JP2641855B2 - 適応制御装置 - Google Patents

適応制御装置

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JP2641855B2 JP61262952A JP26295286A JP2641855B2 JP 2641855 B2 JP2641855 B2 JP 2641855B2 JP 61262952 A JP61262952 A JP 61262952A JP 26295286 A JP26295286 A JP 26295286A JP 2641855 B2 JP2641855 B2 JP 2641855B2
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【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は,動特性が未知あるいは時間経過や操業条件
に応じて変化する制御対象に対し,その動特性を制御対
象の応答波形から推定し,これに基づいて制御則パラメ
ータを調整することにより,常に制御性能を最適に保つ
ようにした適応制御装置に関する。
(従来の技術) 周知のように,適応制御系には,PIDオートチューニン
グコントローラ,セルフチューニングコントローラ(ST
S),モデル規範形適応制御系(MRACS)などがある。こ
れらは,制御対象の動特性モデルを最小二乗法に類似し
たパラメータ推定アルゴリズムで推定し,その結果に応
じて,閉ループ系がある評価関数を最適にするように制
御したり,あるいは規範モデルと同じ動きを示すように
制御装置の制御則パラメータを調整するようにしてい
る。
しかしながら,PIDオートチューニングコントローラや
セルフチューニングコントローラでは,制御系の安定性
を考慮に入れた制御則パラメータの設計を行なっていな
いため,制御対象の性質によっては不安定になることも
あった。また、モデル規範形適応制御系では,制御系の
安定性が厳密に保証されるように設計されてはいるが,
そのためには対象となる制御対象の無駄時間,最大次
数,極と零点との数の差が既知でなければならず,しか
も制御対象が最小位相系でなければならないなどの多く
の条件が必要であり,現実のプロセスではこれらを満た
すことがほとんどできない。また,これらの適応制御系
は,動特性が緩慢に変動する制御対象に対しては制御系
が常に最適な状態になるように制御則パラメータを追従
させることができるが,動特性の急激な変動(たとえ
ば,ゲイン特性や位相特性の変動)には追従できず,一
時的に制御系が不安定になることがあった。さらに,制
御系にドリフト外乱が加わったり,制御量の測定に観測
ノイズが加わった場合には,制御対象の動特性モデルを
推定することが困難で,その結果,誤った制御則パラメ
ータの調整が行われ,結果として制御系が不安定になる
こともあった。
(発明が解決しようとする問題点) 上述の如く,従来の適応制御装置にあっては,制御対
象の性質,制御対象の動特性の急変,外乱や観測ノイズ
等によって制御系が不安定になる問題があった。
そこで本発明は,制御対象の特性に拘らず,また制御
対象の動特性がある範囲で急変した場合でも,さらには
外乱や観測ノイズが加わった場合であっても制御系が安
定に保たれるように制御則パラメータの調整を行なうこ
とができる適応制御装置を提供することを目的としてい
る。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明は,制御対象および制御系にかかわる諸信号か
ら制御対象の動特性に関するパラメータを推定する同定
手段と,この手段で推定された動特性に基づいて制御則
パラメータを演算する制御則パラメータ演算手段と,こ
の手段で演算された制御則パラメータと制御目標値と前
記制御対象の制御量とから操作量を演算する操作量演算
手段と,パーシステントリ・エキサイテング信号からな
る同定信号を発生し,この信号を制御系の制御目標値信
号または操作量信号のいずれかに加える同定信号発生手
段とを備えた適応制御装置において, 前記同定手段において前記制御対象にかかわる諸信号
のサンプリングデータから自己回帰移動平均モデルを最
小二乗法で推定させるとともにそのモデルから制御対象
のゲイン,位相の周波数特性曲線を求めさせ,また前記
制御則パラメータ演算手段において上記ゲイン,位相の
周波数特性曲線から予め指定されたゲイン余裕,位相余
裕を満たすように制御則パラメータを演算させている。
(作用) 同定手段では,制御対象に関する諸信号,たとえば制
御対象の制御量と操作量とから制御対象の動特性モデル
としての自己回帰移動平均(ARMA)モデルを最小二乗法
で推定する。最小二乗法を適用するに際しては,バッチ
処理的なもの,カルマンフイルタに基づくもの,オンラ
イン的なもの等のいずれもを用いることができるが,本
発明では,本発明者らが先に特願昭60−221312号として
提案した改良形のオンライン最小二乗法を用いている。
これはサンプリングデータをある区間に亙り1度メモリ
に蓄え,それを数回続けて読み出すことによって仮想的
に長いデータを作り,それにオンライン最小二乗法を適
用することによって推定パラメータの収束を速め,また
外乱に対して推定パラメータの急変を抑えるようにして
いる。このようにして推定された制御対象の動特性に関
する自己回帰移動平均モデルから制御対象のゲイン,位
相の周波数特性曲線,すなわちボード線図を求める。
次に,制御則パラメータ演算手段では,制御系の特性
に関する仕様またはそれを代表する参照モデルが複数種
類記録されている数値テーブルから指定されたたものの
ゲイン余裕,位相余裕を読み出し,これと同定手段で推
定されたボード線図とに基づき,与えられたゲイン余
裕,位相余裕を満たすように制御則パラメータを算出す
る。そして,その値に制御装置が調整される。
(実施例) 以下,本発明の実施例を図面を参照しながら説明す
る。
第1図は本発明の一実施例に係る適応制御装置のブロ
ック構成図である。
同図において,1は制御対象であり,この制御対象1は
操作量信号u(t)によって制御される。操作量信号u
(t)は,操作量演算部(コントローラ)2においてフ
イードバックされた制御量信号y(t)と目標値信号r
(t)との偏差に基づいて演算される。操作量演算部2
は,フイードフォワード付I−Pコントローラであり,
フイードフォワード部3と,積分器4と,フイードバッ
ク部5とで構成されている。この操作量演算部2は,フ
イードフォワードゲインffを調整することにより,P−I
コントローラと等価にすることもできる。なお,このよ
うな制御系を2自由度形制御系と称し,この制御系の利
点は,制御系の特性である目標値追従性能と外乱抑制性
能とを独立に調整できるため,双方を同時に最適化でき
る点にある。
図中6は適応制御に必要なチューニングを開始させる
ための同定信号発生部である。すなわち,制御系が閉ル
ープ系で,そのときの制御対象1の操作量信号u(t)
と制御量信号y(t)とから動特性を同定する場合には
可同定条件を満たすために外部から何等かの刺激を与え
て制御対象1を励起する必要がある。同定信号発生部6
は,上述した励起を行なうためのもので,後述する制御
性能監視部9からの指令で動作してM系列,矩形波,パ
ルス等のパーシステントリ・エキサイテングな信号を発
生し,これを操作量信号u(t)または目標値信号r
(t)に加えるようにしている。
一方,制御対象1の操作量信号u(t)および制御量
信号y(t)は,プレフイルタ7を介してサンプラー8
でサンプリングされ,離散時間データu(k),y(k)
として動特性同定部10および制御性能監視部9へ取り込
まれる。このデータは,動特性同定部10によって,次の
ような自己回帰移動平均モデル(ARMAモデル)に当ては
められる。
y(k)+a1y(k-1)+…+any(k-n) =b1u(k-1)+b2u(k-2)+……+bmu(k-m) …(1) そして,パラメータ{ai},{bi}を次の最小二乗法
で推定する。
ステップ1 nとmの大きい方をLとおく。すなわち, L=max(n,m) …(2) (n+m)×(n+m)行列Γ(L-1)=α IIとおく,
(ただし,IIは単位行列であり,αは正の大きな数であ
る),(n+m)次元の推定パラメータベクトルθ
(L-1)=[0……0]とおく,0<λ1(たとえば,
λ=0.99)とおく,k=Lとおく。
ステップ2 以下の(a),(b),(c),(d),(e)の処
理をk=N(ただし,N》L)となるまで実行する。
(a)ベクトルφ(k)を作る。
φ(k)=[−y(k-1),−y(k-2)……, −y(k-n),u(k-1),u(k-2),……u(k-m) …(3) (c)θ(k)=θ(k-1)+Γ(k-1)・φ(k)・ε (k) …(5) (d)Γ(k)=1/λ[Γ(k-1)−{Γ(k-1)・φ(k)・φT
(k)・Γ(k-1)} /{λ+φT (k)・Γ(k-1)・φ(k)}] …(6) (e)k+1をkとおき,(a)に戻る。
ステップ3 もし, (0<εθ≪1)(N01) ならば,θ(N)=[a1,a2,……an,b1,b2,……bm] を(1)式の推定パラメータとする。もし,そうでない
ならば再びk=Lとおいて,ステップ2を実行する。た
だし,ここで,εθは推定パラメータ収束判定のしきい
値である。また,|θ|はベクトルθのユークリッドノル
ムを意味し, となる。この結果,制御対象1の動特性は,次のような
パルス伝達関数モデルとして表わされる。
GP(Z-1)=(b1Z-1+b2Z-2+……+bmZ-m)/ (1+a1Z-1+a2Z-2+……+anZ-n) …(8) 次に,以下の処理にしたがってGP(z-1)から制御対
象1の周波数応答関数GP(j ω)を求める。実際にはゲ
イン特性|GP(j ω)|および位相特性∠GP(j ω)を
求める。手順は以下の通りである。
ある周波数ωに対し,複素数, Z=ej ω=X+jY(jは虚数単位) …(9) を求める。サンプラー8のサンプリング周期をτとして
次の複素数を求める。
GP(j ω)=Δ(jω,Z)・GP(Z-1) ={(A・B)/(jωτ)}・GP(Z-1) =gx+j・gy …(10) ただし,A={1+j ωτ+(jωτ)2/3} B=Z−3+3Z-1−Z-2 このとき,ある周波数ω[rad/sec]に対するゲイン
特性,位相特性はそれぞれ, 位相特性∠GP(j ω) =tan-1(gy/gx) …(12) により求まる。
これらのデータは推定パラメータ確認修正部11へ送ら
れる。推定パラメータ確認修正部11は,制御対象1の推
定された動特性に関してその妥当性をチェックし必要に
応じて修正を行なう。これらは以下のルールにしたがっ
て行われる。
修正ルール1 制御対象1の定常ゲイン g0=GP(Z-1)|Z=1 …(13) を求める。予め与えられた制御対象1の定常ゲインの最
大値g0 MAX,最小値g0 MINを用いて, もしg0 ming0g0 MAX …(14) なら,(1)式のGP(Z-1)の推定が正しいものと判定
する。そうでないときには最小二乗方によるパラメータ
の推定がうまくできなかったものと判定し,再びGP(Z
-1)を推定し直す。このようにしてチェックされた推定
パラメータは制御則パラメータ演算部12へ与えられる。
一方,図中13は制御仕様テーブルであり,この制御仕
様テーブル13には,参照モデル番号,オーバーシュート
量,ゲイン余裕,位相余裕が次表のように数種類記録さ
れている。
許容できるオーバシュート量に基づいて好ましい参照
モデルをオペレータが選択し,その番号を指定すると,
対応するゲイン余裕GM,位相余裕φが制御則パラメー
タ演算部12へ送られる。制御則パラメータ演算部12は,
推定パラメータ確認修正部11から与えられた制御対象1
の周波数応答関数|GP(j ω)|,∠GP(j ω),制御仕
様テーブル13から受取ったゲイン余裕GM,位相余裕φ
に基づいて,制御量演算部2の制御則パラメータk(積
分ゲイン),f0(フイードバックゲイン),ff(フィード
フォワードゲイン)を以下のステップで算出する。
ステップ1 ∠GP(j ω)=−180゜となる周波数ω180を見つける。
∠GP(j ω)=−90゜となる周波数ω90を見つける。
ステップ2 設計周波数ω=ω90と設定する。
ステップ3 フィードバックゲインf0,積分ゲインkを次式より算
出する。
f0=[tan φ・sin{−∠GP(j ω)} /|GP(j ω)|] −[cos{∠GP(j ω)} /|GP(j ω)|] …(15) k=ω・sin{−∠GP(j ω)}/ {cos φ・|GP(j ω)|} …(16) ステップ4 ω<ω<ω180の範囲のなかで, f0+cos{∠GP(j ω)}/ |GP(j ω)|=0 …(17) を満たすωを探す。
GM(ω)=|GP(j ω)|・k/ [ω・sin{−∠GP(j ω)}] …(18) を求める。
ステップ5 ならば,たとえばω←ω×0.9としてωを少し
減少させてステップ3へ戻る。
ステップ6 フィードフォワードゲインffを次式によって求める。
ff=k・β・ωP -1 …(20) ただし,βは0.0〜0.5程度に設定された定数である。
第2図に以上述べたの計算手順を示す。このようにし
て算出された制御則パラメータff,k,f0は,指定された
ゲイン余裕GM,位相余裕φを満たしたものとなる。算
出された制御則パラメータは,次に制御則パラメータ確
認修正部14へ送られる。この制御則パレメータ確認修正
部14は以下のようなルールに基づいてff,k f0の妥当性
をチェックし,必要に応じて修正する。
修正ルール2 もし,ff<ffmin ならば ff=ffmin もし,ff>ffmax ならば ff=ffmax もし,k <k min ならば k =k min もし,k >k max ならば k=k max もし,f0<f0min ならば f0=f0min もし,f0>f max ならば f0=f0max チェックおよび修正の済んだ制御則パラメータff,k f
0は,制御性能監視部9の指示にしたがい操作量演算部
2へ送られる。操作量演算部2のパラメータがその値に
調整される。
一方,制御性能監視部9は,一定周期毎に以下のルー
ルを確認し,条件が成立したとき制御則パラメータの演
算およびチューニング起動をかける。
チューニング起動ルール1 制御偏差e(k)=r(k)−y(k)の振幅がしき
い値εを越えたとき,すなわち,|e(k)|>ε
とき以下のルールをチェックする。
チューニング起動ルール2 ならば,チューニングを起動する。
チューニング起動ルール3 時刻kからk+N2までの間に, |e(k)|>ε となる回数がN2回以上あった場合にチューニングを起動
する。
チューニング起動ルール4 チューニングが起動されたとき,制御目標値の変化率
が, ならば同定信号発生部6より,たとえばM系列の信号を
発生させる。なお,その振幅は,の値の基づき決定す
る。またM系列の基本周期はサンプリング周期の整数倍
である。
このようにチューニングが起動されると,動特性同定
部10,推定パラメータ確認修正部11,制御則パラメータ演
算部12,制御則パラメータ確認修正部14が前述した処理
を次々と行ない,これによって操作量演算部2のパラメ
ータff,k,f0が新しい値に調整され,ここに適応制御が
行われることになる。
第3図は本発明に係る適応制御装置を使用して実験用
プロセスを制御したときの制御応答の結果を示すもので
ある。図中(a)は対象とするプロセスに外乱や観測ノ
イズが加わらない場合を示し,また(b)は加わった場
合を示している。これらの制御例では、チューニング区
間で目標値r(t)を矩形波状に変動させてその間にチ
ューニングを行ない,その後に目標値をステップ状に変
化させている。これらの図から,目標値変化に対し制御
量y(t)が速やかに追従して,制御系が良好にチュー
ニングされていることが判かる。
なお,本発明は上述した実施例に限定されるものでは
ない。すなわち,上述した実施例は本発明をフィードフ
ォワード付I−P制御系に適用した例であるが,本発明
はPI制御系,PID制御系,I−PD制御系,フィードフォワー
ド付I−PD制御系などにも適用することができる。ま
た,本発明の適応制御装置を多変数制御系に拡張するこ
とは容易であり,本質となる手順は同じである。また,
上述した実施例では,推定パラメータ確認修正部11,制
御則パラメータ確認修正部14および制御性能監視部9に
おいて,各ルールの判定を2値論理を用いて行なってい
るが,それをファジイ演算等に代えるようにしてもよ
い。
[発明の効果] (1)制御系が予め指定されたある程度の安定度を持つ
ように調整されるため,制御対象の動特性変動の影響を
制御系で充分吸収でき,適応動作で追従できない急激な
制御対象の変動にも対処できる。
(2)(1)と同じ理由により,制御系の安定性を考慮
に入れた設計を行なっているので,制御対象の特性に無
関係に安定な制御を行なうことができる。
(3)制御対象の周波数特性曲線のみに基づく制御系設
計法を用いているので,MRACSなどに要求される制御対象
に関する無駄時間,次数の情報,最小位相系の条件など
を考慮する必要がなく,統一的に設計できる。
(4)オペレータが選択した参照モデルと同じゲイン余
裕,位相余裕を持たせる設計法であるため,制御系の過
渡応答に関する仕様(オーバーシュート量や減衰比な
ど)をオペレータが自由に指定できる。
(5)設計に当って,制御対象のカットオフ周波数近傍
の特性のみを用いるため,低周波のドリフ外乱や高周波
観測ノイズによる動特性の推定誤差の影響をあまり受け
ない。これらの結果,外乱に強い適正制御系を実現でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る適応制御装置のブロッ
ク構成図,第2図は同装置における制御則パラメータ演
算部での演算手順を示す図,第3図は同適応制御装置を
用いて制御したときの各部応答波形を示す図である。 1……制御対象,2……操作量演算部(コントローラ),6
……同定信号発生部,8……サンプラー,9……制御性能監
視部,10……動特性同定部,11……推定パラメータ確認修
正部,12……制御則パラメータ演算部,13……制御仕様テ
ーブル,14……制御則パラメータ確認修正部。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】制御対象および制御系にかかわる諸信号か
    ら上記制御対象の動特性に関するパラメータを推定する
    同定手段と,この手段で推定された動特性に基づいて制
    御則パラメータを演算する制御則パラメータ演算手段
    と,この手段で演算された制御則パラメータと制御目標
    値と前記制御対象の制御量とから上記制御対象の操作量
    を演算する操作量演算手段と,パーシステントリ・エキ
    サイテング信号からなる同定信号を発生し,この信号を
    制御系の制御目標値信号または操作量信号のいずれかに
    加える同定信号発生手段とを備えた適応制御装置におい
    て, 前記同定手段は,前記制御対象にかかわる諸信号のサン
    プリングデータから自己回帰移動平均モデルを最小二乗
    法で推定するとともにそのモデルから上記制御対象のゲ
    イン,位相の周波数特性曲線を求める手段を備えてお
    り, 前記制御則パラメータ演算手段は,前記ゲイン,位相の
    周波数特性曲線から予め指定されたゲイン余裕,位相余
    裕を満たす制御則パラメータを演算する手段を備えてい
    る ことを特徴とする適応制御装置。
  2. 【請求項2】前記制御則パラメータ演算手段は,幾つか
    の参照モデルとこれら参照モデルに対応するゲイン余
    裕,位相余裕,オーバーシュート量,減衰比とが記録さ
    れているテーブルからオペレータの指定したオーバーシ
    ュート量,減衰比または参照モデルのタイプに対応する
    ゲイン余裕,位相余裕を読出して制御則パラメータ演算
    に用いるものであることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の適応制御装置。
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