JP2689298B2 - Cad測定データ表示装置 - Google Patents

Cad測定データ表示装置

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JP2689298B2
JP2689298B2 JP4010805A JP1080592A JP2689298B2 JP 2689298 B2 JP2689298 B2 JP 2689298B2 JP 4010805 A JP4010805 A JP 4010805A JP 1080592 A JP1080592 A JP 1080592A JP 2689298 B2 JP2689298 B2 JP 2689298B2
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cad
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measurement
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憲男 会田
浩行 高橋
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山形カシオ 株式会社
カシオ計算機 株式会社
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  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Digital Computer Display Output (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はCAD図面に則って製
作された製品の検査を能率的に行い得るようにしたCA
D測定データ表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、設計図面に基づいて製作され
た製品や部品の外形検査を行う測定装置が知られてい
る。このような従来の測定装置にあっては、設計図面に
記された寸法値を前記測定装置に手作業により入力し、
一方、この測定装置に電気的に繋がり、前記製品や部品
の寸法等を計測する各種の測定器群からの計測データを
前記測定装置に取り込み、これらのデータに基づいて前
記測定装置内で演算、比較その他の情報処理を行った上
で、検査される製品や部品の合否を決定する表示や標準
寸法に対する寸法差を数値で前記測定装置の表示器に表
すようにされていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の製品
検査のための測定装置では測定結果として得られた数値
の分析に時間がかかって面倒であり、検査される製品や
部品をCADを用いて検査するには前記測定結果として
得られた数値に基づいてCADの表示装置の画面に検査
される製品の外形を意味する代表値(ポイント)が複数
表示されるように手作業の入力操作を行い、その後、そ
れらのポイントと標準(基準)値となるCAD図面に表
れる外形線上の点(CAD図面に表れる外形線上の前記
ポイントに対応する点)に対する隔たり(差または偏
差)を算出するなどの作業を経た上で検査される製品や
部品の合否を把握していたため大変な労力と時間がかか
るといった欠点があった。
【0004】この発明は上記問題を解消する為になされ
たもので、CAD図面に表れる形象、測定器群からの実
測データに基づいて得られる測定ポイント及びこの測定
ポイントと前記CAD図面に表れる形象の要素との寸法
差を示す数値を自動的に画面に表示し、検査される製品
や部品の合否を一目瞭然に、且つ、迅速に把握し得るC
AD測定データ表示装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は上記課題を解
決するために、測長装置で得られた対象物の測定データ
をCADワークステーションへ転送し、該CADワーク
ステーションには前記測定データに基づいて該CADワ
ークステーションの表示画面上に複数の測定ポイントを
作成する測定ポイント作成手段と、前記CADワークス
テーションの表示画面上に前記対象物のCAD図面を表
示するCAD図面表示手段と、前記測定ポイントと前記
CAD図面表示手段によって表示画面上に表示された対
象物の前記CAD図面上で表示されている外形線上の点
との間の寸法差を算出する寸法差算出手段と、該寸法差
算出手段で算出した寸法差を示す数値を前記表示画面上
に前記測定ポイントに対応させて表示する寸法差データ
表示手段とを備えることを特徴とする。
【0006】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図1乃至図3を
参照して説明する。図1はCAD測定データ表示装置の
回路構成を示すブロック図である。CADワークステー
ション1にはCAD図面ファイル2及びプロッタ3が接
続されている。CAD図面ファイル2は複数のCAD図
面が記憶されている。プロッタ3はCADワークステー
ション1で作成されたCAD図面を印刷する。また、C
ADワークステーション1は各種の測定器群を統合する
ワークステーション4に接続されている。また、このワ
ークステーション4には測定データファイル5、工具顕
微鏡7及びマイクロメータ8が接続されている。測定デ
ータファイル5は工具顕微鏡7及びマイクロメータ8か
らなる測定器群により測定された複数の測定データが記
憶されている。なお、前記各種の測定器群としては前述
の測定器の他に、例えば、ロータリーエンコーダ式測長
器等、被検査品の性質等を考慮して種々の測定機器を使
用することができる。
【0007】次に、図2を参照して上記実施例のCAD
測定データ表示装置の動作を説明する。図2は処理及び
動作の要部を説明するフローチャートである。この場
合、既にCAD図面に基づいて成形された部品である対
象物A(例えば外形が円形の部品)について、外形寸法
を前記測定器群により測定し、この測定データに基づい
て得られた画面上の測定ポイントとCAD図面に表れる
外形線上の点とを比較し、同画面上に寸法差を表示する
処理を説明する。
【0008】ステップS1では、対象物Aの外形(円
形)の寸法を工具顕微鏡7及びマイクロメータ8により
測定して、これらの測定器群を統合するワークステーシ
ョン4に接続されている測定データファイル5に対象物
Aの測定データを書き込む。
【0009】次いで、ステップS2において、ワークス
テーション4からCADワークステーション1に対して
対象物Aの測定データを転送する。ステップS3では、
CAD図面ファイル2から対象物Aに対応するCAD図
面を読み出してCADワークステーション1に読み込
む。
【0010】ステップS4において、測定データに基づ
いて対象物Aの測定ポイントをCAD画面上に作成す
る。即ち、対象物Aの測定ポイントを選定し、その選定
個所を視覚的に知り得る表示をCADの表示画面に表示
する。この場合、CAD図面に表れる外形線は図3に示
すように円であるから、前記測定器群より測定される測
定データは円の中心を原点として10度毎に測定した場
合、測定ポイントは36箇所となる。
【0011】ステップS5では、ステップS4で作成さ
れた測定ポイントとCAD図面として画面上に描画され
た対象物Aの外形線上の点との間の寸法差を算出して、
それらを図3に示すようにCADの画面上に表示する、
即ち、前記寸法差を示す数値はそれに関わる測定ポイン
トに対応させて表示すると共に、この寸法差データを表
示した図3に示される如き画面データを前記CAD図面
ファイル2へ登録する。なお、前記寸法差を数値で前記
CADの画面上に表示する場合、測定ポイントが対象物
Aの外形線の内側に位置する場合は寸法差データ(寸法
差を表す数値)をその外形線の内側に表示し、測定ポイ
ントが対象物Aの外形線の外側に位置する場合は寸法差
データをその外形線の外側に表示する。
【0012】ステップS6において、CADの画面上に
描画された対象物Aの外形線、対象物Aの測定ポイント
及び前記寸法差データを含む画面データを前記プロッタ
3を用いてプリントアウトする。ステップS6の実行に
より図2に示されるフローの処理を終了する。
【0013】そして、図3に示すように対象物Aに対応
するCAD図面の対象物Aの外形線に寸法差データが書
き込まれた測定結果がCADワークステーション1に表
示される。なお、前述のフローの処理は前記ワークステ
ーション4及び前記CADワークステーション1に設け
られる処理プログラムをそれぞれに設けられるCPUが
実行することで、人の手作業によることなく自動的に遂
行される。
【0014】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、この発明に
よれば、CAD図面に表れる外形線、測定器群からの実
測データに基づいて得られる測定ポイント及びこの測定
ポイントと前記CAD図面に表れる外形線との点との寸
法差を示す数値を自動的に画面に表示できるように構成
したので、検査される製品や部品の合否を一目瞭然に、
且つ、迅速に把握し得るCAD測定データ表示装置を提
供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】CAD測定データ表示装置の回路構成を示すブ
ロック図である。
【図2】実施例として示したCAD測定データ表示装置
の処理及び動作の要部を説明するフローチャートであ
る。
【図3】実施例として示したCAD測定データ表示装置
の測定結果を表すCAD画面の表示例を示す平面図であ
る。
【符号の説明】
1 CADワークステーション 2 CAD図面ファイル 3 プロッタ 4 ワークステーション 5 測定データファイル 7 工具顕微鏡 8 マイクロメータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 浩行 山形県東根市大字東根甲5400番地の1 山形カシオ株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−8259(JP,A) 特開 平2−176511(JP,A) 実開 昭63−11130(JP,U)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測長装置で得られた対象物の測定データ
    をCADワークステーションへ転送し、該CADワーク
    ステーションには前記測定データに基づいて該CADワ
    ークステーションの表示画面上に複数の測定ポイントを
    作成する測定ポイント作成手段と、前記CADワークス
    テーションの表示画面上に前記対象物のCAD図面を表
    示するCAD図面表示手段と、前記測定ポイントと前記
    CAD図面表示手段によって表示画面上に表示された対
    象物の前記CAD図面上で表示されている外形線上の点
    との間の寸法差を算出する寸法差算出手段と、該寸法差
    算出手段で算出した寸法差を示す数値を前記表示画面上
    に前記測定ポイントに対応させて表示する寸法差データ
    表示手段とを備えることを特徴とするCAD測定データ
    表示装置。
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JPH05203466A JPH05203466A (ja) 1993-08-10
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