JP3052189B2 - 光パルス試験装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光パルスを光ファ
イバへ入射し、その光ファイバから戻ってくる光を受光
することにより、光伝送路の試験を行なう光パルス試験
装置において、複数の光伝送路の自動試験や、自己診断
を可能にするための技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】図５は、光ファイバからなる光伝送路の
試験を行なうための従来の光パルス試験装置１０の構成
を示すものである。この光パルス試験装置１０は、パル
ス状の光を出力する光パルス発生器１１と、受光器１２
と、光パルス発生器１１から出力された光パルスを光コ
ネクタ１３を介して被試験対象の光ファイバ１へ導き、
その光ファイバ１から光コネクタ１３側に戻ってくる光
（後方散乱光やフレネル反射光）を受光器１２に導く光
カプラ１４とを備えており、光パルスを出力したタイミ
ングから所定時間が経過するまでの間の受光器１２の出
力信号に基づいて、光伝送路の試験を行なう。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
たような従来の光パルス試験装置で、複数の光伝送路の
試験を同一場所で行なう場合には、コネクタ１３に１つ
の光伝送路の光ファイバを接続して試験を行い、その試
験結果を確認して問題がなければ、光ファイバを差し替
えて次の光伝送路の試験を行なう、という煩雑な作業が
必要になる。

【０００４】また、装置本体側の異常、例えば、パルス
発生器の出力低下や受光器の感度低下等があったとき
に、これを光伝送路側の異常と区別することができず、
誤った判断をしてしまうという問題もあった。

【０００５】本発明は、この課題を解決し、複数の光伝
送路の試験を光ファイバの差替え作業しないで自動的に
行なえ、また、装置本体の異常の有無を簡単に知ること
ができる光パルス試験装置を提供すること目的としてい
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の光パルス試験装置は、被試験対象の光ファ
イバを接続するための複数の接続端子と該複数の接続端
子のいずれかに光学的に接続される切替端子とを有する
光スイッチ（２１）と、前記光スイッチの複数の接続端
子の一つに接続された所定長の基準光ファイバ（２２）
と、光パルスを前記光スイッチの切替端子に入力する光
パルス発生器（２４）と、前記光スイッチの接続端子に
接続され前記光パルス発生器からの光パルスが入射され
た光ファイバから切替端子側に戻ってくる光を受光する
ための受光器（２５）と、前記受光器の出力信号を記憶
するためのメモリ（３１）と、前記光スイッチの切替端
子を複数の接続端子に対して所定順に接続させる光スイ
ッチ切替手段（３０）と、前記光パルス発生器が光パル
スを発生してから所定時間が経過するまでの間の前記受
光器の出力信号を、前記光スイッチの切替端子に接続さ
れている接続端子に対応づけて前記メモリに記憶する受
光信号記憶手段（３０）と、前記基準光ファイバが接続
されている接続端子に対応して前記メモリに記憶された
受光信号に基づいて、装置自体の診断を行なう自己診断
手段（３３）とを具備している。

【０００７】

【０００８】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の一
実施形態を説明する。図１は、一実施形態の光パルス試
験装置２０の構成を示している。この光パルス試験装置
２０は、電話回線を介して接続されたセンタ装置４０と
ともに、光伝送路の監視システムを形成するものであ
り、センタ装置４０からのスケジュール情報を受け、そ
のスケジュールにしたがって、複数の光伝送路の試験を
自動的に行い、その断線事故や劣化等の発生を検知し
て、センタ側に送るように構成されている。

【０００９】この光パルス試験装置２０には、外部から
光ファイバ１を接続するための３つのコネクタ２０ａ、
２０ｂ、２０ｃが設けられている。各コネクタ２０ａ〜
２０ｃは、１対４の光スイッチ２１に接続されている。

【００１０】光スイッチ２１は、４つの接続端子２１ａ
〜２１ｄと１つの切替端子２１ｅとを有し、後述する測
定制御部３０からの切替信号によって接続端子２１ａ〜
２１ｄのいずれかを切替端子２１ｅに光学的に接続させ
るように形成されている。この光スイッチ２１は、例え
ば、図２に示すように、切替端子２１ｅに一端側が接続
された光ファイバ２１ｆの他端側を移動装置２１ｇによ
って移動させて各接続端子２１ａ〜２１ｄに接続させる
ファイバ可動型のものである。

【００１１】光スイッチ２１の３つの接続端子２１ａ〜
２１ｃは、コネクタ２０ａ〜２０ｃにそれぞれファイバ
接続されており、接続端子２１ｄには、減衰特性等が予
め既知で装置内に設けられた所定長（例えば５０ｍ）の
基準光ファイバ２２の一端側が接続されている。

【００１２】光スイッチ２１の切替端子２１ｅは、光カ
プラ２３を介して光パルス発生器２４および受光器２５
に接続されている。

【００１３】光カプラ２３は、光パルス発生器２４から
出力される光パルスを光スイッチ２１の切替端子２１ｅ
へ出力し、切替端子２１ｅ側から光カプラ２３側に戻っ
てくる光を受光器２５に入射させる。受光器２５は、受
光した光の強度に応じた受光信号をＡ／Ｄ変換器２６に
出力する。Ａ／Ｄ変換器２６は、受光器２５から出力さ
れる受光信号をディジタル信号に変換して平均化回路２
７に出力する。

【００１４】平均化回路２７は、光スイッチ２１に接続
されている１つの光ファイバに対して所定回数（例えば
１０回）光パルスが出力されるときに、各回毎に得られ
る一連の受光信号データをその所定回数で平均化し、そ
の平均化した結果を測定制御部３０へ出力する。即ち、
１回目の光パルスが出力されたタイミングから所定時間
が経過するまでの間にＡ／Ｄ変換器２６から出力される
一連の受光信号データを内部のメモリにアドレス順に記
憶し、２回目の光パルスに対する受光信号データを、内
部のメモリに記憶されている前回の受光信号データに加
算して記憶する。そして、この動作を所定回数行なう
と、内部のメモリに積算記憶されている各データをそれ
ぞれ１／１０にして平均化し、この平均化した受光信号
データをその光ファイバの試験結果として、測定制御部
３０へ出力する。

【００１５】測定制御部３０は、この実施形態の光スイ
ッチ切替手段および受光信号記憶手段を有し、センタ装
置４０から送られてきたスケジュール情報にしたがっ
て、光スイッチ２１、光パルス発生器２４および平均化
回路２７を制御して、光スイッチ２１の各接続端子に接
続されている光ファイバの試験を定期的に行い、平均化
回路２７で平均化された受光信号データを各接続端子に
対応付けてメモリ３１に記憶する。

【００１６】異常判定手段３２は、光スイッチ２１の３
つの接続端子２１ａ〜２１ｃに対応づけてメモリ３１に
記憶された受光信号データに基づいて、各コネクタ２０
ａ〜２０ｃに接続されている光ファイバの伝送路の断線
や大きな劣化の有無を判定する。

【００１７】例えば、図３の（ａ）のように、受光信号
のレベルがノイズレベルまで大きく低下している遠端位
置（メモリ３１のアドレス）Ｐを求め、その位置が前回
試験時の遠端位置Ｐ′に対してずれている場合には、そ
の光伝送路に断線事故が発生したと判定する。

【００１８】また、図３の（ｂ）のように、遠端位置Ｐ
でない位置範囲Ｑａ〜Ｑｂで受光信号の減衰度合い（傾
き）が大きくなっている場合には、その範囲の伝送路に
劣化が発生していると判定する。なお、図３で変化部分
Ｒａ、Ｒｂは、光ファイバの接続点で生じる反射と減衰
によるものである。異常判定手段３２は伝送路に異常が
発生した判定した場合、異常の発生を示す情報とその受
光信号データとを後述する通信制御部３４へ送出する。

【００１９】自己診断手段３３は、基準光ファイバ２２
が接続されている光スイッチ２１の接続端子２１ｄに対
応づけてメモリ３１に記憶された受光信号データに基づ
いて、この光パルス試験装置２０自体の診断を行なう。

【００２０】例えば、図４に示すように、受光信号デー
タの遠端位置Ｐｒで発生するフレネル反射のパルス幅Ｔ
を求め、このパルス幅Ｔが所定範囲内にあるか否かを判
定することにより、光パルス発生器２４が出力している
光パルスの幅の広がりの有無を診断する。また、遠端位
置Ｐｒの後方散乱光のレベルＬが所定範囲内にあるか否
かを判定することによって、光パルス発生器２４の出力
強度および受光器２５の感度の低下や光スイッチ２１の
損失増等の有無を診断する。さらに、遠端位置Ｐｒのフ
レネル反射のパルスの立ち上がり波形や立ち下がり波形
の傾きを求め、この傾きが所定範囲内にあるか否かを判
定することにより、受光器２５の帯域幅の変動の有無を
診断する。なお、図３の変化部分Ｒｃは、光スイッチ２
１およびコネクタ２０ｄ部分で発生する反射と減衰によ
るものである。

【００２１】自己診断手段３３は装置自体が異常と診断
した場合、装置自体の異常を示す情報とその受光信号デ
ータとを通信制御部３４へ送出する。

【００２２】通信制御部３４は、異常判定手段３２の判
定結果や自己診断手段３３の診断結果を、モデム装置３
５を介してセンタ装置４０へ送り、また、センタ装置４
０から送られてくるスケジュール情報を測定制御部３０
に設定する。

【００２３】センタ装置４０は、複数台の光パルス試験
装置２０と電話回線で接続されており、光パルス試験装
置２０から異常を示す情報と受光信号データとを受けて
その異常が光伝送路のどの場所で発生したかを判定し、
また、光パルス試験装置自体の異常の発生を確認して、
復旧処理を指示する。

【００２４】以上のようにこの光パルス試験装置２０
は、光スイッチ２１と、その光スイッチを所定順に切替
える手段と、光スイッチに接続されている光ファイバの
試験結果をそれぞれ記憶する手段とを有しているので、
複数の光伝送路の試験を自動的に行なうことができる。
また、断線や劣化等が起こりにくい装置内に設けた基準
光ファイバを光スイッチの接続端子の一つに接続して、
その試験結果から装置自体の動作状態を診断しているの
で、装置自体の異常を光伝送路の異常と誤判定すること
がない。

【００２５】

【他の実施の形態】前記実施形態の光パルス試験装置
は、センタ装置側からの情報を受けて光伝送路の試験を
行ない、その試験結果をセンタ装置へ送るように構成さ
れていたが、試験条件等を設定するための操作部と試験
結果を表示するための表示部とを有する単独使用可能な
光パルス試験装置についても本発明を同様に適用でき
る。この場合には、決められた伝送路順に試験を行いそ
の試験結果をメモリに記憶しておくように操作部から処
理手順を予め登録しておき、試験結果（良否の判定結果
や受光信号データ）を操作部の操作で選択的に読み出し
て表示器に表示するようにすればよい。

【００２６】また、このような単独使用が可能な光パル
ス試験装置の場合には、電源投入時に、光スイッチ２１
を基準光ファイバ側に接続して、装置の診断を優先的に
行なって、その結果を表示部に表示したり、異常が在る
場合には、アラーム音を発生するように構成すれば、以
後に行なわれる光伝送の試験の結果を信用することがで
きる。

【００２７】また、前記実施形態では、１対４の光スイ
ッチを用いていたが、１対２、１対３あるいは接続端子
が５つ以上ある光スイッチを用いることができる。ま
た、光スイッチの構造についても、前記した光ファイバ
可動型のものだけでなく、複数の接続端子と切替端子の
光軸の交点位置に配置した反射鏡の角度を変えたり、反
射鏡を交点位置に対して進退させる反射鏡可動型のもの
を用いたり、あるいは、電界の印加によって光路を切り
替える導波路型のものを用いてもよい。

【００２８】また、前記実施形態では、光ファイバから
戻ってくる光の受光信号から、光伝送路の異常判定を自
動的に行なうようにしていたが、受光信号を波形表示し
て、異常の有無を作業者が判断するようにしてもよい。

【００２９】

【発明の効果】このように本発明の光パルス試験装置
は、光ファイバに接続可能な光スイッチと、その光スイ
ッチを所定順に切り替える手段と、その光スイッチに接
続されている光ファイバに対する試験結果を光スイッチ
の端子に対応付けてメモリに記憶する手段とを備えてい
るから、複数の光伝送路の試験をコネクタの差替え作業
無しで自動的に行なうことができ、複数の光伝送路の自
動監視を行なうシステムが実現できる。

【００３０】また、光スイッチの複数の接続端子の一つ
に接続された所定長の基準光ファイバの試験結果によ
り、装置自体の診断を行なうようにしているので、異常
があったときに、その異常が光伝送路側にあるのか装置
側にあるのかが直ちに判り、誤った判断をする心配がな
い。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態の構成を示すブロック図

【図２】一実施形態の要部の構造を示す図

【図３】一実施形態による光伝送路の試験結果の一例を
示す図

【図４】一実施形態による基準光ファイバの試験結果の
一例を示す図

【図５】従来装置の構成を示す図

【符号の説明】

１ 光ファイバ ２０ 光パルス試験装置 ２１ 光スイッチ ２２ 基準光ファイバ ２３ 光カプラ ２４ 光パルス発生器 ２５ 受光器 ２７ 平均化回路 ３０ 測定制御部 ３１ メモリ ３２ 異常判定手段 ３３ 自己診断手段 ４０ センタ装置

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被試験対象の光ファイバを接続するための
   複数の接続端子と該複数の接続端子のいずれかに光学的
   に接続される切替端子とを有する光スイッチ（２１）
   と、前記光スイッチの複数の接続端子の一つに接続された所
   定長の基準光ファイバ（２２）と、 光パルスを前記光スイッチの切替端子に入力する光パル
   ス発生器（２４）と、 前記光スイッチの接続端子に接続され前記光パルス発生
   器からの光パルスが入射された光ファイバから切替端子
   側に戻ってくる光を受光するための受光器（２５）と、 前記受光器の出力信号を記憶するためのメモリ（３１）
   と、 前記光スイッチの切替端子を複数の接続端子に対して所
   定順に接続させる光スイッチ切替手段（３０）と、 前記光パルス発生器が光パルスを発生してから所定時間
   が経過するまでの間の前記受光器の出力信号を、前記光
   スイッチの切替端子に接続されている接続端子に対応づ
   けて前記メモリに記憶する受光信号記憶手段（３０）
   と、 前記基準光ファイバが接続されている接続端子に対応し
   て前記メモリに記憶された受光信号に基づいて、装置自
   体の診断を行なう自己診断手段（３３）と を具備した光
   パルス試験装置。