JP2682635B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
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- G11B20/10—Digital recording or reproducing
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Description
【発明の詳細な説明】 （技術分野） 本発明は光ディスクに情報の記録又は再生を行う光デ
ィスク装置に関する。
ィスク装置に関する。
（従来の技術） 光ディスク装置においては情報により変調した光ビー
ムを光ディスク上に集光させて情報を記録し、又は光ビ
ームを光ディスク上に集光させてその反射光により情報
を再生している。この光ディスク装置では光ビームを常
に光ディスク上の目標位置に集光させるためにトラッキ
ング制御装置及びフォーカス制御装置が設けられてい
る。このトラッキング制御装置及びフォーカス制御装置
は光ビームの目標位置からのずれ量（光ビームのトラッ
キング誤差、フォーカス誤差）に比例したトラッキング
誤差信号、フォーカス誤差信号を求め、これらの信号に
基づいてトラッキング制御、フォーカス制御を行ってい
る。上記誤差信号は光ディスクに光ビームを照射して得
られた反射光を適当な光学系により少なくとも２つに分
割された光検出器（例えばA,Bとする）に入射させて光
電変換し、この光検出器A,Bの出力信号Va,Vbの差（Va−
Vb）をとることによって得られる。また光検出器A,Bの
出力信号Va,Vbの和（Va＋Vb）をとることによって光デ
ィスクの反射光量に比例した信号が得られる。ここで上
記誤差信号のゲインをＫ、光ビームの目標位置からのず
れ量をｘ、光ディスクの反射率をＲとすると、 となり、Ｋは光ディスクの反射率Ｒに比例する。したが
って光ディスクの反射率Ｒの変動によりトラッキング制
御装置，フォーカス制御装置のゲインが変動してしま
い、安定なトラッキング制御，フォーカス制御ができな
い。
ムを光ディスク上に集光させて情報を記録し、又は光ビ
ームを光ディスク上に集光させてその反射光により情報
を再生している。この光ディスク装置では光ビームを常
に光ディスク上の目標位置に集光させるためにトラッキ
ング制御装置及びフォーカス制御装置が設けられてい
る。このトラッキング制御装置及びフォーカス制御装置
は光ビームの目標位置からのずれ量（光ビームのトラッ
キング誤差、フォーカス誤差）に比例したトラッキング
誤差信号、フォーカス誤差信号を求め、これらの信号に
基づいてトラッキング制御、フォーカス制御を行ってい
る。上記誤差信号は光ディスクに光ビームを照射して得
られた反射光を適当な光学系により少なくとも２つに分
割された光検出器（例えばA,Bとする）に入射させて光
電変換し、この光検出器A,Bの出力信号Va,Vbの差（Va−
Vb）をとることによって得られる。また光検出器A,Bの
出力信号Va,Vbの和（Va＋Vb）をとることによって光デ
ィスクの反射光量に比例した信号が得られる。ここで上
記誤差信号のゲインをＫ、光ビームの目標位置からのず
れ量をｘ、光ディスクの反射率をＲとすると、 となり、Ｋは光ディスクの反射率Ｒに比例する。したが
って光ディスクの反射率Ｒの変動によりトラッキング制
御装置，フォーカス制御装置のゲインが変動してしま
い、安定なトラッキング制御，フォーカス制御ができな
い。
ところで（Va＋Vb）は光ディスクの反射率Ｒに比例す
るので、Ｓ＝（Va＋Vb）・Ｒとすると、 の演算により光ディスクの反射率Ｒの影響を除いた，常
に一定のサーボゲインＫ′が得られ、安定なトラッキン
グ制御，フォーカス制御が可能となる。このような方法
は例えば特公昭57−56138号公報により知られている。
この公報には２つの電圧制御増幅器を用いてK/Sを求め
る方法と、直接除算器によりK/Sを求める方法が開
示されている。
るので、Ｓ＝（Va＋Vb）・Ｒとすると、 の演算により光ディスクの反射率Ｒの影響を除いた，常
に一定のサーボゲインＫ′が得られ、安定なトラッキン
グ制御，フォーカス制御が可能となる。このような方法
は例えば特公昭57−56138号公報により知られている。
この公報には２つの電圧制御増幅器を用いてK/Sを求め
る方法と、直接除算器によりK/Sを求める方法が開
示されている。
しかし前者では２つの電圧制御増幅器の特性が非常
によく揃っていないと、誤差信号にオフセットが生じて
光ビームを目標位置よりずれた位置に制御してしまう
が、一般に２つの特性が等しい電圧制御増幅器を作るの
は難しい。また後者では正確な除算器が必要である
が、これはアナログ回路では高価で調整も多く必要であ
り、ディジタル回路では回路規模が大きくなる。
によく揃っていないと、誤差信号にオフセットが生じて
光ビームを目標位置よりずれた位置に制御してしまう
が、一般に２つの特性が等しい電圧制御増幅器を作るの
は難しい。また後者では正確な除算器が必要である
が、これはアナログ回路では高価で調整も多く必要であ
り、ディジタル回路では回路規模が大きくなる。
（目 的） 本発明は上記欠点を除去し、構成が簡単で光ビームを
目標位置に正確に制御できる光ディスク装置を提供する
ことを目的とする。
目標位置に正確に制御できる光ディスク装置を提供する
ことを目的とする。
（構 成） 上記目的を達成するため、本発明は、光ディスクに光
ビームを照射して情報の記録又は再生を行う光ディスク
装置において、前記光ディスクからの反射光を受光する
少なくとも第１の光電変換素子及び第２の光電変換素子
を含む分割型光検出器と、前記第１の光電変換素子の出
力信号と前記第２の光電変換素子の出力信号とを時分割
的に選択する時分割選択手段と、この時分割選択手段の
出力信号が入力される電圧制御増幅器と、この電圧制御
増幅器の出力信号を前記時分割選択手段が前記第１の光
電変換素子の出力信号を選択している期間であってその
初めから一定時間経過後にサンプリングする第１のサン
プル・ホールド回路と、前記電圧制御増幅器の出力信号
を前記時分割選択手段が前記第２の光電変換素子の出力
信号を選択している期間であってその初めから一定時間
経過後にサンプリングする第２のサンプル・ホールド回
路と、この第２のサンプル・ホールド回路の出力信号と
前記第１のサンプル・ホールド回路の出力信号を加算し
てその加算結果が基準電圧に等しくなるように前記電圧
制御増幅器のゲインを制御する利得制御ループと、前記
第１のサンプル・ホールド回路の出力信号と前記第２の
サンプル・ホールド回路の出力信号との差を演算してト
ラッキング誤差信号あるいはフォーカス誤差信号を得こ
の信号に基づいて前記光ディスクにおける前記光ビーム
のトラッキング状態あるいはフォーカス状態を制御する
制御装置とを備えたものである。
ビームを照射して情報の記録又は再生を行う光ディスク
装置において、前記光ディスクからの反射光を受光する
少なくとも第１の光電変換素子及び第２の光電変換素子
を含む分割型光検出器と、前記第１の光電変換素子の出
力信号と前記第２の光電変換素子の出力信号とを時分割
的に選択する時分割選択手段と、この時分割選択手段の
出力信号が入力される電圧制御増幅器と、この電圧制御
増幅器の出力信号を前記時分割選択手段が前記第１の光
電変換素子の出力信号を選択している期間であってその
初めから一定時間経過後にサンプリングする第１のサン
プル・ホールド回路と、前記電圧制御増幅器の出力信号
を前記時分割選択手段が前記第２の光電変換素子の出力
信号を選択している期間であってその初めから一定時間
経過後にサンプリングする第２のサンプル・ホールド回
路と、この第２のサンプル・ホールド回路の出力信号と
前記第１のサンプル・ホールド回路の出力信号を加算し
てその加算結果が基準電圧に等しくなるように前記電圧
制御増幅器のゲインを制御する利得制御ループと、前記
第１のサンプル・ホールド回路の出力信号と前記第２の
サンプル・ホールド回路の出力信号との差を演算してト
ラッキング誤差信号あるいはフォーカス誤差信号を得こ
の信号に基づいて前記光ディスクにおける前記光ビーム
のトラッキング状態あるいはフォーカス状態を制御する
制御装置とを備えたものである。
以下図面を参照して本発明の実施例を説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す。
この実施例は光ディスク装置において１つの電圧制御
増幅器を時分割的に用いることにより（Va＋Vb）を一定
に制御することを特徴としている。光ディスク１はモー
タにより回転駆動され、対物レンズ2,光学系3,分割型光
検出器４を含む光学装置により光ビーム５が照射されて
情報の記録又は再生が光学的に行われる。光ディスク１
は同心円状又はスパイラル状のトラックに情報が記録さ
れ、上記光学装置は光ディスク１の半径方向に移動して
光ディスク１上のトラックに情報の記録又は再生を行
う。分割型光検出器４は２つに分割された光電変換素子
A,Bを有する。光学系３は光源を含んでいてこの光源よ
り対物レンズ２を介して光ディスク１上に光ビーム５を
集光して照射し、その反射光を周知のトラッキング誤差
検出用光学系（或いはフォーカス誤差検出用光学系）を
介して分割型光検出器４に入射させて光電変換させる。
光電変換素子A,Bで検出された信号Va,Vbはトラッキング
誤差（或いはフォーカス誤差）がなければ等しくなり、
時分割選択手段としてのセレクタ６は光電変換素子A,B
の出力信号Va,Vbをタイミング回路７からのセレクト信
号SELにより選択して電圧制御増幅器（VCA）８に入力さ
せる。このセレクト信号SELは第２図に示すように所定
の周波数で交互に高レベルと低レベルになり、セレクタ
６はセレクト信号SELが高レベルのときに光電変換素子
Ａの出力信号Vaを選択してセレクト信号SELが低レベル
のときに光電変換素子Ｂの出力信号Vbを選択する。電圧
制御増幅器８の出力信号はサンプル・ホールド回路（S/
H）9,10においてタイミング回路７からのサンプル信号S
A,SBによりセレクト信号SELに同期してサンプリングさ
れて保持される。第２図に示すようにサンプル信号SAは
セレクト信号SELが高レベルのときに発生し、つまり、
セレクタ６が光電変換素子Ａの出力信号Vaを選択してい
る期間であってその初めから一定時間経過後に発生し、
サンプル・ホールド回路９は光電変換素子Ａの出力信号
Vaに対応した電圧制御増幅器８の出力信号をサンプル信
号SAによりサンプリングする。またサンプル信号SAはセ
レクト信号SELが低レベルのときに発生し、つまり、セ
レクタ６が光電変換素子Ｂの出力信号Vbを選択している
期間であってその初めから一定時間経過後に発生し、サ
ンプル・ホールド回路10は光電変換素子Ｂの出力信号Vb
に対応した電圧制御増幅器８の出力信号をサンプル信号
SBによりサンプリングする。このような構成により、１
個の電圧制御増幅器８を時分割的に用いて等価的に特性
の同じ２個の電圧制御増幅器を用いたのと同様な効果が
得られる。サンプル・ホールド回路9,10のサンプリング
周期Ｔは原理的にはトラッキング制御（又はフォーカス
制御）に必要な帯域の２倍の周波数に相当する時間にし
ておけば十分である。この周波数は高々数10KHZである
から、サンプル・ホールド回路9,10のサンプリングは容
易である。サンプル・ホールド回路9,10の出力信号は差
動増幅器11で減算されてトラッキング誤差信号（又はフ
ォーカス誤差信号）となり、この誤差信号によりサーボ
回路12がアクチュエータ13を駆動して対物レンズ２を移
動させることによってトラッキング誤差（又はフォーカ
ス誤差）をなくすようにトラッキング制御（又はフォー
カス誤差制御）を行う。したがって、差動増幅器11及び
サーボ回路12は、サンプル・ホールド回路９の出力信号
とサンプル・ホールド回路10の出力信号との差を演算し
てトラッキング誤差信号あるいはフォーカス誤差信号を
得、この信号に基づいて光ディスク１における光ビーム
のトラッキング状態あるいはフォーカス状態を制御する
制御装置を構成する。
増幅器を時分割的に用いることにより（Va＋Vb）を一定
に制御することを特徴としている。光ディスク１はモー
タにより回転駆動され、対物レンズ2,光学系3,分割型光
検出器４を含む光学装置により光ビーム５が照射されて
情報の記録又は再生が光学的に行われる。光ディスク１
は同心円状又はスパイラル状のトラックに情報が記録さ
れ、上記光学装置は光ディスク１の半径方向に移動して
光ディスク１上のトラックに情報の記録又は再生を行
う。分割型光検出器４は２つに分割された光電変換素子
A,Bを有する。光学系３は光源を含んでいてこの光源よ
り対物レンズ２を介して光ディスク１上に光ビーム５を
集光して照射し、その反射光を周知のトラッキング誤差
検出用光学系（或いはフォーカス誤差検出用光学系）を
介して分割型光検出器４に入射させて光電変換させる。
光電変換素子A,Bで検出された信号Va,Vbはトラッキング
誤差（或いはフォーカス誤差）がなければ等しくなり、
時分割選択手段としてのセレクタ６は光電変換素子A,B
の出力信号Va,Vbをタイミング回路７からのセレクト信
号SELにより選択して電圧制御増幅器（VCA）８に入力さ
せる。このセレクト信号SELは第２図に示すように所定
の周波数で交互に高レベルと低レベルになり、セレクタ
６はセレクト信号SELが高レベルのときに光電変換素子
Ａの出力信号Vaを選択してセレクト信号SELが低レベル
のときに光電変換素子Ｂの出力信号Vbを選択する。電圧
制御増幅器８の出力信号はサンプル・ホールド回路（S/
H）9,10においてタイミング回路７からのサンプル信号S
A,SBによりセレクト信号SELに同期してサンプリングさ
れて保持される。第２図に示すようにサンプル信号SAは
セレクト信号SELが高レベルのときに発生し、つまり、
セレクタ６が光電変換素子Ａの出力信号Vaを選択してい
る期間であってその初めから一定時間経過後に発生し、
サンプル・ホールド回路９は光電変換素子Ａの出力信号
Vaに対応した電圧制御増幅器８の出力信号をサンプル信
号SAによりサンプリングする。またサンプル信号SAはセ
レクト信号SELが低レベルのときに発生し、つまり、セ
レクタ６が光電変換素子Ｂの出力信号Vbを選択している
期間であってその初めから一定時間経過後に発生し、サ
ンプル・ホールド回路10は光電変換素子Ｂの出力信号Vb
に対応した電圧制御増幅器８の出力信号をサンプル信号
SBによりサンプリングする。このような構成により、１
個の電圧制御増幅器８を時分割的に用いて等価的に特性
の同じ２個の電圧制御増幅器を用いたのと同様な効果が
得られる。サンプル・ホールド回路9,10のサンプリング
周期Ｔは原理的にはトラッキング制御（又はフォーカス
制御）に必要な帯域の２倍の周波数に相当する時間にし
ておけば十分である。この周波数は高々数10KHZである
から、サンプル・ホールド回路9,10のサンプリングは容
易である。サンプル・ホールド回路9,10の出力信号は差
動増幅器11で減算されてトラッキング誤差信号（又はフ
ォーカス誤差信号）となり、この誤差信号によりサーボ
回路12がアクチュエータ13を駆動して対物レンズ２を移
動させることによってトラッキング誤差（又はフォーカ
ス誤差）をなくすようにトラッキング制御（又はフォー
カス誤差制御）を行う。したがって、差動増幅器11及び
サーボ回路12は、サンプル・ホールド回路９の出力信号
とサンプル・ホールド回路10の出力信号との差を演算し
てトラッキング誤差信号あるいはフォーカス誤差信号を
得、この信号に基づいて光ディスク１における光ビーム
のトラッキング状態あるいはフォーカス状態を制御する
制御装置を構成する。
またサンプル・ホールド回路9,10の出力信号は加算増
幅器14により加算され、低域通過フィルタ（LPF）15に
より高周波ノイズが除去された後に差動増幅器16で電源
17の目標電圧（基準電圧）Vrefより減算される。この差
動増幅器16の減算結果Vcにより電圧制御増幅器８のゲイ
ンが制御され、常に加算増幅器14の出力が目標電圧Vref
に等しくなるように制御される。したがって、加算増幅
器14及び差動増幅器16は、サンプル・ホールド回路9,10
の出力信号を加算してその加算結果が基準電圧に等しく
なるように電圧制御増幅器８のゲインを制御する利得制
御ループを構成する。
幅器14により加算され、低域通過フィルタ（LPF）15に
より高周波ノイズが除去された後に差動増幅器16で電源
17の目標電圧（基準電圧）Vrefより減算される。この差
動増幅器16の減算結果Vcにより電圧制御増幅器８のゲイ
ンが制御され、常に加算増幅器14の出力が目標電圧Vref
に等しくなるように制御される。したがって、加算増幅
器14及び差動増幅器16は、サンプル・ホールド回路9,10
の出力信号を加算してその加算結果が基準電圧に等しく
なるように電圧制御増幅器８のゲインを制御する利得制
御ループを構成する。
今、光ディスク１の反射率が１である場合の光電変換
素子A,Bの出力信号Va,Vbをa,bとすれば光ディスク１の
反射率がＲであるときには光電変換素子A,Bの出力信号V
a,VbはRa,Rbとなる。また電圧制御増幅器８のゲインＧ
はGR（ａ＋ｂ）＝Vrefとなるように制御されるから、Ｇ
＝Vref/R（ａ＋ｂ）となる。差動増幅器11の出力は となり、Vref/（ａ＋ｂ）は定数となるから、結局差動
増幅器11の出力、すなわちトラッキング誤差信号（又は
フォーカス誤差信号）は光ディスク１の反射率に無関係
となり、常に一定のループゲインが得られる。
素子A,Bの出力信号Va,Vbをa,bとすれば光ディスク１の
反射率がＲであるときには光電変換素子A,Bの出力信号V
a,VbはRa,Rbとなる。また電圧制御増幅器８のゲインＧ
はGR（ａ＋ｂ）＝Vrefとなるように制御されるから、Ｇ
＝Vref/R（ａ＋ｂ）となる。差動増幅器11の出力は となり、Vref/（ａ＋ｂ）は定数となるから、結局差動
増幅器11の出力、すなわちトラッキング誤差信号（又は
フォーカス誤差信号）は光ディスク１の反射率に無関係
となり、常に一定のループゲインが得られる。
第３図は上記電圧制御増幅器８の構成例を示す。この
例は演算増幅器A1、接合型電界効果トランジスタＱ及び
抵抗R1,R2により構成され、演算増幅器A1はセレクタ６
の出力信号を増幅する。電界効果トランジスタＱは差動
増幅器16の出力信号Vcによりドレイン・ソース間抵抗が
変化し、これにより演算増幅器A1のゲインが変化する。
例は演算増幅器A1、接合型電界効果トランジスタＱ及び
抵抗R1,R2により構成され、演算増幅器A1はセレクタ６
の出力信号を増幅する。電界効果トランジスタＱは差動
増幅器16の出力信号Vcによりドレイン・ソース間抵抗が
変化し、これにより演算増幅器A1のゲインが変化する。
第４図は上記タイミング回路７の構成例を示し、第５
図はその動作を示すタイミングチャートである。この例
はカウンタ18、Ｄフリップフロップ19,20、ゲート21,22
により構成され、カウンタ18はクロック発生器からのク
ロックCLKをカウントする。Ｄフリップフロップ19はカ
ウンタ18の第２桁出力をクロック発生器からのクロック
CLKによりラッチし、Ｄフリップフロップ20はＤフリッ
プフロップ19の出力をクロック発生器からのクロックCL
Kによりラッチする。ゲート21はＤフリップフロップ19
の非反転出力,Dフリップフロップ20の反転出力とカウン
タ18の第１桁出力とのアンドをとってサンプル信号SAを
生成し、ゲート22はカウンタ18の第１桁出力を反転して
Ｄフリップフロップ19の非反転出力,Dフリップフロップ
20の反転出力とのアンドをとることによりサンプル信号
SBを生成する。このSA,SBはクロックCLKの16個分の長さ
になり、セレクタ６が光電変換素子A,Bの出力信号Va,Vb
を選択している各期間におけるその初めから一定時間経
過後にそれぞれ発生する。またカウンタ18の第１桁出力
がセレクト信号SELとして出力される。
図はその動作を示すタイミングチャートである。この例
はカウンタ18、Ｄフリップフロップ19,20、ゲート21,22
により構成され、カウンタ18はクロック発生器からのク
ロックCLKをカウントする。Ｄフリップフロップ19はカ
ウンタ18の第２桁出力をクロック発生器からのクロック
CLKによりラッチし、Ｄフリップフロップ20はＤフリッ
プフロップ19の出力をクロック発生器からのクロックCL
Kによりラッチする。ゲート21はＤフリップフロップ19
の非反転出力,Dフリップフロップ20の反転出力とカウン
タ18の第１桁出力とのアンドをとってサンプル信号SAを
生成し、ゲート22はカウンタ18の第１桁出力を反転して
Ｄフリップフロップ19の非反転出力,Dフリップフロップ
20の反転出力とのアンドをとることによりサンプル信号
SBを生成する。このSA,SBはクロックCLKの16個分の長さ
になり、セレクタ６が光電変換素子A,Bの出力信号Va,Vb
を選択している各期間におけるその初めから一定時間経
過後にそれぞれ発生する。またカウンタ18の第１桁出力
がセレクト信号SELとして出力される。
上記実施例では１個しか電圧制御増幅器８を用いない
ので、前述の従来例のように２個の電圧制御増幅器を用
いた場合と違い、各電圧制御増幅器の特性のバラツキに
よって差動増幅器11の出力にオフセットを生ずることが
ない。また、電圧制御増幅器８の出力信号はセレクタ６
の光電変換素子A,Bの出力信号Va,Vbを選択している各期
間におけるその初めから一定時間経過後にサンプル・ホ
ールド回路9,10によりサンプリングされ、このサンプル
・ホールド回路9,10の出力信号が加算増幅器14により加
算されてその加算結果がLPF15を通して差動増幅器16に
て電源17の基準電圧Vrefより減算され、その減算結果に
より加算増幅器14の加算結果が基準電圧に等しくなるよ
うに電圧制御増幅器８のゲインが制御されるので、光電
変換素子A,Bの出力信号Va,Vbがセレクタ６により時分割
で選択された時、つまり、セレクタ６からの信号Va,Vb
の各立ち上がり時や立ち下がり時における電圧制御増幅
器８の出力の誤差（セレクタ６で選択された信号が電圧
制御増幅器８に入力され更に電圧制御増幅器８から出力
された際における信号のなまり）の影響による電圧制御
増幅器８のゲイン制御誤差を無くすことができる。
ので、前述の従来例のように２個の電圧制御増幅器を用
いた場合と違い、各電圧制御増幅器の特性のバラツキに
よって差動増幅器11の出力にオフセットを生ずることが
ない。また、電圧制御増幅器８の出力信号はセレクタ６
の光電変換素子A,Bの出力信号Va,Vbを選択している各期
間におけるその初めから一定時間経過後にサンプル・ホ
ールド回路9,10によりサンプリングされ、このサンプル
・ホールド回路9,10の出力信号が加算増幅器14により加
算されてその加算結果がLPF15を通して差動増幅器16に
て電源17の基準電圧Vrefより減算され、その減算結果に
より加算増幅器14の加算結果が基準電圧に等しくなるよ
うに電圧制御増幅器８のゲインが制御されるので、光電
変換素子A,Bの出力信号Va,Vbがセレクタ６により時分割
で選択された時、つまり、セレクタ６からの信号Va,Vb
の各立ち上がり時や立ち下がり時における電圧制御増幅
器８の出力の誤差（セレクタ６で選択された信号が電圧
制御増幅器８に入力され更に電圧制御増幅器８から出力
された際における信号のなまり）の影響による電圧制御
増幅器８のゲイン制御誤差を無くすことができる。
（効 果） 以上のように本発明によれば、光ディスクに光ビーム
を照射して情報の記録又は再生を行う光ディスク装置に
おいて、前記光ディスクからの反射光を受光する少なく
とも第１の光電変換素子及び第２の光電変換素子を含む
分割型光検出器と、前記第１の光電変換素子の出力信号
と前記第２の光電変換素子の出力信号とを時分割的に選
択する時分割選択手段と、この時分割選択手段の出力信
号が入力される電圧制御増幅器と、この電圧制御増幅器
の出力信号を前記時分割選択手段が前記第１の光電変換
素子の出力信号を選択している期間であってその初めか
ら一定時間経過後にサンプリングする第１のサンプル・
ホールド回路と、前記電圧制御増幅器の出力信号を前記
時分割選択手段が前記第２の光電変換素子の出力信号を
選択している期間であってその初めから一定時間経過後
にサンプリングする第２のサンプル・ホールド回路と、
この第２のサンプル・ホールド回路の出力信号と前記第
１のサンプル・ホールド回路の出力信号を加算してその
加算結果が基準電圧に等しくなるように前記電圧制御増
幅器のゲインを制御する利得制御ループと、前記第１の
サンプル・ホールド回路の出力信号と前記第２のサンプ
ル・ホールド回路の出力信号との差を演算してトラッキ
ング誤差信号あるいはフォーカス誤差信号を得この信号
に基づいて前記光ディスクにおける前記光ビームのトラ
ッキング状態あるいはフォーカス状態を制御する制御装
置とを備えたので、簡単な構成で記録媒体の反射率に無
関係なトラッキング誤差信号又はフォーカス誤差信号を
得ることができ、かつ電圧制御増幅器が１個で実現でき
て電圧制御増幅器の特性のバラツキによるオフセットが
発生せず正確なトラッキング制御又はフォーカス制御を
行うことができる。しかも、第１の光電変換素子及び第
２の光電変換素子の出力信号が時分割選択手段により時
分割で選択された時、つまり、時分割選択手段からの信
号の各立ち上がり時や立ち下がり時における電圧制御増
幅器の出力の誤差（時分割選択手段で選択された信号が
電圧制御増幅器に入力され更に電圧制御増幅器から出力
された際における信号のなまり）の影響による電圧制御
増幅器のゲイン制御誤差を無くすことができる。
を照射して情報の記録又は再生を行う光ディスク装置に
おいて、前記光ディスクからの反射光を受光する少なく
とも第１の光電変換素子及び第２の光電変換素子を含む
分割型光検出器と、前記第１の光電変換素子の出力信号
と前記第２の光電変換素子の出力信号とを時分割的に選
択する時分割選択手段と、この時分割選択手段の出力信
号が入力される電圧制御増幅器と、この電圧制御増幅器
の出力信号を前記時分割選択手段が前記第１の光電変換
素子の出力信号を選択している期間であってその初めか
ら一定時間経過後にサンプリングする第１のサンプル・
ホールド回路と、前記電圧制御増幅器の出力信号を前記
時分割選択手段が前記第２の光電変換素子の出力信号を
選択している期間であってその初めから一定時間経過後
にサンプリングする第２のサンプル・ホールド回路と、
この第２のサンプル・ホールド回路の出力信号と前記第
１のサンプル・ホールド回路の出力信号を加算してその
加算結果が基準電圧に等しくなるように前記電圧制御増
幅器のゲインを制御する利得制御ループと、前記第１の
サンプル・ホールド回路の出力信号と前記第２のサンプ
ル・ホールド回路の出力信号との差を演算してトラッキ
ング誤差信号あるいはフォーカス誤差信号を得この信号
に基づいて前記光ディスクにおける前記光ビームのトラ
ッキング状態あるいはフォーカス状態を制御する制御装
置とを備えたので、簡単な構成で記録媒体の反射率に無
関係なトラッキング誤差信号又はフォーカス誤差信号を
得ることができ、かつ電圧制御増幅器が１個で実現でき
て電圧制御増幅器の特性のバラツキによるオフセットが
発生せず正確なトラッキング制御又はフォーカス制御を
行うことができる。しかも、第１の光電変換素子及び第
２の光電変換素子の出力信号が時分割選択手段により時
分割で選択された時、つまり、時分割選択手段からの信
号の各立ち上がり時や立ち下がり時における電圧制御増
幅器の出力の誤差（時分割選択手段で選択された信号が
電圧制御増幅器に入力され更に電圧制御増幅器から出力
された際における信号のなまり）の影響による電圧制御
増幅器のゲイン制御誤差を無くすことができる。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
同実施例のタイミングチャート、第３図は同実施例の電
圧制御増幅器を示す回路図、第４図は同実施例のタイミ
ング回路を示すブロック図、第５図は同タイミング回路
の動作を示すタイミングチャートである。 １……光ディスク、４……分割型光検出器、６……時分
割選択手段、８……電圧制御増幅器、9,10……サンプル
・ホールド回路、11,12……制御装置、14,16……利得制
御ループ。
同実施例のタイミングチャート、第３図は同実施例の電
圧制御増幅器を示す回路図、第４図は同実施例のタイミ
ング回路を示すブロック図、第５図は同タイミング回路
の動作を示すタイミングチャートである。 １……光ディスク、４……分割型光検出器、６……時分
割選択手段、８……電圧制御増幅器、9,10……サンプル
・ホールド回路、11,12……制御装置、14,16……利得制
御ループ。
Claims (1)
- 【請求項１】光ディスクに光ビームを照射して情報の記
録又は再生を行う光ディスク装置において、前記光ディ
スクからの反射光を受光する少なくとも第１の光電変換
素子及び第２の光電変換素子を含む分割型光検出器と、
前記第１の光電変換素子の出力信号と前記第２の光電変
換素子の出力信号とを時分割的に選択する時分割選択手
段と、この時分割選択手段の出力信号が入力される電圧
制御増幅器と、この電圧制御増幅器の出力信号を前記時
分割選択手段が前記第１の光電変換素子の出力信号を選
択している期間であってその初めから一定時間経過後に
サンプリングする第１のサンプル・ホールド回路と、前
記電圧制御増幅器の出力信号を前記時分割選択手段が前
記第２の光電変換素子の出力信号を選択している期間で
あってその初めから一定時間経過後にサンプリングする
第２のサンプル・ホールド回路と、この第２のサンプル
・ホールド回路の出力信号と前記第１のサンプル・ホー
ルド回路の出力信号を加算してその加算結果が基準電圧
に等しくなるように前記電圧制御増幅器のゲインを制御
する利得制御ループと、前記第１のサンプル・ホールド
回路の出力信号と前記第２のサンプル・ホールド回路の
出力信号との差を演算してトラッキング誤差信号あるい
はフォーカス誤差信号を得この信号に基づいて前記光デ
ィスクにおける前記光ビームのトラッキング状態あるい
はフォーカス状態を制御する制御装置とを備えたことを
特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63085713A JP2682635B2 (ja) | 1988-04-07 | 1988-04-07 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63085713A JP2682635B2 (ja) | 1988-04-07 | 1988-04-07 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01258235A JPH01258235A (ja) | 1989-10-16 |
| JP2682635B2 true JP2682635B2 (ja) | 1997-11-26 |
Family
ID=13866471
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63085713A Expired - Fee Related JP2682635B2 (ja) | 1988-04-07 | 1988-04-07 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2682635B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6778345B1 (en) * | 2000-02-14 | 2004-08-17 | Stmicroelectronics, Inc. | Circuit and method for controlling the gain of an amplifier |
| US6867941B1 (en) * | 2000-02-14 | 2005-03-15 | Stmicroelectronics, Inc. | Circuit and method for controlling the gain of an amplifier based on the sum of samples of the amplified signal |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52134704A (en) * | 1976-05-06 | 1977-11-11 | Teac Co | Optical recorder/reproducer unit |
| JPS61199245A (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | サ−ボゲイン制御装置 |
-
1988
- 1988-04-07 JP JP63085713A patent/JP2682635B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01258235A (ja) | 1989-10-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |