置の実装を可能としようとす
るものである。
【0028】テープキャリヤパッケージである以上、キ
ャリヤテープに形成したリードパターンを窓孔内に延出
してインナリードを形成し、これを半導体チップ上のバ
ンプに熱圧着するという点は、従前と同様である。
【0029】しかしながら、本願発明では、従前のキャ
リヤテープにおけるデバイスホールが存在しない。イン
ナリードを露出させるべくテープ本体に設ける窓孔は、
支持するべき半導体チップに通常その上面周縁に設けら
れる端子部ないしこれに形成されるバンプを臨ませるに
必要最小限なものとされる。したがって、キャリヤテー
プ本体には、支持されるべき半導体チップの上面を覆う
部分が残される。かかる半導体チップを覆う部分を利用
して、必要な配線パターンを形成しておくのである。
【0030】従来、デバイスホールが存在したため、キ
ャリヤテープに担持された半導体チップの上面の領域
は、配線に対してなんら利用されていなかったが、本願
発明では、上記のように、半導体チップを覆うキャリヤ
テープに配線パターンを形成することができるので、そ
れだけ複雑な配線をキャリヤテープ上に形成することが
でき、その分、テープキャリヤパッケージ化された半導
体装置を装填するべき回路基板上の配線を簡略化するこ
とができる。これにより、半導体装置の回路基板に対す
るさらなる効率的な実装が可能となり、電子回路のより
小型化が実現できる。
【0031】本願発明が採用されたテープキャリヤパッ
ケージを実装するべき回路基板としては、ハイブリッド
ICや、マルチチップモジュール等が考えられる。ま
た、後述するように、支持するべき半導体チップとし
て、メモリチップがあり、このメモリチップ用のテープ
キャリヤパッケージを後述する構成にしたがい形成すれ
ば、メモリ基板がより効率化されることになる。
【0032】本願発明では、上記窓孔に臨むインナリー
ドにつながるリードパターンを上記テープ本体における
上記の半導体チップを覆う部分の下面に形成する一方、
上記テープ本体の上面に別途配線パターンを形成し、こ
れらテープ本体の上面の配線パターンと下面のリードパ
ターンとを、VIAホールを介して導通させている。こ
れにより、インナリードを、上記窓孔内に内側から延出
させることが実質的に可能となり、窓孔の外側の領域を
周辺回路構成のための配線パターンとして有効に利用す
ることができるようになる。その結果、全体として、キ
ャリヤテープ本体を、これを搭載するべき半導体チップ
の周辺回路を構成するための配線のために有効に利用す
ることができるようになり、前述したように、かかるキ
ャリヤテープを用いて構成したテープキャリヤパッケー
ジ化された半導体装置を実装する回路基板を簡略化し、
より一層の高密度実装が可能となる。
【0033】なお、キャリヤテープにボンディングされ
た半導体チップの上面は、樹脂封止する必要があるが、
たとえば、ボンディングされた半導体チップの上面を覆
うテープ本体に開口を設け、この開口から封止樹脂を注
入することにより、問題なく、半導体チップの上面を封
止樹脂で覆うことができるようになる。
【0034】請求項1〜4に記載した発明は、多数個の
メモリチップを搭載してメモリ基板を構成するにあた
り、TAB用キャリヤテープを利用して、これにアドレ
スバスラインやデータバスライン等の信号配線を担当さ
せるようにしたものである。一般に、多数個のランダム
アクセスメモリ(RAM)チップを用いて所定容量のメ
モリ装置を構成する場合、基板に搭載された複数個のメ
モリチップは、アドレスバスあるいはデータバスでつな
げられる。一つのメモリチップの容量が大きくなればな
るほど、あるいは、かかるメモリチップを用いる個数が
多くなればなるほど、基板上における上記バスラインの
配線が複雑となるとともに、かかる配線に要する基板上
のスペースが必要となってき、結果的に、メモリ基板上
へのメモリチップの搭載密度を上げることができなくな
る。
【0035】本願発明では、かかるメモリチップを多数
個用いてメモリ基板を構成する場合における上記した従
来の問題を著しく改善している。
【0036】テープ本体には、複数のメモリチップ保持
部が長手方向に形成され、各メモリチップ保持部に対
し、上記した本願発明の基本的概念を用いて、メモリチ
ップをボンディングする。すなわち、各メモリチップ保
持部には、メモリチップに形成される端子ないしバンプ
を臨ませるに必要最小限の窓孔を設け、メモリチップの
上面を覆う領域を残しておく。そして、このテープ本体
における各メモリチップを覆う部分を、テープ長手方向
に貫通状に渡らせるようにして、信号配線パターンを形
成するのである。
【0037】一方、各メモリチップ保持部の裏面には、
リードパターンが形成され、これより延びる内部リード
が上記窓孔内に臨ませられる。テープ本体の表面に形成
される上記の信号配線パターンと、各メモリチップ保持
部においてテープ本体の裏面に形成される上記のリード
パターンとは、VIAホールを介して互いに導通させら
れる。
【0038】このようにすることにより、従来、多数個
搭載されたメモリ装置の周辺部に形成せざるをえなかっ
た多数本のバスラインの多くを、メモリチップがボンデ
ィングされたTAB用キャリヤテープ上に形成すること
ができるのであり、それだけ基板の配線領域を少なくし
て、基板に対するメモリチップの高密度実装が可能とな
る。
【0039】もちろん、各メモリチップには、ロジック
電源ライン、グランドライン等の電源系ラインを接続す
る必要もあるが、かかるラインもが、上記信号配線パタ
ーンと同様、TAB用キャリヤテープ上に都合良く形成
することができる。
【0040】請求項3に記載した発明では、上記TAB
用キャリヤ本体上に形成される電源用配線パターンとグ
ランド配線パターンとの間にこれらを掛け渡す電源ノイ
ズバイパスコンデンサを搭載している。この種のランダ
ムアクセスメモリ(RAM)を雑音等の障害を回避しな
がら都合よく作動させるには、電源ライン(Vccライ
ン)とグランドラインとの間に、電源ノイズバイパスコ
ンデンサを介装することが必須となり、しかも、かかる
バイパスコンデンサは、できるだけチップに近い位置に
設けるのが効果的である。請求項3の発明では、かかる
要求を、都合良く達成することができるのである。ま
た、従前においては、基板上にメモリチップと隣接して
設けざるえなった上記のバイパスコンデンサが、メモリ
チップの上方にキャリヤテープを介して階層上に搭載す
ることができるのであり、このことが、多数個のメモリ
チップを搭載するべき基板のスペース効率を高める結果
ともなっている。
【0041】
【実施例の説明】以下、本願発明の好ましい実施例を、
図1ないし図5を参照にして具体的に説明する。なお、
これらの図において、図6以下の図面に示されている部
品または部分と同様のものには、同一の符号を付してあ
る。
【0042】図1ないし図4は、本願発明の第一の実施
例を示しており、多数個のRAMチップ8を基板に搭載
して所定容量のメモリ基板を構成するにあたり、一定個
数のメモリチップをTAB用キャリヤテープ1に担持し
て、一括して上記基板に搭載するべきメモリモジュール
を構成したものである。
【0043】図1に表れているように、両側縁にスプロ
ケットホール7が形成されたテープ本体1aに、長手方
向等間隔に複数のメモリチップ保持部14が形成されて
いる。各メモリチップ保持部14には、テープの長手方
向に延びる一対の窓孔15,15が、テープ幅方向に所
定間隔をあけて形成されている。これら窓孔15,15
の配置は、図1に示すような、上記キャリヤテープ1に
ボンディングするべきメモリチップ8の端子配列と対応
したものとしてある。すなわち、メモリチップ8は、矩
形の平面形状をもつとともに、その対向する二辺近傍
に、必要な端子が集中配置されている。もちろん、各端
子には、金バンプ9があらかじめ形成されている。
【0044】図1にあらわれているように、本願発明の
TAB用キャリヤテープ1においては、図6に示した従
来のTAB用キャリヤテープのように、デバイスホール
に相当する大きな開口は形成しない。これに代え、上記
一対の窓孔15,15は、後述するインナリード2aを
接合するべきチップ上の端子(すなわちバンプ)9を臨
ませるに必要最小限の大きさおよび位置としている。
【0045】したがって、図1に示す実施例の場合、各
チップ保持部14において、二つの窓孔15,15の間
の領域は、ボンディングされるべきチップ8の上面を覆
うような恰好で、キャリヤテープ本体1aと一体に残存
させられている。
【0046】一方、上記キャリヤテープ1のチップ8を
覆う領域、すなわち、各チップ保持部14において一対
の窓孔15,15に挟まれる領域の裏面には、所定のリ
ードパターン2が形成される。各リードパターン2は、
概してテープ本体1aの幅方向に延びており、その先端
が上記各窓孔15,15内に延びて、インナリード2a
を形成している。
【0047】一方、上記キャリヤテープ本体1aの上面
には、各チップ保持部14にわたるようにして、すなわ
ち、キャリヤテープ1の長手方向に延びるようにして、
信号配線パターン等の配線パターン16が形成されてい
る。これら信号配線パターン16としては、アドレスバ
ス用パターン、データバス用パターン、コントロールバ
ス用パターン等がある。
【0048】さらに、上記キャリヤテープ本体1aの上
面には、電源系の配線パターン17も、上記信号用配線
パターン16と平行するようにして形成することができ
る。電源系配線パターン17には、ロジック電源(Vc
c)用配線パターン17aと、グランド用配線パターン
17bとが含まれる。
【0049】上記キャリヤテープ表面側の配線パターン
16,17と、各チップ保持部14において、キャリヤ
テープ本体1aの裏面側に形成されたリードパターン2
間の電気的導通は、VIAホール18によって図られ
る。VIAホール18は、図3に表れているように、テ
ープ本体1aを貫通させた小孔内面に、無電解メッキに
よる導電被膜を形成して構成される、公知の導通手段で
ある。
【0050】各信号用配線パターン16は、各チップ保
持部14において、対応する端子に導通するリードパタ
ーン2に対して上記のごとくVIAホール18を介して
導通させられる。
【0051】電源系の配線パターン17a,17bもま
た、対応する端子と導通するリードパターン2に対し
て、VIAホール18を介して導通させられる。
【0052】図1に示した実施例では、テープ本体1a
上面にその長手方向に延びるように形成された配線パタ
ーン16,17中、電源用配線パターン17aとグラン
ド用配線パターン17bとを隣接して形成し、各チップ
保持部14において、それぞれ、電源ノイズバイパスコ
ンデンサチップ19を上記各パターン17a,17bを
掛け渡すようにして搭載している。
【0053】上記のように形成したTAB用キャリヤテ
ープ1を用いて各チップ保持部14に上記メモリチップ
8を保持させる操作は、たとえば次のようにして行うこ
とができる。
【0054】まず、上記窓孔15,15に臨むインナリ
ード2aを、あらかじめ図3に詳示するようにフォーミ
ングする。すなわち、インナリード2aの先端部が、基
端部に対して段下げ状となるようにフォーミングする。
これは、インナリード2aが不用意にチップ上面に接触
して短絡不良を起こすことを回避するためである。
【0055】キャリヤテープ1は、スプロケットホール
7を利用することによって長手方向にステップ送りされ
る。ボンディングツール10は、従前と同様、チップ8
が搭載される下ツール10aと、各窓孔15,15に臨
むインナリード2aの先端をチップ上のバンプ9に押し
つける作用をする上ツール10bとを備えている。各ツ
ール10a,10bは、内部にヒータが組み込まれてお
り、ボンディング部を所定の温度に昇温させることがで
きるようになっている。キャリヤテープ1と下ツール上
チップ8との間の平面的な位置が調整されると、上ツー
ル10bが下動し、インナリード2aの先端をチップ上
のバンプ9に押しつけ、この際にツールの熱によってバ
ンプが昇温させられることによって、このバンプ9と各
インナリード2aの先端部とは互いに熱圧着される。
【0056】本願発明のように、窓孔15にインナリー
ド2aのみを臨ませる場合、上記上ツール10bは、上
記窓孔15にのみ下端が突入しうる断面コの字状とな
る。
【0057】こうして、TAB用キャリヤテープ1の各
チップ保持部14にメモリチップ8が支持されると、次
に、各チップ8の表面が樹脂封止される。これには、キ
ャリヤテープ1と半導体チップ8との間の隙間に液状状
態にあるエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂11を注入する
ことにより行われる。上記キャリヤテープ1とチップ8
との隙間に都合よく上記封止樹脂11を注入するために
は、図1および図4に示すように、キャリヤテープ本体
1aに封止樹脂注入用開口20を設けておくのがよい。
【0058】上記のように、単一のTAB用キャリヤテ
ープ1に一定個数のメモリチップ8が搭載されたTAB
マルチメモリチップモジュールは、テープ本体の両側部
不用部分を切除するとともに、テープ長手方向両端部に
各配線パターンを延出して外部リード(図示略)を形成
した上で、所定の回路基板(図示略)上に実装される。
【0059】多数個のメモリチップ8を使用して所定容
量のメモリ基板を形成するにあたり、各チップをバスラ
インでつなぐことが求められる。従前の手法において
は、かかるバスライン等の信号配線パターンは、基板上
に形成せざるをえず、単一のメモリチップの容量が増え
れば増えるほど、あるいはかかるメモリチップの搭載個
数が増えれば増えるほど、基板上にバスライン等の信号
配線パターンを形成するべき領域が多く必要となり、そ
の故に、基板へのメモリチップの高密度実装には限界が
あったが、本願発明では、従来基板に形成せざるえなっ
たバスライン等の信号配線の多くの部分が、モジュール
化されたメモリチップを搭載するTABキャリヤテープ
1上に形成することができるのであり、したがって、メ
モリ基板の大幅な小型化が可能となる。
【0060】本願発明の技術を応用することにより、従
来のハードディスクメモリに相当する大容量のメモリ装
置を、高密度実装された多数個のメモリチップを用いる
ことにより、占有体積を節約しながら構成することが夢
ではなくなる。かかるメモリチップを利用した大容量メ
モリ装置の利点は、アクセスタイムをハードディスクメ
モリを用いることに比較して著しく短縮することができ
るということであり、将来のメモリ装置の革命をもたら
すことを可能としうるものである。
【0061】また、メモリやロジックIC等を搭載して
回路を構成する場合、チップ近くに電源ノイズバイパス
コンデンサを介装する必要があり、従来は、これを回路
基板上に搭載せざるをえず、このことが回路基板面積の
有効利用を阻害する要因ともなっていたが、本願発明に
よれば、図1に示したように、マルチチップテープモジ
ュール化されたメモリモジュールのキャリヤテープに搭
載することが容易となり、このことが、基板への実装密
度を高める上で少なからず寄与することになる。
【0062】本願発明は、上記した実施例のように、メ
モリチップを多数個まとめてキャリヤテープ上に担持
し、マルチメモリチップテープモジュールを構成する場
合の他、メモリチップ以外のLSIチップ等の複数個の
チップを基板上に搭載してマルチチップモジュールを形
成する場合に、各チップ間をつなぐ配線の一部をキャリ
ヤテープ上に分担させるような応用も可能である。
【0063】本願発明の要点は、繰り返し述べるが、キ
ャリヤテープ本体1aの下面に形成したリードパターン
1を、キャリヤテープ本体1の上面に形成した配線パタ
ーン16,17とをVIAホールによってつなげること
により、キャリヤテープ1に複雑な配線パターンを形成
することが可能となるようにしたものである。そして、
キャリヤテープのうち、ボンディングするべきチップの
上面を覆う部分をも配線パターンを形成するべき領域と
して利用できることにより、複雑な配線パターンを、ス
ペース効率よく形成することができるのである。
【0064】メモリチップ以外の複数のチップを単一の
キャリヤテープ上に担持してモジュールを形成する場
合、キャリヤテープには、これに搭載するべき種々のチ
ップと対応したチップ保持部14’が形成されることに
なる。
【0065】図5に、LSIチップ8を本願発明にした
がって支持するべく形成されたキャリヤテープ1上のチ
ップ保持部14’の例を示している。矩形のチップ1の
四隅部近傍に集中配置した端子ないしバンプ9を臨ませ
るようにして、合計四つの窓孔15が形成されている。
この窓孔15の内側には、チップ8の上面を覆うテープ
部分が残存している。
【0066】このテープの裏面には、リードパターン2
が形成され、各リードパターン2の先端は、内部リード
2aとして内方から外方に向けて各窓孔15に延出させ
られている。
【0067】一方、キャリヤテープ本体1aの上面に
は、所定の配線パターン16が形成される。この配線パ
ターン16の一部は、キャリヤテープ1の縁部において
外部リード21となっており、一部は、同一のキャリヤ
テープ上に形成された他のチップ保持部14”のための
配線パターン16’として延出させられる。
【0068】こうして、このテープ上のモジュールを図
示しない基板に搭載して最終的なマルチチップモジュー
ルを構成する場合において、本願発明を用いれば、モジ
ュール全体を構成するに必要な配線の一部をキャリヤテ
ープ1が分担することになり、回路基板への配線が簡略
化されるとともに、回路基板上のスペースが節約され、
最終的に基板への複数のチップの高密度実装が可能とな
るのである。
【0069】以上説明したように、本願発明によれば、
半導体装置を支持するキャリヤテープが配線を分担する
ことができるので、多数個の半導体チップを回路基板に
搭載して一定の機能回路を構成する場合において、より
高密度な実装が可能となり、回路構成の著しい小型化に
大きく寄与することができるのである。
【0070】もちろん、本願発明の範囲は上述した実施
例に限定されるものではない。本願の各請求項に記載し
た発明概念内での修正、変更、具体化、または応用は、
全て、本願発明の範囲に含まれる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明の第一の実施例の略示平面図である。
【図2】図1のA部拡大図である。
【図3】図2のIII −III 線に沿う断面図である。
【図4】図1のIV−IV線に沿う拡大断面図である。
【図5】本願発明の第二の実施例の略示平面図である。
【図6】従来例の平面図である。
【図7】図6のVII −VII 線に沿う拡大断面図である。
【図8】図6に示すキャリヤテープを用いてテープキャ
リヤパッケージ化された半導体装置の平面図である。
【符号の説明】
1 TAB用キャリヤテープ 1a テープ本体 2 リードパターン 2a インナリード 8 半導体チップ 9 バンプ 13 テープキャリヤパッケージ 14 チップ保持部 15 窓孔 16 配線パターン 18 VIAホール 19 電源ノイズバイパスコンデンサ 20 封止樹脂注入開口
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−11646(JP,A) 特開 平4−297047(JP,A) 特開 昭52−156561(JP,A) 特開 昭63−276232(JP,A) 特開 昭64−35925(JP,A) 特開 平1−181540(JP,A) 特開 平2−222158(JP,A) 特表 平2−503613(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/60 311 H01L 21/56 H01L 25/00

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定幅を有し、長手方向に一定長さを有
    するテープ本体を備え、 上記テープ本体には長手方向に複数のメモリチップ保持
    部が形成されており、上記各メモリチップ保持部は、一
    定間隔をあけて形成された一対の窓孔と、テープ本体裏
    面における上記各窓孔間の領域に形成されたリードパタ
    ーンと、このリードパターンから上記窓孔内に延びるイ
    ンナリードとを備えており、 上記テープ本体の上面には、その長手方向に延びる複数
    の信号用配線パターンが上記各メモリチップ保持部間を
    わたらせるように形成されており、 上記各メモリチップ保持部において、上記信号用配線パ
    ターンの選択されたものが上記リードパターンの選択さ
    れたものに対してVIAホールを介して導通させられて
    いることを特徴とする、メモリチップ用キャリヤテー
    プ。
  2. 【請求項2】 上記信号用配線パターンは、アドレスバ
    ス用パターンおよび/またはデータバス用パターンを含
    んでおり、各バス用パターンは、各メモリチップ保持部
    において、選択されたリードパターンに対してVIAホ
    ールを介して共通接続されている、請求項1のメモリチ
    ップ用キャリヤテープ。
  3. 【請求項3】 上記テープ本体の上面には、その長手方
    向に上記各メモリチップ保持部にわたって形成される電
    源用配線パターンとグランド用配線パターンとをさらに
    備えており、 上記各メモリチップ保持部において、上記電源用配線パ
    ターンとグランド用配線パターンとの間を掛け渡すバイ
    パスコンデンサが搭載されている、請求項1のメモリチ
    ップ用キャリヤテープ。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかのメモリチ
    ップ用キャリヤテープを用い、上面対向辺近傍に形成し
    たバンプ付きの端子を有する複数個のメモリチップを、
    上記各メモリチップ保持部において、各窓孔に延出する
    インナリードに上記バンプを接合することにより支持し
    てなる、メモリチップ用テープキャリヤパッケージ。
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