JP2738306B2 - 差動型センスアンプとそれを用いたスタティックram及びデータ伝送回路 - Google Patents

差動型センスアンプとそれを用いたスタティックram及びデータ伝送回路

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JP2738306B2
JP2738306B2 JP6214834A JP21483494A JP2738306B2 JP 2738306 B2 JP2738306 B2 JP 2738306B2 JP 6214834 A JP6214834 A JP 6214834A JP 21483494 A JP21483494 A JP 21483494A JP 2738306 B2 JP2738306 B2 JP 2738306B2
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sense amplifier
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mos transistor
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正則 泉川
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、主にスタティックRA
M(SRAM)で用いられる差動型センスアンプに関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】ビット線動作の高速化には、信号振幅の
縮小とセンスアンプの高性能化が有効である。ビット線
振幅は小振幅であるほど遅延時間が短縮されるが、小振
幅化とともにセンスアンプの動作が悪化する問題があ
る。これを解決するために、高速SRAMではバイポー
ラのセンスアンプが多用されている。
【0003】MOSを用いた高性能センスアンプの例と
してIEEE Jornal ofSolid−Sta
te Circuits,vol.26,No.4,A
pr.,1991,pp.525−pp.536に記載
の従来の高性能電流センスアンプの構成例を、図3に示
す。このセンスアンプは、ビット線BLの電流差をpM
OSラッチ回路31によりYセレクタ回路32を介して
データ線DL,DLバーに伝え、この電流差をカレント
ミラー回路33により、電圧に変換して読みだしを行う
構成になっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このセンスアンプでは
pMOSラッチ回路31はビット線負荷30を介して接
続されているだけなので、常にDC電流が流れている。
さらにこのセンスアンプではカレントミラー回路33を
用いているために、nMOSFETのN1、N2、N
3、N4が常にDC電流を消費してしまう。
【0005】このように、従来提案されているMOS高
性能電流センスアンプはDC電流を消費してしまう欠点
があった。
【0006】本発明の目的は、DC電流を消費しない高
性能センスアンプに関する。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、互いの入出力
をたすきがけにしたCMOSインバータ対と、前記イン
バータ対とグランドとの間におかれセンス時にオンとな
るMOSトランジスタと、前記インバータ対のそれぞれ
の出力をセンス開始前にグランドレベルで等電位にする
ためのMOSトランジスタと、前記CMOSインバータ
対を構成するPMOSトランジスタのソースにセンス開
始後にオンとなり電流を供給する差動配線対をセレクト
するMOSトランジスタを接続したことを特徴とするセ
ンスアンプである。
【0008】本発明のSRAMはメモリセルアレイのビ
ット線対を前記センスアンプ内のセレクタの入力に接続
した構成となる。
【0009】また本発明のデータ伝送回路はSRAM等
のチップ内の長い配線を小振幅で駆動し、前記センスア
ンプでCMOSレベルに増幅する。
【0010】
【実施例】
実施例1 図1は、本発明の第1の実施例のスタティックRAMの
構成例を示す回路図である。
【0011】ビット線は、負荷pMOS1により常に電
源電圧VDDにチャージする。ワード線2により読み出
すメモリセルを選択すると、ビット線対3が開き始め
る。この間センスアンプのYセレクト4はすべてオフと
なっており、また読みだしデータ線対5はプルダウンn
MOS6によりグランドレベルにイコライズされる。こ
の期間はYセレクト4はすべてオフになっているのでセ
ンスアンプには、DC電流は流れない。
【0012】ビット線対にある程度の電位差が生じた時
点でセンスアンプの電源スイッチnMOS7をオンに、
プルダウンnMOS6をオフに、Yセレクト4を1つだ
けオンにするとビット線の電位差に従って読みだしデー
タ線対5のいずれかがhighレベルとなり読みだし動
作が完了する。センスが終了するとCMOSインバータ
の特性により電流は自動的にカットされる。
【0013】本実施例ではCMOSインバータを構成す
るpMOSがYセレクトMOS4を介して負荷やMOS
1に接続されており、センス開始前にはYセレクトMO
S4はオフなのでDC電流は流れない。またセンス終了
後はCMOSインバータの特性により電流は自動的にカ
ットされる。
【0014】以上によりDC電流を消費せずに小振幅高
速センス動作が行われる。
【0015】実施例2 次に図2を参照して本発明のデータ伝送回路について説
明する。
【0016】図2は、本発明の第2の実施例のデータ伝
送回路の構成例を示す回路図である。
【0017】長い伝送線対10を差動対とし双方ともに
負荷pMOS11によりVDDにチャージする。バスの
ドライバ回路は、CMOSインバータ12とセレクタn
MOS13からなっており、セレクトされたドライバ回
路が半クロック間、長い伝送線10の電荷を引き抜く。
【0018】長い伝送線対10にある程度電圧差が生じ
たところでセンスアンプの電源スイッチnMOS17を
オンに、プルダウンnMOS16をオフにセレクタnM
OSをオンにすると長い伝送線対10の電位差に従って
読みだしデータ線対15のいずれかがhighレベルと
なり読みだし動作が完了する。
【0019】以上により長い伝送線路の低振幅伝送が可
能となり、低電力データ伝送ができる。
【0020】なお、この伝送回路はSRAM以外にも用
いることができる。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のセンスア
ンプはDC電流を消費しない構成となっており、その分
低電力化ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例のSRAMの構成例を示
す回路図である。
【図2】本発明の第2の実施例のデータ伝送回路の構成
例を示す回路図である。
【図3】従来の高性能センスアンプの構成例を示した図
である。
【符号の説明】
1 ビット線負荷pMOS 2 ワード線 3 ビット線対 4 Yセレクタ 5,15 読みだしデータ線対 6,16 プルダウンnMOS 7,17 電源スイッチnMOS 10 長い伝送線路 11 負荷pMOS 12 CMOSインバータ 13 ドライバセレクタnMOS 14 レシーバセレクタnMOS

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】互いの入出力をたすきがけにしたCMOS
    インバータ対と、前記インバータ対とグランドとの間に
    おかれセンス時にオンとなるMOSトランジスタと、
    前記インバータ対のそれぞれの出力をセンス開始前にグ
    ランドレベルで等電位にするためのMOSトランジス
    タと、前記CMOSインバータ対を構成するpMOSト
    ランジスタのソースに、センス開始後にオンとなり、
    荷pMOSトランジスタにより電源電圧レベルに充電さ
    れる差動配線対をセレクトするMOSトランジスタを
    接続したことを特徴とする差動型センスアンプ。
  2. 【請求項2】メモリセルアレイのビット線対を請求項1
    のセンスアンプ内のセレクトMOSトランジスタの入力
    に接続したスタティックRAM。
  3. 【請求項3】チップ内の長い配線を小振幅で駆動し、請
    求項1のセンスアンプによりCMOSレベルに増幅する
    ことを特徴とするデータ伝送回路。
JP6214834A 1994-09-08 1994-09-08 差動型センスアンプとそれを用いたスタティックram及びデータ伝送回路 Expired - Lifetime JP2738306B2 (ja)

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