JPH0224536A - 冷却型光電子検出装置 - Google Patents
冷却型光電子検出装置Info
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- JPH0224536A JPH0224536A JP63173745A JP17374588A JPH0224536A JP H0224536 A JPH0224536 A JP H0224536A JP 63173745 A JP63173745 A JP 63173745A JP 17374588 A JP17374588 A JP 17374588A JP H0224536 A JPH0224536 A JP H0224536A
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 title 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000005494 condensation Effects 0.000 claims abstract description 10
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 claims abstract description 4
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- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 238000007664 blowing Methods 0.000 claims 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/75—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
- G01N21/76—Chemiluminescence; Bioluminescence
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、極微弱発光のための光電子検出装置。
特に、冷却型の光電子検出装置に関する。
（従来の技術）
従来、バイオルミネッセンス、生物フォトン等の極微弱
発光を検出するために、マルチアルカリ光電面を持つ光
電子倍増管を、雑音レベルを下げるために一２０℃〜−
３０℃まで冷却して用いている。これに対して、被謂定
試料は室温ないし４０℃程度に保たれており、試料室と
光電子倍増管との間には６０℃以上に及ぶ温度差が生じ
る。この温度差によって、光電子検出器の光入射窓に結
露を生じやすいという問題があった。
発光を検出するために、マルチアルカリ光電面を持つ光
電子倍増管を、雑音レベルを下げるために一２０℃〜−
３０℃まで冷却して用いている。これに対して、被謂定
試料は室温ないし４０℃程度に保たれており、試料室と
光電子倍増管との間には６０℃以上に及ぶ温度差が生じ
る。この温度差によって、光電子検出器の光入射窓に結
露を生じやすいという問題があった。
これに対して、従来は、入射窓と光電子倍増管との間に
真空セル型入射窓を配設し、場合によってはさらに、こ
の真空セル型入射窓をヒーターで温めると言う手段によ
って結露を防いでいた。
真空セル型入射窓を配設し、場合によってはさらに、こ
の真空セル型入射窓をヒーターで温めると言う手段によ
って結露を防いでいた。
従来の光電子検出器の１例を第６図に示す。受光部フラ
ンジ１５と光電子倍増管５のカソードとの間には厚い真
空セル型受光窓８が配置され、さらに、真空セル８の窓
前にヒーター１６を配置して熱的に結露を防いでいた。
ンジ１５と光電子倍増管５のカソードとの間には厚い真
空セル型受光窓８が配置され、さらに、真空セル８の窓
前にヒーター１６を配置して熱的に結露を防いでいた。
このため例えば、直径５２ｍの光電子倍増管の場合、上
記フランジ面とカソードとの間隔はほぼ５０℃程度に達
していた。
記フランジ面とカソードとの間隔はほぼ５０℃程度に達
していた。
（発明が解決しようとする問題点）
上記のように、真空セル型入射窓の厚みは大きく、入射
窓と光電子倍増管との間の間隔が大きくなり、熱的影響
を軽減するには良いが、光電子倍増管が試料に対して張
る立体角が減少し、検出感度が低下するのを防ぐことが
出来ない。従って、微弱な光を感度良く検出するという
目的には適していないものであった。本発明は、入射窓
と光電子倍増管との間の間隔が小さく、検出感度の高い
冷却型光電子検出装置を得ようとするものである。
窓と光電子倍増管との間の間隔が大きくなり、熱的影響
を軽減するには良いが、光電子倍増管が試料に対して張
る立体角が減少し、検出感度が低下するのを防ぐことが
出来ない。従って、微弱な光を感度良く検出するという
目的には適していないものであった。本発明は、入射窓
と光電子倍増管との間の間隔が小さく、検出感度の高い
冷却型光電子検出装置を得ようとするものである。
（問題を解決するための手段）
本発明においては、試料室と光電子検出器の前方に配置
した真空セル型入射窓との隙間に乾燥空気を強制的に流
し、熱的な影響によって入射窓に結露が生じないように
し、真空セル型入射窓を従来のものに比べて極めて薄い
ものとして、試料室と光電子検出器との隙間を小さくし
、これによって光電子倍増管の検出感度を高めたもので
ある。
した真空セル型入射窓との隙間に乾燥空気を強制的に流
し、熱的な影響によって入射窓に結露が生じないように
し、真空セル型入射窓を従来のものに比べて極めて薄い
ものとして、試料室と光電子検出器との隙間を小さくし
、これによって光電子倍増管の検出感度を高めたもので
ある。
（実施例）
以下、実施例によって詳細に説明する。第１図に示す実
施例において、試料室１は試料受はシャーレ２を収納す
る暗室であり、必要に応じてヒーター３を内蔵する。光
電子検出器４は光電子倍増管５を内蔵し、そのフォトカ
ソード６は熱雷素子７によって従来通り一２０’Ｃ〜−
３０℃まで冷却される。この発明においては、試料室１
と光電子検出器４の間の隙間に開口するパイプ９を通じ
て乾燥空気を送り、結露を防止する。この乾燥空気は、
第２図に示すように、シリカゲル等の吸湿剤をいれた容
器１１へ空気ポンプ１２で送風し、その吐出空気を用い
れば良い。また、第３図に示すように、光電子検出器の
入射窓温度よりも低温に維持される恒温槽１３中で、空
気中の水分を凍結、除去しても良い。
施例において、試料室１は試料受はシャーレ２を収納す
る暗室であり、必要に応じてヒーター３を内蔵する。光
電子検出器４は光電子倍増管５を内蔵し、そのフォトカ
ソード６は熱雷素子７によって従来通り一２０’Ｃ〜−
３０℃まで冷却される。この発明においては、試料室１
と光電子検出器４の間の隙間に開口するパイプ９を通じ
て乾燥空気を送り、結露を防止する。この乾燥空気は、
第２図に示すように、シリカゲル等の吸湿剤をいれた容
器１１へ空気ポンプ１２で送風し、その吐出空気を用い
れば良い。また、第３図に示すように、光電子検出器の
入射窓温度よりも低温に維持される恒温槽１３中で、空
気中の水分を凍結、除去しても良い。
第１図中、１０はシャッター、１１は試料受けであり、
試料受はシャーレ２の直径より小さい孔が開けられてい
る。
試料受はシャーレ２の直径より小さい孔が開けられてい
る。
入射窓への乾燥空気の供給法は、種々の設計変更が可能
である。第４図に示す例では、試料室のすぐ下にガラス
板１４を配置し、このガラス板と真空セルとの隙間に乾
燥空気を送入する。９′は空気の流出口である。また、
第５図に示す例では、乾燥空気送入パイプ９は入射窓の
縁に沿う輪状に形成され、その内周に設けられた適当数
の孔から乾燥空気の吐出、吸入を行う。また、乾燥空気
の吐出角度、流速の調整によって、空気流が試料室の方
へ流れるよりは、真空セルの全面に向かうようにするの
が良い。
である。第４図に示す例では、試料室のすぐ下にガラス
板１４を配置し、このガラス板と真空セルとの隙間に乾
燥空気を送入する。９′は空気の流出口である。また、
第５図に示す例では、乾燥空気送入パイプ９は入射窓の
縁に沿う輪状に形成され、その内周に設けられた適当数
の孔から乾燥空気の吐出、吸入を行う。また、乾燥空気
の吐出角度、流速の調整によって、空気流が試料室の方
へ流れるよりは、真空セルの全面に向かうようにするの
が良い。
（発明の効果）
本発明は、上記のように、試料と光電子検出装置の隙間
に乾燥空気を流すという簡単な方法によって確実に結露
を防止出来、従来に比して試料と光電子検出装置の間隔
を１／３ないし１／４に短縮することが出来、光電子倍
増管の感度を上げるとともに結ｎを防止するという２つ
の要求を満たすことが出来た。しかも、そのために特別
の装置を必要とする訳でもなく、従来の光電子検出装置
に容易に応用出来、極めて実用性の高い発明である。
に乾燥空気を流すという簡単な方法によって確実に結露
を防止出来、従来に比して試料と光電子検出装置の間隔
を１／３ないし１／４に短縮することが出来、光電子倍
増管の感度を上げるとともに結ｎを防止するという２つ
の要求を満たすことが出来た。しかも、そのために特別
の装置を必要とする訳でもなく、従来の光電子検出装置
に容易に応用出来、極めて実用性の高い発明である。
第１図は本発明の冷却型光電子検出装置の１実施例の部
分断面図、第２図、第３図は空気乾燥装置の構成例を示
す概念図、第４図、第５図は、入射窓前の乾燥空気の供
給法を示す断面図と平面図、第６図は従来例の部分断面
図である。 １：暗室 ２：試料 ３：ヒーター ４：光電子検出器 ５：光電子倍増管６：フォトカソ
ード ７：熱電素子 ８：真空セル ９：乾燥空気送入パイプ１０：シ
ャッター １１＝吸湿剤容器 １２：ポンプ １３：低温恒温槽 １４ニガラス板 １５：受光部フランジ１６：ヒータ
ー 第 図 第 図
分断面図、第２図、第３図は空気乾燥装置の構成例を示
す概念図、第４図、第５図は、入射窓前の乾燥空気の供
給法を示す断面図と平面図、第６図は従来例の部分断面
図である。 １：暗室 ２：試料 ３：ヒーター ４：光電子検出器 ５：光電子倍増管６：フォトカソ
ード ７：熱電素子 ８：真空セル ９：乾燥空気送入パイプ１０：シ
ャッター １１＝吸湿剤容器 １２：ポンプ １３：低温恒温槽 １４ニガラス板 １５：受光部フランジ１６：ヒータ
ー 第 図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 試料室と光電子検出器の前方に配置した真空セル型
入射窓との隙間に乾燥空気を強制的に流す手段を設ける
ことにより、入射窓への結露を防止し、上記試料室と光
電子検出器の光電子倍増管の間隔を小さくしたことを特
徴とする冷却型光電子検出装置 ２ 吸湿剤をいれた容器、該容器に空気流を送る空気送
風ポンプ、試料室と入射窓との間に開口し、上記乾燥容
器からの乾燥空気を流出させる流出口を有することを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の冷却型光電子検出
装置 ３ 光電子検出器の入射窓温度よりも低温に維持される
水分トラップ装置、該トラップ装置に空気流を送る空気
送風ポンプ、試料室と入射窓との間に開口し、上記トラ
ップ装置からの乾燥空気を流出させる流出口を有するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の冷却型光電
子検出装置 ４ 上記の試料室と光電子検出器の前方に配置した真空
セル型入射窓との隙間に乾燥空気を強制的に流す手段は
、乾燥空気が試料室よりも真空セルの前面を流れるよう
な流速で流すことであることを特徴とする特許請求の範
囲第１項〜第３項の何れかに記載された冷却型光電子検
出装置 ５ 上記の試料室と光電子検出器の前方に配置した真空
セル型入射窓との隙間に乾燥空気を強制的に流す手段は
、試料室の直下に配置したガラス板と真空セルとの隙間
に乾燥空気を流すことであることを特徴とする特許請求
の範囲第１項〜第３項の何れかに記載された冷却型光電
子検出装置 ６ 上記の試料室と光電子検出器の前方に配置した真空
セル型入射窓との隙間に乾燥空気を強制的に流す手段は
、乾燥空気送入パイプを入射窓の縁に沿う輪状に形成し
、その内周に設けられた適当数の孔から乾燥空気の吐出
、吸入を行うものであることを特徴とする特許請求の範
囲第１項〜第３項の何れかに記載された冷却型光電子検
出装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63173745A JP2711679B2 (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | 冷却型光電子検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63173745A JP2711679B2 (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | 冷却型光電子検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0224536A true JPH0224536A (ja) | 1990-01-26 |
| JP2711679B2 JP2711679B2 (ja) | 1998-02-10 |
Family
ID=15966346
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63173745A Expired - Lifetime JP2711679B2 (ja) | 1988-07-14 | 1988-07-14 | 冷却型光電子検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2711679B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007285847A (ja) * | 2006-04-17 | 2007-11-01 | Hitachi High-Tech Manufacturing & Service Corp | 分光光度計 |
| CN101832814A (zh) * | 2009-03-10 | 2010-09-15 | 优志旺电机株式会社 | 准分子灯用照度测量装置 |
| US8468716B1 (en) * | 2007-10-23 | 2013-06-25 | Mary A. Walker | Pressurized drying system |
| JP2014006213A (ja) * | 2012-06-27 | 2014-01-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 発光計測装置 |
| GB2567230A (en) * | 2017-10-09 | 2019-04-10 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Detector protection in an optical emission spectrometer |
| WO2019215326A1 (en) * | 2018-05-11 | 2019-11-14 | Universite De Rouen-Normandie | Anti-frosting and anti-dew device for spectroscopic measurements |
| US20220088618A1 (en) * | 2020-09-24 | 2022-03-24 | Ian R. Vinci | Vented nozzle for air blow gun |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102069132B1 (ko) * | 2017-11-20 | 2020-01-22 | 금오공과대학교 산학협력단 | 관찰창의 결로 제거 장치 |
-
1988
- 1988-07-14 JP JP63173745A patent/JP2711679B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007285847A (ja) * | 2006-04-17 | 2007-11-01 | Hitachi High-Tech Manufacturing & Service Corp | 分光光度計 |
| US8468716B1 (en) * | 2007-10-23 | 2013-06-25 | Mary A. Walker | Pressurized drying system |
| CN101832814A (zh) * | 2009-03-10 | 2010-09-15 | 优志旺电机株式会社 | 准分子灯用照度测量装置 |
| JP2010210365A (ja) * | 2009-03-10 | 2010-09-24 | Ushio Inc | エキシマランプ用照度測定装置 |
| JP2014006213A (ja) * | 2012-06-27 | 2014-01-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 発光計測装置 |
| EP2869064A4 (en) * | 2012-06-27 | 2016-03-02 | Hitachi High Tech Corp | LUMINESZENZMESSVORRICHTUNG |
| GB2567230A (en) * | 2017-10-09 | 2019-04-10 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Detector protection in an optical emission spectrometer |
| GB2567230B (en) * | 2017-10-09 | 2020-03-04 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Detector protection in an optical emission spectrometer |
| US11002600B2 (en) | 2017-10-09 | 2021-05-11 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Detector protection in an optical emission speedometer |
| US11609118B2 (en) | 2017-10-09 | 2023-03-21 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Detector protection in an optical emission spectrometer |
| WO2019215326A1 (en) * | 2018-05-11 | 2019-11-14 | Universite De Rouen-Normandie | Anti-frosting and anti-dew device for spectroscopic measurements |
| US11921062B2 (en) | 2018-05-11 | 2024-03-05 | Universite De Rouen-Normandie | Anti-frosting and anti-dew device for spectroscopic measurements |
| US20220088618A1 (en) * | 2020-09-24 | 2022-03-24 | Ian R. Vinci | Vented nozzle for air blow gun |
| US11772106B2 (en) * | 2020-09-24 | 2023-10-03 | Ian R. Vinci | Vented nozzle for air blow gun |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2711679B2 (ja) | 1998-02-10 |
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