JP2629315B2 - 画像信号の高能率符号化装置 - Google Patents

画像信号の高能率符号化装置

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、テレビジョン信号等の画像信号の高能率
符号化装置、特に、サブサンプリングとダイナミックレ
ンジに適応した符号化との組み合わせた構成に関する。
〔発明の概要〕
この発明は、ダイナミックレンジに適応した可変長の
符号化で得られたデータがサブサンプリングにより間引
かれるハイブリッドの構成であって、データを効率良く
圧縮でき、また、符号化回路の量子化ビット数に応じ
て、サブサンプリングの間引き率を決定することによ
り、ブロック毎に発生するデータ量を伝送容量に応じた
略々一定とできる。
〔従来の技術〕
ディジタルビデオ信号を伝送する場合に、伝送される
データ量を元のデータ量に比して圧縮する方法として、
サブサンプリングによって画素を間引き、サンプリング
周波数を低くするものが知られている。サブサンプリン
グの一つとして、画像のデータが1/2に間引かれ、サブ
サンプリング点と、補間の時に使用するサブサンプリン
グ点の位置を示す2ビットのフラグとを伝送するものが
提案されている。ディジタルビデオ信号の1画素データ
が8ビットの場合、フラグの2ビットを加えると、1画
素当りが5ビットとなり、圧縮率が(5/8)となる。
この従来のサブサンプリングは、サブサンプリングの
パターンが常に同じであるので、画像中で物体の輪郭の
ような部分では、復元画質の劣化が目立つ問題があっ
た。特に、サブサンプリングのレートを1/2より高くす
ると、画質の劣化が著しい欠点があった。
本願出願人は、画像の特徴に適応した任意のサブサン
プリングのパターンを形成でき、良好な復元画像が得ら
れる画像信号の高能率符号化装置を提案している。(特
願昭62−208957号明細書参照)。
また、上記の出願明細書に記載された発明と同様の利
点を有し、補間誤差の算出時に実データを使用し、従っ
て、実時間処理が可能であって、動画像に適用できる画
像信号の高能率符号化装置が本願出願人により、提案さ
れている(特願昭62−85210号明細書参照)。
〔発明が解決しようとする課題〕
先に提案されている可変密度サブサンプリングの場
合、適応的に間引き処理がされるために、発生データ量
が画像の相関の程度に応じて大きく変化し、伝送データ
量が略々一定のデータレートが要求される伝送路(例え
ばディジタルVTR)に適用する面で問題があった。ま
た、伝送容量が小さい場合には、サブサンプリングのみ
では、データ量の削減が不充分であった。
従って、この発明の目的は、レベル方向の圧縮を併用
することにより、高い圧縮率を達成でき、また、発生デ
ータ量を略々一定とすることができる画像信号の高能率
符号化装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
この発明では、ディジダル画像信号を複数の画素で形
成されるブロック構造に変換し、ブロック内のダイナミ
ックレンジDRを検出し、ダイナミックレンジDRに応じ
て、元の量子化ビット数より少ない可変の量子化ビット
数nをブロック内の画素データに割り当て、量子化コー
ドDTを発生する符号化回路2、3、4、5、6、7、
8、9、10と、 ブロック内の複数の画素S1〜S16に関して、夫々の周
辺の複数の画素を使用して受信側でなされるのと同様の
補間の処理を行い、補間により得られたデータと真値と
の間の誤差を検出する補間誤差検出回路17と、 符号化回路2、3、4、5、6、7、8、9、10の量
子化ビット数nに応じて間引き率を決定する回路20と、 ブロック内の上記誤差に関して、誤差が小さい順序
で、間引き率と対応する個数の量子化コードDTを選択的
に間引く回路14、19と が備えられている。
〔作用〕
一例として、ディジタルビデオ信号が(4×4)画素
のブロック構造に変換され、ダイナミックレンジに適応
した符号化回路に供給される。この符号化回路では、ブ
ロック毎にダイナミックレンジDRが検出され、ダイナミ
ックレンジDRが量子化ビット数nと対応する値で割算さ
れて、量子化ステップが算出される。この量子化ステッ
プで最小値除去後のデータが量子化される。量子化ビッ
ト数nは、ダイナミックレンジDRに応じて、例えば1ビ
ットから4ビットに設定される。即ち、ダイナミックレ
ンジDRが大きいほど、量子化ビット数nが大きいものと
され、データの圧縮率が高くされ、また、量子化歪みが
大きくなることが防止される。
この符号化回路のnビットの量子化コードがサブサン
プリング用のゲート回路14に供給される。1ブロック内
の量子化コードの伝送及び間引きの選択は、上記の量子
化ビット数nと補間誤差の大小に応じてなされる。例え
ば量子化ビット数nが1の場合には、間引き率が1とさ
れ、(n=2)の場合には、間引き率が1/2とされ、
(n=3)の場合には、間引き率が1/3とされ、(n=
4)の場合には、間引き率が1/4とされる。
一方、ブロック毎に、受信側で間引かれた画素の補間
を行った場合に予測される誤差が補間誤差検出回路17で
検出される。ブロック内の16個の画素に関する補間誤差
(予測値)が大きさに応じた順序で並べられる。上述の
間引き率に応じて間引かれる複数の画素として、補間画
素が最も小さいものから選択される。
このサブサンプリング方式は、1画素毎に、間引きに
ついての判断を行うので、画素の特徴に対する適応性が
頗る良好とできる。
符号化回路のビット数nに応じて間引き率が決定され
るので、ブロック当たりで発生するビット数を略々一定
とできる。また、ADRCとサブサンプリングとを併用して
いるので、伝送データ量が大幅に圧縮される。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例について図面を参照して説
明する。この説明は、下記の順序に従ってなされる。
a.全体の構成及びADRCエンコーダ b.補間誤差検出回路 c.変形例 a.全体の構成及びADRCエンコーダ 第1図は、この発明の一実施例を示し、第1図におい
て、1で示す入力端子にディジタル画像信号例えばディ
ジタルビデオ信号が供給される。このディジタルビデオ
信号、一例として13.5〔MHz〕のサンプリング周波数
で、1画素データが8ビットとされたものである。
ディジタルビデオ信号がブロック化回路2に供給され
る。ブロック化回路2は、第2図に示すように、1フィ
ールド(又は1フレーム)の画像を多数のブロックB11,
B12,・・・・BNMに細分化する。各ブロックは、第3図
に示すように、(4×4)の構造を有し、1ブロックに
は、16個の画素データが含まれる。ブロック化回路2か
ら発生するデータの順序は、ブロックの順序が第2図に
おいて矢印で示すものである。ブロック内では、第3図
におけるラインL1の最も左側の画素から順にラインL2、
L3、L4と16個の画素が伝送される。
ブロック化回路2の出力データが最大値検出回路3及
び最小値検出回路4に供給されると共に、遅延回路5を
介して減算回路6に供給される。最大値検出回路3及び
最小値検出回路4によりブロック毎に最大値MAX及び最
小値MINが検出される。
最大値MAX及び最小値MINが減算回路7に供給され、
(MAX−MIN)で表されるダイナミックレンジDRが減算回
路7から得られる。減算回路6には、最小値MINが供給
され、減算回路6から最小値除去後の画素データが得ら
れる。この画素データが量子化回路8に供給される。量
子化回路8には、量子化ステップ発生回路10からの量子
化ステップが供給され、最小値が除去されることで正規
化されたデータが量子化ステップで除算され、除算結果
が切り捨て処理されることで、量子化コードDTが形成さ
れる。
量子化コードDTは、可変のビット数例えば1、2、3
又は4ビットである。このビット数は、ダイナミックレ
ンジDRに応じて決定される。ダイナミックレンジDRがRO
M9に供給され、ROM9からビット数nのデータが発生す
る。このビット数nが量子化ステップ発生回路10に供給
され、量子化ステップが設定される。量子化ステップ発
生回路10及び量子化回路8は、割算回路に限らず、ROM
で構成することができる。
ビット数nは、ダイナミックレンジDRが大きいほど、
大きいものとされる。例えば第4図にAに示すように、
ダイナミックレンジDRが小さい時には、(n=1)とさ
れ、Δ1で示す量子化ステップにより量子化がされ、第
4図Bに示すように、ダイナミックレンジDRがより大き
い場合には、(n=2)とされΔdで示す量子化ステッ
プにより量子化がされる。(Δ1≠2)の非線形量子化
がなされる。ROM9には、ダイナミックレンジDRとビット
数nとを関係付けたテーブルが格納されている。復元レ
ベルは、量子化ステップの幅の中央である。
ダイナミックレンジDR及び最小値MINが遅延回路11及
び12を夫々介してフレーム化回路15に供給される。量子
化回路8からの量子化コードDTが遅延回路13を介してサ
ブサンプリング用のゲート回路14に供給される。遅延回
路13の遅延量DL3は、(4LD+4SD)に選定されている。
ゲート回路14には、後述のように形成されたゲート信号
が供給され、ゲート回路14からの選択的に量子化コード
DTが発生する。このゲート回路14の出力信号がフレーム
化回路15に供給される。ゲート信号は、伝送及び間引き
を示すビットマップであり、このビットマップもフレー
ム化回路15に供給される。
ダイナミックレンジDR(8ビット)、最小値MIN(8
ビット)、サブサンプリングされた量子化コード(15又
は16ビット)、ビットマップ(16ビット)がフレーム化
回路15によりフレーム構成の伝送データに変換される。
フレーム化回路15では、必要に応じてエラー訂正の符号
化がされる。フレーム化回路15の出力端子16に伝送デー
タが取り出される。ダイナミックレンジDR、最小値MI
N、最大値MAXの内、任意の二つのデータを伝送すれば良
い。
ADRCで発生した量子化コードの伝送及び間引きを制御
するゲート信号は、量子化ビット数nと補間誤差の大き
さに応じて発生する。受信側で間引かれた画素のデータ
を補間する方式と同一の補間方式が補間誤差の検出に適
用される。
ブロック化回路2からのブロックの順序に変換された
ディジタルビデオ信号が補間誤差検出回路17に供給され
る。補間誤差検出回路17で検出された補間誤差がメモリ
18に供給され、メモリ18には、1ブロックの16個の画素
と夫々対応する補間誤差が記憶される。この場合、ブロ
ック毎に1個の基本画素は、必ず伝送されるので、他の
画素に関しての補間誤差の検出と記憶とを行っても良
い。メモリ18から読み出された補間誤差がゲート信号発
生回路19に供給される。
ゲート信号発生回路19には、間引き率決定回路20で発
生した間引き率の情報が遅延回路21を介して供給され
る。この遅延回路21の遅延量DL2と前述の遅延回路5の
遅延量DL1との合計の遅延量(DL1+DL2)は、(4LD−8S
D)に選定される。間引き率決定回路20は、ビット数n
に応じた間引き率を決定する。(n=1)の場合の間引
き率(伝送画素数÷1ブロックの画素数)は、1とさ
れ、(n=2)の場合の間引き率が1/2とされ、(n=
3)の場合の間引き率が1/3とされ、(n=4)の場合
の間引き率が1/4とされる。この例は、1ブロックの画
素数が16であるので、間引き率が1/3の場合には、伝送
画素数が5とされる。従って、1ブロックで発生する量
子化コードのビット数の合計は、略々一定(15ビット又
は16ビット)である。
ゲート信号発生回路19は、上述の間引き率で指定され
る個数であって、また、補間誤差が小さいものから順に
選択された画素データがゲート回路14で阻止されるよう
なゲート信号を発生する。勿論、間引き率が1の場合に
は、ブロック内の全ての画素データがゲート回路14を介
して伝送される。但し、この場合、各基本画素○につい
ては予測誤差が0となり、最も小さい予測誤差となる
が、この基本画素は例外的に扱い、優先的にゲート回路
14を通過するようゲート信号発生回路19を制御する必要
があるのは言うまでもない。
b.補間誤差検出回路 補間誤差検出回路17の一例を第5図に示す。ブロック
化回路2からのディジタルビデオ信号が供給される入力
端子30に対して、順番に遅延回路31、32、33、34、35、
36、37、38、39、40、41、42が直列に接続される。遅延
回路31及び33は、ライン遅延回路であり、LDで示す1ラ
イン分の遅延量を有している。遅延回路32は、2LDの遅
延量を有する。遅延回路34〜41は、SDで示すサンプリン
グ期間の遅延量を有している。遅延回路42は、4SDの遅
延量を有する。
第6図は、1ブロックの画素の配列を示し、水平方向
の画素の間隔がサンプリング期間SDであり、垂直方向の
画素の間隔がライン期間LDである。ブロック内では、S
1、S2、S3、・・・・S15、S16の順序で画素データが伝
送される。この(4×4)8のブロック内の各画素に付
された記号(△、●、□、×、○)の夫々は、受信側で
なされる補間の処理の違いを表している。補間誤差検出
回路17は、以下に説明するように、受信側と同様の補間
処理を行って、画素データの真値との差(補間誤差)を
検出する。
まず、○で示される画素S1は、4ライン毎及び4画素
毎に位置する基本画素を表す。この16個の画素毎に1個
の割合の基本画素は、間引かれずに必ず伝送される。従
って、補間誤差は、当然0である。
△で表される画素S5、S7、:上下のラインに夫々位置
する画素データの平均値と比較される。
●で表される画素S9:上下の2ライン離れたラインに
夫々位置する画素の平均値と比較される。
□で表される画素S3、S11:左右の2画素離れて位置す
る画素の平均値と比較される。
×で表される画素S2、S6、S10、S14、S4、S8、S12、S
16:左右に隣接する画素の平均値と比較される。
遅延回路31〜42の所定の出力信号が第1の入力端子a0
〜第7の入力端子a6に供給されるセレクタ43及び44は、
補間値を演算するのに使用される二つの画素データを取
り出すために設けられている。セレクタ43及び44は、RO
M45からのセレクタ制御信号で制御される。ROM45には、
端子46及び47からブロック化回路2の出力信号と同期し
たサンプリング周期のサンプリングクロック及びブロッ
ク周期のブロッククロックが供給される。
第7図は、ROM46の一例を示し、53は、ROM45のアドレ
スカウンタである。ROM45には、1ブロックの画素S1〜S
16の夫々の位置と対応して、3ビットのセレクタ制御信
号が格納されている。但し、第7図では、簡単のため、
(000)(001)(010)・・・・・・ (110)の3ビッ
トを0、1、2、・・・・6と示している。セレクタ制
御信号が0の時に、セレクタ43及び44は、入力端子a0に
供給されているデータを選択的に出力し、同様に、セレ
クタ制御信号の1から6に応じて、セレクタ43及び44
は、入力端子a1からa6に供給されているデータを選択的
に出力する。
第7図に示すROM45からのセレクタ制御信号から分る
ように、ブロック内の各画素が注目画素の時、即ち、遅
延回路37の出力側に注目画素のデータが発生する時に、
これらのセレクタ43及び44が補間値を形成するためた二
つの画素データを選択的に出力する。
セレクタ43及び44から取り出された二つの画素データ
が加算回路48に供給され、加算回路48の出力信号が1/2
倍回路49に供給され、1/2倍回路49から補間値が出力さ
れる。この補間値が減算回路50に供給される。減算回路
50の他方の入力信号として、遅延回路37及び38の接続点
から取り出された注目画素のデータが供給される。従っ
て、減算回路50の出力信号として、真値と補間値との差
が発生し、この差が絶対値化回路51に供給される。絶対
値化回路51からの補間誤差が出力端子52に取り出され
る。この補間誤差が第1図に示すように、メモリ18に供
給され、1ブロック分の補間誤差がメモリ18に貯えられ
る。
第6図に示される画素S1〜S16の夫々が注目画素の時
に、セレクタ43及び44が選択する二つの画素データに関
して、以下に説明する。
画素S1が注目画素の時に、0のセレクタ制御信号が発
生し、セレクタ43及び44は、遅延回路37の出力側から入
力端子a0に供給されている注目画素のデータを選択的に
出力する。画素S1は、必ず伝送される基本画素であり、
補間誤差は、常に0である。
画素S2が注目画素の時に、1のセレクタ制御信号が発
生する。セレクタ43の入力端子a1には、遅延回路38から
の1サンプリング期間(1SD)前の画素S1のデータが供
給されており、セレクタ44の入力端子a1には、遅延回路
36の出力側から画素S2に対して、1SD後の画素S3が供給
されている。従って、これらの二つの画素S1及びS3のデ
ータがセレクタ43及び44により、夫々選択される。
画素S3が注目画素の時に、2のセレクタ制御信号が発
生する。セレクタ43に入力端子a2には、画素S3の2SD前
の画素S1のデータが遅延回路39から供給されており、セ
レクタ44の入力端子a2には、画素S3に対して、14SD後の
画素S17が遅延回路33の途中の段階から供給されてい
る。即ち、遅延回路34、35、36、37により、4SDの遅延
量が発生し、遅延回路33の途中の段階で、遅延回路33の
出力側に対して10SDの遅延量が発生する。従って、これ
らの二つの画素S1及びS17のデータがセレクタ43及び44
により、夫々選択される。
画素S4が注目画素の時に、3のセレクタ制御信号が発
生する。セレクタ43の入力端子a3には、遅延回路38から
の1SD前の画素S3のデータが供給されており、セレクタ4
4の入力端子a3には、画素S4に対して、13SD後の画素S17
が遅延回路33の途中の段階から供給されている。即ち、
遅延回路34、35、36、37により、4SDの遅延量が発生
し、遅延回路33の途中の段階で、遅延回路33の出力側に
対して9SDの遅延量が発生する。これらの二つの画素S3
及びS17のデータがセレクタ43及び44により、夫々選択
される。
画素S5が注目画素の時に、4のセレクタ制御信号が発
生する。セレクタ43の入力端子a4には、遅延回路41から
の4SD前の画素S1のデータが供給されており、セレクタ4
4の入力端子a4には、画素S5に対して、4SD後の画素S9が
遅延回路33の出力側から供給されている。従って、これ
らの二つの画素S1及びS9のデータがセレクタ43及び44に
より、夫々選択される。
画素S6が注目画素の時に、1のセレクタ制御信号が発
生する。セレクタ43の入力端子a1には、遅延回路38から
の1SD前の画素S5のデータが供給されており、セレクタ4
4の入力端子a1には、画素S6に対して、1SD後の画素S7が
供給されている。従って、これらの二つの画素S5及びS7
のデータがセレクタ43及び44により、夫々選択される。
画素S7が注目画素の時に、4のセレクタ制御信号が発
生する。セレクタ43の入力端子a4には、遅延回路41から
の4SD前の画素S3のデータが供給されており、セレクタ4
4の入力端子a4には、画素S7に対して、4SD後の画素S11
が遅延回路33の出力側から供給されている。従って、こ
れらの二つの画素S3及びS11のデータがセレクタ43及び4
4により、夫々選択される。
画素S8が注目画素の時に、3のセレクタ制御信号が発
生する。セレクタ43の入力端子a3には、遅延回路38から
の1SD前の画素S7のデータが供給されており、セレクタ4
4の入力端子a3には、画素S8に対して、13SD後の画素S21
が遅延回路33の途中の段階から供給されている。従っ
て、これらの二つの画素S7及びS21のデータがセレクタ4
3及び44により、夫々選択される。
画素S9が注目画素の時に、5のセレクタ制御信号が発
生する。第5図に示すように、セレクタ43の入力端子a5
には、遅延回路42から8SD前の画素S1のデータが供給さ
れており、セレクタ44の入力端子a5には、(4LD−8SD)
後の画素Siのデータが供給されている。第6図に示され
るブロックの下のブロックにおいて、画素S9から4LD後
の画素の位置は、画素S9と対応する画素(図示せず)で
ある。この画素に対して、画素Siは、8SD前である。遅
延回路31、32、33により4LDの遅延量が発生し、また、
遅延回路34、35、36、37により4SDの遅延量が発生す
る。従って、遅延回路31の入力側に対して−12SDの位置
からの出力信号がセレクタ44の入力端子a5に供給され
る。セレクタ43及び44は、画素S1及びSiのデータを夫々
選択する。
画素S10が注目画素の時に、1のセレクタ制御信号が
発生する。セレクタ43の入力端子a1には、遅延回路38か
らの1SD前の画素S9のデータが供給されており、セレク
タ44の入力端子a1には、画素S10に対して、1SD後の画素
S11が供給されている。従って、これらの二つの画素S9
及びS11のデータがセレクタ43及び44により、夫々選択
される。
画素S11が注目画素の時に、2のセレクタ制御信号が
発生する。セレクタ43の入力端子a2には、画素S11の2SD
前の画素S9のデータが遅延回路39から供給されており、
セレクタ44の入力端子a2には、画素S11に対して、14SD
後の画素S25が遅延回路33の途中の段階から供給されて
いる。従って、これらの二つの画素S9及びS25のデータ
がセレクタ43及び44により、夫々選択される。
画素S12が注目画素の時に、3のセレクタ制御信号が
発生する。セレクタ43の入力端子a3には、遅延回路38か
らの1SD前の画素S11のデータが供給されており、セレク
タ44の入力端子a3には、画素S12に対して、13SD後の画
素S25が遅延回路33の途中の段階から供給されている。
従って、これらの二つの画素S11及びS25のデータがセレ
クタ43及び44により、夫々選択される。
画素S13が注目画素の時に、6のセレクタ制御信号が
発生する。セレクタ43の入力端子a6には、遅延回路41か
ら4SD前の画素S9のデータが供給されており、セレクタ4
4の入力端子a6には、(4LD−12SD)後の画素Siのデータ
が供給されている。第6図に示されるブロックの下のブ
ロックにおいて、4LD後の画素の位置は、画素S13と対応
する画素(図示せず)である。この画素に対して、画素
Siは、12SD前である。遅延回路31、32、33により4LDの
遅延量が発生し、また、遅延回路34、35、36、37により
4SDの遅延量が発生する。従って、遅延回路31の入力側
に対して−16SDの位置からの出力信号がセレクタ44の入
力端子a6に供給される。これらの画素S9及びSiのデータ
がセレクタ43及び44により、夫々選択される。
画素S14が注目画素の時に、1のセレクタ制御信号が
発生される。セレクタ43の入力端子a1には、遅延回路38
からの1SD前の画素S13のデータが供給されており、セレ
クタ44の入力端子a1には、画素S14に対して、1SD後の画
素S15が供給されている。従って、これらの二つの画素S
13及びS15のデータがセレクタ43及び44により、夫々選
択される。
画素S15が注目画素の時に、6のセレクタ制御信号が
発生する。セレクタ43の入力端子a6には、遅延回路41か
ら4SD前の画素S11のデータが供給されており、セレクタ
44の入力端子a6には、(4LD−12SD)後の画素Skのデー
タが遅延回路31の入力側に対して−16SDの位置から供給
される。これらの画素S11及びSkのデータがセレクタ43
及び44により、夫々選択される。
画素S16が注目画素の時に、3のセレクタ制御信号が
発生する。セレクタ43の入力端子a3には、遅延回路38か
らの1SD前の画素S15のデータが供給されており、セレク
タ44の入力端子a3には、画素S16に対して、13SD後の画
素S29が遅延回路33の途中の段階から供給されている。
従って、これらの二つの画素S15及びS29のデータがセレ
クタ43及び44により、夫々選択される。
c.変形例 この発明は、ブロック化されたデータをバッファメモ
リに貯え、補間誤差を求めるために必要とされるデータ
をバッファメモリから取り出すようにしても良い。
また、補間誤差を検出するのに、減算回路7からの最
小値除去後のデータ或いは量子化回路8からの量子化コ
ードDTを使用しても良い。更に、ADRCのローカルデコー
ダを設け、ADRC復号された値から補間誤差を検出しても
良い。
補間方式としては、二つの画素の平均値に限らず、周
囲4点の画素のデータの平均値を使用しても良い。
〔発明の効果〕
この発明に依れば、画像の特徴に良く合致したサブサ
ンプリングとレベル方向の圧縮を行うADRCとを併用して
いるので、圧縮率を高くすることができる。この発明
は、ADRCの量子化ビット数に応じてサブサンプリングの
間引き程度を変えているので、発生データ量が略々一定
に制御でき、発生データ量が伝送容量を超えないことが
要求されるディジタルVTRのような伝送路に適用して効
果的である。更に、この発明では、伝送及び間引きの判
断が補間誤差の大きさに応じてなされるので、復元画素
の画質を良好とできる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例のブロック図、第2図及び
第3図はこの一実施例におけるブロックの一例の説明に
用いる略線図、第4図は可変長量子化の説明に用いる略
線図、第5図は補間誤差検出回路の一例のブロック図、
第6図は補間処理の説明に用いる画素データの配列を示
す略線図、第7図はセレクタ制御信号を発生するための
構成を示すブロック図である。 図面における主要な符号の説明 1:入力端子、 2:ブロック化回路、 3:最大値検出回路、 4:最小値検出回路、 8:量子化回路、 9:ビット数決定用のROM、 14:ゲート回路。 17:補間誤差検出回路、 19:ゲート信号発生回路、 20:間引き率決定回路。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ディジタル画像信号を複数の画素で形成さ
    れるブロック構造に変換し、上記ブロック内のダイナミ
    ックレンジを検出し、上記ダイナミックレンジに応じ
    て、元の量子化ビット数より少ない可変の量子化ビット
    数を上記ブロック内の画素データに割り当て、量子化コ
    ードを発生する符号化手段と、 上記ブロック内の複数の画素に関して、夫々の周辺の複
    数の画素を使用して受信側でなされるのと同様の補間の
    処理を行い、上記補間により得られたデータと真値との
    間の誤差を検出する補間誤差検出手段と、 上記符号化手段の量子化ビット数に応じて間引き率を決
    定する手段と、 上記ブロック内の上記誤差に関して、上記誤差が小さい
    順序で、上記間引き率と対応する個数の量子化コードを
    選択的に間引く手段と を備えたことを特徴とする画像信号の高能率符号化装
    置。
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