JPH10170396A - 光線路の試験方法及び光線路試験システム - Google Patents
光線路の試験方法及び光線路試験システムInfo
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- JPH10170396A JPH10170396A JP34252696A JP34252696A JPH10170396A JP H10170396 A JPH10170396 A JP H10170396A JP 34252696 A JP34252696 A JP 34252696A JP 34252696 A JP34252696 A JP 34252696A JP H10170396 A JPH10170396 A JP H10170396A
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Abstract
OTDR装置で同時に試験しようとすると、各線路の波
形の重ね合せになり、どの線路に故障が生じたかを弁別
できない。 【解決手段】 各分岐線路41A,41Bの終端に通常
挿入してある光反射部品(光フィルタ410)を利用
し、単一のOTDR装置50で、同時に試験する。そし
て、OTDR装置50の受光波形に現れる前記光反射部
品410によるピークA’,B’の有無に基づいて故障
分岐線路を特定する。
Description
リッタ等の光分岐回路を用いて分岐した光ファイバ線路
の試験方法及び試験システムに関するものである。
回路を用いて分岐した光ファイバ線路網の一例を示す。
この場合は、1つの光ファイバ線路40を、1x4の光
スプリッタ10によって、光分岐路41〜44に分岐し
ている。なお、30はユーザー側の伝送装置である。
れ、左側から右側への信号を下り信号、右側から左側へ
の信号を上り信号とする一心双方向伝送方式を採用して
いる。下り信号は、センタ装置で時分割多重(暗号)化
され、この多重信号フレームの特定位置に、各ユーザー
側伝送装置のアドレスと容量が指定されており、各伝送
装置は自分宛の情報を読み取ることができるようになっ
ている。
生じた場合、その場所を特定する方法として、光パルス
試験による後方散乱光や反射波形の測定(以下OTDR
とする)を用いることが多い。
よりモニタ試験するために、図4に例示するように、
光スプリッタ10の最終段の各端子123,124,−
−−と、それらに接続する各光分岐路41,42,−−
−との間に、それぞれ光方向性結合器61,62,−−
−を介在させることが提案されている(特開平7−27
944号公報参照)。
ば、空いている端子611に光パルス試験装置50を接
続して、光分岐路42〜44の影響を受けずに、光分岐
路41の試験や監視ができる。52は4本の中から1本
の分岐路を選択する光スイッチである。また、光ファイ
バ線路40と光分岐路41の間の光通信は、光方向性結
合器61が介在しても、支障なく行なわれる。他の光方
向性結合器62,63,−−−の場合も同様である。
製作が容易な2x2(4端子)の光ファイバ形カプラ
(3dBカプラ)を用い、その1つの端子を不使用として
いる。すなわち、光方向性結合器61の場合は、そ端子
612を光ファイバカプラ12の端子123に接続し、
端子614に光分岐路41を接続する。端子613は無
反射処理を施して不使用とする。そして、端子611に
光監視路71を接続して、光パルス試験装置を接続し易
いようにしておく。
は、上記のように、安価で製作容易な2x2の光ファイバ
型カプラを用いることが多い。そのため、端子613等
を不使用にしている。しかし、最近、光線路網のより一
層の経済化のために更に低コストで簡易な構成の光線路
監視システムが要求されている。
る光パルス試験方法において、複数の光線路から2本以
上の光線路の組を選択し、選択された一組を構成する各
光線路を前記光カプラの出射端へ接続し、前記光カプラ
の入射端の一方から、前記一組の光線路へ試験用光パル
スを出射し、前記光線路からの、前記試験用光パルスの
反射波を、前記光カプラにて合波することにより、前記
一組の光線路を同時に光パルス試験する。
パルス試験システムにおいて、当該光線路試験システム
は、通信光を1:N分岐する光スプリッタと、前記光ス
プリッタの各出射端に、入射端の一方が接続されたM個
の光カプラと、前記光カプラの各出射端に接続されたP
本の光線路と、前記光線路のユーザー側端部に介挿され
た光フィルタを有し、前記光カプラの入射端の他方が、
光パルス試験装置側へ接続されているようにする。
て光分岐路41A,41Bだけを模型的に示し、下段に
光パルス試験装置から出射された光パルスのOTDR波
形を併記した。光分岐路41A,41Bのユーザ側の端
部である伝送装置30の直前には、通常光フィルタ41
0を有するターミネーションケーブル412がコネクタ
414で接続されている。本発明は、この光フィルタ4
10の強い光反射を利用する。なお光フィルタ410
は、通信光の波長は通過するが、光パルス試験光の波長
を反射する誘電多層膜フィルタである。
の場合は、OTDR波形の光フィルタ410に相当する
箇所に、反射光によるピークA’が現れる。
Bだけの場合も、光フィルタ410に相当する箇所にピ
ークB’が現れる。
1A,B両方の場合は、反射光が合波され、この合成さ
れた反射波を光パルス試験装置でモニタするが、各光フ
ィルタ410に相当する2箇所に ピークA’,B’が
現れる。これは、伝送装置までの距離が異なり、事故の
ない状態である。
点に、たとえば破断が起きたとすると、OTDR波形の
相当部分に波形異常X’が現れ、同時にA’は消失し、
B’だけになる。これで故障発生の光分岐路41Aを特
定できる。すなわち、波形ピークまでの距離によって、
光分岐路を特定できる。
より、入射端40から入射する多重化通信光を4分岐す
る。スプリッタ10の4個の出射端を次段の4個の光カ
プラ(61,−−−64)へ接続する。たとえばスプリ
ッタ10の出射端123を光カプラ61の入射端612
へ接続する。次ぎに、これら光カプラの出射端を8本の
光線路(41A,41B−−−44A,44B)へ接続
するが、複数の光線路から所定の条件を満たす2本の光
線路の組を選択し、この1組を1個の光カプラの出射端
へ接続する。光カプラの入力端の他方、たとえば(61
1)は光スイッチ52を介して光パルス試験装置へ接続
する。光カプラとしては、たとえば波長無依存性の石英
基板導波路型を用いる。
路や8線路等の同時監視も可能である。
光カプラの数(M)、被測定対象の光ファイバ線路の数
(P)は限定されない(N,M,Pは自然数)。
を同時にできるので、試験線路網の構成が簡単になる。
Claims (2)
- 【請求項1】 光線路を光パルス試験する光パルス試験
方法であって、複数の光線路から2本以上の光線路の組
を選択し、選択された一組を構成する各光線路を前記光
カプラの出射端へ接続し、前記光カプラの入射端の一方
から、前記一組の光線路へ試験用光パルスを出射し、前
記光線路からの、前記試験用光パルスの反射波を、前記
光カプラにて合波することにより、前記一組の光線路を
同時に光パルス試験することを特徴とする、光線路の試
験方法。 - 【請求項2】 複数の光線路を光パルス試験する光パル
ス試験システムであって、当該光線路試験システムは、
通信光を1:N分岐する光スプリッタと、前記光スプリ
ッタの各出射端に、入射端の一方が接続されたM個の光
カプラと、前記光カプラの各出射端に接続されたP本の
光線路と、前記光線路のユーザー側端部に介挿された光
フィルタを有し、前記光カプラの入射端の他方が、光パ
ルス試験装置側へ接続されていることを特徴とする、光
線路試験システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34252696A JP3392310B2 (ja) | 1996-12-06 | 1996-12-06 | 光線路の試験方法及び光線路試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP34252696A JP3392310B2 (ja) | 1996-12-06 | 1996-12-06 | 光線路の試験方法及び光線路試験システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10170396A true JPH10170396A (ja) | 1998-06-26 |
JP3392310B2 JP3392310B2 (ja) | 2003-03-31 |
Family
ID=18354437
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34252696A Expired - Lifetime JP3392310B2 (ja) | 1996-12-06 | 1996-12-06 | 光線路の試験方法及び光線路試験システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3392310B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1996
- 1996-12-06 JP JP34252696A patent/JP3392310B2/ja not_active Expired - Lifetime
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US8315517B2 (en) | 2006-02-03 | 2012-11-20 | Fujikura, Ltd | Optical line monitoring apparatus and optical line monitoring method |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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