JP2010210365A - エキシマランプ用照度測定装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 基本的に大気中において簡便に真空紫外光の強度を測定することができ、さらに、局所的な放電や、網状電極などの外部電極の影による測定バラツキを低減させることができるエキシマランプ用照度測定装置の提供。
【解決手段】 真空紫外光を検知する受光センサーとハウジングとからなり、ハウジングには、受光センサーの受光面に対向する位置にその一面が外部に開口した状態に導光路空間と、不活性ガスが導入されるガス導入口、およびこれから導光路空間に伸びるガス流路とが設けられ、さらに、不活性ガスが、導光路空間において受光センサーの受光面を含む面に沿って流通された後、導光路空間の開口から外部に排出されるガス流通機構が備えられ、受光センサーの受光面を含む面の垂直方向からの平面視において、導光路空間の開口の面積が、受光センサーの受光面の面積よりも大きいことを特徴とする。
【選択図】 図2

Description

本発明は、エキシマランプから放射される真空紫外光を測定するエキシマランプ用照度測定装置に関する。特に、ガラス板などで隔離されておらず、エキシマランプと被照射物との間の空間に大気などの酸素を含む気体が介在するエキシマランプ装置における、エキシマランプから放射される真空紫外光を正確に測定するエキシマランプ用照度測定装置に関する。
エキシマランプを用いた光照射装置は、液晶用ガラス基板の光洗浄工程や半導体の製造工程において広く利用されている。中でも、キセノンエキシマランプを利用した波長172nmの真空紫外光を放射する光照射装置は、近年広く利用されるようになってきた。この真空紫外光の測定には、大気中の酸素による吸収を避ける必要があり、大気中で簡便に真空紫外光の強度を測定する技術の開発が望まれていた。
このような背景のもとに、大気中で簡便に真空紫外光の強度を測定する照度測定装置が実用化されている。
例えば、特許文献1には、真空紫外光の強度を検知する受光センサーの受光面と、真空紫外光が導入される光導入口との間の空間に不活性ガスを流し、酸素による吸収を抑制させて真空紫外光の減衰を低減させた真空紫外光の照度測定装置が開示されている。
具体的には、図6に示されるように、この照度測定装置30は、真空紫外光の強度を検知する受光センサー32と、これを内包するハウジング31とよりなる。当該ハウジング31には、受光センサー32の受光面32Aに対向する状態に光導入口33が設けられ、不活性ガスを導入するガス導入口35が設けられると共に、この光導入口33からガス導入口35まで伸びる状態にガス流路36が設けられている。なお、図6において、37は、光導入口33から、ガス導入口35とは反対方向に設けられたガス排出小口38に伸びる排ガス流路である。
このような照度測定装置30においては、ガス流路36に不活性ガスを流しながら、光導入口33に真空紫外光を測定すべき被測定ランプPを接触させる。不活性ガスは、ガス導入口35からガス流路36に流され、光導入口33を介して照度測定装置30と被測定ランプPとの僅かな隙間から外部へ排出される。このとき、受光センサー32の受光面32Aと光導入口33との間の空間、および照度測定装置30と被測定ランプPとの間の空間にある酸素を含む大気が同時に外部に排出される。
これにより、受光センサー32の受光面32Aと被測定ランプPとの間の空間にある酸素が不活性ガスに置換されて除去され、真空紫外光が酸素に吸収されることなく、その結果、正確な真空紫外光の強度が測定される。特に、排ガス流路37およびガス排出小口38が設けられていることによって、受光センサー32の受光面32Aと被測定ランプPとの間の空間の大気が一層確実に不活性ガスに置換される。
一方、エキシマランプに、直接照度測定装置を近接させて真空紫外光の強度を測定する場合に、当該エキシマランプの放電空間に局所的な放電がランダムに発生するなどのために、真空紫外光の安定した強度を測定することができない、という問題がある。
また、当該エキシマランプの放電管の外表面に設けられた例えば網状電極などの外部電極の影のために、エキシマランプにおける測定箇所により、同じエキシマランプであっても測定される強度がバラツキの大きなものとなるという問題がある。さらに、経時変化による真空紫外光の強度の測定においては正確に同じ場所および同じ取り込み角で測定する必要が生じてしまうところ、それは困難であり、その結果、正確な真空紫外光の強度を測定できない、という問題が生じる。
これらの問題を解決するために、照度測定装置の光導入口の径を大きくし、局所的な放電や外部電極の影による測定バラツキの低減化を図ると、逆に、大気中の酸素の影響が大きくなり、やはり正確な真空紫外光の強度を測定できない、という問題が発生する。
特開平8−233650号公報
本発明は、以上のような事情に基づいてなされたものであって、その目的は、基本的に大気中において簡便に真空紫外光の強度を測定することができ、さらに、局所的な放電や、網状電極などの外部電極の影による測定バラツキを低減させることができるエキシマランプ用照度測定装置を提供することにある。
本発明のエキシマランプ用照度測定装置は、真空紫外光を検知する受光センサーと、当該受光センサーを内包するハウジングとからなるエキシマランプ用照度測定装置であって、
前記ハウジングには、
前記受光センサーの受光面に対向する位置に、その一面が外部に開口した状態に導光路空間が設けられると共に、
不活性ガスが導入されるガス導入口、および当該ガス導入口から前記導光路空間に伸びるガス流路が設けられ、
さらに、前記ガス導入口から導入された前記不活性ガスが、前記導光路空間において前記受光センサーの受光面を含む面に沿って流通された後、当該導光路空間の開口から外部に排出されるガス流通機構が備えられ、
前記受光センサーの受光面を含む面の垂直方向からの平面視において、前記導光路空間の開口の面積が、前記受光センサーの受光面の面積よりも大きいことを特徴とする。
本発明のエキシマランプ用照度測定装置においては、前記ガス流路が複数設けられており、複数のガス流路の不活性ガスの噴射方向の出口が、受光センサーの受光面を含む面の垂直方向からの平面視において、当該受光センサーの受光面の中心を向いた状態に配向されていることが好ましい。
本発明のエキシマランプ用照度測定装置によれば、不活性ガスが受光センサーの受光面に沿って流通された後、導光路空間の開口から外部に排出されるために、基本的に大気中において簡便に真空紫外光の強度を測定することができる。しかも、受光センサーの受光面の垂直方向からの平面視において、光導入口となる導光路空間の開口の面積が受光センサーの受光面の面積よりも大きい構成とされているために、当該受光面に均質な真空紫外光を十分量入射させることができる。このため、局所的な放電や、網状電極などの外部電極の影による測定バラツキを低減させることができる。
また、複数のガス流路が、不活性ガスの噴射方向の出口が受光センサーの受光面の中心を向いた状態に配向されているエキシマランプ用照度測定装置によれば、導光路空間の酸素を不活性ガスに確実に置換することができる。これにより、酸素による真空紫外光の吸収が抑制されてその減衰が確実に低減された真空紫外光の強度を測定することができる。
本発明のエキシマランプ用照度測定装置の構成の一例の概略を示す説明用分解斜視図である。 図1のエキシマランプ用照度測定装置の説明用断面図である。 図1のエキシマランプ用照度測定装置の蓋部材の底面図である。 図1のエキシマランプ用照度測定装置のハウジング本体の平面図である。 本発明のエキシマランプ用照度測定装置の導光路空間の構成の別の一例を示す説明用断面図である。 従来の真空紫外光の照度測定装置の概略を示す説明用断面図である。
以下、本発明について具体的に説明する。
本発明のエキシマランプ用照度測定装置は、図1および図2に示されるように、ハウジング11を有し、このハウジング11内に真空紫外光を検知する受光センサー12が設置されたものである。
受光センサー12は、例えば、蛍光体膜20を2枚の窓板21A,21Bによって挟持し、色ガラスフィルタ23と共に、例えばシリコンフォトダイオードなどよりなる光電変換素子25と組み立てられたものとすることができる。この受光センサー12は、蛍光体膜20と対向する状態にアパーチャ27Aが設けられた、例えば円盤状を呈する外筐27内に収納されている。また、光電変換素子25には、外部の図示しないセンサ本体に伸びて電気信号を出力するケーブル(図示せず)が接続されている。
蛍光体膜20は、例えば波長172nmの真空紫外光を照射されることにより緑色に発光するZn2 SiO4 :Mnからなるものである。また、窓板21A,21Bは、例えば合成石英ガラスよりなるものとすることができる。さらに、色ガラスフィルタ23は、緑色の光を選択的に透過するフィルタである。
受光センサー12の寸法の一例としては、例えば、外筐27の直径が35.0mm、高さが19mmであり、アパーチャ27Aの直径が4mmとされる。
この受光センサー12においては、アパーチャ27Aおよび窓板21Aを介して蛍光体膜20に真空紫外光が入射されると、当該真空紫外光によって蛍光体膜20を構成するZn2 SiO4 :Mnが励起されて可視光が放射される。そして、この可視光のうち緑色の光が色ガラスフィルタ23を通過して光電変換素子25に入射し、この光電変換素子25において電気信号に変換される。これにより真空紫外光の強度が検出される。
一方、ハウジング11は、ハウジング本体11Aおよび蓋部材11Bからなり、全体として直方体の形状を呈するものである。
このハウジング11には、受光センサー12の受光面12Aに対向する位置に、その一面が外部に開口した状態に導光路空間Sが設けられると共に、不活性ガスが導入されるガス導入口15と、これから導光路空間Sに伸びるガス流路16が設けられている。
具体的には、図3にも示されるように、蓋部材11Bの底面に、ガス導入口15まで伸びる状態に溝16Bが形成されると共に、ハウジング本体11Aの内側面である受光センサー12の側面と対向する面に溝16Aが形成されている。そして、これらの溝16A,16Bと、受光センサー12の周面とによって区画された空間により、ガス流路16が形成されている。
さらに、このエキシマランプ用照度測定装置10には、ガス導入口15から導入させた不活性ガスを流通させるガス流通機構が備えられている。
ガス流通機構は、具体的には、不活性ガスを導光路空間Sにおいて受光センサー12の受光面12Aを含む面12Bに沿って流通させた後、当該導光路空間Sの開口(光導入口)13から外部に排出させるものである。
不活性ガスとしては、例えば窒素ガス、アルゴンガス、ヘリウムガスなどを用いることができる。
また、不活性ガスの流通速度としては、導光路空間Sにおける被測定ランプ(図示せず)からの真空紫外光の光路Lに存在する酸素を迅速に置換することができる速度であれば特に限定されないが、例えば3〜5リットル/分とすることができる。
不活性ガスによる酸素の置換は、導光路空間Sに存在する酸素が例えば0.3秒で置換される速度で行われることが好ましい。
この例のエキシマランプ用照度測定装置10においては、ガス流路16が複数、具体的には4本設けられている。各ガス流路16の不活性ガスの噴射方向の出口(以下、「噴射口」ともいう。)16Cは、受光センサー12の受光面12Aを含む面12Bの垂直方向からの平面視において当該受光センサー12の受光面12Aの中心を向いた状態に配向されている。
このような構成を有することにより、図4に矢印で示されるように、各ガス流路16の噴射口16Cから噴射される不活性ガスが受光センサー12の受光面12Aの中心付近でぶつかり、当該中心付近から光導入口13を介して外部に排出される。これにより、導光路空間Sにおける被測定ランプからの真空紫外光の光路Lに存在する酸素を不活性ガスに効率的に置換することができる。
そして、このエキシマランプ用照度測定装置10は、受光センサー12の受光面12Aを含む面12Bの垂直方向からの平面視において、導光路空間Sの開口、すなわち光導入口13の面積が、受光センサー12の受光面12Aの面積よりも大きいものとされている。
具体的には、導光路空間Sにおける被測定ランプからの真空紫外光の光路Lが、当該導光路空間Sの断面において受光面12Aに向かうに従って小径となるテーパー状の形状を有するものとなるよう、導光路空間Sが確保されていればよい。
光路Lの具体的な形状は、角度αが150°以上とされることが好ましい。このような形状の光路Lが形成されることにより、受光センサー12の受光面12Aに、均質な真空紫外光を確実に十分量入射させることが達成され、従って、局所的な放電や、網状電極などの外部電極の影による測定バラツキを確実に低減させることができる。
ハウジング11の寸法の一例としては、例えば、その横幅および奥行きが42mm、高さが27nmであり、光導入口13の直径が28mmとされる。ハウジング11の蓋部材11Bはその厚みが5mmであり、溝16Bの深さは2.5mmである。ハウジング本体11Aの厚みは側壁部および底壁部ともに3mmであり、溝16Aの深さは1.5mmである。
なお、ハウジング11と受光センサー12との隙間は、0.5mm以下であることが好ましい。
以上説明したようなエキシマランプ用照度測定装置10においては、以下のように真空紫外光の強度の測定が行われる。
すなわち、まず、ガス流通機構によって不活性ガスを流しながら、光導入口13に真空紫外光を測定すべき被測定ランプを接触させる。不活性ガスは、ガス導入口15からガス流路16に流され、光導入口13を介してエキシマランプ用照度測定装置10と被測定ランプとの僅かな隙間から外部へ排出される。このとき、導光路空間Sおよびエキシマランプ用照度測定装置10と被測定ランプとの間の空間にある酸素を含む大気が同時に外部に排出され、これらの空間が不活性ガス雰囲気とされる。
そして、光路Lにおける真空紫外光の酸素による吸収が抑制された状態において、被測定ランプから受光センサー12に真空紫外光が照射され、その強度が受光センサー12によって測定される。
真空紫外光の強度の測定において、エキシマランプ用照度測定装置10の光導入口13と被測定ランプとの距離は、0.1mm以下とされることが好ましい。
光導入口13と被測定ランプとの距離が0.1mmより大きい場合は、エキシマランプ用照度測定装置10と被測定ランプとの間の空間にある酸素を含む大気を十分に置換することができないおそれがある。
以上のようなエキシマランプ用照度測定装置10によれば、不活性ガスが受光センサー12の受光面12Aに沿って流通された後、光導入口13から外部に排出されるために、基本的に大気中において簡便に真空紫外光の強度を測定することができる。しかも、受光センサー12の受光面12Aの垂直方向からの平面視において、光導入口13の面積が受光センサー12の受光面12Aの面積よりも大きい構成とされているために、当該受光面12Aに均質な真空紫外光を十分量入射させることができる。このため、局所的な放電や、網状電極などの外部電極の影による測定バラツキを低減させることができる。
また、複数のガス流路16が、不活性ガスの噴射方向の出口が受光センサー12の受光面12Aの中心を向いた状態に配向されているために、導光路空間Sの酸素を不活性ガスに確実に置換することができる。これにより、酸素による真空紫外光の吸収が抑制されてその減衰が確実に低減された真空紫外光の強度を測定することができる。
以上、本発明のエキシマランプ用照度測定装置の実施形態について説明したが、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変更を加えることができる。
例えば、導光路空間の具体的な形状は特に限定されず、図5に示されるように、円筒形状のエキシマランプに適合する形状を有していてもよい。このような導光路空間S2を有するエキシマランプ用照度測定装置によれば、被測定ランプP2が円筒形状のエキシマランプであっても、大気中において簡便に真空紫外光の強度を測定することができ、かつ、局所的な放電や、網状電極などの外部電極の影による測定バラツキを低減させることができる。
なお、図5において、その他の符号は図2に係る符号と同じものを示す。
以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
<実施例1>
図2に示すエキシマランプ用照度測定装置を作製し、これを用いてエキシマランプの照度を測定した。
具体的には、エキシマランプの表面に接触するようにエキシマランプ用照度測定装置を設置し、不活性ガスとして窒素ガスを5L/minの流速で流しながら真空紫外光の照度を測定した。この測定を繰り返し5回行い、各回の測定値の平均値と、測定バラツキ(±%)とを算出した。結果を表1に示す。
なお、測定バラツキは、5回の最大値、最小値を用いて〔(最大値−最小値)/(最大値+最小値)〕×100で算出した。
<比較例1>
図6に示す真空紫外光の照度測定装置を作製し、これを用いて実施例1と同様にして真空紫外光の照度を5回測定し、各回の測定値の平均値と、測定バラツキ(±%)とを算出した。結果を表1に示す。
上記の結果から明らかなように、実施例1に係る本発明のエキシマランプ用照度測定装置は、比較例1に係る従来のものに比べて照度の測定バラツキが約1/7に低減されることが確認された。これにより、本発明のエキシマランプ用照度測定装置によればエキシマランプから放射される真空紫外光の照度が正確に測定できるようになったことが示された。
10 エキシマランプ用照度測定装置
11 ハウジング
11A ハウジング本体
11B 蓋部材
12 受光センサー
12A 受光面
12B 受光面を含む面
13 光導入口
15 ガス導入口
16 ガス流路
16A,16B 溝
16C 噴射口
20 蛍光体膜
21A,21B 窓板
23 色ガラスフィルタ
25 光電変換素子
27 外筐
27A アパーチャ
30 照度測定装置
31 ハウジング
32 受光センサー
32A 受光面
33 光導入口
35 ガス導入口
36 ガス流路
37 排ガス流路
38 ガス排出小口
S,S2 導光路空間
P,P2 被測定ランプ
L 光路

Claims (2)

  1. 真空紫外光を検知する受光センサーと、当該受光センサーを内包するハウジングとからなるエキシマランプ用照度測定装置であって、
    前記ハウジングには、
    前記受光センサーの受光面に対向する位置に、その一面が外部に開口した状態に導光路空間が設けられると共に、
    不活性ガスが導入されるガス導入口、および当該ガス導入口から前記導光路空間に伸びるガス流路が設けられ、
    さらに、前記ガス導入口から導入された前記不活性ガスが、前記導光路空間において前記受光センサーの受光面を含む面に沿って流通された後、当該導光路空間の開口から外部に排出されるガス流通機構が備えられ、
    前記受光センサーの受光面を含む面の垂直方向からの平面視において、前記導光路空間の開口の面積が、前記受光センサーの受光面の面積よりも大きいことを特徴とするエキシマランプ用照度測定装置。
  2. 前記ガス流路が複数設けられており、複数のガス流路の不活性ガスの噴射方向の出口が、受光センサーの受光面を含む面の垂直方向からの平面視において、当該受光センサーの受光面の中心を向いた状態に配向されていることを特徴とする請求項1に記載のエキシマランプ用照度測定装置。

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