JP2762850B2 - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JP2762850B2
JP2762850B2 JP19573792A JP19573792A JP2762850B2 JP 2762850 B2 JP2762850 B2 JP 2762850B2 JP 19573792 A JP19573792 A JP 19573792A JP 19573792 A JP19573792 A JP 19573792A JP 2762850 B2 JP2762850 B2 JP 2762850B2
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transmission line
low
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resistance
circuit
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直樹 八鍬
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Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、伝送線路を含む半導体
集積回路に関し、特にアナログ信号の高速動作を必要と
する半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体デバイス素子の性能が向上
するにつれて、配線の寄生容量によって高周波特性が劣
化し、高速動作が制限されることが問題となっている。
【0003】この高周波特性を改善する対策は、オーム
の法則から求められる一般式
【0004】
【数1】
【0005】に示されるように、 (1)電圧振幅を小さくする。 (2)電流振幅を大きくする。 (3)アクティブ回路を作用する。
【0006】(1)の例として、CML/ECL回路の
採用があり、能動素子の非飽和動作による高速化を図っ
ている。(2)の例として、電源電圧の中間値電圧を新
たに容易し、出力プルダウン抵抗を小さくすることによ
って配線の寄生容量の充放電時間の短縮を図っている。
(3)の例として、従来より使われているプッシュ・プ
ル回路があり、また最近の例としてIBM発表(ISS
CC ′89)と日立発表(1990年電子情報通信学
会、春期全国大会 C−645)がある。以上は回路上
の創意工夫の例であり、配線構想による例は見られな
い。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の回路構
成による対策はディジタル回路で評価される動作速度
(tPd,tr ,tf )に対しては有効であるが、アナロ
グ回路で評価される信号の純度(非直線歪、0°/18
0°信号対の位相バランス)に対しては劣化するという
問題点があった。
【0008】本発明の目的は、このような従来の問題点
を除去して、伝送線路の浮遊容量を低減し、動作周波数
の向上を図った半導体集積回路を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の解決手段は、半導体基板上で、第一低抵抗伝
送線路が第一出力回路の出力端と第一入力回路の入力端
との間に接続された半導体集積回路において、前記第一
低抵抗伝送線路と平行に設けられ、前記第一出力回路の
入力信号を分岐して入力される第二出力回路の出力端
と、前記第一出力回路が接続される前記第一低抵抗伝送
線路の端と同一側端とを接続する第二低抵抗伝送線路
と、前記第一及び第二低抵抗伝送線路と面の重なりを持
ち、第一及び第二低抵抗伝送線路と前記半導体基板との
間に絶縁層を介して積層され、前記第二低抵抗伝送線路
と少なくとも1箇所の接続点を有する抵抗膜線路とから
なることを特徴とする。
【0010】上記解決手段に、前記第一低抵抗伝送線路
の前記第二低抵抗伝送線路とは反対側に、前記抵抗膜線
路と少なくとも1箇所の接続点を持ち、前記第二出力回
路の出力端と接続する前記第二低抵抗伝送路と同じ低抵
抗伝送線路を設けてもよい。
【0011】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して以下に
説明する。図1は、本発明の一実施例の概略図であり、
図2は図1A−A断面図である。同一信号成分を伝送す
る出力回路1,2がそれぞれ低抵抗伝送線路である伝送
線路3,伝送線路4に接続されており、これら伝送線路
3,4は互いに平行に配置されている。集積回路で使用
される抵抗膜線路である抵抗(例えば、ポリシリ抵抗)
層5が、伝送線路3,4をカバーする面積となるように
半導体基板上に設けられており、しかも伝送線路4と一
箇所以上で接続されている。また伝送線路3は、上記出
力回路1と繋がっていない他端を信号伝送のための次段
入力回路6に接続され、伝送線路4は出力回路1と繋が
らない他端が開放されている。伝送線路3,4と抵抗層
5とは絶縁膜8,9,10により絶縁されている。その
様子を図2の断面図に示し、伝送線路3に生じる浮遊容
量C3 は、次の式で求められる。
【0012】
【数2】
【0013】ここで、εは絶縁膜の誘電率、S3-4 とd
3-4 は伝送線路3の伝送線路4に対する等価面積と等価
距離とを、S3-5 とd3-5 は抵抗層5に対する等価面積
と等価距離とを、S3-7 とd3-7 は半導体基板7に対す
る等価面積と等価距離である。同様に、伝送線路4に生
じる浮遊容量C4 は次式で求まる。
【0014】
【数3】
【0015】さらに、抵抗層5に生じる浮遊容量C
5 は、次の式で求まる。
【0016】
【数4】
【0017】伝送線路3,4と抵抗層5が同一信号成分
すなわち、同位相、同振幅であれば、(1)式におい
て、ΔV=0となるため、ΔI=0となり、前式におい
てd3-4,d3-5 及びd4-5 は無限大の値と等価にな
る。従って、伝送線路3に生じる浮遊容量C3 は、
【0018】
【数5】
【0019】となる。一方、伝送線路4及び抵抗層5が
ない場合の伝送線路3に生じる浮遊容量C' 3は、
【0020】
【数6】
【0021】となる。仮に同一振幅で等価面積S3-7
' 3-7が同一としても、伝送線路3と半導体基板7との
距離がd3-7 >d' 3-7の関係になるように抵抗層5の幅
を伝送線路3に対して十分厚くすれば、浮遊容量につい
てC3 <C' 3とすることができる。
【0022】以上のように出力回路1は信号伝送に使用
され、伝送線路3の浮遊容量の影響が低減される。一
方、出力回路2は信号伝送線路の付加を代わりに受ける
が、最も簡単なトランジスタ1個によるエミッタフォロ
ワ回路で駆動するとすれば、信号伝送側への影響は電流
増幅率hfe分の1だけである。
【0023】以上、信号伝送線路と平行に設けた低抵抗
の伝送線路を片側に設けた例を示したが、両側に設ける
ことも可能である。その様子を図3に示す。この図3の
ように、伝送線路4と同一構造の伝送線路12を伝送線
路3の伝送線路4反対側に設けてもよい。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は二つ以上
の平行に設けた低抵抗伝送線路と面の重なりを有する抵
抗層があり、信号伝送線路と平行な伝送線路が同一信号
成分の出力から分岐された出力回路に接続されているた
め、信号伝送線路に生じる浮遊容量を新たに設けた伝送
線路と抵抗層により低減できる効果を有する。本発明は
低抵抗伝送線路として一つの層のみを使用しているた
め、他の層の伝送線路との公差に対して弊害とならな
い。また、信号伝達用出力回路の交流負荷として、伝送
線路による浮遊容量が低減できるため、数1における同
一動作条件では、ωC一定により、動作周波数ωの向上
が図れる。さらにアナログ回路として使用する場合で
も、配線長の影響が低減できるため、配置設計の自由度
が大きく、また波形歪の起きる要因も減少できる利点が
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の概観図である。
【図2】図1におけるA−A断面図である。
【図3】第二実施例の断面図である。
【符号の説明】
1,2 出力回路 3,4 伝送線路 5 抵抗層 6 入力回路 7 半導体基板 8,9,10 絶縁膜 11 接続点

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体基板上で、第一低抵抗伝送線路が第
    一出力回路の出力端と第一入力回路の入力端との間に接
    続された半導体集積回路において、 前記第一低抵抗伝送線路と平行に設けられ、前記第一出
    力回路の入力信号を分岐して入力される第二出力回路の
    出力端と、前記第一出力回路が接続される前記第一低抵
    抗伝送線路の端と同一側端とを接続する第二低抵抗伝送
    線路と、 前記第一及び第二低抵抗伝送線路と面の重なりを持ち、
    第一及び第二低抵抗伝送線路と前記半導体基板との間に
    絶縁層を介して積層され、前記第二低抵抗伝送線路と少
    なくとも1箇所の接続点を有する抵抗膜線路とからなる
    ことを特徴とする半導体集積回路。
  2. 【請求項2】前記第一低抵抗伝送線路の前記第二低抵抗
    伝送線路とは反対側に、前記抵抗膜線路と少なくとも1
    箇所の接続点を持ち、前記第二出力回路の出力端と接続
    する前記第二低抵抗伝送路と同じ低抵抗伝送線路を設け
    たことを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路。
JP19573792A 1992-07-23 1992-07-23 半導体集積回路 Expired - Lifetime JP2762850B2 (ja)

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