JP2665263B2 - 高精細フロスト像を用いた入力スキャナー - Google Patents
高精細フロスト像を用いた入力スキャナーInfo
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- JP2665263B2 JP2665263B2 JP1312779A JP31277989A JP2665263B2 JP 2665263 B2 JP2665263 B2 JP 2665263B2 JP 1312779 A JP1312779 A JP 1312779A JP 31277989 A JP31277989 A JP 31277989A JP 2665263 B2 JP2665263 B2 JP 2665263B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は熱軟化性樹脂層表面に形成した高精細フロス
ト像を用いた入力スキャナーに関するものである。
ト像を用いた入力スキャナーに関するものである。
従来、熱軟化性樹脂層上に静電荷像を形成して加熱す
ることにより凹凸像を形成し、その後冷却した凹凸像を
固定化することにより、静電荷パターンを現像すること
が知られている。
ることにより凹凸像を形成し、その後冷却した凹凸像を
固定化することにより、静電荷パターンを現像すること
が知られている。
この現像方法は、例えば第６図（ａ）に示すように支
持体10c上に電極10b、熱可塑性樹脂層10aを形成した高
導電体10を帯電装置11により一様にコロナ帯電した後、
第６図（ｂ）に示すように画像露光して画像状の静電荷
パターンを形成し、その後第６図（ｃ）に示すように電
極10bを接地した状態で加熱装置12により光導電体を加
熱すると、熱可塑性樹脂層10aが可塑化し、静電荷パタ
ーンに対応して電極10b上に誘起されている逆符号の電
荷と表面の電荷とが引っ張りあい、その結果、第６図
（ｄ）に示すように熱可塑性樹脂層表面に凹凸像10a、
すなわちフロスト像が形成される。フロスト像形成後、
高導電体を冷却するとこの凹凸像が固定化され、静電荷
パターンの現像を行うことができる。
持体10c上に電極10b、熱可塑性樹脂層10aを形成した高
導電体10を帯電装置11により一様にコロナ帯電した後、
第６図（ｂ）に示すように画像露光して画像状の静電荷
パターンを形成し、その後第６図（ｃ）に示すように電
極10bを接地した状態で加熱装置12により光導電体を加
熱すると、熱可塑性樹脂層10aが可塑化し、静電荷パタ
ーンに対応して電極10b上に誘起されている逆符号の電
荷と表面の電荷とが引っ張りあい、その結果、第６図
（ｄ）に示すように熱可塑性樹脂層表面に凹凸像10a、
すなわちフロスト像が形成される。フロスト像形成後、
高導電体を冷却するとこの凹凸像が固定化され、静電荷
パターンの現像を行うことができる。
しかしながら、第６図に示す従来の現像方法では、光
導電体上に静電潜像を形成しているので、電荷保持性能
がよくないため、本出願人は光導電体でなく、熱軟化性
樹脂層を有する絶縁性の高い電荷保持媒体上に静電荷パ
ターンを形成し、フロスト像を形成することを既に提案
している。
導電体上に静電潜像を形成しているので、電荷保持性能
がよくないため、本出願人は光導電体でなく、熱軟化性
樹脂層を有する絶縁性の高い電荷保持媒体上に静電荷パ
ターンを形成し、フロスト像を形成することを既に提案
している。
このフロスト像は透過または反射により目視すること
ができるが、フロスト像が非常に細かくなった場合、こ
れを精度よく読み取ることが困難であり、従来、フロス
ト像の高解像性を活かす読み取り方法が望まれていた。
ができるが、フロスト像が非常に細かくなった場合、こ
れを精度よく読み取ることが困難であり、従来、フロス
ト像の高解像性を活かす読み取り方法が望まれていた。
本発明は上記課題を解決するためのもので、レーザ光
で走査し、その透過光または反射光を読み取るようにし
た高精細フロスト像を用いた入力スキャナーを提供する
ことを目的とする。
で走査し、その透過光または反射光を読み取るようにし
た高精細フロスト像を用いた入力スキャナーを提供する
ことを目的とする。
本発明は、電極層上に光導電層が形成された感光体
と、電極層上に熱可塑性樹脂層が形成された電荷保持媒
体とを対向配置し、両電極層間に電圧を印加するととも
に画像露光することにより静電潜像を形成した電荷保持
媒体を加熱して変形歪みを形成した後、冷却して変形歪
みを固定することにより画像状に高精細フロスト像が形
成された熱軟化性樹脂表面をレーザー光で走査する走査
手段と、電荷保持媒体からの透過光または反射光を検出
して電気信号に変換する変換手段と、変換手段からの電
気信号をデジタル信号に変換するA/D変換手段と、デジ
タル信号を蓄積するデータ蓄積手段と、A/D変換手段か
らの信号を直接取り込むか、あるいはデータ蓄積手段に
蓄積されたデータを読み出し、データ処理を行う手段と
を備えたことを特徴とする。
と、電極層上に熱可塑性樹脂層が形成された電荷保持媒
体とを対向配置し、両電極層間に電圧を印加するととも
に画像露光することにより静電潜像を形成した電荷保持
媒体を加熱して変形歪みを形成した後、冷却して変形歪
みを固定することにより画像状に高精細フロスト像が形
成された熱軟化性樹脂表面をレーザー光で走査する走査
手段と、電荷保持媒体からの透過光または反射光を検出
して電気信号に変換する変換手段と、変換手段からの電
気信号をデジタル信号に変換するA/D変換手段と、デジ
タル信号を蓄積するデータ蓄積手段と、A/D変換手段か
らの信号を直接取り込むか、あるいはデータ蓄積手段に
蓄積されたデータを読み出し、データ処理を行う手段と
を備えたことを特徴とする。
本発明は、感光体と電荷保持媒体とを対向配置して電
圧印加露光により静電荷パターンを形成し、熱現像によ
りフロスト像を形成しているので、形成されたフロスト
像は極めて高精細なアナログ像となる。また、本発明の
フロスト像の読み取りは、フロスト像の形成された樹脂
表面をレーザ光で走査し、その透過光または反射光によ
りフロスト像を読み取るようにしており、レーザ光の走
査密度を上げることによりフロスト像の高解像性を活か
して読み取り行うことができ、透過光により読み取れば
ポジ像、反射光により読み取ればネガ像というように、
必要に応じて選択してフロスト像を読み取ることが可能
となる。
圧印加露光により静電荷パターンを形成し、熱現像によ
りフロスト像を形成しているので、形成されたフロスト
像は極めて高精細なアナログ像となる。また、本発明の
フロスト像の読み取りは、フロスト像の形成された樹脂
表面をレーザ光で走査し、その透過光または反射光によ
りフロスト像を読み取るようにしており、レーザ光の走
査密度を上げることによりフロスト像の高解像性を活か
して読み取り行うことができ、透過光により読み取れば
ポジ像、反射光により読み取ればネガ像というように、
必要に応じて選択してフロスト像を読み取ることが可能
となる。
以下、実施例を説明する。
第１図はフロスト像の読み取り方法を説明するための
図、第２図は静電荷像形成方法を説明するための図、第
３図は加熱現像を説明するための図、第４図は形成され
たフロスト像を示す図である。図中、１は感光体、1aは
ガラス基板、1bは透明電極、1cは光導電層、２は電荷保
持媒体、2aは熱軟化性樹脂層、2bは透明電極、2cは支持
体、３は光源、５はプラテンガラス、７はオリジナル原
稿、Ｅは電源、10はオーブン、21はフロスト像、50は走
査駆動装置、51はレーザ光源、52は走査光源系、52aは
反射ミラー、52bはハーフミラー、53は検出器、55、56
は反射ミラーである。
図、第２図は静電荷像形成方法を説明するための図、第
３図は加熱現像を説明するための図、第４図は形成され
たフロスト像を示す図である。図中、１は感光体、1aは
ガラス基板、1bは透明電極、1cは光導電層、２は電荷保
持媒体、2aは熱軟化性樹脂層、2bは透明電極、2cは支持
体、３は光源、５はプラテンガラス、７はオリジナル原
稿、Ｅは電源、10はオーブン、21はフロスト像、50は走
査駆動装置、51はレーザ光源、52は走査光源系、52aは
反射ミラー、52bはハーフミラー、53は検出器、55、56
は反射ミラーである。
まず、フロスト像の作成方法について説明する。
第２図において、感光体１は1mm程の厚みを有するガ
ラス基板1aに1000Å厚みのITOからなら透明電極1bを形
成し、その上に厚み10μｍ程度の光導電層を形成したも
のであり、光が当たったところは導電性となるものであ
る。この感光体に対向して10μｍ程の間隙を設けて配置
される電荷保持媒体２は、厚み100μｍ程度のPETからな
る支持体2c上にITOまたは透明導電処理を施して透明電
極2bを形成し、透明電極上にロジンエステル重合体等の
熱軟化性樹脂層2aを３〜10μｍ厚で形成したものであ
る。
ラス基板1aに1000Å厚みのITOからなら透明電極1bを形
成し、その上に厚み10μｍ程度の光導電層を形成したも
のであり、光が当たったところは導電性となるものであ
る。この感光体に対向して10μｍ程の間隙を設けて配置
される電荷保持媒体２は、厚み100μｍ程度のPETからな
る支持体2c上にITOまたは透明導電処理を施して透明電
極2bを形成し、透明電極上にロジンエステル重合体等の
熱軟化性樹脂層2aを３〜10μｍ厚で形成したものであ
る。
このような感光体と電荷保持媒体２とを対向配置して
画像露光すると、光の照射された領域は感光体が導電性
となって感光体と電荷保持媒体との間隙に大きな電圧が
加わって放電が起こり、一方、光の照射されない領域で
は感光体が絶縁性のままであるので感光体と電荷保持媒
体との間隙には放電破壊電圧を越える電圧が加わらない
ため放電が起こらず、熱軟化性樹脂層2a上には画像にに
応じた静電荷パターンが形成される。
画像露光すると、光の照射された領域は感光体が導電性
となって感光体と電荷保持媒体との間隙に大きな電圧が
加わって放電が起こり、一方、光の照射されない領域で
は感光体が絶縁性のままであるので感光体と電荷保持媒
体との間隙には放電破壊電圧を越える電圧が加わらない
ため放電が起こらず、熱軟化性樹脂層2a上には画像にに
応じた静電荷パターンが形成される。
次に、静電荷パターンが形成された電荷保持媒体２
を、第３図に示すようにオーブン10の台10c上に置いて
ヒーター10aと送風機10bとを用いて、例えば60℃で10分
間、110℃で５秒間というように加熱すると、静電荷が
帯電している熱軟化性樹脂層2aが軟化する。このとき電
極２には表面の静電荷と逆符号の電荷が誘起しているの
で、表面静電荷には電極方向にクーロン力が働き、熱軟
化性樹脂層表面は内側に引っ張られ、その結果、軟化し
た樹脂層表面には第４図に示すように静電荷パターンに
応じた凹凸像、すなわちフロスト像が形成され、その後
冷却することにより凹凸が固定化されて情報として記録
される。画像露光で形成された静電荷パターンは非常に
高解像であり、熱軟化性樹脂層の厚みを薄くすることに
より非常に高精細の凹凸像が形成される。
を、第３図に示すようにオーブン10の台10c上に置いて
ヒーター10aと送風機10bとを用いて、例えば60℃で10分
間、110℃で５秒間というように加熱すると、静電荷が
帯電している熱軟化性樹脂層2aが軟化する。このとき電
極２には表面の静電荷と逆符号の電荷が誘起しているの
で、表面静電荷には電極方向にクーロン力が働き、熱軟
化性樹脂層表面は内側に引っ張られ、その結果、軟化し
た樹脂層表面には第４図に示すように静電荷パターンに
応じた凹凸像、すなわちフロスト像が形成され、その後
冷却することにより凹凸が固定化されて情報として記録
される。画像露光で形成された静電荷パターンは非常に
高解像であり、熱軟化性樹脂層の厚みを薄くすることに
より非常に高精細の凹凸像が形成される。
次に、フロスト像の読み取りについて第１図により説
明する。
明する。
レーザ光源51からのレーザ光を反射ミラー52a、ハー
フミラー52bを介してフロスト像が形成された電荷保持
媒体表面に対して照射し、その反射光をハーフミラー52
bを通して検出器53により電気信号に変換して読み取
る。そして、走査駆動装置50により走査光学系を走査駆
動しながら電荷保持媒体表面を走査して順次読み取るこ
とにより、レーザ走査密度に応じた解像度でフロスト像
を読み取ることができる。この場合、凹凸部分は乱反射
して白く見え、凹凸が形成されていない部分は光が透過
して黒く見えるので、フロスト像のネガ像を読み取るこ
とになる。
フミラー52bを介してフロスト像が形成された電荷保持
媒体表面に対して照射し、その反射光をハーフミラー52
bを通して検出器53により電気信号に変換して読み取
る。そして、走査駆動装置50により走査光学系を走査駆
動しながら電荷保持媒体表面を走査して順次読み取るこ
とにより、レーザ走査密度に応じた解像度でフロスト像
を読み取ることができる。この場合、凹凸部分は乱反射
して白く見え、凹凸が形成されていない部分は光が透過
して黒く見えるので、フロスト像のネガ像を読み取るこ
とになる。
第１図（ｂ）は透過光によりフロスト像を読み取るも
のであり、この場合には反射ミラー55、56を走査駆動装
置50で走査駆動しながらフロスト像を読み取る。凹凸部
分は乱反射して光は透過しないので黒く見え、凹凸の形
成されていない部分は光が透過して白く見えるので、フ
ロスト像のポジ像を読ることになる。
のであり、この場合には反射ミラー55、56を走査駆動装
置50で走査駆動しながらフロスト像を読み取る。凹凸部
分は乱反射して光は透過しないので黒く見え、凹凸の形
成されていない部分は光が透過して白く見えるので、フ
ロスト像のポジ像を読ることになる。
このように、反射光で読み取るか、透過光で読み取る
かによりポジ像、あるいはネガ像としてフロスト像を読
み取ることができるので、必要に応じてどちらかを選択
して、高解像の読み取りを行うことができる。
かによりポジ像、あるいはネガ像としてフロスト像を読
み取ることができるので、必要に応じてどちらかを選択
して、高解像の読み取りを行うことができる。
第５図は本発明のフロスト像読み取り方法を入力スキ
ャナーに適用した実施例を説明するための図である。
ャナーに適用した実施例を説明するための図である。
電荷保持媒体２には、例えば所定の原稿がフロスト像
として記録されている。そしてレーザ光源51によりハー
フミラー57を介して電荷持媒体２の表面を走査してその
反射光を検出器53で検出して電気信号に変換し、さらに
A/D変換してコンピュータ61に読み込む。この場合、画
像データは膨大になるので、多くの画像情報を読み込む
ために磁気ディスク62、または磁気テープ63に記録す
る。そして、必要な時にこれを読み出し、図示しないモ
ニタで観察しながら画像合成、色修正、倍率変換、マス
キング、ディテール強調等所定の画像処理を加えて記録
ヘッド66を通して記録シリンダ67にセットしたフィルム
68に露光記録する。なお、画像データは必要に応じてプ
リンタ65によりプリントアウトすることができる。
として記録されている。そしてレーザ光源51によりハー
フミラー57を介して電荷持媒体２の表面を走査してその
反射光を検出器53で検出して電気信号に変換し、さらに
A/D変換してコンピュータ61に読み込む。この場合、画
像データは膨大になるので、多くの画像情報を読み込む
ために磁気ディスク62、または磁気テープ63に記録す
る。そして、必要な時にこれを読み出し、図示しないモ
ニタで観察しながら画像合成、色修正、倍率変換、マス
キング、ディテール強調等所定の画像処理を加えて記録
ヘッド66を通して記録シリンダ67にセットしたフィルム
68に露光記録する。なお、画像データは必要に応じてプ
リンタ65によりプリントアウトすることができる。
この場合、フロスト像を形成した電荷保持媒体２は入
力スキャナーを構成し、その構成はフラットベッドタイ
プであるので、読取りシリンダ等を必要とせず、構成を
コンパクトにできると共に、原稿のセット等面倒な走査
が要らなくなる。また、電荷保持媒体２には面露光によ
りアナログ情報がフロスト像として記録されているが、
このままMTの代用としておけば、MTへの記録、読みだし
に要する時間を省略することができるため原稿読み込み
から露光記録までのトータルの時間を短縮することがで
きる。
力スキャナーを構成し、その構成はフラットベッドタイ
プであるので、読取りシリンダ等を必要とせず、構成を
コンパクトにできると共に、原稿のセット等面倒な走査
が要らなくなる。また、電荷保持媒体２には面露光によ
りアナログ情報がフロスト像として記録されているが、
このままMTの代用としておけば、MTへの記録、読みだし
に要する時間を省略することができるため原稿読み込み
から露光記録までのトータルの時間を短縮することがで
きる。
以上のように本発明によれば、フロスト像の形成され
た熱軟化精樹脂表面をレーザ光で走査し、透過光または
反射光で読み取ることにより、レーザ光の走査密度でフ
ロスト像の高解像性を活かして読み取ることができ、必
要に応じて透過光か反射光によりポジ像とネガ像とを選
択して読み取ることが可能となる。
た熱軟化精樹脂表面をレーザ光で走査し、透過光または
反射光で読み取ることにより、レーザ光の走査密度でフ
ロスト像の高解像性を活かして読み取ることができ、必
要に応じて透過光か反射光によりポジ像とネガ像とを選
択して読み取ることが可能となる。
第１図は本発明の読み取り方法を説明するための図、第
２図は本発明の静電荷パターン形成方法を説明するため
の図、第３図は熱現像を説明するための図、第４図は形
成されたフロスト像を説明するための図、第５図は本発
明を入力スキャナーに適用した実施例を示す図、第６図
は従来のフロスト像作成方法を説明するための図であ
る。 50……走査駆動装置、51……レーザ光源、52……走査光
学系、52a……反射ミラー、52b……ハーフミラー、53…
…検出器、55、56……反射ミラー。
２図は本発明の静電荷パターン形成方法を説明するため
の図、第３図は熱現像を説明するための図、第４図は形
成されたフロスト像を説明するための図、第５図は本発
明を入力スキャナーに適用した実施例を示す図、第６図
は従来のフロスト像作成方法を説明するための図であ
る。 50……走査駆動装置、51……レーザ光源、52……走査光
学系、52a……反射ミラー、52b……ハーフミラー、53…
…検出器、55、56……反射ミラー。
Claims (1)
- 【請求項１】電極層上に光導電層が形成された感光体
と、電極層上に熱可塑性樹脂層が形成された電荷保持媒
体とを対向配置し、両電極層間に電圧を印加するととも
に画像露光することにより静電潜像を形成した電荷保持
媒体を加熱して変形歪みを形成した後、冷却して変形歪
みを固定することにより画像状に高精細フロスト像が形
成された熱軟化性樹脂表面をレーザー光で走査する走査
手段と、電荷保持媒体からの透過光または反射光を検出
して電気信号に変換する変換手段と、変換手段からの電
気信号をデジタル信号に変換するA/D変換手段と、デジ
タル信号を蓄積するデータ蓄積手段と、A/D変換手段か
らの信号を直接取り込むか、あるいはデータ蓄積手段に
蓄積されたデータを読み出し、データ処理を行う手段と
を備えた高精細フロスト像を用いた入力スキャナー。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1312779A JP2665263B2 (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 高精細フロスト像を用いた入力スキャナー |
| DE69032659T DE69032659T2 (de) | 1989-11-29 | 1990-11-29 | Träger für frostbild sowie methode und gerät zum herstellen und lesen eines frostbildes |
| US07/741,505 US5378565A (en) | 1989-11-29 | 1990-11-29 | Frost image recording medium and method of and apparatus for forming and reading frost image |
| PCT/JP1990/001550 WO1991008521A1 (en) | 1989-11-29 | 1990-11-29 | Frost image recording medium and method and apparatus for preparing and reading frost image |
| EP90917536A EP0455824B1 (en) | 1989-11-29 | 1990-11-29 | Frost image recording medium and method and apparatus for preparing and reading frost image |
| US08/294,751 US5521040A (en) | 1989-11-29 | 1994-08-23 | Frost image recording medium and method of and apparatus for forming and reading frost image |
| US08/607,066 US5672453A (en) | 1989-11-29 | 1996-02-26 | Frost image recording medium and method of and apparatus for forming and reading frost image |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1312779A JP2665263B2 (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 高精細フロスト像を用いた入力スキャナー |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03172068A JPH03172068A (ja) | 1991-07-25 |
| JP2665263B2 true JP2665263B2 (ja) | 1997-10-22 |
Family
ID=18033305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1312779A Expired - Fee Related JP2665263B2 (ja) | 1989-11-29 | 1989-11-30 | 高精細フロスト像を用いた入力スキャナー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2665263B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE69425184T2 (de) * | 1993-04-26 | 2001-03-22 | Dainippon Printing Co Ltd | Photoelektrische Sensor, Aufzeichnungssystem, und Verfahren für Datenaufzeichnung und Reprographie |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4320489A (en) | 1980-03-03 | 1982-03-16 | Rca Corporation | Reversible optical storage medium and a method for recording information therein |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5194825A (ja) * | 1975-02-19 | 1976-08-19 | Seidenkirokuhoho | |
| JPS53138848U (ja) * | 1978-03-13 | 1978-11-02 | ||
| JPS5515031A (en) * | 1978-07-20 | 1980-02-01 | Japan Spectroscopic Co | Polarized fluorescence measuring unit |
| JPH02223499A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-09-05 | Mitsubishi Plastics Ind Ltd | カードの可視記録方法 |
-
1989
- 1989-11-30 JP JP1312779A patent/JP2665263B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4320489A (en) | 1980-03-03 | 1982-03-16 | Rca Corporation | Reversible optical storage medium and a method for recording information therein |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03172068A (ja) | 1991-07-25 |
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