JPH0854544A - 光ファイバ分配フレーム - Google Patents

光ファイバ分配フレーム

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JPH0854544A
JPH0854544A JP7200203A JP20020395A JPH0854544A JP H0854544 A JPH0854544 A JP H0854544A JP 7200203 A JP7200203 A JP 7200203A JP 20020395 A JP20020395 A JP 20020395A JP H0854544 A JPH0854544 A JP H0854544A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ファイバテストを含んだ光ファイバ分配フレ
ームを提供する。 【解決手段】 本発明の光ファイバ分配フレームは、パ
ッチ接続をテストする手段を提供する。光学−電気回路
は各モジュールに挿入され、光学的に入来の光ファイバ
ケーブルと接続される。この回路はテスト信号をパッチ
ケーブルに発射する光ソースと、パッチファイバからの
テスト信号をモニターする検知器と、信号発射と受信信
号モニタを制御するマイクロプロセッサとを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光ファイバ分配フレ
ームに関する。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバ分配フレーム、例えば、ＡＴ
＆Ｔのクロス接続（ＬＧＸ）（米国登録商標）分配フレ
ームは、入来ファイバ光ケーブルを顧客の装置に接続す
るのに用いられる。このフレームは通常複数の棚を有
し、各棚は単一または複数のモジュールを有し、このモ
ジュールにより入来ケーブルのファイバの光学的な接続
が実現される。クロス接続ジャンパケーブル（パッチコ
ードとも称される）は光学的に接続されるモジュール間
の装置の前面に装備される（米国特許第４６３０８８６
号を参照のこと）。
【０００３】しかし、光学接続の高集積化により、例え
ば、１個の棚当たり７２−１４４個接続を有する場合、
一般的なフレームでは問題となる。クロス接続の膨大な
数により、パッチ接続の両端が適切に接続されているか
を調べることが非常に困難となる。このため、このジャ
ンパケーブルの接続及びファイバブレークの有無をテス
トする必要がある。光ファイバ伝送システムにおけるフ
ァイバの接続を決めるために、テスト信号を送る方法は
周知である（例えば、米国特許第５２８５３０５号を参
照のこと）。しかし、従来型のフレームにおいてパッチ
接続のテストを行うことは、コストもかかり実質的では
なかった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、安価で効率よくパッチコードをテストする光ファイ
バ分配フレームを提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の一実施例は次のような光ファイバ分配フレ
ームを提供する。この光ファイバ分配フレームは複数の
棚を有し、各棚には複数のモジュールを有し、このモジ
ュールはケーブルの光ファイバを光ファイバジャンパケ
ーブルと光学的に接続させる。少なくとも一つのモジュ
ールは、光ファイバジャンパケーブルからこのジャンパ
ケーブルによって接続される他のモジュールにテスト信
号を発射する手段を有し、前記他のモジュールは前記少
なくとも一つのモジュールが発射したテスト信号を受信
し、モニタする手段を有する。
【０００６】
【発明の実施の形態】図１には本発明を実施可能な典型
的なファイバ分配フレーム１０を示す。フレームには複
数の棚、例えば、この例においては２列に配置される棚
１１と１４を含む。各棚は複数のモジュール、例えば１
８と１９を有し、そこで、ケーブル間のクロス接続のた
めに、トランクケーブル１２または伝送ケーブル１３か
らの光ファイバをファイバジャンパケーブル１５と接続
する。一般的には、トランクケーブル１２または伝送ケ
ーブル１３は後方からフレーム内に入り、このケーブル
からのファイバは棚の前または後ろに配置される孔を通
して、各モジュールに導入される。この例では、すべて
のファイバ接続はモジュールの前で行われる。
【０００７】内部構造を図示するために、各列の上部の
３つの棚のドアが取り除かれている。また、１組のファ
イバジャンパケーブル１５が孔１６を通して棚１１（モ
ジュール１８）から孔１７を通して棚１４（モジュール
１９）に接続される。もちろん、トランクケーブル１２
からのどのファイバも、適切なジャンパケーブル接続を
通して、伝送ケーブル１３からの任意のファイバと接続
することが可能である。この例においては、左側の列に
ある各棚はトランクケーブルへのアクセスを有し、右側
の列にある各棚は伝送ケーブルへのアクセスを有する。
なお、別の構成も可能である。
【０００８】図２はモジュール１８と１９の詳細図を示
す。このモジュール１８と１９はファイバジャンパケー
ブル１５により光学的に接続される。各パネルにジャッ
ク対２０、２１と３０、３１を有し、それらはモジュー
ル１８のケースにあるトランクケーブル１２、またはモ
ジュール１９のケースにある伝送ケーブル１３からのフ
ァイバ対（図示せず）に取り付けた標準な光コネクタの
接続を受ける。ジャックの１つ（２０、３０）はそれぞ
れのケーブルから光信号を受信するのに適合し、もう１
つのジャック（２１、３１）はそれぞれのケーブルへ光
信号を送信するのに適合する。２つのモジュールを光学
的に接続するために、各モジュールはジャック対２２、
２３と３２、３３をさらに有する。矢印で示すように、
モジュール１８のジャック２２はモジュール１９のジャ
ック３３に光学的に接続し、モジュール１８のジャック
２３はモジュール１９のジャック３２に光学的に接続す
る。このようにして、モジュール１８と１９の適当なジ
ャックにジャンパケーブルを挿入すると、中心オフィス
からのファイバ対（ケーブル１２）と顧客装置へ接続す
るファイバ対（ケーブル１３）との間に必要なクロス接
続が提供される。
【０００９】適切なモジュール（１８と１９）間の光学
接続が行われると、光学接続が正しく行われたことを確
かめる必要がある。また、一定の期間毎にファイバブレ
ークのチェックをすることが望ましい。
【００１０】図３には、各モジュールへの光学的接続を
表してあり、各モジュールはそこに接続されたケーブル
（１２または１３）内のファイバのテストを可能にす
る。ＯＴＤＲソース４０は光学時間領域反射（ＯＴＤ
Ｒ）のためにテスト信号を提供する。このソースは直列
の光スイッチ４１に入力し、そこで、信号はモジュール
に分配する。一般的には、各ベイにスイッチがあり、ま
た各ファイバ分配フレーム１０の各棚にスイッチがあ
る。テスト信号は各モジュール（例、１８）にある電気
−光学回路４２に入力し、回路は順番に信号を、ケーブ
ル（例、１２）からこのモジュールに接続した送信及び
／または受信ファイバに入力する。
【００１１】図４は電気−光学回路４２を示し、この電
気−光学回路４２はケーブルファイバのテストのみでな
く、パネル間のジャンパケーブルのテストをも可能にす
る。第１波長分割マルチプレクサ（ＷＤＭ）５０がジャ
ック２０から入力し、タップ５１に対して出力する。タ
ップの１つの出力はジャック２２に接続され、タップの
他の出力はＰＩＮ光ダイオードのような光検知器５２に
接続される。光ダイオードの電気出力は増幅器４３を介
してマイクロプロセッサ５３に接続される。マイクロプ
ロセッサ５３の１つのポートは光発光素子（ＬＥＤ）２
５に接続され、この光発光素子（ＬＥＤ）２５はパネル
の前面に搭載される（図２を参照のこと）。マイクロプ
ロセッサ５３のもう１つのポートは例えば、コンパクト
ディスク（ＣＤ）レーザのような他の光発光素子５４に
接続され、光発光素子５４の光出力はタップ５１に接続
される。マイクロプロセッサ５３のもう１つのポートは
他のＰＩＮ光ダイオード５５の電気出力に接続される。
ＰＩＮ光ダイオード５５の光入力は波長分割マルチプレ
クサ（ＷＤＭ）５６の出力に接続され、波長分割マルチ
プレクサ（ＷＤＭ）５６の入力はジャック２３に接続さ
れる。波長分割マルチプレクサ（ＷＤＭ）５６の他の出
力は他の波長分割マルチプレクサ（ＷＤＭ）５７入力に
接続され、波長分割マルチプレクサ（ＷＤＭ）５７の出
力はジャック２１に接続される。波長分割マルチプレク
サ（ＷＤＭ）５０と５７の入力はそれぞれジャック５８
と５９を介して光スイッチ（図３の４１）にも接続され
る。
【００１２】図６には、各モジュール、例えば１８と１
９が、背後にあるバス、例えばバス６２と６３に電気的
に接続され、このバスは棚上のすべてまたは選択された
モジュールを棚制御器（マイクロプロセッサ）、例えば
６４と６５に電気的に接続する。フレームの各ベイにお
ける棚制御器はバス６６と６７により電気的に対応する
ベイ制御器（ＢＣ）ルーター６８と６９に接続され、こ
のベイ制御器（ＢＣ）ルーター６８と６９は階層バスの
ようなＬＡＮバス７０に接続される。ベイ制御器は必須
なものではないが、あることが望ましい。それは、ベイ
制御器がバス上に多くのノードの操作を可能にするから
である。ＬＡＮバス７０は標準インターフェース７１を
介してホストコンピュータ７２に接続される。ホストコ
ンピュータ７２は、モジュール間（例、１８と１９）の
すべての適切な光学接続を含むデータベースを有する。
【００１３】動作に際して、モジュール１８がジャック
２０に接続されたトランクケーブル１２のファイバから
光信号を受信する。一般的に、情報信号は１３１０ｎｍ
の周波数で送信され、テスト信号は１５５０ｎｍの周波
数で送信される。これらの周波数は必要に応じて変更す
ることが可能である。波長分割マルチプレクサ（ＷＤ
Ｍ）５０は情報と反射テスト信号を分離し、タップ５１
に情報信号を送信する。タップ５１は信号の大部分（一
般に９０−９９％）をジャック２２に送信して、フレー
ムにおける他のモジュール（例、１９）に入力する。
【００１４】情報信号のごく一部、一般に０．１−０．
５ｄＢは光検知器５２に入力される。光検知器５２は図
５のカーブ６０に従って光信号を電気信号に変換する。
増幅器４３は電気信号を受信して、マイクロプロセッサ
５３に情報を読ませるために、それを図５のカーブ６１
に従って線形化する。マイクロプロセッサ５３は連続的
に情報信号のパワーをサンプリングして、パワーレベル
上の分裂または変化があれば、ホストコンピュータ７２
に知らせる。また、マイクロプロセッサ５３は分裂が発
生すると光発光素子（ＬＥＤ）２５を点灯する。
【００１５】パワー分裂に応答して、ホストコンピュー
タ７２はＯＴＤＲソース（図３の４０）からテスト信号
を端末５８または５９のいずれかに自動的に送り出す。
この端末５８または５９は波長分割マルチプレクサ（Ｗ
ＤＭ）５０または５７に接続され、トランクケーブル１
２におけるファイバへジャック２０または２１上の信号
を送り出す。ジャック２０と２１上に伝送されたテスト
信号の反射は、対応する波長分割マルチプレクサ（ＷＤ
Ｍ）５０と５７により受信され、標準光学時間領域反射
原理に従ってＯＴＤＲソース４０にある受信器（図示せ
ず）によりモニタされる。
【００１６】モジュール（例えば１８と１９）間に接続
される光ファイバジャンパケーブルをテストするために
は、マイクロプロセッサ５３は信号をレーザ５４に伝送
し、このレーザ５４はタップ５１に対して光テスト信号
を送信する。レーザからの信号は一般的に７８０ｎｍ波
長である。信号は、タップ５１から光学的にジャック２
２に入力し、そこで、信号はジャンパケーブルを介して
接続されているモジュール（例、１９）に伝送される。
同時に、マイクロプロセッサ５３はホストコンピュータ
７２に対して、そのモジュール（１８）と接続されるモ
ジュール（１９）間のジャンパケーブルをテストするよ
う要求する旨の信号を送る。ホストコンピュータ７２は
そのデータベースをチェックし、他のモジュールに対し
てそのＣＤレーザからのテスト信号を発射することを指
示して、テスト信号はジャック２３上のモジュール１８
に受信される。
【００１７】その後、受信された光テスト信号は波長分
割マルチプレクサ（ＷＤＭ）５６により情報信号から分
離される。情報信号は波長分割マルチプレクサ（ＷＤ
Ｍ）５７に伝送されて、端末５９からのＯＴＤＲ信号と
ともにジャック２１からケーブルに伝送される。他のモ
ジュール（１９）からのテスト信号はＰＩＮ光ダイオー
ド５５に入力され、そこで電気信号に変換される。ＰＩ
Ｎ光ダイオード５５は制御ビット（０、１）をマイクロ
プロセッサ５３に送って、テスト信号が受信されるかど
うかを表示する。もし、信号が受信されないならば、マ
イクロプロセッサ５３は接続が不良であるか、またはジ
ャンパケーブルが間違ったモジュールに接続されたと分
かる。
【００１８】様々な変形例が容易にできる。例えば、テ
スト信号を発射するために、付加の波長分割マルチプレ
クサをタップ５１の代わりに使用することができる。な
お、タップの使用がより望ましいのは、ジャック２０上
の信号をモニタするためにすでに存在するからである。
【００１９】また、実施例においては二重パッチコード
について述べたが、シングルファイバがモジュールに接
続する応用も可能である。この場合、シングルジャック
（例、２２または２３）のみがパッチとして各モジュー
ルに必要となる。このようなパッチコード上の光伝送は
双方向または単一方向である。単一方向伝送の場合で
は、各モジュールにはテスト信号を発射する手段（例、
レーザ５４）、または受信する手段（例、検知器５５）
が必要であるが、両手段を有する必要はない。
【００２０】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によって、安
価で効率よくパッチコードをテストする光ファイバ分配
フレームが実現した。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例によるファイバ分配フレーム
の斜視図。
【図２】図１の光ファイバ分配フレームの部分図で、２
つのモジュールの詳細を表す図。
【図３】本発明の実施例によるモジュールの光学接続を
表すブロック図。
【図４】本発明の実施例によるモジュールの部分回路の
ブロック図。
【図５】本発明の実施例によるモジュールの光パワーと
光検知器電圧との関係のグラフ。
【図６】フレーム上にあるモジュールの電気的接続を表
すブロック図。
【符号の説明】
１０ ファイバ分配フレーム １１、１４ 棚 １２ トランクケーブル １３ 伝送ケーブル １５ ファイバジャンパケーブル １６、１７ 孔 １８、１９ モジュール ２０、２１、２２、２３、３０、３１、３２、３３ ジ
ャック ２５ 光発光素子（ＬＥＤ） ４０ ＯＴＤＲソース ４１ 光スイッチ ４２ 電気−光学回路 ４３ 増幅器 ５０、５６、５７ 波長分割マルチプレクサ（ＷＤＭ） ５１ タップ ５２ 光検知器 ５３ マイクロプロセッサ ５４ 光発光素子 ５５ ＰＩＮ光ダイオード ５８、５９ ジャック ６２、６３ バス ６４、６５ 棚制御器（マイクロプロセッサ） ６６、６７ バス ６８、６９ ベイ制御器（ＢＣ）ルーター ７０ ＬＡＮバス ７１ 標準インターフェース ７２ ホストコンピュータ

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 複数の棚（１１、１４）と、 光学的にケーブル（１２、１３）からの光ファイバを光
    ファイバジャンパケーブル（１５）に接続するために、
    棚に搭載された複数のモジュール（１８、１９）とを有
    し、前記モジュール（１８）のうちの少なくとも一つは
    第１波長の情報信号を受信し、及び、光ファイバジャン
    パケーブル（１５）を介してそこに接続されている他の
    モジュール（１９）に情報信号を発信する受信・発信手
    段（２０、５０、５１）を有し、さらに同一のジャンパ
    ケーブルを介して第２波長のテスト信号を前記接続され
    ている他のモジュールに対して発信する手段（５３、５
    ４、５１、２２）を有し、前記他のモジュールは前記モ
    ジュールの１つにより発信されるテスト信号を受信・モ
    ニタする手段（５３）を有することを特徴とする光ファ
    イバ分配フレーム。
  2. 【請求項２】 ２つのモジュールとも、ジャンパケーブ
    ルを介したテスト信号を発信する手段と受信する手段と
    の両方を有することを特徴とする請求項１の装置。
  3. 【請求項３】 各モジュールを、ジャンパケーブルによ
    り接続されるべきモジュールのデータベースを有するコ
    ンピュータ（７２）に電気的に接続する手段（６２、６
    ４、６６、６８、７０、７１）と、 前記コンピュータ（７２）に、接続されているモジュー
    ルに対してテストが行われていることを伝える手段（５
    ３）とをさらに有することを特徴とする請求項１の装
    置。
  4. 【請求項４】 ケーブル内の光ファイバを介して第２テ
    スト信号を発信し、前記信号の発射を受信・モニタする
    手段（４０、４１、５０、５８）をさらに有することを
    特徴とする請求項１の装置。
  5. 【請求項５】 前期発信手段及び受信手段は波長分割マ
    ルチプレクサ（５０）を有することを特徴とする請求項
    ４の装置。
  6. 【請求項６】 各モジュールをフレームの外の第２テス
    ト信号のソースに接続する手段（５８）を有することを
    特徴とする請求項４の装置。
  7. 【請求項７】 テスト信号を発信する手段はＣＤレーザ
    （５４）であることを特徴とする請求項１の装置。
  8. 【請求項８】 テスト信号を発信する手段は光発光素子
    （５４）を有し、この光発光素子（５４）は光学的に光
    タップ（５１）の１つのポートと接続され、前記タップ
    の他のポートは光学的にジャンパケーブルに接続される
    ことを特徴とする請求項１の装置。
  9. 【請求項９】 前記受信・モニタ手段はマイクロプロセ
    ッサ（５３）が電気的に接続されている光検知器（５
    ５）を有することを特徴とする請求項１の装置。
  10. 【請求項１０】 ケーブル（１２）内の光ファイバをジ
    ャンパケーブル（１５）内の光ファイバに光学的に接続
    するモジュール（１８）において、 ジャンパケーブルに光学的に接続するのに適合するジャ
    ック（２２）と、 第１波長の情報信号を前記ジャンパケーブルに接続する
    手段（５０）とを有し、 第２波長のテスト信号をジャンパケーブルに対して発信
    するために、光学的に前記ジャックに接続した光発光素
    子（５４）と、 前記テスト信号の発信を制御するために、電気的に前記
    素子に接続するマイクロプロセッサ（５３）とをさらに
    有することを特徴とするモジュール。
  11. 【請求項１１】 前記光発光素子はＣＤレーザであるこ
    とを特徴とする請求項１０の装置。
  12. 【請求項１２】 光タップ（５１）をさらに有し、前記
    光発光素子は光学的にこのタップの１つのポートに接続
    され、前記タップの他のポートは光学的に前記ジャック
    に接続されることを特徴とする請求項１０の装置。
  13. 【請求項１３】 ジャンパケーブルに光学的に接続する
    のに適合した他のジャック（２３）と光学的に接続され
    た光検知器（５５）を有することを特徴とする請求項１
    ０の装置。
  14. 【請求項１４】 前記光検知器は波長分割マルチプレク
    サ（５６）を介して前記他のジャックに接続されること
    を特徴とする請求項１３の装置。
  15. 【請求項１５】 ケーブル内の光ファイバを介して第２
    テスト信号を発信し、さらに前記第２テスト信号の反射
    を検知する手段（５８、５０）をさらに有することを特
    徴とする請求項１０の装置。
  16. 【請求項１６】 第２テスト信号を発信する手段は波長
    分割マルチプレクサ（５０）を有することを特徴とする
    請求項１５の装置。
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