JP2726281B2 - レジスト処理装置 - Google Patents

レジスト処理装置

Info

Publication number
JP2726281B2
JP2726281B2 JP63246148A JP24614888A JP2726281B2 JP 2726281 B2 JP2726281 B2 JP 2726281B2 JP 63246148 A JP63246148 A JP 63246148A JP 24614888 A JP24614888 A JP 24614888A JP 2726281 B2 JP2726281 B2 JP 2726281B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resist
valve
negative pressure
line
resist solution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP63246148A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0294517A (ja
Inventor
正勝 平沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP63246148A priority Critical patent/JP2726281B2/ja
Publication of JPH0294517A publication Critical patent/JPH0294517A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2726281B2 publication Critical patent/JP2726281B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はレジスト液の塗布方法に関する。
[従来の技術及び発明が解決しようとする課題] 従来、半導体集積回路素子のパターンを形成するレジ
スト処理工程はウェハ上に形成されたシリコンのP形結
晶あるいはN形結晶膜上に感光性を有するレジストを塗
布する塗布工程と、これに所望のパターンを描いたマス
クをのせ露光する露光工程と、露光により感光したレジ
ストを現像液で処理することにより余分なレジストを除
去する現像工程等から成り、これらの工程を繰り返しな
がらP形結晶、N形結晶を積層して所望の回路素子を形
成している。
このような集積回路素子の製造工程においてレジスト
を塗布するコータはスピンコーディング法が多用されて
いる。スピンコータは高速回転するスピンモータに固定
されたスピンチャック上にウェハを載置し、真空吸着し
たのちウェハ中心部にレジスト液を滴下ノズルより滴下
させ、ウェハを高速回転させて滴下レジストを均一な膜
に延在させるものである。
このようなレジスト塗布装置のレジスト液を供給する
供給系は、レジスト液収納容器からレジスト液を吸引し
て滴下用ノズルに供給している。しかし、ロットによっ
てレジスト液質が悪い問題があった。その原因を探索し
た結果次の原因が判った。レジスト液は高粘性であり一
旦気泡が液体中に混入した状態で吸引し、ウェハ上に滴
下してスピンコーティングした場合、滴下された状態で
も気泡が除去されず、気泡が混入したレジスト液を高速
回転させると、気泡が工程中破裂したり、乾燥工程にお
いて破裂するなどしてレジスト膜質が劣化しやすく不均
一となり、成形品である半導体集積回路素子の寿命も短
くなってしまうということが判明した。
本発明は以上のような点に対処してなされたもので、
膜質の良いレジスト膜を再現性良く塗布できるレジスト
処理装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明のレジスト処理装置は、レジスト液を収納する
レジスト収納容器と、レジスト収納容器に気体導入路を
介して気体を供給する加圧系と、レジスト収納容器を第
1のバルブ、トラップタンクが介装される負圧路を介し
て負圧にする負圧系と、トラップタンクと加圧系とを必
要に応じて接続するため第1のバルブに接続される第2
のバルブと、加圧系と負圧系とをレジスト収納容器に切
換えて接続する切換弁と、レジスト収納容器からフィル
タ、第3のバルブ、吸引ポンプが介装される供給路を介
してレジスト液を被処理体に供給するノズルとを備えた
ものであり、好ましくは、供給路に介装されるフィルタ
は供給路を開放するバルブに接続されてなるものであ
る。
[実施例] 本発明のを半導体集積回路素子製造のレジスト塗布工
程に適用した一実施例のレジスト処理装置を図面の構成
図を参照して説明する。
図面において高粘性例えば粘度20〜50cp.のレジスト
液を収納したレジスト収納容器であるガロンビン1は、
切換弁2を介して気体導入路であるラインl4より窒素ガ
スによる加圧系3あるいは負圧路であるラインl2、l1
びl5により負圧系である真空ポンプ4に選択的に接続さ
れる。ラインl2には真空ポンプ4に不純物が吸引されな
いようにフィルタ5が設けられる。真空ポンプ4とガロ
ンビン1間のラインl1及びラインl2間にトラップタンク
6が設けられ、逆流したレジスト液がトラップタンク6
に流入すると、第2のバルブであるバルブ7及び第1の
バルブであるバルブ8を手動により加圧系3とトラップ
タンク6を連結して、ラインl3及びラインl1を通じてト
ラップタンク6を加圧、ボールバルブ9を開けレジスト
液を廃棄できる。バルブ7はメカニカバルブ、バルブ8
はフリップトグル3Pバルブ、切換弁2はクイックコネク
タが好適に用いられ、必要に応じて手動で弁を切り換え
ることにより必要なラインを連結できる。ガロンビン1
は供給路であるラインl6によりフィルタ11、レジスト液
を吸引し供給量を調整してコータに供給する吸引ポンプ
であるベローズポンプ及び第3のバルブであるボールバ
ルブ12を介してレジスト塗布装置であるコータのノズル
に連結される。このノズルから予め定められた量のレジ
ストが滴下されるように構成されている。
以上のような構成のレジスト液供給装置の作用につい
て説明する。レジスト液収納のガロンビン1をセットし
た後、ラインl6中の空気を抜くためフィルタ11に設置さ
れるバルブ13を開くと共に切換弁2を加圧系3に接続さ
せると、レジスト液がラインl4及びガロンビン1を通っ
てラインl6中の空気を除去する。配管中の空気を除去し
バルブ13を閉じた後、ガロンビン1中のレジスト液に混
入された気泡の除去を行う。切換弁2を切り換え、ガロ
ンビン1をラインl2に接続し、メカニカルバルブ8を切
り換えることによりラインl5、l1及びl2が連結され真空
ポンプ4によりガロンビン1と配管内を負圧にして配管
内の空気を除去し、レジスト液中の気泡を吸引し脱泡す
る。この時、レジスト液が逆流しトラップタンク6内に
吸引された場合はメカニカルバルブ8を切り換えライン
l1及びラインl3を結び、更にフリップトグル3Pバルブ7
を切り換え、加圧系3とトラップタンク6を接続して加
圧ガスによりトラップタンク6内のレジスト液をボール
バルブ9を開いて廃棄する。この際、切換弁2はガロン
ビン1とラインl2及びl4のいづれのラインとも遮断され
るよう切換えておくことにより、ガロンビン1中のレジ
スト液は圧力を受けずに停まっていることができる。こ
のような操作でレジスト液の脱泡後、切換弁2を閉じベ
ローズポンプ10の吸引によりレジスト液はガロンビン1
から吸引され、1ストロークずつ液量調節されコータの
ノズルへ供給される。このノズルからレジスト液を半導
体ウェハ中心部に滴下する。滴下後半導体ウェハを高速
回転させて滴下レジストを均一にウェハ全面に塗布す
る。
以上の説明のレジスト液供給装置は、カラービデオカ
メラやカラー複写機などのCCDセンサ上に色フィルタを
形成した撮像素子を形成する際、ウェハ上に平滑化、染
色層との密着性及び混色の防止あるいは保護のための透
明レジストとして使用されるゼラチン、カゼインあるい
はグリュー等の蛋白質にADC(重クロム酸アンモニウ
ム)等を感光剤として用いた高粘性レジスト液等に有効
に用いられる。
[発明の効果] 以上説明のように本発明のレジスト処理装置によれ
ば、気泡が除去されたレジスト液を塗布するので塗布膜
の品質の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明のレジスト液塗布方法を適用した一実施例
の説明図である。 1……ガロンビン 2……切換弁 3……加圧系(陽圧にする手段) 4……真空プンプ 10……ベローズポンプ

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】レジスト液を収納するレジスト収納容器
    と、前記レジスト収納容器に気体導入路を介して気体を
    供給する加圧系と、前記レジスト収納容器を第1のバル
    ブ、トラップタンクが介装される負圧路を介して負圧に
    する負圧系と、前記トラップタンクと前記加圧系とを必
    要に応じて接続するため前記第1のバルブに接続される
    第2のバルブと、前記加圧系と前記負圧系とを前記レジ
    スト収納容器に切換えて接続する切換弁と、前記レジス
    ト収納容器からフィルタ、第3のバルブ、吸引ポンプが
    介装される供給路を介してレジスト液を被処理体に供給
    するノズルとを備えたことを特徴とするレジスト処理装
    置。
  2. 【請求項2】前記供給路に介装される前記フィルタは前
    記供給路を開放するバルブに接続されてなることを特徴
    とする請求項第1項記載のレジスト処理装置。
JP63246148A 1988-09-30 1988-09-30 レジスト処理装置 Expired - Lifetime JP2726281B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63246148A JP2726281B2 (ja) 1988-09-30 1988-09-30 レジスト処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63246148A JP2726281B2 (ja) 1988-09-30 1988-09-30 レジスト処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0294517A JPH0294517A (ja) 1990-04-05
JP2726281B2 true JP2726281B2 (ja) 1998-03-11

Family

ID=17144202

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63246148A Expired - Lifetime JP2726281B2 (ja) 1988-09-30 1988-09-30 レジスト処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2726281B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108962781B (zh) * 2017-05-23 2020-12-08 北京北方华创微电子装备有限公司 一种药液供给系统
JP2021194581A (ja) * 2020-06-12 2021-12-27 エムテックスマート株式会社 液体の分散方法、または吐出または塗布方法、またはその装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS604572Y2 (ja) * 1981-12-09 1985-02-09 凸版印刷株式会社 濾過装置
JPS6058266A (ja) * 1983-09-09 1985-04-04 Hitachi Ltd 塗布装置
JPS61245527A (ja) * 1985-04-23 1986-10-31 Toshiba Mach Co Ltd 感光剤塗布装置
JPS61268311A (ja) * 1985-05-20 1986-11-27 Hoya Corp レジスト液用濾過装置
JPS62206830A (ja) * 1986-03-07 1987-09-11 Toshiba Corp レジスト液塗布方法
JPS62211920A (ja) * 1986-03-12 1987-09-17 Toshiba Corp レジスト液供給装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0294517A (ja) 1990-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6090205A (en) Apparatus for processing substrate
US4822639A (en) Spin coating method and device
US8136477B2 (en) Apparatus for and method of dispensing chemical solution in spin-coating equipment
KR20100069576A (ko) 도포 처리 방법 및 도포 처리 장치
JPH05304087A (ja) 処理装置
US4385083A (en) Apparatus and method for forming a thin film of coating material on a substrate having a vacuum applied to the edge thereof
KR20200123249A (ko) 레지스트 막의 두께를 조정하기 위한 시스템 및 방법
US6846360B2 (en) Apparatus and method for bubble-free application of a resin to a substrate
JP2726281B2 (ja) レジスト処理装置
US6391800B1 (en) Method for patterning a substrate with photoresist
JP2003059825A (ja) 塗布膜形成方法および塗布膜形成装置
US6857543B2 (en) Low volume dispense unit and method of using
JP2806626B2 (ja) 塗布装置
JPH0248137B2 (ja)
JPH07283184A (ja) 処理装置
JP2992206B2 (ja) 基板処理装置
JP7136543B2 (ja) 基板処理方法および基板処理装置
JP6981032B2 (ja) ノズルの待機方法、及び塗布装置
JP3166064B2 (ja) 塗布処理装置
JP3240296B2 (ja) レジスト塗布装置
JPH11128817A (ja) 薬液塗布装置
JPH11333359A (ja) 塗布膜形成方法
US7108750B2 (en) Thinning agent supplying systems
JP2889934B2 (ja) レジスト膜の形成方法
JPS6246521A (ja) レジスト塗布装置