JP2742751B2 - 磁気カ−ドの不正使用防止方法 - Google Patents
磁気カ−ドの不正使用防止方法Info
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- JP2742751B2 JP2742751B2 JP4266778A JP26677892A JP2742751B2 JP 2742751 B2 JP2742751 B2 JP 2742751B2 JP 4266778 A JP4266778 A JP 4266778A JP 26677892 A JP26677892 A JP 26677892A JP 2742751 B2 JP2742751 B2 JP 2742751B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気カ−ドの不正使用
防止方法に関する。
防止方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年クレジットカ−ド、プリペイドカ−
ド等の目覚ましい普及で磁気カ−ドリ−ダのセキュリテ
ィ−の確保が強く要求されている。これに応えて種々の
提案がなされ、一部実用化されているが、市場性とセキ
ュリティ−の面で不十分である。この提案の中に例えば
特表昭63−501250号公報がある。この公報では、磁気カ
−ド内にステンレスファイバ−をランダムに混入し、こ
のカ−ドをマイクロ波により読み取り、混入状態が個々
のカ−ドにより異なることを利用し、混入状態の差によ
るカ−ド固有情報をカ−ドに記録し、別のカ−ドを偽造
することを防止してセキュリティ−を向上させることが
提案されている。
ド等の目覚ましい普及で磁気カ−ドリ−ダのセキュリテ
ィ−の確保が強く要求されている。これに応えて種々の
提案がなされ、一部実用化されているが、市場性とセキ
ュリティ−の面で不十分である。この提案の中に例えば
特表昭63−501250号公報がある。この公報では、磁気カ
−ド内にステンレスファイバ−をランダムに混入し、こ
のカ−ドをマイクロ波により読み取り、混入状態が個々
のカ−ドにより異なることを利用し、混入状態の差によ
るカ−ド固有情報をカ−ドに記録し、別のカ−ドを偽造
することを防止してセキュリティ−を向上させることが
提案されている。
【０００３】しかし、上記公報の構成では、磁気カ−
ド内にステンレスファイバ−を混入したのでカ−ドがコ
スト高になる欠点がある。磁気カ−ド内に混入したス
テンレスファイバ−の検出にマイクロ波センサが必要で
コスト高になる欠点がある。 マイクロ波を使用すると、電波法で漏れの規定があっ
て、カ−ドリ−ダ、特に手動式カ−ドリ−ダで規定を満
足することが困難である。
ド内にステンレスファイバ−を混入したのでカ−ドがコ
スト高になる欠点がある。磁気カ−ド内に混入したス
テンレスファイバ−の検出にマイクロ波センサが必要で
コスト高になる欠点がある。 マイクロ波を使用すると、電波法で漏れの規定があっ
て、カ−ドリ−ダ、特に手動式カ−ドリ−ダで規定を満
足することが困難である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】解決しようとする問題
点は、ステンレスファイバ−を混入したカ−ドとマイク
ロ波センサが必要でコスト高になり、マイクロ波を使用
すると、電波法で漏れの規定があって手軽に使用出来な
いことである。本発明の目的は上記欠点に鑑み、磁気カ
−ドに磁気ストライプ以外の位置に磁性層とその上に非
磁性材混入で凹凸した被覆層を設けて磁性層を着磁し、
カ−ドごとに異なった凹凸の影響を受けた検出信号と磁
気ストライプの記録信号とを比較して容易に低コストで
カ−ドの正否を判別する磁気カ−ドの不正使用防止方法
を提案することである。
点は、ステンレスファイバ−を混入したカ−ドとマイク
ロ波センサが必要でコスト高になり、マイクロ波を使用
すると、電波法で漏れの規定があって手軽に使用出来な
いことである。本発明の目的は上記欠点に鑑み、磁気カ
−ドに磁気ストライプ以外の位置に磁性層とその上に非
磁性材混入で凹凸した被覆層を設けて磁性層を着磁し、
カ−ドごとに異なった凹凸の影響を受けた検出信号と磁
気ストライプの記録信号とを比較して容易に低コストで
カ−ドの正否を判別する磁気カ−ドの不正使用防止方法
を提案することである。
【０００５】
【問題を解決するための手段】本発明は、磁気カ−ドに
磁気ストライプと該磁気ストライプ以外の位置に磁性層
を設け、該磁性層上に非磁性材混入で凹凸した被覆層を
設けて磁性層に着磁し、この着磁部を磁気ヘッド或は磁
電変換素子により検出し、検出信号を磁気ストライプに
記録しておき、磁気カ−ド使用時に着磁部の検出信号と
磁気ストライプの記録信号とを比較してカ−ドの正否を
判別するようにしたことを要旨とするものである。
磁気ストライプと該磁気ストライプ以外の位置に磁性層
を設け、該磁性層上に非磁性材混入で凹凸した被覆層を
設けて磁性層に着磁し、この着磁部を磁気ヘッド或は磁
電変換素子により検出し、検出信号を磁気ストライプに
記録しておき、磁気カ−ド使用時に着磁部の検出信号と
磁気ストライプの記録信号とを比較してカ−ドの正否を
判別するようにしたことを要旨とするものである。
【０００６】
【作用】磁気カ−ド１に磁気ストライプ３以外の位置に
磁性層４とその上にランダムに非磁性材５の混入で表面
が凹凸した被覆層６を設けて磁性層４に着磁して着磁部
とし、この着磁部の磁力が磁気ヘッド或は磁電変換素子
12で読み取られたスペ−シングロスを加味した検出信号
と、この検出信号が磁気ストライプ３に記録された記録
信号を比較判別回路13で比較判別する。
磁性層４とその上にランダムに非磁性材５の混入で表面
が凹凸した被覆層６を設けて磁性層４に着磁して着磁部
とし、この着磁部の磁力が磁気ヘッド或は磁電変換素子
12で読み取られたスペ−シングロスを加味した検出信号
と、この検出信号が磁気ストライプ３に記録された記録
信号を比較判別回路13で比較判別する。
【０００７】
【実施例】以下、図示の実施例で本発明を説明する。図
１は第１実施例の磁気カ−ドの平面図、図２は磁気カ−
ドの要部拡大断面側面図、図３は第１実施例のカ−ドリ
−ダの要部と磁気カ−ド検出構成を示す説明図である。
１は第１実施例の磁気カ−ドの平面図、図２は磁気カ−
ドの要部拡大断面側面図、図３は第１実施例のカ−ドリ
−ダの要部と磁気カ−ド検出構成を示す説明図である。
【０００８】図１、図２で磁気カ−ド１は、紙や塩化ビ
ニ−ル等の合成樹脂製カ−ドベ−ス２の一側表面に磁気
ストライプ３と磁気ストライプ３以外の位置に磁性層４
が設けられ、磁性層４上に非磁性材５がランダムに混入
されて表面が凹凸した被覆層６が設けられている。非磁
性材５は大きさの異なる粉末や繊維状の非磁性材が使用
されている。その後磁性層４には着磁装置で着磁がなさ
れて着磁部となる。
ニ−ル等の合成樹脂製カ−ドベ−ス２の一側表面に磁気
ストライプ３と磁気ストライプ３以外の位置に磁性層４
が設けられ、磁性層４上に非磁性材５がランダムに混入
されて表面が凹凸した被覆層６が設けられている。非磁
性材５は大きさの異なる粉末や繊維状の非磁性材が使用
されている。その後磁性層４には着磁装置で着磁がなさ
れて着磁部となる。
【０００９】磁気カ−ドリ−ダは、例えば図３で基枠７
に磁気カ−ド１のカ−ド走行路7aが設けられている。カ
−ド走行路7aの右端にカ−ド挿入口7bが形成されてい
る。紙面に垂直方向の前後の基枠７にカ−ド送りロ−ラ
８、９が回転自在に軸承されて図示しないモ−タで回転
される。カ−ド送りロ−ラ８の上側の基枠７にカ−ド送
りロ−ラ８に対向してロ−ラ10が設けられ、カ−ド送り
ロ−ラ９に対向して磁気ヘッド11が配置されている。磁
気ヘッド11の側方のカ−ド走行路7a上方には磁気ヘッド
或はホ−ル素子、磁気抵抗効果素子等の磁電変換素子12
が配置されている。
に磁気カ−ド１のカ−ド走行路7aが設けられている。カ
−ド走行路7aの右端にカ−ド挿入口7bが形成されてい
る。紙面に垂直方向の前後の基枠７にカ−ド送りロ−ラ
８、９が回転自在に軸承されて図示しないモ−タで回転
される。カ−ド送りロ−ラ８の上側の基枠７にカ−ド送
りロ−ラ８に対向してロ−ラ10が設けられ、カ−ド送り
ロ−ラ９に対向して磁気ヘッド11が配置されている。磁
気ヘッド11の側方のカ−ド走行路7a上方には磁気ヘッド
或はホ−ル素子、磁気抵抗効果素子等の磁電変換素子12
が配置されている。
【００１０】磁気ヘッド11には磁気ストライプ３の情報
が記録・読み取りされる図示しない回路が接続されると
共に、磁気ヘッド11の情報読み取り側には比較判別回路
13が接続されている。磁気ヘッド11の情報記録側には、
情報入力回路14が接続されている。情報入力回路14には
新規情報や更新情報が入力される。更に磁電変換素子12
は比較判別回路13と情報入力回路14に接続されている。
が記録・読み取りされる図示しない回路が接続されると
共に、磁気ヘッド11の情報読み取り側には比較判別回路
13が接続されている。磁気ヘッド11の情報記録側には、
情報入力回路14が接続されている。情報入力回路14には
新規情報や更新情報が入力される。更に磁電変換素子12
は比較判別回路13と情報入力回路14に接続されている。
【００１１】磁気カ−ド１が発行される時は、磁気カ−
ド１の磁性層４に着磁がなされた磁気カ−ド１が図３で
磁気カ−ドリ−ダのカ−ド挿入口7bからカ−ド走行路7a
に挿入される。磁気カ−ド１がカ−ド走行路7a内を走行
されて着磁部となった磁性層４が磁電変換素子12で走査
されると、着磁部の磁性層４に着磁された磁力が磁電変
換素子12で読み取られて検出信号として出力される。し
かし、磁電変換素子12が当接されて走査される被覆層６
には図２のように、非磁性材５のランダム混入によって
表面にカ−ドごとに異なる凹6aと凸6bが形成されている
から、磁電変換素子12が磁性層４に近接したり、浮き上
がって磁性層４と磁電変換素子12の間の距離が変わって
スペ−シングロスが発生し、上記検出信号は磁性層４に
着磁された磁力そのものとは異なる検出信号となる。即
ち、磁性層４に同一磁界強度で均一に着磁しても、磁気
カ−ド１は非磁性材５がランダムに混入された混入状態
に応じた被覆層６表面の凹6aと凸6bでカ−ドごとに異な
ったスペ−シングロスを加味した検出信号が得られる。
ド１の磁性層４に着磁がなされた磁気カ−ド１が図３で
磁気カ−ドリ−ダのカ−ド挿入口7bからカ−ド走行路7a
に挿入される。磁気カ−ド１がカ−ド走行路7a内を走行
されて着磁部となった磁性層４が磁電変換素子12で走査
されると、着磁部の磁性層４に着磁された磁力が磁電変
換素子12で読み取られて検出信号として出力される。し
かし、磁電変換素子12が当接されて走査される被覆層６
には図２のように、非磁性材５のランダム混入によって
表面にカ−ドごとに異なる凹6aと凸6bが形成されている
から、磁電変換素子12が磁性層４に近接したり、浮き上
がって磁性層４と磁電変換素子12の間の距離が変わって
スペ−シングロスが発生し、上記検出信号は磁性層４に
着磁された磁力そのものとは異なる検出信号となる。即
ち、磁性層４に同一磁界強度で均一に着磁しても、磁気
カ−ド１は非磁性材５がランダムに混入された混入状態
に応じた被覆層６表面の凹6aと凸6bでカ−ドごとに異な
ったスペ−シングロスを加味した検出信号が得られる。
【００１２】上記スペ−シングロスを加味した検出信号
は情報入力回路14に入力されて磁気ヘッド11で磁気カ−
ド１の磁気ストライプ３に記録される。更に磁気ストラ
イプ３には例えば店番、企業コ−ド、名前等の固定情報
と、磁気カ−ド１が使用可能な金額や度数等の可変情報
が記録される。上記磁気ストライプ３に記録される検出
信号は、磁電変換素子12から出力された検出信号そのも
のであってもよいし、この検出信号をデジタル化した信
号であってもよい。更に特定条件で演算した信号であっ
てもよい。演算した信号である時には、例えば第２実施
例のように逆演算回路で逆演算して比較判別回路13に入
力される。
は情報入力回路14に入力されて磁気ヘッド11で磁気カ−
ド１の磁気ストライプ３に記録される。更に磁気ストラ
イプ３には例えば店番、企業コ−ド、名前等の固定情報
と、磁気カ−ド１が使用可能な金額や度数等の可変情報
が記録される。上記磁気ストライプ３に記録される検出
信号は、磁電変換素子12から出力された検出信号そのも
のであってもよいし、この検出信号をデジタル化した信
号であってもよい。更に特定条件で演算した信号であっ
てもよい。演算した信号である時には、例えば第２実施
例のように逆演算回路で逆演算して比較判別回路13に入
力される。
【００１３】磁気カ−ド１が使用される時は、磁気カ−
ド１が発行される時と同様に、磁気カ−ド１が磁気カ−
ドリ−ダのカ−ド挿入口7bからカ−ド走行路7aに挿入さ
れる。磁気カ−ド１がカ−ド走行路7a内を走行されて着
磁部となった磁性層４が磁電変換素子12で走査される
と、非磁性材５のランダム混入によって被覆層６の表面
に凹6aと凸6bが形成されているからその影響を受けた磁
力が磁電変換素子12で読み取られてスペ−シングロスを
加味した検出信号として出力される。同時に磁気ヘッド
11で例えば店番、企業コ−ド、名前等の固定情報と上記
可変情報と、その磁気カ−ド１のスペ−シングロスを加
味した検出信号の記録信号が読み取られ、上記磁電変換
素子12で読み取られたスペ−シングロスを加味した検出
信号と記録信号が比較判別回路13で比較判別されて一致
した時は、磁気カ−ド１の材質が偽造されていない正し
いカ−ドと判別される。
ド１が発行される時と同様に、磁気カ−ド１が磁気カ−
ドリ−ダのカ−ド挿入口7bからカ−ド走行路7aに挿入さ
れる。磁気カ−ド１がカ−ド走行路7a内を走行されて着
磁部となった磁性層４が磁電変換素子12で走査される
と、非磁性材５のランダム混入によって被覆層６の表面
に凹6aと凸6bが形成されているからその影響を受けた磁
力が磁電変換素子12で読み取られてスペ−シングロスを
加味した検出信号として出力される。同時に磁気ヘッド
11で例えば店番、企業コ−ド、名前等の固定情報と上記
可変情報と、その磁気カ−ド１のスペ−シングロスを加
味した検出信号の記録信号が読み取られ、上記磁電変換
素子12で読み取られたスペ−シングロスを加味した検出
信号と記録信号が比較判別回路13で比較判別されて一致
した時は、磁気カ−ド１の材質が偽造されていない正し
いカ−ドと判別される。
【００１４】磁気カ−ド１が使用されて後顧客に戻され
る時は、残額や残度数の更新情報が情報入力回路14に入
力されて磁気ヘッド11を通して磁気ストライプ３に記録
される。
る時は、残額や残度数の更新情報が情報入力回路14に入
力されて磁気ヘッド11を通して磁気ストライプ３に記録
される。
【００１５】上記のように磁気カ−ド１には、非磁性材
５がランダムに混入された混入状態に応じて被覆層６表
面にカ−ドごとに異なる凹6aと凸6bが形成される。この
磁気カ−ド１の正否が判別される時は、上記凹凸の影響
を受けた磁力が磁電変換素子12で読み取られたスペ−シ
ングロスを加味した検出信号と、この検出信号が磁気ス
トライプ３に記録された記録信号を比較判別回路13で比
較して一致した時は、磁気カ−ド１の材質が偽造されて
いない正しいカ−ドと判定され、異なる時は、偽造カ−
ドと判定してカ−ドを判別することで容易に磁気カ−ド
１の正否が判別されて磁気カ−ドの不正使用が防止出来
る。
５がランダムに混入された混入状態に応じて被覆層６表
面にカ−ドごとに異なる凹6aと凸6bが形成される。この
磁気カ−ド１の正否が判別される時は、上記凹凸の影響
を受けた磁力が磁電変換素子12で読み取られたスペ−シ
ングロスを加味した検出信号と、この検出信号が磁気ス
トライプ３に記録された記録信号を比較判別回路13で比
較して一致した時は、磁気カ−ド１の材質が偽造されて
いない正しいカ−ドと判定され、異なる時は、偽造カ−
ドと判定してカ−ドを判別することで容易に磁気カ−ド
１の正否が判別されて磁気カ−ドの不正使用が防止出来
る。
【００１６】図４は第２実施例のカ−ドリ−ダの要部と
磁気カ−ド検出構成を示す説明図である。
磁気カ−ド検出構成を示す説明図である。
【００１７】第２実施例では、図４で磁気ヘッド11に磁
気ストライプ３の情報が記録・読み取りされる図示しな
い回路が接続されると共に、磁気ヘッド11の情報読み取
り側には、逆演算回路15が接続されて逆演算回路15に比
較判別回路13が接続されている。磁気ヘッド11の情報記
録側には、可変情報・固定情報演算回路16が接続されて
いる。可変情報・固定情報演算回路16には新規情報や更
新情報が入力される。更に磁電変換素子12は比較判別回
路13と可変情報・固定情報演算回路16に接続されてい
る。
気ストライプ３の情報が記録・読み取りされる図示しな
い回路が接続されると共に、磁気ヘッド11の情報読み取
り側には、逆演算回路15が接続されて逆演算回路15に比
較判別回路13が接続されている。磁気ヘッド11の情報記
録側には、可変情報・固定情報演算回路16が接続されて
いる。可変情報・固定情報演算回路16には新規情報や更
新情報が入力される。更に磁電変換素子12は比較判別回
路13と可変情報・固定情報演算回路16に接続されてい
る。
【００１８】磁気カ−ド１が発行される時は、磁気カ−
ド１の磁性層４に着磁がなされた磁気カ−ド１が図３で
磁気カ−ドリ−ダのカ−ド挿入口7bからカ−ド走行路7a
に挿入される。磁気カ−ド１がカ−ド走行路7a内を走行
されて着磁部となった磁性層４が磁電変換素子12で走査
されると、着磁部の磁性層４に着磁された磁力が磁電変
換素子12で読み取られてスペ−シングロスを加味した検
出信号として出力される。次に磁気ストライプ３には例
えば店番、企業コ−ド、名前等の固定情報と、磁気カ−
ド１が使用可能な金額や度数等の可変情報と、上記検出
信号とが一緒に可変情報・固定情報演算回路16で加算、
乗算、掛算、割算等一定の法則（多項式等）のもとで演
算されて可変デ−タとして磁気ヘッド11を通して記録さ
れる。
ド１の磁性層４に着磁がなされた磁気カ−ド１が図３で
磁気カ−ドリ−ダのカ−ド挿入口7bからカ−ド走行路7a
に挿入される。磁気カ−ド１がカ−ド走行路7a内を走行
されて着磁部となった磁性層４が磁電変換素子12で走査
されると、着磁部の磁性層４に着磁された磁力が磁電変
換素子12で読み取られてスペ−シングロスを加味した検
出信号として出力される。次に磁気ストライプ３には例
えば店番、企業コ−ド、名前等の固定情報と、磁気カ−
ド１が使用可能な金額や度数等の可変情報と、上記検出
信号とが一緒に可変情報・固定情報演算回路16で加算、
乗算、掛算、割算等一定の法則（多項式等）のもとで演
算されて可変デ−タとして磁気ヘッド11を通して記録さ
れる。
【００１９】磁気カ−ド１が使用される時は、磁気カ−
ド１が発行される時と同様に、磁気カ−ド１が磁気カ−
ドリ−ダのカ−ド挿入口7bからカ−ド走行路7aに挿入さ
れる。磁気カ−ド１がカ−ド走行路7a内を走行されて着
磁部となった磁性層４が磁電変換素子12で走査される
と、非磁性材５のランダム混入によって被覆層６の表面
にカ−ドごとに異なる凹6aと凸6bが形成されているか
ら、その影響を受けたスペ−シングロスを加味した検出
信号が出力される。同時に磁気ストライプ３に記録され
た可変デ−タが磁気ヘッド11で読み取られて逆演算回路
15に入力され、逆演算回路15で逆演算されて元の可変情
報と固定情報と記録信号（記録したスペ−シングロスを
加味した検出信号）に戻される。次に上記磁電変換素子
12で読み取られたスペ−シングロスを加味した検出信号
と、逆演算された記録信号が比較判別回路13で比較判定
されて一致した時は、磁気カ−ド１の材質が偽造されて
いない正しいカ−ドと判別される。
ド１が発行される時と同様に、磁気カ−ド１が磁気カ−
ドリ−ダのカ−ド挿入口7bからカ−ド走行路7aに挿入さ
れる。磁気カ−ド１がカ−ド走行路7a内を走行されて着
磁部となった磁性層４が磁電変換素子12で走査される
と、非磁性材５のランダム混入によって被覆層６の表面
にカ−ドごとに異なる凹6aと凸6bが形成されているか
ら、その影響を受けたスペ−シングロスを加味した検出
信号が出力される。同時に磁気ストライプ３に記録され
た可変デ−タが磁気ヘッド11で読み取られて逆演算回路
15に入力され、逆演算回路15で逆演算されて元の可変情
報と固定情報と記録信号（記録したスペ−シングロスを
加味した検出信号）に戻される。次に上記磁電変換素子
12で読み取られたスペ−シングロスを加味した検出信号
と、逆演算された記録信号が比較判別回路13で比較判定
されて一致した時は、磁気カ−ド１の材質が偽造されて
いない正しいカ−ドと判別される。
【００２０】磁気カ−ド１が使用されて後顧客に戻され
る時は、更新情報が入力されて検出信号に更新可変情報
の残額や残度数と固定情報が可変情報・固定情報演算回
路16で演算されて磁気ヘッド11を通して更新可変デ−タ
が磁気カ−ド１の磁気ストライプ３に記録される。
る時は、更新情報が入力されて検出信号に更新可変情報
の残額や残度数と固定情報が可変情報・固定情報演算回
路16で演算されて磁気ヘッド11を通して更新可変デ−タ
が磁気カ−ド１の磁気ストライプ３に記録される。
【００２１】上記のように磁気カ−ド１に非磁性材５が
ランダムに混入された混入状態に応じて被覆層６表面に
凹6aと凸6bが形成されているから、この影響を受けた磁
力が磁電変換素子12で読み取られたスペ−シングロスを
加味した検出信号と、可変情報の残額や残度数と、例え
ば店番、企業コ−ド、名前等の固定情報と検出信号が一
緒に可変情報・固定情報演算回路16で加算、乗算、掛
算、割算等で演算されて可変デ−タとして磁気ヘッド11
を通して記録されると、カ−ド固有のスペ−シングロス
を加味した検出信号からなる情報が判らないと可変デ−
タが修正できず、残額や残度数が改ざんされることが防
止出来ると共に、検出信号と検出信号が磁気ストライプ
３に記録されて逆演算された記録信号を比較判別回路13
で比較判別することで磁気カ−ド１の正否が判別されて
磁気カ−ドの不正使用が防止出来る。
ランダムに混入された混入状態に応じて被覆層６表面に
凹6aと凸6bが形成されているから、この影響を受けた磁
力が磁電変換素子12で読み取られたスペ−シングロスを
加味した検出信号と、可変情報の残額や残度数と、例え
ば店番、企業コ−ド、名前等の固定情報と検出信号が一
緒に可変情報・固定情報演算回路16で加算、乗算、掛
算、割算等で演算されて可変デ−タとして磁気ヘッド11
を通して記録されると、カ−ド固有のスペ−シングロス
を加味した検出信号からなる情報が判らないと可変デ−
タが修正できず、残額や残度数が改ざんされることが防
止出来ると共に、検出信号と検出信号が磁気ストライプ
３に記録されて逆演算された記録信号を比較判別回路13
で比較判別することで磁気カ−ド１の正否が判別されて
磁気カ−ドの不正使用が防止出来る。
【００２２】図５は磁気カ−ドの変形例要部拡大断面側
面図である。
面図である。
【００２３】図５の磁気カ−ド１は、紙や塩化ビニ−ル
等の合成樹脂製カ−ドベ−ス２の一側表面に磁気ストラ
イプ３と磁気ストライプ３以外の位置に磁性層４が設け
られている。磁性層４が設けられる時は、例えばカ−ド
ベ−ス２上に中間材18が塗布され、中間材18の上に磁性
シ−トの貼り付け等で磁性層４が設けられ、中間材18の
未乾燥の間に磁性層４上に非磁性材５をランダムに載せ
て押圧し、それらの表面に被覆層６が設けられて形成さ
れている。非磁性材５は大きさの異なる粉末や繊維状の
非磁性材が使用されている。その後磁性層４には着磁装
置で着磁がなされて着磁部となる。
等の合成樹脂製カ−ドベ−ス２の一側表面に磁気ストラ
イプ３と磁気ストライプ３以外の位置に磁性層４が設け
られている。磁性層４が設けられる時は、例えばカ−ド
ベ−ス２上に中間材18が塗布され、中間材18の上に磁性
シ−トの貼り付け等で磁性層４が設けられ、中間材18の
未乾燥の間に磁性層４上に非磁性材５をランダムに載せ
て押圧し、それらの表面に被覆層６が設けられて形成さ
れている。非磁性材５は大きさの異なる粉末や繊維状の
非磁性材が使用されている。その後磁性層４には着磁装
置で着磁がなされて着磁部となる。
【００２４】この変形例では被覆層６の上表面は平面で
あるが、内部には非磁性材５の押し込みによって被覆層
６と磁性層４に凹凸が出来る。この凹凸の影響を受けた
磁力が磁電変換素子12で読み取られると、被覆層６と磁
性層４の凹凸を加味した検出信号が得られる。
あるが、内部には非磁性材５の押し込みによって被覆層
６と磁性層４に凹凸が出来る。この凹凸の影響を受けた
磁力が磁電変換素子12で読み取られると、被覆層６と磁
性層４の凹凸を加味した検出信号が得られる。
【００２５】上記のように磁気カ−ドの不正使用防止方
法が構成されると、磁気カ−ド１に磁気ストライプ３と
磁気ストライプ３以外の位置に磁性層４が設けられて着
磁され、磁性層４上に非磁性材５がランダムに混入され
た混入状態に応じた被覆層６の凹と凸が形成されている
から、この影響を受けた磁力によるスペ−シングロス又
は凹凸の影響を加味した検出信号と磁気ストライプの記
録信号とを比較してカ−ドの正否を判別することが出来
るので、個々の磁気カ−ド固有の検出信号が得られ、磁
性層４上に非磁性材５がランダムに混入された混入状態
に応じた被覆層６の凹と凸を設けることと、磁電変換素
子12で検出出来るので低コストで磁気カ−ドの不正使用
を容易に防止することが出来る。
法が構成されると、磁気カ−ド１に磁気ストライプ３と
磁気ストライプ３以外の位置に磁性層４が設けられて着
磁され、磁性層４上に非磁性材５がランダムに混入され
た混入状態に応じた被覆層６の凹と凸が形成されている
から、この影響を受けた磁力によるスペ−シングロス又
は凹凸の影響を加味した検出信号と磁気ストライプの記
録信号とを比較してカ−ドの正否を判別することが出来
るので、個々の磁気カ−ド固有の検出信号が得られ、磁
性層４上に非磁性材５がランダムに混入された混入状態
に応じた被覆層６の凹と凸を設けることと、磁電変換素
子12で検出出来るので低コストで磁気カ−ドの不正使用
を容易に防止することが出来る。
【００２６】上記説明では、磁電変換素子12を磁気ヘッ
ド11の側方のカ−ド走行路7a上方に配置したが、着磁部
となった磁性層４が走査可能な位置であれば何処に設け
てもよい。又、磁気カ−ドリ−ダの磁電変換素子12の手
前に磁石を設け、この磁石で磁性層４に着磁するように
してもよい。
ド11の側方のカ−ド走行路7a上方に配置したが、着磁部
となった磁性層４が走査可能な位置であれば何処に設け
てもよい。又、磁気カ−ドリ−ダの磁電変換素子12の手
前に磁石を設け、この磁石で磁性層４に着磁するように
してもよい。
【００２７】
【発明の効果】本発明は上述のように構成されたから、
磁気カ−ドに磁気ストライプと磁気ストライプ以外の位
置に磁性層が設けられて着磁され、磁性層上に非磁性材
がランダムに混入された混入状態に応じた被覆層の凹凸
が形成されてこの凹凸の影響を受けた磁力によるスペ−
シングロス又は凹凸の影響を加味した検出信号と磁気ス
トライプの記録信号とを比較して容易に低コストでカ−
ドの正否を判別することが出来て磁気カ−ドの不正使用
を容易に防止することが出来る等優れた効果を奏する磁
気カ−ドの不正使用防止方法を提供することが出来る。
磁気カ−ドに磁気ストライプと磁気ストライプ以外の位
置に磁性層が設けられて着磁され、磁性層上に非磁性材
がランダムに混入された混入状態に応じた被覆層の凹凸
が形成されてこの凹凸の影響を受けた磁力によるスペ−
シングロス又は凹凸の影響を加味した検出信号と磁気ス
トライプの記録信号とを比較して容易に低コストでカ−
ドの正否を判別することが出来て磁気カ−ドの不正使用
を容易に防止することが出来る等優れた効果を奏する磁
気カ−ドの不正使用防止方法を提供することが出来る。
【図１】第１実施例の磁気カ−ドの平面図である。
【図２】磁気カ−ドの要部拡大断面側面図である。
【図３】第１実施例のカ−ドリ−ダの要部と磁気カ−ド
検出構成を示す説明図である。
検出構成を示す説明図である。
【図４】第２実施例のカ−ドリ−ダの要部と磁気カ−ド
検出構成を示す説明図である。
検出構成を示す説明図である。
【図５】磁気カ−ドの変形例要部拡大断面側面図であ
る。
る。
１ 磁気カ−ド ３ 磁気ストライプ ４ 磁性層 ５ 非磁性材 ６ 被覆層 12 磁電変換素子
Claims (1)
- 【請求項１】 磁気カ−ドに磁気ストライプと該磁気ス
トライプ以外の位置に磁性層を設け、該磁性層上に非磁
性材混入で凹凸した被覆層を設けて磁性層に着磁し、こ
の着磁部を磁気ヘッド或は磁電変換素子により検出し、
検出信号を磁気ストライプに記録しておき、磁気カ−ド
使用時に着磁部の検出信号と磁気ストライプの記録信号
とを比較してカ−ドの正否を判別するようにした磁気カ
−ドの不正使用防止方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4266778A JP2742751B2 (ja) | 1992-09-10 | 1992-09-10 | 磁気カ−ドの不正使用防止方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4266778A JP2742751B2 (ja) | 1992-09-10 | 1992-09-10 | 磁気カ−ドの不正使用防止方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0696295A JPH0696295A (ja) | 1994-04-08 |
| JP2742751B2 true JP2742751B2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=17435567
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4266778A Expired - Fee Related JP2742751B2 (ja) | 1992-09-10 | 1992-09-10 | 磁気カ−ドの不正使用防止方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2742751B2 (ja) |
-
1992
- 1992-09-10 JP JP4266778A patent/JP2742751B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0696295A (ja) | 1994-04-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19971216 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
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| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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