JPH03167441A - 光伝送路の故障位置切分け方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ファイバ通信に使用される光伝送路に故障が
生じたときに、その光伝送路の故障位置切分けに利用さ
れ、特に、局内側から精度よく、かつ簡便に故障位置切
分けができる光伝送路の故障位置切分け方法および装置
に関する。

〔従来の技術〕

従来、第９図に示すように、光パルス試験器を用いて光
伝送路の近端側（局内側）から光パルスを送出し、その
後方散乱先のレベル変動を検出することにより、光伝送
路の故障切分けを行っていた。第９図において１は試験
光パルスを発射し、光ファイバ内でのこの試験光パルス
の後方散乱光を検出してそのレベル変動により光ファイ
バの損失特性を測定する光パルス試験器、２は光伝送路
としての光ファイバ、３は伝送装置である。

第１０図に光ファイバ２に破断がある場合の光パルス試
験波形を正常な場合と比較し、各々破線および実線で示
している。正常な場合にはケーブルの終端の位置Ｌ２に
フレネル反射による反射波形１５ａが生じるが、光ファ
イバ２に破断等の故障が生じると破線で示すように、そ
の破断点位置Ｌ＋にフレネル反射による反射波形１５ｂ
が生じ、それ以遠では後方散乱光のレベルが検出できな
いので波形が消滅する。従って、故障は光ファイバ部分
であり伝送装置３でないという故障位置切分けができる
。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、この方法では光パルス試験器１の距離分解能が
充分でないため伝送装置３の近傍の光ファイバ部分の故
障位置切分けができなかった。例えば、パルス幅０．１
　μｓを使用した場合距離分解能はフレネル反射では２
０ｍ以上となり、伝送装置３からこの距離内では、故障
位置切分けは不可能である。一方、伝送装置３内に試験
光パルスを反射するフィルタを挿入し、このフィルタか
らの反射の有無で故障位置切分けを行う方法（特開昭５
９１９６４３８号公報参照）が提案されている。この場
合でも、光ファイバ２が伝送装置３から光パルス試験器
１の距離分解能内で故障し、その反射特性が前記フィル
タの反射特性と同様なときには原理的に故障切分けは不
可能であった。このように従来の方法および装置では、
伝送装置３の近傍の光ファイバケーブル部分の故障切分
けができない欠点があった。

本発明の目的は、前記の欠点を除去することにより、光
伝送路のどの地点で故障が生じても、伝送装置と光伝送
路の故障位置切分けを局内側から精度よく、かつ簡便に
行うことができる光伝送路の故障位置切分け方法および
装置を提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の光伝送路の故障位置切分け方法は、光パルスを
被試験光伝送路に送信しその光パルスの後方散乱光の変
化を検出することによりその被試験光伝送路の故障位置
の切分けを行う光伝送路の故障位置切分け方法において
、前記被試験光伝送路の遠端側に光反射器を２個以上挿
入し、前記被試験光伝送路の近端側から試験光パルスを
前記遠端側に向けて発射し、前記光反射器からの反射の
数およびその位置を検出することにより、前記被試験光
伝送路の故障位置切分けを行うことを特徴とする。

本発明の光伝送路の故障位置切分け装置は、被試験用光
伝送路に対して試験光パルスを発射し発射した前記試験
光パルスの後方散乱光の変化を検出する手段を含む光パ
ルス試験器を備えた光伝送路の故障位置切分け装置にお
いて、前記被試験用光伝送路の遠端側に設けられ前記試
験光パルスを反射する２個以上の光反射手段を備え、前
記光パルス試験器は、前記光反射手段からの反射の数お
よびその位置を検出する反射光検出手段を含むことを特
徴とする。

〔作用〕

光反射手段として例えば、第一および第二（第一よりも
遠端側とする）の２個の光反射器を設けた場合を考える
と、光伝送路（光ファイバ）が正常である場合には光反
射器を配置した位置に対応して二つの反射波形が検出さ
れる。すなわち、試験時に二つの反射波形が検出された
場合には、第二の光反射器が配置された位置までの光伝
送路は正常であることを示し、反射波形が零であれば第
一の光反射器の配置点より前の地点で光伝送路が故障し
たことを示し、反射波形が一つであれば第一の光反射器
と第二の光反射器との間の地点で光伝送路が故障したこ
とを示す。

従って、例えば２個の光反射器を光パルス試験器の距離
分解能と同程度の間隔で光伝送路の遠端側すなわち局外
側の伝送装置の近傍に配置することにより、反射波形が
２個の場合は前記伝送装置の故障、それ以外の場合は光
伝送路の故障として、従来不可能であった。前記伝送装
置近傍の光伝送路の故障位置の切分けが可能となる。す
なわち、２個以上の光反射器を光伝送路の遠端側に配置
することにより、光伝送路のどの地点に故障が生じても
、精度よくかつ簡便に光伝送路の故障位置の切分けがで
きる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。

第１図は本発明の第一実施例を示すブロック構戊図であ
る。

本第一実施例は、被試験用光伝送路である光ファイバ２
に対して試験光パルスを発射し発射した前記試験光パル
スの後方散乱光の変化を検出する手段を含む光パルス試
験器ｌを備えた光伝送路の故障位置切分け装置において
、 本発明の特徴とするところの、 光ファイバ２の遠端側に設けられ前記試験光パルスを反
射する２個の光反射手段としての第一および第二の光反
射器４ａおよび４ｂを備え、光パルス試験器１は光反射
器４ａおよび４ｂからの反射の数およびその位置を検出
する図外の反射光検出手段を含んでいる。

ここで、光反射器４ａおよび４ｂは、光パルス試験器ｌ
の距離分解能と同程度の間隔で光ファイバ２の遠端側、
すなわち局外側の伝送装置３の近傍に配置される。

そして、光反射器４ａおよび４ｂは、一定の反射減衰量
を有する光反射器である。この光反射器４ａおよび４ｂ
の構戊例を第２図に示す。第２図において、５はフード
部、６は補強部、ならびに７は空間または光ファイバ２
と異なる屈折率で満されたスリットであり、その間隔は
損失増が無視できる程度に小さいものである。このよう
な構或により一定の反射を与えることができる。また、
この光反射器４ａおよび４ｂとしては一般に使用されて
いる光コネクタでもよい。

本第一実施例において、光パルス試験器１の試験波形は
、正常時には、第３図に示す実線８のようになり、２個
の光反射器４ａおよび４ｂにより２個の反射波形８ａお
よび８ｂが検知できる。ここで、局内から第一の光反射
器４ａまでの光ファイバ区間に故障があった場合、光パ
ルス試験波形は第３図の破線で示す反射波形９、および
一点鎖線で示す反射波形ｌＯのようになる。反射波形９
は、第一の光反射器４ａの近傍で光反射器４ａと同じ反
射減衰量を有した状態で光ファイバ２が破断した場合で
あり、反射波形１０の場合は、ほとんど反射がない状態
の場合である。従って、光ファイバ２に故障が生じた場
合には、光反射器４ａおよび４ｂによる２個の反射が１
個または零となる。

第４図に、この光反射器４ａおよび４ｂを用いた場合の
光ファイバ故障か伝送装置故障かの故障切分けの試験手
順を示す。まず伝送装置３に異常が発生した場合（ステ
ップＳ１）、光ファイバ２に光パルス試験器１を接続し
て光パルス試験を開始する（ステップＳ２）。次に、試
験波形に現れた光反射器４ａおよび４ｂからの反射の数
が２個の場合は伝送装置３の故障（ステップＳ３、Ｓ５
）、それ以外は光ファイバ２の故障（ステップＳ３、Ｓ
４）と、切分けができる。

この結果から明らかなように、従来検出不可能であった
遠端側伝送装置３の近傍での光ファイバ故障でも、第一
実施例によると反射の数が変化するので必ず故障を検出
できることになる。

第５図は本発明の第二実施例を示すブロック構戊図であ
る。

本第二実施例は、第１図の第一実施例において、局内側
に光カブラ１１を挿入し、局内側の伝送装置３から発射
される波長λ０の通信光λ０と異なる波長λ１を有する
試験光λ１を光パルス試験器１から発射して、この試験
光λ１に対する反射の数により故障位置切分けを行うよ
うにしたものである。

なお、この場合、第１図の光反射器４ａおよび４ｂは、
第６図に示す波長選択型の光反射器４Ｃおよび４ｄに置
き換えられる。第６図において、１４は誘電体多層膜形
の光フィルタである。この光フィルタ１４は、通信光λ
。は通過させ試験光λ１は全反射により除止するもので
ある。第６図に示すように、゛光フィルタｌ４の角度θ
を選択して、通信光λ。の反射は少なく試験光λ１の反
射は大となるように調整される。

本第二実施例は、第１図の第一実施例と同様に光伝送路
の故障位置の切分けができるとともに、局内側において
、その伝送装置３を光伝送路から取り外すことなく自動
で故障位置切分けができる利点がある。

第７図は本発明の第三実施例を示すブロック構ｔ？．図
である。

本第三実施例は、第５図の第二実施例において、光反射
器４Ｃおよび４ｄを局外側の伝送装置３の光一電気変換
器１２と光コネクタ１３との間に挿入したものである。

ここで、光反射器４Ｃと光反射器４ｄとの間隔は、光パ
ルス試験器１の距離分解能以上に構威される。

本第三実施例は、第５ｒｊｉ！Ｊの第二実施例と同様に
光伝送路の故障位置切分けができるとともに、故障切分
け区間が伝送装置３の直前までとなり、切分け区間を長
くできる利点がある。

第８図は本発明の第四実施例を示すブロック構或図であ
る。

本第四実施例は、第７図の第三実施例において、光反射
器４Ｃを光コネクタ１３と同一のものを用い、光反射器
４ｄを取り除いたものである。ここで、光コネクタ１３
ａと光コネクタ１３ｂとの間隔を光パルス試験器１の距
離分解能以上に構或される。

本第四実施例は、第７図の第二実施例と同様に光伝送路
の故障位置切分けができるとともに、第三実施例に比べ
て光反射器４ｄが不要となり経済化が図れる利点がある
。

なお、以上説明した実施例では、光反射器の数は２個と
したが、それ以上配置した場合にも反射の数の減少の有
無により同様に故障切分けができる。この場合、判定基
準としては、第４図において反射の数２を光反射器の数
に置き替えればよい。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明は、光反射器による反射の
数により故障切分けができるため、従来に比べて１００
％確実な切分けができる効果がある。

また、光反射器の反射減衰量が光パルス試験器で検知可
能な範囲内で特に規定する必要がないので、光コネクタ
等により反射器を経済的に構成できる効果もある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第一実施例を示すブロック構或図。 第２図はその光反射器の構戒を示す説明図。 第３図はその試験波形を示す特性図。 第４図はその試験手順の要点を示す流れ図。 第５図は本発明の第二実施例を示すブロック構或図。 第６図はその光反射器の構成を示す説明図。 第７図は本発明の第三実施例を示すブロック構或図。 第８図は本発明の第四実施例を示すブロック構成図。 第９図は従来例を示すブロック構戒図。 第１０図はその試験波形を示す特性図。 １・・・光パルス試験器、２・・・光ファイバ、３・・
・伝送装置、４ａ〜４ｄ・・・光反射器、５・・・フー
ド部、６・・・補強部、７・・・スリット、８、８ａ、
８ｈ、９、１０、１５ａ、１５ｂ・・・反射波形、ｌ１
・・・光カプラ、１２・・・光一電気変換器、１３、１
３ａ　，　１３ｂ・・・光コネクタ、１４・・・光フィ
ルタ、８１〜Ｓ５・・・ステップ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、光パルスを被試験光伝送路に送信しその光パルスの
   後方散乱光の変化を検出することによりその被試験光伝
   送路の故障位置の切分けを行う光伝送路の故障位置切分
   け方法において、 前記被試験光伝送路の遠端側に光反射器を２個以上挿入
   し、前記被試験光伝送路の近端側から試験光パルスを前
   記遠端側に向けて発射し、前記光反射器からの反射の数
   およびその位置を検出することにより、前記被試験光伝
   送路の故障位置切分けを行う ことを特徴とする光伝送路の故障位置切分け方法。 ２、被試験用光伝送路に対して試験光パルスを発射し発
   射した前記試験光パルスの後方散乱光の変化を検出する
   手段を含む光パルス試験器を備えた光伝送路の故障位置
   切分け装置において、 前記被試験用光伝送路の遠端側に設けられ前記試験光パ
   ルスを反射する２個以上の光反射手段を備え、 前記光パルス試験器は、前記光反射手段からの反射の数
   およびその位置を検出する反射光検出手段を含む ことを特徴とする光伝送路の故障位置切分け装置。