JP2678237B2 - 光ファイバハブおよびその試験方法 - Google Patents
光ファイバハブおよびその試験方法Info
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は光データ通信ネットワーク特にその光ファイ
バハブおよびその自己診断試験方法に関する。
バハブおよびその自己診断試験方法に関する。
（従来の技術） 光ファイバケーブルは同軸電気ケーブル、およびロー
カルエリアネットワーク（以下、LANという）その他の
データ通信装置に使用することを望ましくする他のハー
ドウエアデータ伝送媒体より優れたいくつかの重要な利
点を有する。たとえば、光ファイバケーブルは電磁ノイ
ズおよび、ハードワイヤ装置にしばしば影響するその他
の種類の妨害に強い。また、光ファイバケーブルは電気
を伝えないから、光ファイバ装置は信頼度が高く、ケー
ブルの損傷に対してはハードワイヤ装置より強い。ま
た、ハードワイヤケーブル上の信号とは異なり、光ファ
イバケーブル上の信号は、知覚し得る遮断なしに信号の
一部を途中から取出したり、伝送の向きを変えることは
通常できず、したがって安全度が極めて高い光ファイバ
装置が得られる。
カルエリアネットワーク（以下、LANという）その他の
データ通信装置に使用することを望ましくする他のハー
ドウエアデータ伝送媒体より優れたいくつかの重要な利
点を有する。たとえば、光ファイバケーブルは電磁ノイ
ズおよび、ハードワイヤ装置にしばしば影響するその他
の種類の妨害に強い。また、光ファイバケーブルは電気
を伝えないから、光ファイバ装置は信頼度が高く、ケー
ブルの損傷に対してはハードワイヤ装置より強い。ま
た、ハードワイヤケーブル上の信号とは異なり、光ファ
イバケーブル上の信号は、知覚し得る遮断なしに信号の
一部を途中から取出したり、伝送の向きを変えることは
通常できず、したがって安全度が極めて高い光ファイバ
装置が得られる。
（発明が解決しようとする課題） 種々の装置がネットワークを通じて通信できるよう
に、LANは複数のパーソナルコンピュータその他の電子
装置を相互に接続するように機能する。典型的な光ファ
イバLANは、離れている複数の「ノード」を１つまたは
複数の光ファイバハブへインターフエイスする離れてい
る複数の光インターフエイスを含む。遠隔の各ノード
は、たとえば、LAN制御器によりインターフエイスされ
るパーソナルコンピュータ（PC）を含み、各ハブは、適
切なハブLAN処理回路へ接続される複数のハブLAN光イン
ターフエイスを含む。遠隔の各光インターフエイスと各
ハブ光インターフエイスは受光部と送光部を含む。ま
た、当業者であれば知っているように、遠隔のノードか
らのデータは、それに関連する遠隔の光インターフエイ
スの送光部により、ある長さの光ファイバケーブルを介
して対応するハブ光インターフエイスの受光部へ送ら
れ、ハブLAN処理回路により処理されてから、ハブ光イ
ンターフエイスの送光部によりLANを介して再び送られ
る。
に、LANは複数のパーソナルコンピュータその他の電子
装置を相互に接続するように機能する。典型的な光ファ
イバLANは、離れている複数の「ノード」を１つまたは
複数の光ファイバハブへインターフエイスする離れてい
る複数の光インターフエイスを含む。遠隔の各ノード
は、たとえば、LAN制御器によりインターフエイスされ
るパーソナルコンピュータ（PC）を含み、各ハブは、適
切なハブLAN処理回路へ接続される複数のハブLAN光イン
ターフエイスを含む。遠隔の各光インターフエイスと各
ハブ光インターフエイスは受光部と送光部を含む。ま
た、当業者であれば知っているように、遠隔のノードか
らのデータは、それに関連する遠隔の光インターフエイ
スの送光部により、ある長さの光ファイバケーブルを介
して対応するハブ光インターフエイスの受光部へ送ら
れ、ハブLAN処理回路により処理されてから、ハブ光イ
ンターフエイスの送光部によりLANを介して再び送られ
る。
多くの公知の光ファイバハブの大きな欠点は、データ
通信ネットワークにまず組込み、このネットワークを介
してPCその他の外部装置へ接続しなければ、それらの光
ファイバハブが正しく動作しているかどうかを試験する
ことを容易に行えないことである。このレベルにおける
ハブの試験は、試験を行う技術者がコンピュータの端末
装置その他の外部装置を操作できること、および多くの
場合にハブ中の障害を識別することを一層困難にするか
ら、このレベルにおけるハブの試験は完全に満足できる
ものではない。
通信ネットワークにまず組込み、このネットワークを介
してPCその他の外部装置へ接続しなければ、それらの光
ファイバハブが正しく動作しているかどうかを試験する
ことを容易に行えないことである。このレベルにおける
ハブの試験は、試験を行う技術者がコンピュータの端末
装置その他の外部装置を操作できること、および多くの
場合にハブ中の障害を識別することを一層困難にするか
ら、このレベルにおけるハブの試験は完全に満足できる
ものではない。
試験機能を一体に有する光ファイバハブの試験によ
り、各種の試験を行えるようにする融通性を持たせる一
層効率の高い製造技術が得られる。
り、各種の試験を行えるようにする融通性を持たせる一
層効率の高い製造技術が得られる。
（課題を解決するための手段） 本発明は、光ファイバハブおよびこのハブに接続され
ている光ファイバケーブルの効率的なオフライン試験
を、ハブをデータ通信ネットワークに組込むことなしに
行えるようにする内部自己診断機能およびケーブル試験
機能を含むLANおよびその他のデータ通信装置用の光フ
ァイバハブを提供するものである。
ている光ファイバケーブルの効率的なオフライン試験
を、ハブをデータ通信ネットワークに組込むことなしに
行えるようにする内部自己診断機能およびケーブル試験
機能を含むLANおよびその他のデータ通信装置用の光フ
ァイバハブを提供するものである。
本発明によれば、受光部と送光部をおのおの含む複数
の光インターフエイスと、受光部により受けられたデー
タ信号を処理し、処理されたデータ信号を送光部で送る
ために処理されたデータ信号を送光部へ供給するために
前記複数の光インターフエイスへ電気的に接続されるハ
ブ処理回路とを備えるデータ通信ネットワーク用の光フ
ァイバハブにおいて、前記ハブは少くとも１つの光イン
ターフエイスの送光部から送る試験信号を発生する試験
信号源と、光インターフエイスの受光部により受けられ
た送られた試験信号を検出する試験信号検出器とを更に
含み、その試験信号検出器は、前記受けられた試験信号
が前記送られた試験信号と異なる時を検出する手段を含
むデータ通信ネットワーク用の光ファイバハブが得られ
る。
の光インターフエイスと、受光部により受けられたデー
タ信号を処理し、処理されたデータ信号を送光部で送る
ために処理されたデータ信号を送光部へ供給するために
前記複数の光インターフエイスへ電気的に接続されるハ
ブ処理回路とを備えるデータ通信ネットワーク用の光フ
ァイバハブにおいて、前記ハブは少くとも１つの光イン
ターフエイスの送光部から送る試験信号を発生する試験
信号源と、光インターフエイスの受光部により受けられ
た送られた試験信号を検出する試験信号検出器とを更に
含み、その試験信号検出器は、前記受けられた試験信号
が前記送られた試験信号と異なる時を検出する手段を含
むデータ通信ネットワーク用の光ファイバハブが得られ
る。
本発明の好適な実施例によれば、試験信号源はパルス
の連続した流れを含む試験信号を発生し、試験信号検出
器は受けた試験信号を監視し、試験されている光インタ
ーフエイス中の障害を示す受信信号中の失われたパルス
の発生を検出する手段を含む。試験信号発生器は、ハブ
ハウジング上の誤り指示発光ダイオードを点灯して、障
害が検出された時に技術者に注意する手段も含む。
の連続した流れを含む試験信号を発生し、試験信号検出
器は受けた試験信号を監視し、試験されている光インタ
ーフエイス中の障害を示す受信信号中の失われたパルス
の発生を検出する手段を含む。試験信号発生器は、ハブ
ハウジング上の誤り指示発光ダイオードを点灯して、障
害が検出された時に技術者に注意する手段も含む。
ハブ処理回路に通常組込まれて、データ信号が２つま
たはそれ以上のハブ光インターフエイスにより同時に受
けられた時にジャミング信号を発生するジャミング信号
発生器から試験信号を取出すことが好ましい。
たはそれ以上のハブ光インターフエイスにより同時に受
けられた時にジャミング信号を発生するジャミング信号
発生器から試験信号を取出すことが好ましい。
本発明によると、ハブは、各光インターフエイスの送
光部により試験信号が送られる第１の試験モードと、た
だ１つの光インターフエイスの送光部により試験信号が
送られる第２の試験モードとを含む。選択される試験モ
ードは行うべき試験の性質に依存する。ハブ光インター
フエイスの送光部と受光部を試験するために、たとえ
ば、各光インターフエイスの送光部から試験信号が送ら
れるようにハブは第１の試験モードで動作させられる。
光ファイバケーブルが任意のインターフエイスの送光部
から他の任意のインターフエイスの受光部へ戻される。
インターフエイスにどのような障害が生じても誤り指示
発光ダイオードが付勢される。
光部により試験信号が送られる第１の試験モードと、た
だ１つの光インターフエイスの送光部により試験信号が
送られる第２の試験モードとを含む。選択される試験モ
ードは行うべき試験の性質に依存する。ハブ光インター
フエイスの送光部と受光部を試験するために、たとえ
ば、各光インターフエイスの送光部から試験信号が送ら
れるようにハブは第１の試験モードで動作させられる。
光ファイバケーブルが任意のインターフエイスの送光部
から他の任意のインターフエイスの受光部へ戻される。
インターフエイスにどのような障害が生じても誤り指示
発光ダイオードが付勢される。
本発明の別の面によれば、予め設置されているケーブ
ルを分類し、それらの予め設置されているケーブルのコ
ネクタの極性を調べ、コネクタで接続されている光ファ
イバケーブルの損失の限界を評価するために光ファイバ
ハブを使用できる。
ルを分類し、それらの予め設置されているケーブルのコ
ネクタの極性を調べ、コネクタで接続されている光ファ
イバケーブルの損失の限界を評価するために光ファイバ
ハブを使用できる。
本発明の光ファイバハブは、２層ネットワーク中の下
側ティアハブにより開始される上側ティアハブの応答を
試験するためにも使用できる。
側ティアハブにより開始される上側ティアハブの応答を
試験するためにも使用できる。
（実 施 例） 以下、図面を参照して本発明を詳しく説明する。
第１図は、本発明の好適な実施例に従って内部試験機
能を持つ光ファイバハブを含む、１層光ファイバLANを
示す略図である。LANは参照符号15で全体的に示されて
おり、複数の遠隔光インターフエイス28a〜28pを含む。
それらの光インターフエイスは16個の遠隔のノード20a
〜20pを遠隔のインターフエイスを光ファイバハブ10へ
接続する光ファイバケーブル（図示せず）を介して、光
ファイバハブ10に対してインターフエイスする。遠隔の
各ノードは、米国インテル社82588 LAN制御器のようなL
AN制御器27へインターフエイスされる、米国IBM社のパ
ーソナルコンピュータ（PC）のような従来のPC25をたと
えば有することができる。
能を持つ光ファイバハブを含む、１層光ファイバLANを
示す略図である。LANは参照符号15で全体的に示されて
おり、複数の遠隔光インターフエイス28a〜28pを含む。
それらの光インターフエイスは16個の遠隔のノード20a
〜20pを遠隔のインターフエイスを光ファイバハブ10へ
接続する光ファイバケーブル（図示せず）を介して、光
ファイバハブ10に対してインターフエイスする。遠隔の
各ノードは、米国インテル社82588 LAN制御器のようなL
AN制御器27へインターフエイスされる、米国IBM社のパ
ーソナルコンピュータ（PC）のような従来のPC25をたと
えば有することができる。
ハブ10は16個の光インターフエイス30a〜30pを含む。
それらの光インターフエイス30a〜30pは遠隔の光インタ
ーフエイス28a〜28pに対応する。ハブ10は、各光インタ
ーフエイス30a〜30pへ電気的に双方向接続される適当な
LAN処理回路32も含む。
それらの光インターフエイス30a〜30pは遠隔の光インタ
ーフエイス28a〜28pに対応する。ハブ10は、各光インタ
ーフエイス30a〜30pへ電気的に双方向接続される適当な
LAN処理回路32も含む。
各ハブ光インターフエイス30a〜30pは受光部36と送光
部37を含む。同様に、各遠隔光インターフエイスは受光
部38と送光部39を含む。任意のノードから、それに関連
する光インターフエイスの送光部39を介して送られたデ
ータ信号は、対応するハブ光インターフエイスの受光部
36により受けられ、ハブLAN処理回路32へ供給される。
ハブLAN処理回路32は、当業者が知っているように、残
りのハブ光インターフエイスの送光部を介してノードか
ら受けたデータ信号を、ネットワーク内の他の全てのノ
ードへ送り返すパルス再生器すなわち中継回路を含む。
部37を含む。同様に、各遠隔光インターフエイスは受光
部38と送光部39を含む。任意のノードから、それに関連
する光インターフエイスの送光部39を介して送られたデ
ータ信号は、対応するハブ光インターフエイスの受光部
36により受けられ、ハブLAN処理回路32へ供給される。
ハブLAN処理回路32は、当業者が知っているように、残
りのハブ光インターフエイスの送光部を介してノードか
ら受けたデータ信号を、ネットワーク内の他の全てのノ
ードへ送り返すパルス再生器すなわち中継回路を含む。
ハブ光インターフエイス30a〜30pの受光部と送光部、
およびハブLAN処理回路32は全体として従来の構造のも
のとすることができるから、ここではそれの詳細につい
ての説明は省く。基本的には、各ハブ光インターフエイ
スの受光部は、対応する遠隔の光インターフエイスの送
光部から送られた光信号を受ける適当な感光性受光器
と、ハブLAN処理回路へ送る対応する電気信号を発生す
る適切な回路とを含む。各ハブ光インターフエイスの送
光部は、ハブLAN処理回路からデジタルデータを受け、
発光ダイオードを駆動して、光ファイバケーブルを介し
てネットワーク内の他のノードの遠隔の光インターフエ
イスの受光部へ光ファイバケーブルを介して送るデジタ
ル符号化された光信号を発生するために発光ダイオード
を駆動する回路を含む。適当なハブ光インターフエイス
（および適当な遠隔の光インターフエイス）の回路が、
本願出願人へ譲渡された1986年11月17日付の「オプチカ
ル・インターフエイス」という名称の米国特許出願第93
1,578号明細書に詳しく記載されている。
およびハブLAN処理回路32は全体として従来の構造のも
のとすることができるから、ここではそれの詳細につい
ての説明は省く。基本的には、各ハブ光インターフエイ
スの受光部は、対応する遠隔の光インターフエイスの送
光部から送られた光信号を受ける適当な感光性受光器
と、ハブLAN処理回路へ送る対応する電気信号を発生す
る適切な回路とを含む。各ハブ光インターフエイスの送
光部は、ハブLAN処理回路からデジタルデータを受け、
発光ダイオードを駆動して、光ファイバケーブルを介し
てネットワーク内の他のノードの遠隔の光インターフエ
イスの受光部へ光ファイバケーブルを介して送るデジタ
ル符号化された光信号を発生するために発光ダイオード
を駆動する回路を含む。適当なハブ光インターフエイス
（および適当な遠隔の光インターフエイス）の回路が、
本願出願人へ譲渡された1986年11月17日付の「オプチカ
ル・インターフエイス」という名称の米国特許出願第93
1,578号明細書に詳しく記載されている。
第２図は２タイヤ光ファイバLAN35を示す略図であ
る。２層LAN35は第２のタイヤ光ファイバハブ45と、16
個の第１のティア光ファイバハブ50a〜50pとを有する。
各第１のティアハブ50a〜50pは、第１図に示されている
のと同一の16個の光インターフエイス30a〜30pと、第１
図に示されているものと同一で、ハブ光インターフエイ
ス30a〜30pへ電気的に双方向接続される従来のハブLAN
処理回路32とを含む。各第１のティアハブ50a〜50pの16
個の光インターフエイスは16個の対応する遠隔の光イン
ターフエイス52a〜52pとインターフエイスする。各第１
のティアハブ50a〜50pの１つの光インターフエイスは、
第２のティアハブ45の対応する光インターフエイスを持
つ専用のインターフエイスを提供する。
る。２層LAN35は第２のタイヤ光ファイバハブ45と、16
個の第１のティア光ファイバハブ50a〜50pとを有する。
各第１のティアハブ50a〜50pは、第１図に示されている
のと同一の16個の光インターフエイス30a〜30pと、第１
図に示されているものと同一で、ハブ光インターフエイ
ス30a〜30pへ電気的に双方向接続される従来のハブLAN
処理回路32とを含む。各第１のティアハブ50a〜50pの16
個の光インターフエイスは16個の対応する遠隔の光イン
ターフエイス52a〜52pとインターフエイスする。各第１
のティアハブ50a〜50pの１つの光インターフエイスは、
第２のティアハブ45の対応する光インターフエイスを持
つ専用のインターフエイスを提供する。
第２のティアハブ45は、第１のティアハブ50a〜50pに
おける光インターフエイスと同一光のインターフエイス
を16個、30a〜30p含む。各第２のティアハブ光インター
フエイス30a〜30pは１つの第１のティアハブ50a〜50p
を、第１のティアハブ50a〜50pの対応する専用の光イン
ターフエイスを介して、第２のティアハブ45にインター
フエイスする。第２のティアハブ45は、第１図に示され
ているのと同一の従来のハブLAN処理回路32も含む。
おける光インターフエイスと同一光のインターフエイス
を16個、30a〜30p含む。各第２のティアハブ光インター
フエイス30a〜30pは１つの第１のティアハブ50a〜50p
を、第１のティアハブ50a〜50pの対応する専用の光イン
ターフエイスを介して、第２のティアハブ45にインター
フエイスする。第２のティアハブ45は、第１図に示され
ているのと同一の従来のハブLAN処理回路32も含む。
第２図の２層LAN35により240個所までの遠隔のノード
を一緒に結合できることがわかるであろう。LANのティ
アの数を増すか、より多くの光インターフエイスを有す
るハブを設けることにより一層多くのノードを結合でき
ること、および本発明は特定のLAN構成またはハブの容
量に制限されるべきでないことも理解すべきである。
を一緒に結合できることがわかるであろう。LANのティ
アの数を増すか、より多くの光インターフエイスを有す
るハブを設けることにより一層多くのノードを結合でき
ること、および本発明は特定のLAN構成またはハブの容
量に制限されるべきでないことも理解すべきである。
当業であれば知っているように、ハブLAN処理回路32
は、２つ以上のハブ光インターフエイスを介して信号が
同時に受けられた時に衝突を検出する衝突検出器と、衝
突が検出された時だけ、各ノードへ送られるジャミング
信号を発生するジャミング信号発生器とを典型的に含
む。本発明に従って、ハブLAN回路32に通常含まれるジ
ャミング信号発生器は、試験信号を取出すために用いら
れる。その試験信号は、ハブが試験モードで動作してい
る時に、データ通信ネットワークにハブを組込む必要な
しにハブ光インターフエイスの送光部と受光部を試験
し、予め敷設されている光ケーブルとケーブルのコネク
タを試験する手段を提供するものである。
は、２つ以上のハブ光インターフエイスを介して信号が
同時に受けられた時に衝突を検出する衝突検出器と、衝
突が検出された時だけ、各ノードへ送られるジャミング
信号を発生するジャミング信号発生器とを典型的に含
む。本発明に従って、ハブLAN回路32に通常含まれるジ
ャミング信号発生器は、試験信号を取出すために用いら
れる。その試験信号は、ハブが試験モードで動作してい
る時に、データ通信ネットワークにハブを組込む必要な
しにハブ光インターフエイスの送光部と受光部を試験
し、予め敷設されている光ケーブルとケーブルのコネク
タを試験する手段を提供するものである。
第３図は、ハブLAN処理回路中の衝突検出器により衝
突が検出された時に、ジャミング信号を発生するのに用
いるために、従来のハブLAN処理回路に通常組込まれる
発振器61を示す。この発振器61はゲート62と、抵抗63
と、コンデンサ64とで形成され、線66上に6MHzの信号を
発生する。その信号はカウンタ67により1.5MHzの信号に
分周されてからフリップフロップ68へ供給される。この
フリップフロップ68は、ゲート69で構成されている遅延
線とともに、クロック信号の正の遷移ごとに130ns幅の
パルスを発生する。それらのパルスはパルスの連続した
流れを構成し、ゲート71aピン９と10においてハブLAN処
理回路32により通常受けられて処理されるデータの経路
中に挿入される。したがって線72へのゲート71の出力は
パルスの連続した流れを構成する。それらのパルスは、
前記米国特許出願第931,578号に詳しく開示されている
ハブ光インターフエイスの送光部の発光ダイオードドラ
イバへ送られる。
突が検出された時に、ジャミング信号を発生するのに用
いるために、従来のハブLAN処理回路に通常組込まれる
発振器61を示す。この発振器61はゲート62と、抵抗63
と、コンデンサ64とで形成され、線66上に6MHzの信号を
発生する。その信号はカウンタ67により1.5MHzの信号に
分周されてからフリップフロップ68へ供給される。この
フリップフロップ68は、ゲート69で構成されている遅延
線とともに、クロック信号の正の遷移ごとに130ns幅の
パルスを発生する。それらのパルスはパルスの連続した
流れを構成し、ゲート71aピン９と10においてハブLAN処
理回路32により通常受けられて処理されるデータの経路
中に挿入される。したがって線72へのゲート71の出力は
パルスの連続した流れを構成する。それらのパルスは、
前記米国特許出願第931,578号に詳しく開示されている
ハブ光インターフエイスの送光部の発光ダイオードドラ
イバへ送られる。
第４図に示すように、ハブはハウジング102の中に納
められる。そのハウジングはスイッチ105を有し、その
スイッチは複数のハブ動作位置にセットできる。それら
のハブ動作位置は、各ハブインターフエイス28a〜28pか
ら試験信号が同時に送られる第１の試験モードと、行う
試験の性質に応じたただ１つの所定のハブインターフエ
イスから試験信号が送られる第２の試験モードとを含
む。ある試験モードにおいては、ハブ光インターフエイ
スの送光部の出力は連続するビットの流れを構成する。
そのビットの流れは、インターフエイスに接続されてい
る光ファイバケーブルを介して光学的に送ることができ
る。
められる。そのハウジングはスイッチ105を有し、その
スイッチは複数のハブ動作位置にセットできる。それら
のハブ動作位置は、各ハブインターフエイス28a〜28pか
ら試験信号が同時に送られる第１の試験モードと、行う
試験の性質に応じたただ１つの所定のハブインターフエ
イスから試験信号が送られる第２の試験モードとを含
む。ある試験モードにおいては、ハブ光インターフエイ
スの送光部の出力は連続するビットの流れを構成する。
そのビットの流れは、インターフエイスに接続されてい
る光ファイバケーブルを介して光学的に送ることができ
る。
第３図は、本発明のハブ10に組込まれている試験信号
検出器回路80も示す。ハブがある試験モードで動作して
いる時は、ハブ光インターフエイスの受光部から来る全
てのデータはゲート81のピン４と５を介してカウンタ82
へ送られ、そのカウンタをクリヤする。試験信号を発生
するために用いられる発振器61によりカウンタ82はクロ
ックされる。カウンタ82もゲート83は、ハブ光インター
フエイスの受光部により受けられた信号のための消失パ
ルス検出器を構成する。受けた信号中で失われたパルス
はカウンタ82を５カウントだけ歩進させる。その歩進は
ゲート84で検出され、その結果としてワンショット86の
ためのトリガパルスが発生される。そのトリガパルス
は、ハブハウジング102（第４図）の前面パネル101に設
けられている誤り指示発光ダイオード87を100ms間発光
させて、消失したパルスの存在を指示させ、したがっ
て、試験されているハブの光インターフエイスの回路に
障害が生じていることを技術者に知らせる。
検出器回路80も示す。ハブがある試験モードで動作して
いる時は、ハブ光インターフエイスの受光部から来る全
てのデータはゲート81のピン４と５を介してカウンタ82
へ送られ、そのカウンタをクリヤする。試験信号を発生
するために用いられる発振器61によりカウンタ82はクロ
ックされる。カウンタ82もゲート83は、ハブ光インター
フエイスの受光部により受けられた信号のための消失パ
ルス検出器を構成する。受けた信号中で失われたパルス
はカウンタ82を５カウントだけ歩進させる。その歩進は
ゲート84で検出され、その結果としてワンショット86の
ためのトリガパルスが発生される。そのトリガパルス
は、ハブハウジング102（第４図）の前面パネル101に設
けられている誤り指示発光ダイオード87を100ms間発光
させて、消失したパルスの存在を指示させ、したがっ
て、試験されているハブの光インターフエイスの回路に
障害が生じていることを技術者に知らせる。
本発明により、ハブを完全なデータ通信ネットワーク
に組込む必要なしに、複数の試験をオフラインで効率的
に行うことができる。たとえば、ハブ光インターフエイ
スの送光部または受光部を試験するために、各ハブ光イ
ンターフエイス30a〜30pの送光部から試験信号が送られ
るように、ハブモードスイッチ105は第１の試験モード
位置へ動かされる。最初に、各ハブ光インターフエイス
の送光部の送光発光ダイオードが動作しているかどうか
を調べられる。その後で、いずれかの光インターフエイ
スからの試験信号が他の任意の光インターフエイスの受
光部へ、既知の品質の光ファイバケーブルを用いて戻さ
れる。その戻される時の損失は許容できる値である。そ
れから、誤り指示発光ダイオード87が発光しているかど
うかを調べるために、その発光ダイオードが観察され
る。その発光ダイオード87が発光しておれば、受けた試
験信号中の失われたパルスと、試験されている光インタ
ーフエイスにおける問題とが示される。１つの光インタ
ーフエイスの送光部から送り返えられた試験信号を別の
光インターフエイスの受光部へ順次循環させることによ
り、各光インターフエイスを容易に試験できる。
に組込む必要なしに、複数の試験をオフラインで効率的
に行うことができる。たとえば、ハブ光インターフエイ
スの送光部または受光部を試験するために、各ハブ光イ
ンターフエイス30a〜30pの送光部から試験信号が送られ
るように、ハブモードスイッチ105は第１の試験モード
位置へ動かされる。最初に、各ハブ光インターフエイス
の送光部の送光発光ダイオードが動作しているかどうか
を調べられる。その後で、いずれかの光インターフエイ
スからの試験信号が他の任意の光インターフエイスの受
光部へ、既知の品質の光ファイバケーブルを用いて戻さ
れる。その戻される時の損失は許容できる値である。そ
れから、誤り指示発光ダイオード87が発光しているかど
うかを調べるために、その発光ダイオードが観察され
る。その発光ダイオード87が発光しておれば、受けた試
験信号中の失われたパルスと、試験されている光インタ
ーフエイスにおける問題とが示される。１つの光インタ
ーフエイスの送光部から送り返えられた試験信号を別の
光インターフエイスの受光部へ順次循環させることによ
り、各光インターフエイスを容易に試験できる。
本発明のハブにより、既に敷設されている光ファイバ
ケーブルも試験できる。たとえば、既に敷設されている
光ファイバケーブルを分類するために、モード選択スイ
ッチ105が第２の試験モード位置へ動かされることによ
り、試験信号は１つの光インターフエイスだけから試験
信号は送られる。既に敷設されている各光ファイバケー
ブルの一端を光インターフエイスへ順次取付け、どれが
点灯されているかを知るためにケーブルの他端を観察す
ることにより、各ケーブルを分類することは簡単なこと
になる。
ケーブルも試験できる。たとえば、既に敷設されている
光ファイバケーブルを分類するために、モード選択スイ
ッチ105が第２の試験モード位置へ動かされることによ
り、試験信号は１つの光インターフエイスだけから試験
信号は送られる。既に敷設されている各光ファイバケー
ブルの一端を光インターフエイスへ順次取付け、どれが
点灯されているかを知るためにケーブルの他端を観察す
ることにより、各ケーブルを分類することは簡単なこと
になる。
既設の光ファイバケーブルのコネクタの極性を調べる
ために、全ての光インターフエイスから試験信号が送ら
れる第１の試験モードへスイッチ105は動かされる。そ
うすると、光ファイバコネクタの正しい取付けをユーザ
ーの居る場所で視覚的に確認できる。
ために、全ての光インターフエイスから試験信号が送ら
れる第１の試験モードへスイッチ105は動かされる。そ
うすると、光ファイバコネクタの正しい取付けをユーザ
ーの居る場所で視覚的に確認できる。
本発明により、２層装置における試験すべき下側ティ
アハブにより開始される上側ティアハブ応答も許される
（第２図）。この試験を行うために、試験パターンが１
つの光インターフエイスから送られる第２の試験モード
位置へハブモード選択スイッチ105は動かされる（その
１つの光インターフエイスは、下側ティアハブを上側テ
ィアハブへ接続するために用いられる専用の光インター
フエイスである）。ハブの送光光インターフエイスと動
作している上側ティアハブの専用の光インターフエイス
の間にケーブル接続が存在するものとすると、上側ティ
アハブの残りの光インターフエイスの全ての送光発光ダ
イオードがオンであることが初めに観察される。その後
で、送られた光が、既知の品質の光ファイバケーブルを
用いて、上側ティアハブの任意の自由な光インターフエ
イスの間に許容できる損失で戻され、上側ティアハブの
各光インターフエイスを試験する。
アハブにより開始される上側ティアハブ応答も許される
（第２図）。この試験を行うために、試験パターンが１
つの光インターフエイスから送られる第２の試験モード
位置へハブモード選択スイッチ105は動かされる（その
１つの光インターフエイスは、下側ティアハブを上側テ
ィアハブへ接続するために用いられる専用の光インター
フエイスである）。ハブの送光光インターフエイスと動
作している上側ティアハブの専用の光インターフエイス
の間にケーブル接続が存在するものとすると、上側ティ
アハブの残りの光インターフエイスの全ての送光発光ダ
イオードがオンであることが初めに観察される。その後
で、送られた光が、既知の品質の光ファイバケーブルを
用いて、上側ティアハブの任意の自由な光インターフエ
イスの間に許容できる損失で戻され、上側ティアハブの
各光インターフエイスを試験する。
第４図はハブ10のハウジング102の前面パネル101を示
す。図示のように、この前面パネルは、８個のハブ光イ
ンターフエイスを遠隔のノードへ接続するための８個の
ポート115を含む。ハウジングの裏面パネルには別に８
個のポートが設けられる。前面パネルは、種々のハブ動
作モードを指示するための４個の発光ダイオード111、1
12、113、87も含む。第１の試験モードで動作している
時は、発光ダイオード111と113は連続発光する。受けた
試験信号中に失われたパルスが検出された時だけ発光ダ
イオード87が発光する。第２の試験モードで動作してい
る時は、発光ダイオード111、112、113が常時発光し、
試験信号中の消失したパルスが検出された時だけ発光ダ
イオード87が発光する。このようにして、ハブが動作し
ているモードと、行われる試験の結果とを技術者は常に
完全に知らされる。
す。図示のように、この前面パネルは、８個のハブ光イ
ンターフエイスを遠隔のノードへ接続するための８個の
ポート115を含む。ハウジングの裏面パネルには別に８
個のポートが設けられる。前面パネルは、種々のハブ動
作モードを指示するための４個の発光ダイオード111、1
12、113、87も含む。第１の試験モードで動作している
時は、発光ダイオード111と113は連続発光する。受けた
試験信号中に失われたパルスが検出された時だけ発光ダ
イオード87が発光する。第２の試験モードで動作してい
る時は、発光ダイオード111、112、113が常時発光し、
試験信号中の消失したパルスが検出された時だけ発光ダ
イオード87が発光する。このようにして、ハブが動作し
ているモードと、行われる試験の結果とを技術者は常に
完全に知らされる。
第１図および第２図は本発明の理解を助けるための１層
光ファイバLANと２層光ファイバLANをそれぞれ示すブロ
ック図、第3A図および第3B図は本発明の好適な実施例に
よる光ファイバハブの試験信号源と試験信号検出器をそ
れぞれ示す電気回路図、第４図は本発明の光ファイバハ
ブのハウジングの正面図である。 10……光ファイバハブ 25……PC 27……LAN制御器 28a〜28p……遠隔の光インターフエイス 30a〜30p……光インターフエイス 32……ハブ処理回路 36……受光部 37……送光部 61……試験信号源 80……試験信号検出器
光ファイバLANと２層光ファイバLANをそれぞれ示すブロ
ック図、第3A図および第3B図は本発明の好適な実施例に
よる光ファイバハブの試験信号源と試験信号検出器をそ
れぞれ示す電気回路図、第４図は本発明の光ファイバハ
ブのハウジングの正面図である。 10……光ファイバハブ 25……PC 27……LAN制御器 28a〜28p……遠隔の光インターフエイス 30a〜30p……光インターフエイス 32……ハブ処理回路 36……受光部 37……送光部 61……試験信号源 80……試験信号検出器
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭53−75704（ＪＰ，Ａ) 特開 昭56−98948（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−60843（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−234（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−196034（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−100046（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−264750（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】各々受光部、送光部を有する複数の光イン
ターフエイスと、該光インターフェイスに電気的に接続
され、前記受光部が受信したデータ信号を処理すると共
に前記送光部に処理したデータ信号を送信するハブ処理
回路とを含み、 前記送光部の１つから送信される試験信号を発生する試
験信号源と、 前記受光部の１つにより受信された前記試験信号を検出
し、受信した試験信号と送信された試験信号との異同を
検出する試験信号検出器と、 を具えることを特徴とする光ファイバハブ。 - 【請求項２】各々受光部および送光部を有する複数の光
インターフェイスと、該インターフェイスに電気的に接
続され、前記受光部で受信したデータ信号を処理すると
共に処理されたデータ信号を前記送光部へ送信するハブ
処理回路とを含む光ファイバハブの試験方法において、 前記ハブ処理回路の試験信号発生器から試験信号を得る
工程と、 前記送光部の１つから前記試験信号を送信する工程と、 前記送光部の１つから前記受光部の１つへ光ファイバケ
ーブルを接続する工程と、 前記受光部の１つにより受信した前記試験信号を検出す
る工程と、 前記受信した試験信号が送信した試験信号と異なるとき
エラー表示する工程と、 を有することを特徴とする光ファイバハブの試験方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/115,669 US4850045A (en) | 1987-11-02 | 1987-11-02 | Method and apparatus for testing fiber optic hubs |
| US115669 | 1987-11-02 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01154653A JPH01154653A (ja) | 1989-06-16 |
| JP2678237B2 true JP2678237B2 (ja) | 1997-11-17 |
Family
ID=22362759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63277194A Expired - Fee Related JP2678237B2 (ja) | 1987-11-02 | 1988-11-01 | 光ファイバハブおよびその試験方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4850045A (ja) |
| EP (1) | EP0315331B1 (ja) |
| JP (1) | JP2678237B2 (ja) |
| AU (1) | AU608907B2 (ja) |
| DE (1) | DE3869325D1 (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1277721C (en) * | 1988-01-12 | 1990-12-11 | Shawn Joseph Morrison | Method and apparatus for detecting a narrowband signal |
| US5150243A (en) * | 1989-06-12 | 1992-09-22 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for monitoring an optical network interface |
| AU1197692A (en) * | 1991-01-16 | 1992-08-27 | Bicc Communications, Inc. | Apparatus and method for automatically reconfiguring free space local area network systems |
| US5247381A (en) * | 1991-01-16 | 1993-09-21 | Infralan Technologies, Inc. | Apparatus and method for automatically reconfiguring, free space local area network systems |
| US5546325A (en) * | 1993-02-04 | 1996-08-13 | International Business Machines Corporation | Automated system, and corresponding method, for testing electro-optic modules |
| US5815295A (en) * | 1993-03-11 | 1998-09-29 | Lucent Technologies Inc. | Optical communication system with improved maintenance capabilities |
| US5461228A (en) * | 1994-04-07 | 1995-10-24 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Optical inspection of container dimensional parameters using a telecentric lens |
| US5541759A (en) * | 1995-05-09 | 1996-07-30 | Microsym Computers, Inc. | Single fiber transceiver and network |
| GB2315938B (en) * | 1996-08-01 | 2001-02-28 | Northern Telecom Ltd | Optical transmission system fault analysis |
| US6721508B1 (en) | 1998-12-14 | 2004-04-13 | Tellabs Operations Inc. | Optical line terminal arrangement, apparatus and methods |
| US7181138B1 (en) * | 1998-12-14 | 2007-02-20 | Tellabs Operations, Inc. | Optical network connection test apparatus and methods |
| US6941071B2 (en) * | 2001-05-25 | 2005-09-06 | International Business Machines Corporation | Test method and apparatus for parallel optical transceivers using serial equipment |
| US20030083838A1 (en) * | 2001-10-31 | 2003-05-01 | Barrett Richard M. | Wireless test and measurement method |
| US7599618B2 (en) * | 2005-01-06 | 2009-10-06 | Circadiant Systems, Inc. | Method and apparatus for self-testing of test equipment |
| US8116638B2 (en) * | 2006-05-30 | 2012-02-14 | Harris Corporation | Radio frequency (RF) signal receiver using optical processing and associated methods |
| US8677193B2 (en) | 2011-05-10 | 2014-03-18 | International Business Machines Corporation | Lightpath diagnostics with voice alerts |
| CN107300742A (zh) * | 2017-08-24 | 2017-10-27 | 合肥文武信息技术有限公司 | 光纤集线器 |
| TWI709310B (zh) | 2018-03-29 | 2020-11-01 | 神雲科技股份有限公司 | 網路交換裝置及其運作方法 |
| CN110474686B (zh) * | 2018-05-11 | 2022-09-16 | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 | 网络交换装置及其运作方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5811563B2 (ja) * | 1975-08-06 | 1983-03-03 | ザイダンホウジン デンリヨクチユウオウケンキユウシヨ | ヒカリフアイバ−ツウシンホウシキ |
| CA1225121A (en) * | 1982-11-05 | 1987-08-04 | Motomu Mochizuki | Optical network system of bus architecture capable of rapidly detecting collision at each communication station |
| DE3246301A1 (de) * | 1982-12-14 | 1984-06-14 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur erkennung von datenkollisionen in einem optischen datenbus |
| WO1984004638A1 (en) * | 1983-05-12 | 1984-11-22 | American Telephone & Telegraph | Communication network |
| GB2155718B (en) * | 1984-03-08 | 1987-01-28 | Standard Telephones Cables Ltd | Local area network |
| DE3435827A1 (de) * | 1984-09-28 | 1986-04-10 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Optische stern-netze fuer stochastische zugriffsverfahren |
| US4751701A (en) * | 1985-11-14 | 1988-06-14 | Hughes Network Systems, Inc. | TDM collision detector |
| DE3544137A1 (de) * | 1985-12-13 | 1987-06-19 | Siemens Ag | Anordnung zum unmittelbaren zurueckfuehren von sendedaten als empfangsdaten in einem nachrichtentechnischen geraet |
-
1987
- 1987-11-02 US US07/115,669 patent/US4850045A/en not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-10-13 EP EP88309579A patent/EP0315331B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-10-13 DE DE8888309579T patent/DE3869325D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-10-20 AU AU24055/88A patent/AU608907B2/en not_active Ceased
- 1988-11-01 JP JP63277194A patent/JP2678237B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01154653A (ja) | 1989-06-16 |
| EP0315331A1 (en) | 1989-05-10 |
| EP0315331B1 (en) | 1992-03-18 |
| AU2405588A (en) | 1989-05-04 |
| US4850045A (en) | 1989-07-18 |
| DE3869325D1 (de) | 1992-04-23 |
| AU608907B2 (en) | 1991-04-18 |
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