JP2711679B2 - 冷却型光電子検出装置 - Google Patents
冷却型光電子検出装置Info
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- JP2711679B2 JP2711679B2 JP63173745A JP17374588A JP2711679B2 JP 2711679 B2 JP2711679 B2 JP 2711679B2 JP 63173745 A JP63173745 A JP 63173745A JP 17374588 A JP17374588 A JP 17374588A JP 2711679 B2 JP2711679 B2 JP 2711679B2
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- JP
- Japan
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- dry air
- entrance window
- sample chamber
- photoelectron
- photoelectron detector
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/75—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
- G01N21/76—Chemiluminescence; Bioluminescence
- G01N21/763—Bioluminescence
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、極微弱発光のための光電子検出装置、特
に、冷却型の光電子検出装置に関する。
に、冷却型の光電子検出装置に関する。
（従来の技術） 従来、バイオルミネッセンス、生物フォトン等の極微
弱発光を検出するために、マルチアルカリ光電面を持つ
光電子増倍管を、雑音レベルを下げるために−20℃〜−
30℃まで冷却して用いている。これに対して、被測定試
料は室温ないし40℃程度に保たれており、試料室と光電
子増倍管との間には60℃以上に及ぶ温度差が生じる。こ
の温度差によって、光電子検出器の光入射窓に結露を生
じやすいという問題があった。
弱発光を検出するために、マルチアルカリ光電面を持つ
光電子増倍管を、雑音レベルを下げるために−20℃〜−
30℃まで冷却して用いている。これに対して、被測定試
料は室温ないし40℃程度に保たれており、試料室と光電
子増倍管との間には60℃以上に及ぶ温度差が生じる。こ
の温度差によって、光電子検出器の光入射窓に結露を生
じやすいという問題があった。
これに対して、従来は、入射窓と光電子増倍管との間
に真空セル型入射窓を配設し、場合によってはさらに、
この真空セル型入射窓をヒーターで温めると言う手段に
よって結露を防いでいた。
に真空セル型入射窓を配設し、場合によってはさらに、
この真空セル型入射窓をヒーターで温めると言う手段に
よって結露を防いでいた。
従来の光電子検出器の１例を第６図に示す。受光部フ
ランジ15と光電子増倍管５のカソードとの間には厚い真
空セル型受光窓８が配置され、さらに、真空セル８の窓
前にヒーター16を配置して熱的に結露を防いでいた。こ
のため例えば、直径52mmの光電子増倍管の場合、上記フ
ランジ面とカソードとの間隔はほぼ50mm程度に達してい
た。
ランジ15と光電子増倍管５のカソードとの間には厚い真
空セル型受光窓８が配置され、さらに、真空セル８の窓
前にヒーター16を配置して熱的に結露を防いでいた。こ
のため例えば、直径52mmの光電子増倍管の場合、上記フ
ランジ面とカソードとの間隔はほぼ50mm程度に達してい
た。
（発明が解決しようとする問題点） 上記のように、真空セル型入射窓の厚みは大きく、入
射窓と光電子増倍管との間の間隔が大きくなり、熱的影
響を軽減するには良いが、光電子増倍管が試料に対して
張る立体角が減少し、検出感度が低下するのを防ぐこと
が出来ない。従って、微弱な光を感度良く検出するとい
う目的には適していないものであった。本発明は、入射
窓と光電子増倍管との間の間隔が小さく、検出感度の高
い冷却型光電子検出装置を得ようとするものである。
射窓と光電子増倍管との間の間隔が大きくなり、熱的影
響を軽減するには良いが、光電子増倍管が試料に対して
張る立体角が減少し、検出感度が低下するのを防ぐこと
が出来ない。従って、微弱な光を感度良く検出するとい
う目的には適していないものであった。本発明は、入射
窓と光電子増倍管との間の間隔が小さく、検出感度の高
い冷却型光電子検出装置を得ようとするものである。
（問題を解決するための手段） 本発明においては、試料室と光電子検出器の前方に配
置した真空セル型入射窓との隙間に乾燥空気を強制的に
流し、熱的な影響によって入射窓に結露が生じないよう
にし、真空セル型入射窓を従来のものに比べて極めて薄
いものとして、試料室と光電子検出器との隙間を小さく
し、これによって光電子増倍管の検出感度を高めたもの
である。
置した真空セル型入射窓との隙間に乾燥空気を強制的に
流し、熱的な影響によって入射窓に結露が生じないよう
にし、真空セル型入射窓を従来のものに比べて極めて薄
いものとして、試料室と光電子検出器との隙間を小さく
し、これによって光電子増倍管の検出感度を高めたもの
である。
（実施例） 以下、実施例によって詳細に説明する。第１図に示す
実施例において、試料室１は試料受けシャーレ２を収納
する暗室であり、必要に応じてヒーター３を内蔵する。
光電子検出器４は光電子増倍管５を内蔵し、そのフォト
カソード６は熱電素子７によって従来通り−20℃〜−30
℃まで冷却される。この発明においては、試料室１と光
電子検出器４の間の隙間に開口するパイプ９を通じて乾
燥空気を送り、結露を防止する。この乾燥空気は、第２
図に示すように、シリカゲル等の吸湿剤をいれた容器11
へ空気ポンプ12で送風し、その吐出空気を用いれば良
い。また、第３図に示すように、光電子検出器の入射窓
温度よりも低温に維持される恒温槽13中で、空気中の水
分を凍結、除去しても良い。
実施例において、試料室１は試料受けシャーレ２を収納
する暗室であり、必要に応じてヒーター３を内蔵する。
光電子検出器４は光電子増倍管５を内蔵し、そのフォト
カソード６は熱電素子７によって従来通り−20℃〜−30
℃まで冷却される。この発明においては、試料室１と光
電子検出器４の間の隙間に開口するパイプ９を通じて乾
燥空気を送り、結露を防止する。この乾燥空気は、第２
図に示すように、シリカゲル等の吸湿剤をいれた容器11
へ空気ポンプ12で送風し、その吐出空気を用いれば良
い。また、第３図に示すように、光電子検出器の入射窓
温度よりも低温に維持される恒温槽13中で、空気中の水
分を凍結、除去しても良い。
第１図中、10はシャッター、11は試料受けであり、試
料受けシャーレ２の直径より小さい孔が開けられてい
る。
料受けシャーレ２の直径より小さい孔が開けられてい
る。
入射窓への乾燥空気の供給法は、種々の設計変更が可
能である。第４図に示す例では、試料室のすぐ下にガラ
ス板14を配置し、このガラス板と真空セル８との隙間に
乾燥空気を送入する。９′は空気の流出口である。ま
た、第５図に示す例では、乾燥空気送入パイプ９は入射
窓の縁に沿う輪状に形成され、その内周に設けられた適
当数の孔から乾燥空気の吐出、吸入を行う。また、乾燥
空気の吐出角度、流速の調製によって、空気流が試料室
の方へ流れるよりは、真空セルの前面に向かうようにす
るのが良い。
能である。第４図に示す例では、試料室のすぐ下にガラ
ス板14を配置し、このガラス板と真空セル８との隙間に
乾燥空気を送入する。９′は空気の流出口である。ま
た、第５図に示す例では、乾燥空気送入パイプ９は入射
窓の縁に沿う輪状に形成され、その内周に設けられた適
当数の孔から乾燥空気の吐出、吸入を行う。また、乾燥
空気の吐出角度、流速の調製によって、空気流が試料室
の方へ流れるよりは、真空セルの前面に向かうようにす
るのが良い。
（発明の効果） 本発明は、上記のように、試料と光電子検出装置の隙
間に乾燥空気を流すという簡単な方法によって確実に結
露を防止出来、従来に比して試料と光電子検出装置の間
隔を1/3ないし1/4に短縮することが出来、光電子増倍管
の感度を上げるとともに結露を防止するという２つの要
求を満たすことが出来た。しかも、そのために特別の装
置を必要とする訳でもなく、従来の光電子検出装置に容
易に応用出来、極めて実用性の高い発明である。
間に乾燥空気を流すという簡単な方法によって確実に結
露を防止出来、従来に比して試料と光電子検出装置の間
隔を1/3ないし1/4に短縮することが出来、光電子増倍管
の感度を上げるとともに結露を防止するという２つの要
求を満たすことが出来た。しかも、そのために特別の装
置を必要とする訳でもなく、従来の光電子検出装置に容
易に応用出来、極めて実用性の高い発明である。
第１図は本発明の冷却型光電子検出装置の１実施例の部
分断面図、第２図、第３図は空気乾燥装置の構成例を示
す概念図、第４図、第５図は、入射窓前の乾燥空気の供
給法を示す断面図と平面図、第６図は従来例の部分断面
図である。 1:暗室、2:試料、3:ヒーター 4:光電子検出器、5:光電子増倍管 6:フォトカソード、7:熱電素子 8:真空セル、9:乾燥空気送入パイプ 10:シャッター、11:吸湿剤容器 12:ポンプ、13:低温恒温槽 14:ガラス板、15:受光部フランジ 16:ヒーター
分断面図、第２図、第３図は空気乾燥装置の構成例を示
す概念図、第４図、第５図は、入射窓前の乾燥空気の供
給法を示す断面図と平面図、第６図は従来例の部分断面
図である。 1:暗室、2:試料、3:ヒーター 4:光電子検出器、5:光電子増倍管 6:フォトカソード、7:熱電素子 8:真空セル、9:乾燥空気送入パイプ 10:シャッター、11:吸湿剤容器 12:ポンプ、13:低温恒温槽 14:ガラス板、15:受光部フランジ 16:ヒーター
Claims (6)
- 【請求項１】試料室と光電子検出器の前方に配置した真
空セル型入射窓との間隙に乾燥空気を強制的に流す手段
を設けることにより、入射窓への結露を防止し、上記試
料室と光電子検出器の光電子増倍管の間隔を小さくした
ことを特徴とする冷却型光電子検出装置 - 【請求項２】吸湿剤を入れた乾燥容器、該容器に空気流
を送る空気送風ポンプ、試料室と入射窓との間に開口
し、上記乾燥容器からの乾燥空気を流出させる流出口を
有することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の冷
却型光電子検出装置 - 【請求項３】光電子検出器の入射窓温度よりも低温に維
持される水分トラップ装置、該トラップ装置に空気流を
送る空気送風ポンプ、試料室と入射窓との間に開口し、
上記トラップ装置からの乾燥空気を流出させる流出口を
有することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の冷
却型光電子検出装置 - 【請求項４】上記の試料室と光電子検出器の前方に配置
した真空セル型入射窓との隙間に乾燥空気を強制的に流
す手段は、乾燥空気が試料室よりも真空セルの前面を流
れるような吐出角度、流速で流すものであることを特徴
とする特許請求の範囲第１項〜第３項の何れかに記載さ
れた冷却型光電子検出装置 - 【請求項５】上記の試料室と光電子検出器の前方に配置
した真空セル型入射窓との隙間に乾燥空気を強制的に流
す手段は、試料室の直下に配置したガラス板と真空セル
との隙間に乾燥空気を流すものであることを特徴とする
特許請求の範囲第１項〜第３項の何れかに記載された冷
却型光電子検出装置 - 【請求項６】上記の試料室と光電子検出器の前方に配置
した真空セル型入射窓との隙間に乾燥空気を強制的に流
す手段は、乾燥空気送入パイプを入射窓の縁に沿う輪状
に形成し、その内周に設けられた適当数の穴から乾燥空
気の吐出、吸入を行うものであることを特徴とする特許
請求の範囲第１項〜第３項の何れかに記載された冷却型
光電子検出装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63173745A JP2711679B2 (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | 冷却型光電子検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63173745A JP2711679B2 (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | 冷却型光電子検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0224536A JPH0224536A (ja) | 1990-01-26 |
| JP2711679B2 true JP2711679B2 (ja) | 1998-02-10 |
Family
ID=15966346
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63173745A Expired - Lifetime JP2711679B2 (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | 冷却型光電子検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2711679B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014002653A1 (ja) * | 2012-06-27 | 2014-01-03 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 発光計測装置 |
| KR20190058233A (ko) * | 2017-11-20 | 2019-05-29 | 금오공과대학교 산학협력단 | 관찰창의 결로 제거 장치 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4861042B2 (ja) * | 2006-04-17 | 2012-01-25 | 株式会社日立ハイテクマニファクチャ＆サービス | 分光光度計 |
| US8468716B1 (en) * | 2007-10-23 | 2013-06-25 | Mary A. Walker | Pressurized drying system |
| JP5678408B2 (ja) * | 2009-03-10 | 2015-03-04 | ウシオ電機株式会社 | エキシマランプ用照度測定装置 |
| GB2567230B (en) * | 2017-10-09 | 2020-03-04 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Detector protection in an optical emission spectrometer |
| WO2019215326A1 (en) * | 2018-05-11 | 2019-11-14 | Universite De Rouen-Normandie | Anti-frosting and anti-dew device for spectroscopic measurements |
| US11772106B2 (en) * | 2020-09-24 | 2023-10-03 | Ian R. Vinci | Vented nozzle for air blow gun |
-
1988
- 1988-07-14 JP JP63173745A patent/JP2711679B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014002653A1 (ja) * | 2012-06-27 | 2014-01-03 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 発光計測装置 |
| US9683942B2 (en) | 2012-06-27 | 2017-06-20 | Hitachi High-Technologies Corporation | Luminescence measuring device |
| KR20190058233A (ko) * | 2017-11-20 | 2019-05-29 | 금오공과대학교 산학협력단 | 관찰창의 결로 제거 장치 |
| KR102069132B1 (ko) * | 2017-11-20 | 2020-01-22 | 금오공과대학교 산학협력단 | 관찰창의 결로 제거 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0224536A (ja) | 1990-01-26 |
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