JPH0760841B2 - Electronic component mounting device - Google Patents

Electronic component mounting device

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JPH0760841B2
JPH0760841B2 JP63207646A JP20764688A JPH0760841B2 JP H0760841 B2 JPH0760841 B2 JP H0760841B2 JP 63207646 A JP63207646 A JP 63207646A JP 20764688 A JP20764688 A JP 20764688A JP H0760841 B2 JPH0760841 B2 JP H0760841B2
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chip
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  • Wire Bonding (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電子部品実装装置に係り、フリップチップを表
裏反転させ、その位置ずれを補正したうえで、基板に移
送搭載するようにしたものである。
The present invention relates to an electronic component mounting apparatus, in which a flip chip is turned upside down, its misalignment is corrected, and then the flip chip is transferred and mounted on a substrate. is there.

(従来の技術) 電子部品の一種として、ダイに半田などによりバンプ
(突出電極)を突設したフリップチップが知られてい
る。第6図はこの種フリップチップを基板に実装する従
来手段を示すものであって、ウェハー101の下面に、フ
リップチップ102がバンプ103の形成面を表面にして装備
されており、作業者が突き棒104を手に保持し、顕微鏡1
05により作業点を視認しながら、ピン106でチップ102を
下方に突き落して基板107に実装する。
(Prior Art) As a type of electronic component, a flip chip in which bumps (protruding electrodes) are provided on a die by soldering or the like is known. FIG. 6 shows a conventional means for mounting a flip chip of this type on a substrate. A flip chip 102 is mounted on the lower surface of a wafer 101 with the surface on which bumps 103 are formed as the front surface. Hold the stick 104 in your hand, microscope 1
While visually recognizing the working point by 05, the chip 102 is pushed down by the pin 106 and mounted on the substrate 107.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら上記従来手段は手作業であるため、実装能
率や実装精度があがらない問題があった。
(Problems to be Solved by the Invention) However, since the above-mentioned conventional means is a manual work, there is a problem that mounting efficiency and mounting accuracy are not improved.

したがって本発明は、ウェハーなどにバンプ形成面を表
面にして装備されたフリップチップを、基板に精度よく
自動実装できる装置を提供することを目的とする。
Therefore, an object of the present invention is to provide an apparatus capable of accurately and automatically mounting a flip chip mounted on a wafer or the like with a bump forming surface as a surface on a substrate with high accuracy.

(課題を解決するための手段) このために本発明は、フリップチップをバンプ形成面を
表面にして装備するチップ供給部と、このフリップチッ
プをテイクアップして表裏反転させる表裏反転装置と、
表裏反転されたフリップチップの位置ずれを観察する外
観検査装置と、XY方向移動装置に駆動されて表裏反転さ
れたフリップチップをテイクアップして基板に移送搭載
する移送ヘッドと、上記外観検査装置の観察結果に基い
て、移送ヘッドのノズルがこのフリップチップのセンタ
ーに着地するように上記XY方向移動装置を制御する制御
装置から電子部品実装装置を構成している。
(Means for Solving the Problem) To this end, the present invention provides a chip supply unit equipped with a flip chip with a bump forming surface as a surface, and a front / back reversing device for taking up the flip chip and reversing the front and back.
A visual inspection device for observing the positional displacement of the flip chip that has been turned upside down, a transfer head that is driven by an XY direction moving device to take up the flip chip that has been turned upside down and transfer it to a substrate, and the appearance inspection device Based on the observation result, the electronic component mounting apparatus is composed of a control device that controls the XY direction moving device so that the nozzle of the transfer head lands on the center of the flip chip.

(作用) 上記構成において、表裏反転装置が、ウェハーなどのチ
ップ供給部にバンプ形成面を表面にして装備されたフリ
ップチップをテイクアップして表裏反転させる。その状
態で、外観検査装置がフリップチップを観察し、その位
置ずれを検出する。次に移送ヘッドがこの表裏反転され
たフリップチップに接近し、バンプ非形成面のセンター
に着地してこれをテイクアップすることにより、上記位
置ずれを補正し、基板に移送搭載する。
(Operation) In the above-described configuration, the front / back reversing device takes up the flip chip mounted on the chip supply unit such as a wafer with the bump formation surface as a front surface and reverses it. In that state, the visual inspection apparatus observes the flip chip and detects the positional deviation. Next, the transfer head approaches the flip chip whose surface is turned upside down, lands on the center of the bump non-formed surface and takes it up to correct the positional deviation and transfer and mount it on the substrate.

(実施例1) 次に、図面を参照しながら本発明の実施例を説明する。Example 1 Next, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は電子部品実装装置を示すものであって、1はテ
ーブル,2はテーブル上に設置された本体ボックスであ
る。3は無端チェンから成る基板4の搬送路であって、
電子部品を実装する基板4をテーブル上に搬入し、また
ここから搬出する。14は搬送路3に設けられた基板4の
位置決め部であって、クランプ板から成っている。5は
コンベヤ3の前方の台部13に配置されたチップ供給部と
してのウェハーであって、その上面にはフリップチップ
が多数装備されている。なおチップ供給部としては、ト
レイにチップを収納したものでもよい。
FIG. 1 shows an electronic component mounting apparatus, in which 1 is a table and 2 is a main body box installed on the table. 3 is a transport path for the substrate 4 consisting of an endless chain,
The board 4 on which the electronic component is mounted is carried in on the table and carried out from here. Reference numeral 14 denotes a positioning portion for the substrate 4 provided on the transport path 3, which is composed of a clamp plate. Reference numeral 5 denotes a wafer as a chip supply unit arranged on the platform 13 in front of the conveyor 3, and a large number of flip chips are mounted on the upper surface thereof. The chip supply unit may be a tray containing chips.

6は移送ヘッドであって、フリップチップを吸着するノ
ズル6aが突出している。8,9は移送ヘッド6をXY方向に
移動させるためのXY方向移動装置、10,11はその駆動用
モータである。17は移送ヘッド6と一体的に装備された
カメラであって、XY方向移動装置8,9の駆動により移送
ヘッド6と一体的に移動し、位置決め部14に位置決めさ
れた基板4の印刷パターンの位置ずれなどを観察する。
18は移送ヘッド6に装備されたθ方向駆動装置であっ
て、モータ18aとベルト18bを備えており、ノズル6aをそ
の軸心を中心にθ方向に回転させる。7はウェハー5の
下方に配設されたダイエジェクタ、7aはそのピンであっ
て、このピン7aにより、ウェハー5上のフリップチップ
を突き上げる。20はウェハー5の側方にあって、フリッ
プチップの表裏反転装置が収納されたボックス、35はそ
の上方に配設されたカメラから成る外観検査装置であ
る。
A transfer head 6 has a nozzle 6a for adsorbing a flip chip. Numerals 8 and 9 are XY direction moving devices for moving the transfer head 6 in XY directions, and numerals 10 and 11 are driving motors thereof. Reference numeral 17 denotes a camera integrally equipped with the transfer head 6, which is moved integrally with the transfer head 6 by driving the XY direction moving devices 8 and 9, and displays the print pattern of the substrate 4 positioned by the positioning unit 14. Observe misalignment.
Reference numeral 18 denotes a θ-direction driving device mounted on the transfer head 6, which includes a motor 18a and a belt 18b, and rotates the nozzle 6a in the θ-direction about its axis. Reference numeral 7 is a die ejector arranged below the wafer 5, and 7a is a pin thereof. The pin 7a pushes up a flip chip on the wafer 5. Reference numeral 20 denotes a box on the side of the wafer 5, in which a front / back flip device for flip chips is housed, and 35 is an appearance inspection device including a camera arranged above the box.

第2図は作業状態を示す展開図であり、22は上記ボック
ス20に配設された表裏反転装置であって、23は扇形のギ
ヤ、24はこのギヤ23に噛み合い、これに沿って回動する
ギヤ、25は回動杆である。26はギヤ24から延出するアー
ムであって、その先端部にチップ吸着部27が装着されて
いる。Fはウェハー5上に装備されたフリップチップ、
Bはバンプであって、バンプ形成面を表面にしてウェハ
ー5上に並設されている。上記外観検査装置35は、表裏
反転装置22により表裏反転されたフリップチップFの上
方にあって、このフリップチップFのxyθ方向の位置ず
れを観察する。30は各カメラ17や外観検査装置35の観察
結果に基いて、上記各モータ10,11,18aを制御するコン
ピュータのような制御装置である。
FIG. 2 is a development view showing a working state, in which 22 is a front / back reversing device disposed in the box 20, 23 is a fan-shaped gear, and 24 is meshed with the gear 23 and rotated along it. The gear, 25 is a rotating rod. Reference numeral 26 denotes an arm extending from the gear 24, and a tip suction portion 27 is attached to the tip of the arm. F is a flip chip mounted on the wafer 5,
B is a bump, which is arranged in parallel on the wafer 5 with the bump forming surface as the front surface. The appearance inspection device 35 is above the flip chip F flipped by the front / back flip device 22 and observes the displacement of the flip chip F in the xyθ direction. Reference numeral 30 is a control device such as a computer that controls the motors 10, 11, 18a based on the observation results of the cameras 17 and the appearance inspection device 35.

本装置は上記のような構成より成り、次にその動作を説
明する。
The present apparatus has the above-mentioned configuration, and its operation will be described below.

まず、XY方向移動装置8,9を駆動してカメラ17を位置決
め部14に位置決めされた基板4の上方に移動させ、基板
4の印刷パターンの位置ずれなどを観察する。次に、第
2図において、モータMの駆動により、表裏反転装置22
のアーム26が時計方向に回動して、その先端部の吸着部
27がウェハー5に接近すると、下方のダイエジェクタ7
のピン7aが突出してウェハー5上のフリップチップFを
突き上げ、吸着部27はバンプ形成面に吸着してこのフリ
ップチップFをテイクアップする(図中符号参照)。
次にアーム26は反時計方向に回動し、フリップチップF
が反転された状態で、外観検査装置35によりフリップチ
ップFのxyθ方法の位置ずれを観察する(符号参
照)。第3図はその観察図であって、FA,OAはコンピュ
ータに予め記憶された理想のフリップチップの位置とそ
のセンター、F,Oは現実のフリップチップの位置とその
センター、△x,△y,△θはxyθ方向の位置ずれである。
なお第2図において、符号〜は、作業順序を示して
いる。
First, the XY-direction moving devices 8 and 9 are driven to move the camera 17 above the substrate 4 positioned by the positioning unit 14, and the displacement of the print pattern of the substrate 4 is observed. Next, referring to FIG. 2, by driving the motor M, the front / back reversing device 22
The arm 26 of the
When 27 approaches the wafer 5, the lower die ejector 7
Pin 7a protrudes to push up the flip chip F on the wafer 5, and the suction portion 27 sucks on the bump forming surface to take up the flip chip F (see reference numeral in the figure).
Next, the arm 26 rotates counterclockwise and the flip chip F
In the state in which is reversed, the visual inspection apparatus 35 observes the positional deviation of the flip chip F by the xyθ method (see reference numeral). FIG. 3 is an observation view thereof, where FA and OA are ideal flip-chip positions and their centers pre-stored in the computer, F and O are actual flip-chip positions and their centers, and Δx and Δy. , Δθ is the displacement in the xyθ direction.
Note that, in FIG. 2, reference numerals 1 to 3 indicate work orders.

この観察結果に基いて、移送ヘッド6が外観検査装置35
とフリップチップFの間に移動し、チップ吸着部27に保
持されたフリップチップ27をテイクアップする(符号
参照)。この場合、ノズル6aがフリップチップFのセン
ターOに着地するようXY方向移動装置8,9を駆動するこ
とにより、xy方向の位置ずれΔx,△yを補正する。第3
図において符号6aは、このようにしてセンターOに着地
したノズルを示している。
Based on this observation result, the transfer head 6 has the appearance inspection device 35.
To the flip chip F, and the flip chip 27 held by the chip suction portion 27 is taken up (see reference numeral). In this case, by driving the XY direction moving devices 8 and 9 so that the nozzle 6a lands on the center O of the flip chip F, the positional deviations Δx and Δy in the xy direction are corrected. Third
In the figure, reference numeral 6a indicates a nozzle landed on the center O in this manner.

フリップチップFをテイクアップした移送ヘッド6は、
基板4上に移動してこのフリップチップFを基板4上に
移送搭載するが(符号参照)、その途中においてθ方
向駆動装置18が駆動してフリップチップF及び基板4の
印刷パターンのθ方向の位置ずれを補正するとともに、
印刷パターンのxy方向の位置ずれを補正するようXY方向
移動装置8,9を駆動して、フリップチップFを基板4に
実装する。
The transfer head 6 that has taken up the flip chip F is
The flip chip F is moved onto the substrate 4 and transferred and mounted on the substrate 4 (see reference numeral), and the θ direction drive device 18 is driven in the middle of the process to drive the flip chip F and the printed pattern of the substrate 4 in the θ direction. While correcting the positional deviation,
The XY direction moving devices 8 and 9 are driven so as to correct the displacement of the print pattern in the xy direction, and the flip chip F is mounted on the substrate 4.

なお移送ヘッド6が第4図に示すように箱型吸着部を有
するダイコレット6bの場合は、上記アーム26の吸着部27
に保持されたフリップチップFをこのダイコレット6bに
よりテイクアップする際に、xy方向の位置ずれ△x,△y
だけでなくθ方向の位置ずれΔθも同時に補正して、ダ
イコレット6bをフリップチップFに着地させれば、第5
図に示すように、ダイコレット6bの矩形吸着孔61bの四
辺をフリップチップFの四辺に完全に合致させてテイク
アップすることができる。
When the transfer head 6 is a die collet 6b having a box-shaped suction section as shown in FIG. 4, the suction section 27 of the arm 26 is used.
When taking up the flip chip F held by the die collet 6b, displacement in the xy direction Δx, Δy
If not only the positional deviation Δθ in the θ direction is also corrected and the die collet 6b is landed on the flip chip F, the fifth
As shown in the drawing, the four sides of the rectangular suction hole 61b of the die collet 6b can be perfectly matched with the four sides of the flip chip F for take-up.

(発明の効果) 以上説明したように本発明は、フリップチップをバンプ
形成面を表面にして装備するチップ供給部と、このフリ
ップチップをテイクアップして表裏反転させる表裏反転
装置と、表裏反転されたフリップチップの位置ずれを観
察する外観検査装置と、XY方向移動装置に駆動されて表
裏反転されたフリップチップをテイクアップして基板に
移送搭載する移送ヘッドと、上記外観検査装置の観察結
果に基いて、移送ヘッドのノズルがこのフリップチップ
のセンターに着地するように上記XY方向移動装置を制御
する制御装置から電子部品実装装置を構成しているの
で、バンプ形成面を表面にしてウェハーなどのチップ供
給部に装備されたフリップチップを、表裏反転させて精
度よく基板に実装することができる。
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, the chip supply unit equipped with the flip chip with the bump forming surface as the surface, the front and back reversing device for taking up the flip chip and reversing the front and back. The appearance inspection device that observes the displacement of the flip chip, the transfer head that drives the XY direction moving device to take up the flip chip that has been turned upside down and transfers it to the substrate, and the observation result of the appearance inspection device. Based on the above, since the electronic component mounting device is configured by the control device that controls the XY direction moving device so that the nozzle of the transfer head lands on the center of the flip chip, the bump forming surface is used as the surface of the wafer, etc. The flip chip mounted in the chip supply unit can be flipped over and mounted on the substrate with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は電子
部品実装装置の全体斜視図、第2図は作業状態を示す展
開図、第3図は外観図、第4図はダイコレットの側面
図、第5図は外観図、第6図は従来手段の側面図であ
る。 4……基板 5……チップ供給部 6……移送ヘッド 6a,6b……ノズル 8,9……XY方向移動装置 14……位置決め部 22……表裏反転装置 35……外観検査装置 B……バンプ F……フリップチップ
1 shows an embodiment of the present invention. FIG. 1 is an overall perspective view of an electronic component mounting apparatus, FIG. 2 is a developed view showing a working state, FIG. 3 is an external view, and FIG. 4 is a die. FIG. 5 is a side view of the collet, FIG. 5 is an external view, and FIG. 6 is a side view of conventional means. 4 ... Substrate 5 ... Chip supply unit 6 ... Transfer heads 6a, 6b ... Nozzles 8, 9 ... XY direction moving device 14 ... Positioning unit 22 ... Front / back reversing device 35 ... Appearance inspection device B ... Bump F ... Flip chip

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】フリップチップをバンプ形成面を表面にし
て装備するチップ供給部と、このフリップチップをテイ
クアップして表裏反転させる表裏反転装置と、表裏反転
されたフリップチップの位置ずれを観察する外観検査装
置と、XY方向移動装置に駆動されて表裏反転されたフリ
ップチップをテイクアップして基板に移送搭載する移送
ヘッドと、上記外観検査装置の観察結果に基いて、移送
ヘッドのノズルがこのフリップチップのセンターに着地
するように上記XY方向移動装置を制御する制御装置から
成ることを特徴とする電子部品実装装置。
1. A chip supply unit equipped with a flip chip with a bump forming surface as a surface, a front and back reversing device for taking up the flip chip and reversing the front and back, and observing a positional deviation of the flip chip that has been reversed. The appearance inspection device, the transfer head that is driven by the XY direction moving device and takes up the flip chip that has been turned upside down and transfers it to the substrate, and based on the observation result of the appearance inspection device, the nozzle of the transfer head is An electronic component mounting apparatus comprising a control device that controls the XY direction moving device so that the device is landed on the center of a flip chip.
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