JP2725701B2 - Electronic component mounting equipment - Google Patents

Electronic component mounting equipment

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JP2725701B2 JP63207647A JP20764788A JP2725701B2 JP 2725701 B2 JP2725701 B2 JP 2725701B2 JP 63207647 A JP63207647 A JP 63207647A JP 20764788 A JP20764788 A JP 20764788A JP 2725701 B2 JP2725701 B2 JP 2725701B2
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【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電子部品実装装置に係り、フリップチップを
表裏反転させ、その位置ずれを補正したうえで、基板に
移送搭載するようにしたものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial application field) The present invention relates to an electronic component mounting apparatus, in which a flip chip is turned upside down, its positional displacement is corrected, and the flip chip is transferred and mounted on a substrate. is there.

(従来の技術) 電子部品として、ダイに半田などによりバンプ(突出
電極)を突設したフリップチップが知られている。第4
図はこの種フリップチップを基板に実装する従来手段を
示すものであって、ウェハー101の下面に、フリップチ
ップ102がバンプ103の形成面を表面にして装備されてお
り、作業者が突き棒104を手に保持し、顕微鏡105により
作業点を視認しながら、ピン106でチップ102を下方に突
き落して基板107に実装する。
(Prior Art) As an electronic component, a flip chip in which a bump (protruding electrode) is provided on a die by soldering or the like is known. 4th
The figure shows a conventional means for mounting a flip chip of this type on a substrate. A flip chip 102 is provided on the lower surface of a wafer 101 with a surface on which a bump 103 is formed as a front surface. Is held in hand, and while visually recognizing the working point by the microscope 105, the chip 102 is pushed down by the pins 106 and mounted on the substrate 107.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら上記従来手段は手作業であるため、実装
能率や実装精度があがらない問題があった。
(Problems to be Solved by the Invention) However, since the above-mentioned conventional means is a manual operation, there is a problem that mounting efficiency and mounting accuracy are not improved.

したがって本発明は、ウェハーなどにバンプ形成面を
表面にして装備されたフリップチップを、基板に高速度
でしかも精度よく実装できる電子部品実装装置を提供す
ることを目的とする。
Accordingly, an object of the present invention is to provide an electronic component mounting apparatus capable of mounting a flip chip mounted on a wafer or the like with a bump forming surface on a substrate at a high speed and with high accuracy.

(課題を解決するための手段) このために本発明は、第1レベルにおいてバンプ形成
面を上にして配置された複数のフリップチップを水平方
向に移動させてその一つを選択し、第1レベルよりも高
い第2レベルに位置決めされた基板に実装する電子部品
実装装置であって、 第1レベルにおいてフリップチップを水平方向に移動
させるチップ供給部と、前記チップ供給部によって移動
されたフリップチップの1つを吸着部で吸着してテイク
アップして表裏反転させながら前記第1レベルから前記
第2レベルに近づけるように上昇させる表裏反転装置
と、前記第2レベルにおいて表裏反転されたフリップチ
ップのバンプ非形成面をノズルの下端部に吸着し、これ
をテイクアップして基板に搭載する搭載ヘッドと、この
搭載ヘッドのノズルの下端部に吸着されたフリップチッ
プに対して相対的に水平移動してこのフリップチップを
下方から観察してそのX方向、Y方向、θ方向の位置ず
れを検出するカメラとを備え、また前記搭載ヘッドを前
記基板に対して相対的に水平移動させることにより前記
カメラで検出された前記X方向と前記Y方向の位置ずれ
を補正する水平方向移動装置を設け、かつ前記搭載ヘッ
ドに前記ノズルをその軸心を中心に回転させることによ
り前記カメラで検出されたθ方向の位置ずれを補正する
ためのθ方向駆動装置を設けたものである。
(Means for Solving the Problems) For this purpose, in the present invention, a plurality of flip chips arranged on a first level with a bump formation surface facing upward are moved in a horizontal direction to select one of the flip chips, and a first level is selected. An electronic component mounting apparatus mounted on a substrate positioned at a second level higher than a level, comprising: a chip supply unit for horizontally moving a flip chip at a first level; and a flip chip moved by the chip supply unit. And a flip-up device that raises one of the first and second flip-chips from the first level to approach the second level while taking up and flipping the flip chip by a suction unit, and a flip chip flipped upside down at the second level. A mounting head that adsorbs the non-bump forming surface to the lower end of the nozzle, takes it up and mounts it on the substrate, and a lower end of the nozzle of the mounting head A camera that horizontally moves relative to the flip chip adsorbed on the camera, observes the flip chip from below, and detects a displacement in the X, Y, and θ directions. A horizontal movement device is provided for correcting a displacement between the X direction and the Y direction detected by the camera by horizontally moving relative to the substrate, and the mounting head is provided with the nozzle at its axis. And a θ-direction driving device for correcting a position shift in the θ-direction detected by the camera by rotating the camera around the center.

(作用) 上記構成において、表裏反転装置が、ウェハーなどの
チップ供給部に装備されたフリップチップをテイクアッ
プして表裏反転させ、このフリップチップを第1レベル
から第2レベルへ上昇させる。次に搭載ヘッドのノズル
が、第2レベルにおいて表裏反転されたこのフリップチ
ップのバンプ非形成面に吸着してこれをテイクアップ
し、次いでカメラでフリップチップのX方向,Y方向,θ
方向の位置ずれを下方から検出する。次に水平方向移動
装置とθ方向駆動装置を駆動してこのX方向,Y方向,θ
方向の位置ずれを補正したうえで、フリップチップを基
板に搭載する。
(Operation) In the above configuration, the front / back inverting device takes up a flip chip mounted on a chip supply unit such as a wafer to invert the flip chip, and raises the flip chip from the first level to the second level. Next, the nozzle of the mounting head attracts the flip chip, which is turned upside down at the second level, on the non-bump-formed surface of the flip chip to take it up.
The direction displacement is detected from below. Next, the horizontal direction moving device and the θ direction driving device are driven, and the X direction, the Y direction, θ
After correcting the misalignment in the direction, the flip chip is mounted on the substrate.

(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の実施例を説明す
る。第1図は電子部品実装装置を示すものであって、1
はテーブル,2はテーブル上に設置された本体ボックスで
ある。3は無端チェンから成る基板4の搬送路であっ
て、電子部品を実装する基板4をテーブル1上に搬入
し、またここから搬出する。14は搬送路3に設けられた
基板4の位置決め部であって、クランプ板から成ってい
る。5はコンベヤ3の前方の台部13に配置されたチップ
供給部としてのウェハーであって、その上面にはフリッ
プチップが多数装備されている。このウェハー5が配設
されたレベルを第1レベルL1という。
Example Next, an example of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an electronic component mounting apparatus.
Is a table, and 2 is a main body box installed on the table. Reference numeral 3 denotes a transport path for a substrate 4 composed of an endless chain, and the substrate 4 on which electronic components are mounted is loaded on the table 1 and is unloaded therefrom. Reference numeral 14 denotes a positioning portion of the substrate 4 provided in the transport path 3, which is formed of a clamp plate. Reference numeral 5 denotes a wafer serving as a chip supply unit disposed on a base 13 in front of the conveyor 3, and a large number of flip chips are provided on the upper surface thereof. The level at which the wafer 5 is provided is called a first level L1.

6は搭載ヘッドであって、フリップチップを真空吸着
するノズル6aが突出している。8,9は搭載ヘッド6をX
方向やY方向に水平移動させるための水平方向移動装置
としてのXY方向移動装置、10,11はその駆動用モータで
ある。
Reference numeral 6 denotes a mounting head, from which a nozzle 6a for vacuum-sucking a flip chip projects. 8 and 9 X
XY direction moving devices as horizontal moving devices for horizontally moving in the direction and the Y direction, and 10 and 11 are driving motors thereof.

18は搭載ヘッド6に装備されたθ方向駆動装置であ
て、モータ18aとベルト18bから成っており、ノズル6aの
その軸心を中心にθ方向に回転させる。17は搭載ヘッド
6に一体的に装備されたカメラであり、搭載ヘッド6と
一体的に移動して、基板4の印刷パターンの位置ずれな
どを観察する。7はウェハー5の下方に配設されたダイ
エジェクタ、7aはそのピンであって、このピン7aによ
り、ウェハー5上のフリップチップを突き上げる。20は
ウェハー5の側方にあって、フリップチップの表裏反転
装置が収納されたボックス、21は外観検査装置であり、
次に第2図を参照しながら、これらを詳細に説明する。
Reference numeral 18 denotes a .theta.-direction driving device mounted on the mounting head 6, which comprises a motor 18a and a belt 18b, and rotates the nozzle 6a in the .theta.-direction around its axis. Reference numeral 17 denotes a camera integrally mounted on the mounting head 6, which moves integrally with the mounting head 6 and observes a displacement or the like of a print pattern on the substrate 4. Reference numeral 7 denotes a die ejector disposed below the wafer 5, and reference numeral 7a denotes a pin thereof. The flip chip on the wafer 5 is pushed up by the pin 7a. Reference numeral 20 denotes a box on the side of the wafer 5 in which the flip-chip reversing device is stored, 21 denotes a visual inspection device,
Next, these will be described in detail with reference to FIG.

22は上記ボックス20の内部に配設された表裏反転装置
であって、23は扇形のギヤ、24はこのギヤ23に噛み合
い、これに沿って回動するギヤ、25は回動杆である。26
はギヤ24から延出するアームであって、その先端部に吸
着部27が装着されている。Fはウェハー5上に装備され
たフリップチップ、Bはそのバンプであって、フリップ
チップFはバンプ形成面を表面にして第1レベルL1のウ
ェハー5上に並設されている。上記搭載ヘッド6のノズ
ル6aは、この表裏反転装置22により表裏反転されたフリ
ップチップFに接近し、バンプ非形成面に吸着してテイ
クアップする。
Reference numeral 22 denotes a front / back reversing device disposed inside the box 20, reference numeral 23 denotes a fan-shaped gear, reference numeral 24 denotes a gear that meshes with the gear 23 and rotates along the gear, and reference numeral 25 denotes a rotating rod. 26
Is an arm extending from the gear 24, and a suction part 27 is attached to the tip of the arm. F denotes a flip chip mounted on the wafer 5, B denotes a bump thereof, and the flip chips F are arranged side by side on the wafer 5 of the first level L1 with the bump forming surface facing the surface. The nozzle 6a of the mounting head 6 approaches the flip chip F which has been turned upside down by the upside down device 22 and sucks up on the bump non-formed surface to take up.

上記外観検査装置21は、カメラ21aと接眼部21bと光源
部21cから成っている。フリップチップFをテイクアッ
プした搭載ヘッド6は、XY方向移動装置8,9に駆動され
て接眼部21b上に移動してそこで一旦停止し、フリップ
チップFを下方から観察してそのX方向,Y方向,θ方向
の位置ずれを検出する。30はコンピュータのような制御
装置であって、カメラ17,21aに接続されており、その観
察結果に基いて、フリップチップFの位置ずれ補正装置
としての上記各モータ10,11,18aを制御する。
The visual inspection device 21 includes a camera 21a, an eyepiece 21b, and a light source 21c. The mounting head 6, which has taken up the flip chip F, is driven by the XY direction moving devices 8, 9 and moves on the eyepiece 21b, temporarily stops there, observes the flip chip F from below, and moves the flip chip F in the X direction. Detects displacement in the Y and θ directions. Reference numeral 30 denotes a control device such as a computer, which is connected to the cameras 17 and 21a, and controls each of the motors 10, 11, and 18a as a device for correcting a displacement of the flip chip F based on the observation result. .

本電子部品実装装置は上記のような構成より成り、次
に動作を説明する。まずXY方向移動装置8,9を駆動し
て、カメラ17を位置決め部14に位置決めされた基板4の
上方に移動させ、基板4に印刷された印刷パターンの位
置ずれを検出しておく。さて、第2図において、モータ
Mの駆動によりアーム26が時計方向に回動して、その先
端部の吸着部27がウェハー5に接近すると、下方のダイ
エジェクタ7のピン7aが突出してウェハー5上のフリッ
プチップFを突き上げ、吸着部27はバンプ形成面に吸着
してこのフリップチップFをテイクアップする(図中符
号)。次にアーム26は反時計方向へ鎖線で示す位置ま
で回動し、フリップチップFを表裏反転させながら第1
レベルL1から第2レベルL2まで上昇させる(符号)。
The present electronic component mounting apparatus has the above configuration, and the operation will be described next. First, the XY direction moving devices 8 and 9 are driven to move the camera 17 above the substrate 4 positioned by the positioning unit 14, and the positional deviation of the print pattern printed on the substrate 4 is detected. In FIG. 2, when the arm 26 is rotated clockwise by the drive of the motor M and the suction portion 27 at the tip thereof approaches the wafer 5, the pins 7a of the lower die ejector 7 protrude and the wafer 5 The upper flip chip F is pushed up, and the suction section 27 sucks the flip chip F to take up the flip chip F (the reference numeral in the drawing). Next, the arm 26 is rotated counterclockwise to a position shown by a chain line, and the flip chip F is turned upside down to the first position.
Increase from level L1 to second level L2 (sign).

そこで搭載ヘッド6とノズル6aがこれに接近し、この
フリップチップFをテイクアップする(符号)。この
場合、上記のようにしてフリップチップFは表裏反転し
ているので、バンプ形成面を下側にしてノズル6aに吸着
される。
Then, the mounting head 6 and the nozzle 6a approach each other to take up the flip chip F (reference numeral). In this case, since the flip chip F is turned upside down as described above, the flip chip F is sucked by the nozzle 6a with the bump forming surface facing down.

以上のように、第1レベルL1においてフリップチップ
Fを吸着部27で吸着してテイクアップし、アーム26を実
線位置から鎖線で示す位置まで反時計方向へ回動させる
ことにより、フリップチップFを表裏反転させながら第
1レベルL1からこれよりも高位置の第2レベルL2まで上
昇させて、第2レベルL2において搭載ヘッド6へフリッ
プチップFを受け渡すことにより、フリップチップFの
上下方向の移動距離をその高低差Hだけ稼ぐようにして
いる。したがってこれにより上方で待機する搭載ヘッド
6のノズル6aがフリップチップFをテイクアップするた
めの上下ストロークを短かくでき、ひいてはそれだけタ
クトタイムを短縮することができる。
As described above, at the first level L1, the flip chip F is sucked up by the suction portion 27 and taken up, and the arm 26 is rotated in the counterclockwise direction from the solid line position to the position indicated by the dashed line, whereby the flip chip F is moved. The flip chip F is raised and lowered from the first level L1 to the second level L2, which is higher than the first level L2, and transferred to the mounting head 6 at the second level L2. The distance is gained by the height difference H. Accordingly, the vertical stroke for the nozzle 6a of the mounting head 6 waiting above to take up the flip chip F can be shortened, and the tact time can be shortened accordingly.

次に搭載ヘッド6は外観検査装置21へ移動して接眼部
21bの上方で一旦停止し、その状態でノズル6aに吸着さ
れたフリップチップFのX方向,Y方向,θ方向の位置ず
れが観察される(符号,)。次に搭載ヘッド6は位
置決め部14に位置決めされた基板4上に移動し、そこで
ノズル6aが上下動作を行ってフリップチップFを基板4
に実装する(符号)。この場合、上記のように外観検
査装置21により検出されたX方向,Y方向,θ方向の位置
ずれ、及び上記カメラ17により予め検出された基板4の
印刷パターンのX方向,Y方向,θ方向の位置ずれのう
ち、X方向とY方向の位置ずれはXY方向移動装置8,9を
駆動して搭載ヘッド6をX方向やY方向へ水平移動させ
ることにより補正し、またθ方向の位置ずれはθ方向駆
動装置18を駆動してノズル6aをθ回転させることにより
補正したうえで、フリップチップ6を基板4上に実装す
る。
Next, the mounting head 6 moves to the visual inspection device 21 to move the eyepiece unit.
After temporarily stopping above 21b, the displacement of the flip chip F adsorbed by the nozzle 6a in the X, Y, and θ directions is observed (indicated by,). Next, the mounting head 6 moves onto the substrate 4 positioned by the positioning section 14, where the nozzle 6a moves up and down to move the flip chip F to the substrate 4.
(Sign). In this case, the positional deviation in the X, Y, and θ directions detected by the visual inspection device 21 as described above, and the X, Y, and θ directions of the print pattern of the substrate 4 detected by the camera 17 in advance. Of the positional deviations, the positional deviations in the X and Y directions are corrected by driving the XY direction moving devices 8 and 9 to horizontally move the mounting head 6 in the X and Y directions, and the positional deviation in the θ direction. The flip chip 6 is mounted on the substrate 4 after correcting by rotating the nozzle 6a by θ by driving the θ direction driving device 18.

以上のように本手段によれば、ウェハー5にバンプ形
成面を表面にして装備されたフリップチップFを表裏反
転させて位置補正を行ったうえで、精度よく基板4に実
装することができる。なおフリップチップFは、第3図
に示すようにトレイ28に装備されたものでもよい。
As described above, according to this means, the flip chip F mounted on the wafer 5 with the bump formation surface facing upside down can be flipped upside down to correct the position, and then mounted on the substrate 4 with high accuracy. The flip chip F may be mounted on the tray 28 as shown in FIG.

(発明の効果) 本発明は、チップ供給部にバンプ形成面を表面にして
装備されたフリップチップをテイクアップして表裏反転
させながら第1レベルから第2レベルに近づけるように
上昇させ、第2レベルにおいて搭載ヘッドのノズルの下
端部に吸着してテイクアップし、このフリップチップを
下方からカメラにより観察してそのX方向,Y方向,θ方
向の位置ずれを検出し、検出された位置ずれのうち、X
方向とY方向の位置ずれは水平方向移動装置により補正
し、またθ方向の位置ずれはθ方向駆動装置を駆動して
ノズルをその軸心を中心に回転させることにより補正し
たうえで、基板に実装するようにしているので、全体の
動作に要するタクトタイムを短縮し、フリップチップを
高速度で作業性よくしかも位置精度よく基板に実装する
ことができる。
(Effects of the Invention) According to the present invention, a flip chip mounted on a chip supply unit with a bump forming surface facing up is taken up and turned upside down to ascend from a first level to a second level. At the level, it takes up by sucking to the lower end of the nozzle of the mounting head, observes the flip chip with a camera from below, detects the displacement in the X, Y, and θ directions, and detects the detected displacement. Of which X
The displacement in the Y direction and the displacement in the Y direction are corrected by a horizontal moving device, and the displacement in the θ direction is corrected by driving the θ direction driving device to rotate the nozzle around its axis, and then to the substrate. Since the mounting is performed, the tact time required for the entire operation can be shortened, and the flip chip can be mounted on the substrate at high speed with good workability and high positional accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例における電子部品実装装置の
全体斜視図、第2図は本実施例における作業状態を示す
展開図、第3図は本実施例におけるチップ供給部の他の
実施例の側面図、第4図は従来手段の側面図である。 4……基板 5,28……チップ供給部 6……搭載ヘッド 10,11,18a……位置ずれ補正装置 21……外観検査装置 22……表裏反転装置 30……制御装置 B……バンプ F……フリップチップ
FIG. 1 is an overall perspective view of an electronic component mounting apparatus according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a development view showing a working state in this embodiment, and FIG. 3 is another embodiment of a chip supply section in this embodiment. FIG. 4 is a side view of the conventional means. 4 Substrate 5, 28 Chip supply unit 6 Mounting head 10, 11, 18a Position deviation correction device 21 Appearance inspection device 22 Front / reverse inversion device 30 Control device B Bump F ...... Flip chip

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】第1レベルにおいてバンプ形成面を上にし
て配置された複数のフリップチップを水平方向に移動さ
せてその一つを選択し、第1レベルよりも高い第2レベ
ルに位置決めされた基板に実装する電子部品実装装置で
あって、 第1レベルにおいてフリップチップを水平方向に移動さ
せるチップ供給部と、前記チップ供給部によって移動さ
れたフリップチップの1つを吸着部で吸着してテイクア
ップして表裏反転させながら前記第1レベルから前記第
2レベルに近づけるように上昇させる表裏反転装置と、
前記第2レベルにおいて表裏反転されたフリップチップ
のバンプ非形成面をノズルの下端部に吸着し、これをテ
イクアップして基板に搭載する搭載ヘッドと、この搭載
ヘッドのノズルの下端部に吸着されたフリップチップに
対して相対的に水平移動してこのフリップチップを下方
から観察してそのX方向、Y方向、θ方向の位置ずれを
検出するカメラとを備え、また前記搭載ヘッドを前記基
板に対して相対的に水平移動させることにより前記カメ
ラで検出された前記X方向と前記Y方向の位置ずれを補
正する水平方向移動装置を設け、かつ前記搭載ヘッドに
前記ノズルをその軸心を中心に回転させることにより前
記カメラで検出されたθ方向の位置ずれを補正するため
のθ方向駆動装置を設けたことを特徴とする電子部品実
装装置。
1. A plurality of flip chips arranged on a first level with a bump forming surface facing upward are moved in a horizontal direction to select one of the flip chips and positioned at a second level higher than the first level. An electronic component mounting apparatus mounted on a substrate, comprising: a chip supply unit for horizontally moving a flip chip at a first level; and a suction unit for sucking one of the flip chips moved by the chip supply unit by a suction unit. An upside down reversing device that rises from the first level to approach the second level while upside down and turning over;
A mounting head for sucking the flip-chip non-bump-forming surface turned upside down at the second level at the lower end of the nozzle, taking it up and mounting it on the substrate, and being sucked at the lower end of the nozzle of the mounting head. A camera that horizontally moves relative to the flip chip, observes the flip chip from below, and detects a displacement in the X direction, the Y direction, and the θ direction. A horizontal movement device that corrects the displacement between the X direction and the Y direction detected by the camera by relatively moving the nozzle relative to the mounting head; An electronic component mounting apparatus, comprising: a θ-direction driving device for correcting a position shift in the θ direction detected by the camera by rotating the electronic component mounting device.
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