JP2671247B2 - 部品の計数装置 - Google Patents
部品の計数装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は部品供給装置の供給部か
ら投入される電子部品、ファスナー部品、種子等の比較
的重量・形状・大きさ等バラツキのある小物部品等の個
数を高速で正確に計数する汎用性のある部品の計数装置
に関するものである。
ら投入される電子部品、ファスナー部品、種子等の比較
的重量・形状・大きさ等バラツキのある小物部品等の個
数を高速で正確に計数する汎用性のある部品の計数装置
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の計数装置として、本出願
人は実願昭５４─６０３８１号公報の如き装置を提案し
た。この装置は、図４に示すように、投光器５１からの
放射光は各反射鏡５２，５３間にて反射を繰り返しなが
ら受光器５４，５４′に至り、反射鏡５２面に沿って試
験物体Ｂを投光器５１から、反射鏡５２側に有する受光
器５４側に移動させれば、試験物体Ｂの移動位置に対応
して受光器５４の受光量が変化し、図５（ａ）に示すよ
うになる。同時に、反射鏡５３側に有する受光器５４′
側では、試験物体Ｂの移動位置に対応して受光器５４′
の受光量が変化し、図５（ｂ）に示すようになる。前記
各受光量の変化は図５（ａ）及び図５（ｂ）に示す如く
略対称となり、これらの受光量の変化を相加えると、図
５（ｃ）の如く略均一化する。各受光器５４，５４′に
は検出部内における中央部からの位置ずれに応じて受光
量差が生ずるが、その各受光器５４，５４′の出力を相
加えるので、被計数物の投入位置がずれたとしても、そ
の受光量が均一化され、比較器で所定の基準値と比較さ
れ、カウンタで被計数物を計数するようになっていた。
人は実願昭５４─６０３８１号公報の如き装置を提案し
た。この装置は、図４に示すように、投光器５１からの
放射光は各反射鏡５２，５３間にて反射を繰り返しなが
ら受光器５４，５４′に至り、反射鏡５２面に沿って試
験物体Ｂを投光器５１から、反射鏡５２側に有する受光
器５４側に移動させれば、試験物体Ｂの移動位置に対応
して受光器５４の受光量が変化し、図５（ａ）に示すよ
うになる。同時に、反射鏡５３側に有する受光器５４′
側では、試験物体Ｂの移動位置に対応して受光器５４′
の受光量が変化し、図５（ｂ）に示すようになる。前記
各受光量の変化は図５（ａ）及び図５（ｂ）に示す如く
略対称となり、これらの受光量の変化を相加えると、図
５（ｃ）の如く略均一化する。各受光器５４，５４′に
は検出部内における中央部からの位置ずれに応じて受光
量差が生ずるが、その各受光器５４，５４′の出力を相
加えるので、被計数物の投入位置がずれたとしても、そ
の受光量が均一化され、比較器で所定の基準値と比較さ
れ、カウンタで被計数物を計数するようになっていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な方式の計数装置では、単一の部品を複数個と計数する
マイナス誤差は解消されたが、部品の重なりによるプラ
ス誤差を解消するには、部品供給装置に依存したり、部
品の大きさに応じて機械的、電気的調整を必要としてい
た。また、処理能力を上げるためには複数配列せねばな
らず、機械的・電気的に煩雑になりコスト高となってし
まった。また、ホトダイオードアレー等により比較的検
出範囲の広いセンサが実用化されたが、計数センサとし
ては誤計数が多く実用的でなかった。しかしながら、近
年イメージセンサとマイクロコンピュータの発展に伴
い、イメージセンサがセンサとして威力を発揮してきた
が、単にイメージセンサを配した装置では、偏平でリー
ド線の有るような電子部品を計数する場合、リード線を
キャンセルするように調整すると、落下状態によっては
部品そのものをキャンセルして、プラス誤差になった
り、調整によってはマイナス誤差になったりした。ま
た、センサ前後方向に同時に落下した場合には、プラス
誤差になってしまった。
な方式の計数装置では、単一の部品を複数個と計数する
マイナス誤差は解消されたが、部品の重なりによるプラ
ス誤差を解消するには、部品供給装置に依存したり、部
品の大きさに応じて機械的、電気的調整を必要としてい
た。また、処理能力を上げるためには複数配列せねばな
らず、機械的・電気的に煩雑になりコスト高となってし
まった。また、ホトダイオードアレー等により比較的検
出範囲の広いセンサが実用化されたが、計数センサとし
ては誤計数が多く実用的でなかった。しかしながら、近
年イメージセンサとマイクロコンピュータの発展に伴
い、イメージセンサがセンサとして威力を発揮してきた
が、単にイメージセンサを配した装置では、偏平でリー
ド線の有るような電子部品を計数する場合、リード線を
キャンセルするように調整すると、落下状態によっては
部品そのものをキャンセルして、プラス誤差になった
り、調整によってはマイナス誤差になったりした。ま
た、センサ前後方向に同時に落下した場合には、プラス
誤差になってしまった。
【０００４】そこで、本発明は、比較的簡単な方法によ
り部品がセンサ前後又は左右方向に同時に落下した場合
でも確実に計数できるように構成し、また複数配列の計
数装置をも構成でき、小物部品を正確にかつ高速に計数
しかつ汎用性に優れた部品の計数装置を提供することを
目的とするものである。
り部品がセンサ前後又は左右方向に同時に落下した場合
でも確実に計数できるように構成し、また複数配列の計
数装置をも構成でき、小物部品を正確にかつ高速に計数
しかつ汎用性に優れた部品の計数装置を提供することを
目的とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本願発明は、上述事情に
鑑みてなされたものであって、部品の移動域の部品の移
動方向と交差する第１の方向に光を照射する線状光源
と、前記部品の移動域を外れて設けられ、前記線状光源
からの照射光の一部分を９０度反射させて、前記部品の
移動域を、部品の移動方向と交差する前記第１の方向と
直交する第２の方向に照射する板状の第１の反射板と、
前記部品の移動域を外れて設けられ、前記第１の反射板
で反射され、かつ前記部品の移動域を前記第２の方向に
照射する反射光を前記線状光源と反対側の方向に９０度
反射させる板状の第２の反射板と、前記線状光源からの
前記部品の移動域を第１の方向に照射する照射光を受光
すると共に、前記線状光源からの照射光を前記第１の反
射板で反射させて前記部品の移動域を第２の方向に照射
し、次いで第２の反射板で反射された反射光を受光し、
かつ前記線状光源と略同一平面上に配置された受光素子
と、前記受光素子の前記部品の移動域を前記第１の方向
に照射した照射光の受光量に基づき判別された第１の部
品個数と、前記受光素子の前記部品の移動域を前記第２
の方向に照射した反射光の受光量に基づき判別された第
２の部品個数とを比較し、第１の部品個数と第２の部品
個数が異なる場合には、いずれか大きい部品個数を選択
する部品個数選択手段と、を備えてなることを特徴とす
る部品の計数装置とした。
鑑みてなされたものであって、部品の移動域の部品の移
動方向と交差する第１の方向に光を照射する線状光源
と、前記部品の移動域を外れて設けられ、前記線状光源
からの照射光の一部分を９０度反射させて、前記部品の
移動域を、部品の移動方向と交差する前記第１の方向と
直交する第２の方向に照射する板状の第１の反射板と、
前記部品の移動域を外れて設けられ、前記第１の反射板
で反射され、かつ前記部品の移動域を前記第２の方向に
照射する反射光を前記線状光源と反対側の方向に９０度
反射させる板状の第２の反射板と、前記線状光源からの
前記部品の移動域を第１の方向に照射する照射光を受光
すると共に、前記線状光源からの照射光を前記第１の反
射板で反射させて前記部品の移動域を第２の方向に照射
し、次いで第２の反射板で反射された反射光を受光し、
かつ前記線状光源と略同一平面上に配置された受光素子
と、前記受光素子の前記部品の移動域を前記第１の方向
に照射した照射光の受光量に基づき判別された第１の部
品個数と、前記受光素子の前記部品の移動域を前記第２
の方向に照射した反射光の受光量に基づき判別された第
２の部品個数とを比較し、第１の部品個数と第２の部品
個数が異なる場合には、いずれか大きい部品個数を選択
する部品個数選択手段と、を備えてなることを特徴とす
る部品の計数装置とした。
【０００６】また、前記第１の反射板及び第２の反射板
の間で、第１の反射板の反射光路内に、第１の反射板及
び第２の反射板と平行に両面反射板を１枚以上設け、各
反射板間にそれぞれ部品の移動域を設け、それぞれの部
品の移動域を通過する部品の個数をそれぞれの前記部品
個数選択手段を介してそれぞれの部品の移動域毎に計数
してなる、ことを特徴とする部品の計数装置とした。
の間で、第１の反射板の反射光路内に、第１の反射板及
び第２の反射板と平行に両面反射板を１枚以上設け、各
反射板間にそれぞれ部品の移動域を設け、それぞれの部
品の移動域を通過する部品の個数をそれぞれの前記部品
個数選択手段を介してそれぞれの部品の移動域毎に計数
してなる、ことを特徴とする部品の計数装置とした。
【０００７】
【作用】上記の構成を有する第１の発明においては、部
品が移動域に落下すると、線状光源からの照射光が部品
の移動域を第１の方向であるたて軸方向に照射して受光
素子に受光され、同時に該線状光源からの照射光の一部
分が第１の反射板により部品の移動域と交差する方向に
９０度反射させられ、部品の移動域を第２の方向である
横軸方向に照射し、第２の反射板により９０度反射させ
られて該受光素子に受光される。そして、該受光素子か
らの受光量に基づき、部品の移動域でかつ前記照射光が
交差するたて軸及び横軸の範囲内を通過する第１の部品
個数と第２の部品個数が計数され、部品個数選択手段が
いずれか大きい部品個数を選択する。
品が移動域に落下すると、線状光源からの照射光が部品
の移動域を第１の方向であるたて軸方向に照射して受光
素子に受光され、同時に該線状光源からの照射光の一部
分が第１の反射板により部品の移動域と交差する方向に
９０度反射させられ、部品の移動域を第２の方向である
横軸方向に照射し、第２の反射板により９０度反射させ
られて該受光素子に受光される。そして、該受光素子か
らの受光量に基づき、部品の移動域でかつ前記照射光が
交差するたて軸及び横軸の範囲内を通過する第１の部品
個数と第２の部品個数が計数され、部品個数選択手段が
いずれか大きい部品個数を選択する。
【０００８】また、本願の第２の発明においては、部品
が各移動域に落下すると、線状光源からの照射光が部品
の各移動域をたて軸方向に照射して受光素子に受光さ
れ、同時に該線状光源からの照射光の一部分が反射板に
より部品の各移動域と交差する方向に９０度反射させら
れ、部品の各移動域を横軸方向に照射し、前記反射板と
対向する反射板により９０度反射させられて該受光素子
に受光される。そして、該受光素子からの受光量に基づ
き、それぞれの部品の移動域でかつ照射光が交差するた
て軸及び横軸の範囲内を通過する部品の個数がそれぞれ
の部品個数選択手段を介してそれぞれの部品の移動域毎
に計数される。
が各移動域に落下すると、線状光源からの照射光が部品
の各移動域をたて軸方向に照射して受光素子に受光さ
れ、同時に該線状光源からの照射光の一部分が反射板に
より部品の各移動域と交差する方向に９０度反射させら
れ、部品の各移動域を横軸方向に照射し、前記反射板と
対向する反射板により９０度反射させられて該受光素子
に受光される。そして、該受光素子からの受光量に基づ
き、それぞれの部品の移動域でかつ照射光が交差するた
て軸及び横軸の範囲内を通過する部品の個数がそれぞれ
の部品個数選択手段を介してそれぞれの部品の移動域毎
に計数される。
【０００９】
【実施例】以下、図面に沿って、本発明による一実施例
について説明する。図１は、本発明に係る部品の計数装
置の機構及びシステムブロック図である。図中１は部品
の計数装置、２は供給ホッパであり、該供給ホッパ２に
は多数の部品Ａが収納されている。供給ホッパ２には供
給調整用ゲートが設けられ、該ゲート前方にはガイド２
ａが延設されている。供給ホッパ２は水平方向に振動可
能となっており、供給ホッパ２が振動すると、供給ホッ
パ２のゲートから多数の部品Ａ，Ａ…がガイド２ａに流
出し、ガイド２ａ前方から自然落下するようになってい
る。ガイド２ａの下方には供給トラフ４が配置され、該
供給トラフ４も水平方向に振動可能となっている。
について説明する。図１は、本発明に係る部品の計数装
置の機構及びシステムブロック図である。図中１は部品
の計数装置、２は供給ホッパであり、該供給ホッパ２に
は多数の部品Ａが収納されている。供給ホッパ２には供
給調整用ゲートが設けられ、該ゲート前方にはガイド２
ａが延設されている。供給ホッパ２は水平方向に振動可
能となっており、供給ホッパ２が振動すると、供給ホッ
パ２のゲートから多数の部品Ａ，Ａ…がガイド２ａに流
出し、ガイド２ａ前方から自然落下するようになってい
る。ガイド２ａの下方には供給トラフ４が配置され、該
供給トラフ４も水平方向に振動可能となっている。
【００１０】また、供給トラフ４の下方には、部品Ａの
移動域である落下域Ｒの落下方向と交差する方向に可視
光、赤外線又はレーザー光を発光する線状光源５が略水
平に配設されている。また、図２に示すように、線状光
源５の照射光の一部分を部品Ａの落下域Ｒの落下方向と
交差する方向に９０度反射させる板状反射鏡６が略垂直
に配置され、部品Ａの落下域と交差した該反射鏡６から
の反射光を光源５と反対方向に９０度反射させる板状反
射鏡７が略垂直に配置されている。そして、光源５から
の直接の照射光（たて軸測定用）、及び反射鏡６，７を
経由した反射光（横軸測定用）はレンズ９に集光され、
受光素子１０にて受光されるようになっている。部品Ａ
の落下域のたて軸（Ｘ軸）測定は受光素子１０のＸ軸測
定用画素群１０ａで測定され、部品Ａの落下域の横軸
（Ｙ軸）測定は受光素子１０のＹ軸測定用画素群１０ｂ
で測定される。受光素子１０は水平方向に１列に並設さ
れた多数の画素を有し、これらの画素は２つの画素群１
０ａ，１０ｂに区分けされている。
移動域である落下域Ｒの落下方向と交差する方向に可視
光、赤外線又はレーザー光を発光する線状光源５が略水
平に配設されている。また、図２に示すように、線状光
源５の照射光の一部分を部品Ａの落下域Ｒの落下方向と
交差する方向に９０度反射させる板状反射鏡６が略垂直
に配置され、部品Ａの落下域と交差した該反射鏡６から
の反射光を光源５と反対方向に９０度反射させる板状反
射鏡７が略垂直に配置されている。そして、光源５から
の直接の照射光（たて軸測定用）、及び反射鏡６，７を
経由した反射光（横軸測定用）はレンズ９に集光され、
受光素子１０にて受光されるようになっている。部品Ａ
の落下域のたて軸（Ｘ軸）測定は受光素子１０のＸ軸測
定用画素群１０ａで測定され、部品Ａの落下域の横軸
（Ｙ軸）測定は受光素子１０のＹ軸測定用画素群１０ｂ
で測定される。受光素子１０は水平方向に１列に並設さ
れた多数の画素を有し、これらの画素は２つの画素群１
０ａ，１０ｂに区分けされている。
【００１１】また、図１中、１１は受光素子１０のスキ
ャンの間隔を設定する発振回路、１２は受光素子１０か
らの受光量をデジタル変換するＡ／Ｄ変換器、１３は受
光素子のＸ軸測定用画素群１０ａからのＸ軸データ、及
び受光素子のＹ軸測定用画素群１０ｂからのＹ軸データ
を処理するＸ軸・Ｙ軸データ処理部、１４はＸ軸・Ｙ軸
データ処理部１３からの処理信号に基づきＸ軸及びＹ軸
の個数を認識し、いずれか大きい個数を選択するＸ軸・
Ｙ軸個数認識部（部品個数選択手段）、１５は受光素子
１０のスキャンの都度部品Ａの個数をカウントする個数
カウンター部、１６は供給トラフ４から高速供給される
部品Ａのスロー個数を設定するスロー個数設定部、１７
は部品Ａの最終個数を設定する最終個数設定部、１８は
供給ホッパ２及び供給トラフ４を駆動する供給装置駆動
回路、１９は個数カウンター部１５でカウントされた個
数が最終個数に達すると計数完了を出力する計数完了出
力部、２０はＸ軸・Ｙ軸データ処理部１３、Ｘ軸・Ｙ軸
個数認識部１４、個数カウンター部１５、及び供給装置
駆動回路１８を制御するＣＰＵである。
ャンの間隔を設定する発振回路、１２は受光素子１０か
らの受光量をデジタル変換するＡ／Ｄ変換器、１３は受
光素子のＸ軸測定用画素群１０ａからのＸ軸データ、及
び受光素子のＹ軸測定用画素群１０ｂからのＹ軸データ
を処理するＸ軸・Ｙ軸データ処理部、１４はＸ軸・Ｙ軸
データ処理部１３からの処理信号に基づきＸ軸及びＹ軸
の個数を認識し、いずれか大きい個数を選択するＸ軸・
Ｙ軸個数認識部（部品個数選択手段）、１５は受光素子
１０のスキャンの都度部品Ａの個数をカウントする個数
カウンター部、１６は供給トラフ４から高速供給される
部品Ａのスロー個数を設定するスロー個数設定部、１７
は部品Ａの最終個数を設定する最終個数設定部、１８は
供給ホッパ２及び供給トラフ４を駆動する供給装置駆動
回路、１９は個数カウンター部１５でカウントされた個
数が最終個数に達すると計数完了を出力する計数完了出
力部、２０はＸ軸・Ｙ軸データ処理部１３、Ｘ軸・Ｙ軸
個数認識部１４、個数カウンター部１５、及び供給装置
駆動回路１８を制御するＣＰＵである。
【００１２】本発明は以上のような構成よりなるので、
部品の計数装置１の作用を説明する。先ず、部品の計数
装置１をスタートすると、供給装置駆動回路１８により
供給ホッパ２及び供給トラフ４が振動させられ、供給ト
ラフ４はスロー個数設定部１６で設定されたスロー個数
まで高速振動し、部品Ａを大量供給する。供給トラフ４
の側端から落下した多数の部品Ａ，Ａは落下域にて線状
光源５に照射される。光源５からの照射光により部品
Ａ，Ａの影がレンズ９を介して受光素子のＸ軸測定用画
素群１０ａにより受光量に変換され、一方、反射鏡６で
反射された反射光により部品Ａ，Ａの影がレンズ９を介
して受光素子のＹ軸測定用画素群１０ｂにより受光量に
変換される。受光素子１０は発振回路１１により一定間
隔でスキャンされ、受光素子１０で受光された受光量は
Ａ／Ｄ変換器１２でデジタル変換され、Ｘ軸・Ｙ軸デー
タ処理部１３に入力され処理され、更にＸ軸・Ｙ軸個数
認識部１４で部品ＡのＸ軸の個数及びＹ軸の個数が認識
され、いずれか大きい個数が選択される。
部品の計数装置１の作用を説明する。先ず、部品の計数
装置１をスタートすると、供給装置駆動回路１８により
供給ホッパ２及び供給トラフ４が振動させられ、供給ト
ラフ４はスロー個数設定部１６で設定されたスロー個数
まで高速振動し、部品Ａを大量供給する。供給トラフ４
の側端から落下した多数の部品Ａ，Ａは落下域にて線状
光源５に照射される。光源５からの照射光により部品
Ａ，Ａの影がレンズ９を介して受光素子のＸ軸測定用画
素群１０ａにより受光量に変換され、一方、反射鏡６で
反射された反射光により部品Ａ，Ａの影がレンズ９を介
して受光素子のＹ軸測定用画素群１０ｂにより受光量に
変換される。受光素子１０は発振回路１１により一定間
隔でスキャンされ、受光素子１０で受光された受光量は
Ａ／Ｄ変換器１２でデジタル変換され、Ｘ軸・Ｙ軸デー
タ処理部１３に入力され処理され、更にＸ軸・Ｙ軸個数
認識部１４で部品ＡのＸ軸の個数及びＹ軸の個数が認識
され、いずれか大きい個数が選択される。
【００１３】そして、Ｘ軸・Ｙ軸個数認識部１４で認識
された部品Ａの個数が個数カウンター部１５で前回まで
のスキャンの累積個数に加算されてカウントされ、スロ
ー個数設定部１６で設定されたスロー個数及び最終個数
設定部１７で設定された最終個数と比較される。個数カ
ウンター部１５でカウントされた部品Ａの個数がスロー
個数設定部１６で設定されたスロー個数に達すると、供
給装置駆動回路１８により供給トラフ４は低速駆動させ
られ低速振動し、部品Ａを微量供給する。個数カウンタ
ー部１５でカウントされた部品Ａの個数が最終個数設定
部１７で設定された最終個数に達すると、供給装置駆動
回路１８により供給トラフ４及び供給ホッパ２は駆動停
止させられ、部品Ａの供給が停止され、計数完了出力部
１９から計数完了が出力される。そして、Ｘ軸・Ｙ軸デ
ータ処理部１３、Ｘ軸・Ｙ軸個数認識部１４、個数カウ
ンター部１５、及び供給装置駆動回路１８はＣＰＵ２０
により制御される。
された部品Ａの個数が個数カウンター部１５で前回まで
のスキャンの累積個数に加算されてカウントされ、スロ
ー個数設定部１６で設定されたスロー個数及び最終個数
設定部１７で設定された最終個数と比較される。個数カ
ウンター部１５でカウントされた部品Ａの個数がスロー
個数設定部１６で設定されたスロー個数に達すると、供
給装置駆動回路１８により供給トラフ４は低速駆動させ
られ低速振動し、部品Ａを微量供給する。個数カウンタ
ー部１５でカウントされた部品Ａの個数が最終個数設定
部１７で設定された最終個数に達すると、供給装置駆動
回路１８により供給トラフ４及び供給ホッパ２は駆動停
止させられ、部品Ａの供給が停止され、計数完了出力部
１９から計数完了が出力される。そして、Ｘ軸・Ｙ軸デ
ータ処理部１３、Ｘ軸・Ｙ軸個数認識部１４、個数カウ
ンター部１５、及び供給装置駆動回路１８はＣＰＵ２０
により制御される。
【００１４】従って、部品Ａの落下域の検出範囲内に前
後又は左右に同時に部品Ａが落下しても、受光素子１０
のＸ軸測定用画素群１０ａ、Ｙ軸測定用画素群１０ｂに
より、たて軸方向及び横軸方向を同時に受光して計数で
きるので、部品Ａの個数を確実に計数することができ
る。また、複数の光源及び複数の受光素子を必要とせ
ず、単一の光源及び単一の受光素子ですみ、装置を簡略
化し、コストを削減することができる。なお、上述実施
例ではレンズを用いたが、レンズを省いて部品の計数装
置を構成することもできる。
後又は左右に同時に部品Ａが落下しても、受光素子１０
のＸ軸測定用画素群１０ａ、Ｙ軸測定用画素群１０ｂに
より、たて軸方向及び横軸方向を同時に受光して計数で
きるので、部品Ａの個数を確実に計数することができ
る。また、複数の光源及び複数の受光素子を必要とせ
ず、単一の光源及び単一の受光素子ですみ、装置を簡略
化し、コストを削減することができる。なお、上述実施
例ではレンズを用いたが、レンズを省いて部品の計数装
置を構成することもできる。
【００１５】次に、図３に沿って第２実施例を示す。図
３中、３１は線状光源、３２，３５は反射鏡、３３，３
４は両面反射鏡であり、各反射鏡３２，３３，３４，３
５の間にはそれぞれ部品Ａの落下域Ｒ1 , Ｒ2 ，Ｒ3 が
設けられている。３８，４０，４２は部品Ａの落下域の
Ｘ軸（たて軸）測定用画素群で、３７，３９，４１は部
品Ａの落下域のＹ軸（横軸）測定用画素群で、画素群３
７，３８，３９，４０，４１，４２から受光素子３６が
形成されており、集光するためのレンズは省かれてい
る。そして、部品Ａの落下域へ部品を供給する供給トラ
フ（図示せず）が、３個設けられている。その他は上述
第１実施例と同様である。これにより、多数の部品落下
域を設け、各落下域毎に計数可能としたため、一層高速
に部品を計数することができる。更に、多数の部品落下
域毎に計数可能であるにもかかわらず、単一の光源及び
単一の受光素子ですみ、一層装置を簡略化し、コストを
削減することができる。
３中、３１は線状光源、３２，３５は反射鏡、３３，３
４は両面反射鏡であり、各反射鏡３２，３３，３４，３
５の間にはそれぞれ部品Ａの落下域Ｒ1 , Ｒ2 ，Ｒ3 が
設けられている。３８，４０，４２は部品Ａの落下域の
Ｘ軸（たて軸）測定用画素群で、３７，３９，４１は部
品Ａの落下域のＹ軸（横軸）測定用画素群で、画素群３
７，３８，３９，４０，４１，４２から受光素子３６が
形成されており、集光するためのレンズは省かれてい
る。そして、部品Ａの落下域へ部品を供給する供給トラ
フ（図示せず）が、３個設けられている。その他は上述
第１実施例と同様である。これにより、多数の部品落下
域を設け、各落下域毎に計数可能としたため、一層高速
に部品を計数することができる。更に、多数の部品落下
域毎に計数可能であるにもかかわらず、単一の光源及び
単一の受光素子ですみ、一層装置を簡略化し、コストを
削減することができる。
【００１６】なお、上述実施例では、部品の落下域を１
又は３箇所設けたが、これに限らず、部品落下域の数を
任意に設定することができる。また、上述実施例では、
受光素子を２つ又は６つに区分けして各画素群を形成し
ているが、これに限らず、部品落下域の数に対応して受
光素子を区分けしてよいことは勿論である。
又は３箇所設けたが、これに限らず、部品落下域の数を
任意に設定することができる。また、上述実施例では、
受光素子を２つ又は６つに区分けして各画素群を形成し
ているが、これに限らず、部品落下域の数に対応して受
光素子を区分けしてよいことは勿論である。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
部品の移動域の検出範囲内に前後又は左右に同時に部品
が落下しても、線状光源、複数の反射板、及び受光素子
により、たて軸方向及び横軸方向を同時に受光して計数
できるので、部品の個数を確実に計数することができ
る。また、複数の光源及び複数の受光素子を必要とせ
ず、単一の光源及び単一の受光素子ですみ、装置を簡略
化し、コストを削減することができる。
部品の移動域の検出範囲内に前後又は左右に同時に部品
が落下しても、線状光源、複数の反射板、及び受光素子
により、たて軸方向及び横軸方向を同時に受光して計数
できるので、部品の個数を確実に計数することができ
る。また、複数の光源及び複数の受光素子を必要とせ
ず、単一の光源及び単一の受光素子ですみ、装置を簡略
化し、コストを削減することができる。
【００１８】また、本願の第２の発明によれば、反射板
間に部品の移動域を形成して多数の部品移動域を設け、
各移動域毎に部品を計数可能としたため、一層高速に部
品を計数することができる。更に、多数の部品移動域毎
に計数可能であるにもかかわらず、単一の光源及び単一
の受光素子ですみ、一層装置を簡略化し、コストを削減
することができる。
間に部品の移動域を形成して多数の部品移動域を設け、
各移動域毎に部品を計数可能としたため、一層高速に部
品を計数することができる。更に、多数の部品移動域毎
に計数可能であるにもかかわらず、単一の光源及び単一
の受光素子ですみ、一層装置を簡略化し、コストを削減
することができる。
【図１】本発明による部品の計数装置の機構及びシステ
ムブロック図である。
ムブロック図である。
【図２】本発明による部品の計数装置の線状光源及び反
射鏡部分の平面図である。
射鏡部分の平面図である。
【図３】第２実施例を示し、多数の反射鏡を備えた部品
の計数装置の線状光源及び反射鏡部分の平面図である。
の計数装置の線状光源及び反射鏡部分の平面図である。
【図４】従来の部品の計数装置の投光器を使用した場合
の反射鏡による反射状態を示す説明図である。
の反射鏡による反射状態を示す説明図である。
【図５】従来の部品の計数装置の反射鏡の内面に沿って
試験物体を移動させた時の移動位置と、受光器の受光量
変化との関係を示す図である。
試験物体を移動させた時の移動位置と、受光器の受光量
変化との関係を示す図である。
１ 部品の計数装置 ２ 供給ホッパ ２ａ ガイド ４ 供給トラフ ５ 線状光源 ６，７ 反射鏡 ９ レンズ １０ 受光素子 １０ａ Ｘ軸測定用画素群 １０ｂ Ｙ軸測定用画素群 １１ 発振回路 １２ Ａ／Ｄ変換器 １３ Ｘ軸・Ｙ軸データ処理部 １４ Ｘ軸・Ｙ軸個数認識部 １５ 個数カウンター部 １６ スロー個数設定部 １７ 最終個数設定部 １８ 供給装置駆動回路 １９ 計数完了出力部 ２０ ＣＰＵ ３１ 線状光源 ３２，３５ 反射鏡 ３３，３４ 両面反射鏡 ３６ 受光素子 ３８，４０，４２ Ｘ軸測定用画素群 ３７，３９，４１ Ｙ軸測定用画素群
Claims (2)
- 【請求項１】 部品の移動域の部品の移動方向と交差す
る第１の方向に光を照射する線状光源と、 前記部品の移動域を外れて設けられ、前記線状光源から
の照射光の一部分を９０度反射させて、前記部品の移動
域を、部品の移動方向と交差する前記第１の方向と直交
する第２の方向に照射する板状の第１の反射板と、 前記部品の移動域を外れて設けられ、前記第１の反射板
で反射され、かつ前記部品の移動域を前記第２の方向に
照射する反射光を前記線状光源と反対側の方向に９０度
反射させる板状の第２の反射板と、 前記線状光源からの前記部品の移動域を第１の方向に照
射する照射光を受光すると共に、前記線状光源からの照
射光を前記第１の反射板で反射させて前記部品の移動域
を第２の方向に照射し、次いで第２の反射板で反射され
た反射光を受光し、かつ前記線状光源と略同一平面上に
配置された受光素子と、 前記受光素子の前記部品の移動域を前記第１の方向に照
射した照射光の受光量に基づき判別された第１の部品個
数と、前記受光素子の前記部品の移動域を前記第２の方
向に照射した反射光の受光量に基づき判別された第２の
部品個数とを比較し、第１の部品個数と第２の部品個数
が異なる場合には、いずれか大きい部品個数を選択する
部品個数選択手段と、 を備えてなることを特徴とする部品の計数装置。 - 【請求項２】 前記第１の反射板及び第２の反射板の間
で、第１の反射板の反射光路内に、第１の反射板及び第
２の反射板と平行に両面反射板を１枚以上設け、各反射
板間にそれぞれ部品の移動域を設け、それぞれの部品の
移動域を通過する部品の個数をそれぞれの前記部品個数
選択手段を介してそれぞれの部品の移動域毎に計数して
なる、ことを特徴とする請求項１に記載の部品の計数装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4256463A JP2671247B2 (ja) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | 部品の計数装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4256463A JP2671247B2 (ja) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | 部品の計数装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06111086A JPH06111086A (ja) | 1994-04-22 |
| JP2671247B2 true JP2671247B2 (ja) | 1997-10-29 |
Family
ID=17292991
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4256463A Expired - Fee Related JP2671247B2 (ja) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | 部品の計数装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2671247B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6341726B1 (en) | 1999-06-23 | 2002-01-29 | International Business Machines Corporation | Apparatus for inspecting elements on transport device |
| EP1849127A1 (en) * | 2005-02-17 | 2007-10-31 | Syngeta Participations AG | Seed counting and frequency measurement apparatus and method |
| JP2008096295A (ja) * | 2006-10-12 | 2008-04-24 | Mitsutoyo Corp | 三次元センサおよび接触プローブ |
| KR101224761B1 (ko) * | 2011-03-09 | 2013-01-21 | 삼성전기주식회사 | 부품 수량 측정 장치 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE376968B (ja) * | 1973-10-12 | 1975-06-16 | Aga Ab | |
| JPS5866185A (ja) * | 1981-10-16 | 1983-04-20 | Hitachi Ltd | チユ−ブ洗浄装置用ボ−ル計数装置 |
| JPH0371003A (ja) * | 1989-08-10 | 1991-03-26 | Brother Ind Ltd | 光ビーム走査型測定装置 |
| JPH0433166U (ja) * | 1990-07-11 | 1992-03-18 |
-
1992
- 1992-09-25 JP JP4256463A patent/JP2671247B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06111086A (ja) | 1994-04-22 |
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |