JP2625598B2 - データ記録装置、非線形ビットシフトの測定方法、非線形ビットシフトの補償方法及び磁気記録装置 - Google Patents
データ記録装置、非線形ビットシフトの測定方法、非線形ビットシフトの補償方法及び磁気記録装置Info
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- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/10009—Improvement or modification of read or write signals
- G11B20/10046—Improvement or modification of read or write signals filtering or equalising, e.g. setting the tap weights of an FIR filter
- G11B20/10212—Improvement or modification of read or write signals filtering or equalising, e.g. setting the tap weights of an FIR filter compensation for data shift, e.g. pulse-crowding effects
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は概して非線形通信媒体に
係り、特に、磁気ならびに光学式データ記録装置の読み
出し／書き込みデータチャネルに係るものである。
係り、特に、磁気ならびに光学式データ記録装置の読み
出し／書き込みデータチャネルに係るものである。
【０００２】
【従来の技術】近接状態で離間されたデータビット（双
ビット等）を非線形通信媒体に記録する（例えば、磁気
ディスク又は光学ディスクへ書き込む）際に、ビットの
位置がシフトされることは周知である。このようなシフ
ト（非線形ビットシフトと称する）が、ＰＲＭＬ（部分
応答最大尤度）などの既知データ検出システムの性能を
低下させるのは、これらの検出システムが線形チャネル
応答の仮定に基づくものだからである。
ビット等）を非線形通信媒体に記録する（例えば、磁気
ディスク又は光学ディスクへ書き込む）際に、ビットの
位置がシフトされることは周知である。このようなシフ
ト（非線形ビットシフトと称する）が、ＰＲＭＬ（部分
応答最大尤度）などの既知データ検出システムの性能を
低下させるのは、これらの検出システムが線形チャネル
応答の仮定に基づくものだからである。
【０００３】データ書き込み中にデータビット位置をシ
フトすることによって、非線形ビットシフトの影響を補
償することが可能である。しかしながら、補償システム
を設計するためには非線形ビットシフトの振幅を知らな
ければならない。あいにく、非線形ビットシフトを測定
することは困難なことであるとわかっているので、従来
技術では、精巧且つ高価な装置を用いた場合にかぎっ
て、かかる測定が実施できるものであった。
フトすることによって、非線形ビットシフトの影響を補
償することが可能である。しかしながら、補償システム
を設計するためには非線形ビットシフトの振幅を知らな
ければならない。あいにく、非線形ビットシフトを測定
することは困難なことであるとわかっているので、従来
技術では、精巧且つ高価な装置を用いた場合にかぎっ
て、かかる測定が実施できるものであった。
【０００４】非線形ビットシフトを測定するためにかか
る装置を必要とする数々の方法が提案されてきた。一つ
は、非線形ビットシフトを識別するためにデータビット
応答を隔離遷移と比較することである。二つめは、イン
パルス応答を決定するために特別設計による疑似ランダ
ムシーケンスを使用することである。こうして、非線形
ビットシフトは既知の位置でエコーとして測定される。
三つめは、磁気記録チャネルの非線形歪みを特徴づける
ためのヴォルテラモデリング技法（Volterra Modelling
Technique）を使用することである。これらの方法はす
べて、複雑なデータ操作及び高精度な波形記録を必要と
する。このように、製造環境又は操作環境において必要
とされるような非線形ビットシフトのルーチン測定を行
なうために使用される場合、すべての方法は複雑で且つ
多くの費用が掛かるものである。
る装置を必要とする数々の方法が提案されてきた。一つ
は、非線形ビットシフトを識別するためにデータビット
応答を隔離遷移と比較することである。二つめは、イン
パルス応答を決定するために特別設計による疑似ランダ
ムシーケンスを使用することである。こうして、非線形
ビットシフトは既知の位置でエコーとして測定される。
三つめは、磁気記録チャネルの非線形歪みを特徴づける
ためのヴォルテラモデリング技法（Volterra Modelling
Technique）を使用することである。これらの方法はす
べて、複雑なデータ操作及び高精度な波形記録を必要と
する。このように、製造環境又は操作環境において必要
とされるような非線形ビットシフトのルーチン測定を行
なうために使用される場合、すべての方法は複雑で且つ
多くの費用が掛かるものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、非線形ビットシフトに対する補償のできるデータ記
録装置を提供することである。
は、非線形ビットシフトに対する補償のできるデータ記
録装置を提供することである。
【０００６】本発明の他の目的は、製造ならびに操作中
にデータ記録装置で非線形ビットシフト補償を実行する
ためのシステムを提供することである。
にデータ記録装置で非線形ビットシフト補償を実行する
ためのシステムを提供することである。
【０００７】本発明のまた別の目的は、データ記録装置
で非線形ビットシフトの振幅と方向を測定するための方
法を提供することである。
で非線形ビットシフトの振幅と方向を測定するための方
法を提供することである。
【０００８】本発明のさらに別の目的は、少なくとも一
つの高調波を消去させた２進データパターンを提供する
ことである。
つの高調波を消去させた２進データパターンを提供する
ことである。
【０００９】これらのならびに他の目的は、後述の説明
と図面を照らし合わせて読めば、より明白になるであろ
う。
と図面を照らし合わせて読めば、より明白になるであろ
う。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明によると、データ
記録装置には、非線形ビットシフトを測定且つ補償する
ためのシステムが備えられている。このシステムは特定
の複合データパターンの使用に基づいている。これらの
データパターンは、それらのデータビット又はパルスが
非線形ビットシフトなしに書き込まれる場合、選択され
たデータパターンの基本周波数の一定の高調波が無かっ
たり、又は消去されたりする（即ち、それらはゼロ振幅
を有する）という共通の特性を備えている。しかしなが
ら、あるデータパルスが非線形ビットシフトによってシ
フトされると、「消去された」高調波が再現し、非ゼロ
振幅を表わす。これらの高調波の振幅が非線形ビットシ
フトの振幅を表示するものである。非線形ビットシフト
の振幅がわかると、その影響を除去するためにオフセッ
ト調整がデータ記録装置に適用される。
記録装置には、非線形ビットシフトを測定且つ補償する
ためのシステムが備えられている。このシステムは特定
の複合データパターンの使用に基づいている。これらの
データパターンは、それらのデータビット又はパルスが
非線形ビットシフトなしに書き込まれる場合、選択され
たデータパターンの基本周波数の一定の高調波が無かっ
たり、又は消去されたりする（即ち、それらはゼロ振幅
を有する）という共通の特性を備えている。しかしなが
ら、あるデータパルスが非線形ビットシフトによってシ
フトされると、「消去された」高調波が再現し、非ゼロ
振幅を表わす。これらの高調波の振幅が非線形ビットシ
フトの振幅を表示するものである。非線形ビットシフト
の振幅がわかると、その影響を除去するためにオフセッ
ト調整がデータ記録装置に適用される。
【００１１】本発明に従って作成された複合データパタ
ーンには、二つの主要な特徴がある。第１に、かかるパ
ターンは、非線形ビットシフトが決定され且つ消去され
るための特別ビット環境（双ビット等）内にみずからを
取り入れるように生成される。この特徴によって、デー
タ伝送中に何度も遭遇する比較的単純なデータパターン
に対し本発明を適用することができる。第２に、かかる
パターンは非線形ビットシフトとは異なる非線形の影響
のソース（源）には感知不能とされることがある。この
特徴によって、外部からの非線形の影響を非線形ビット
シフト消去システムによって因子に分けることが可能で
ある。
ーンには、二つの主要な特徴がある。第１に、かかるパ
ターンは、非線形ビットシフトが決定され且つ消去され
るための特別ビット環境（双ビット等）内にみずからを
取り入れるように生成される。この特徴によって、デー
タ伝送中に何度も遭遇する比較的単純なデータパターン
に対し本発明を適用することができる。第２に、かかる
パターンは非線形ビットシフトとは異なる非線形の影響
のソース（源）には感知不能とされることがある。この
特徴によって、外部からの非線形の影響を非線形ビット
シフト消去システムによって因子に分けることが可能で
ある。
【００１２】本発明によって、データストリームから非
線形ビットシフトを消去するために高調波無効パターン
を使用するための２つの代替実施例が提案される。第１
の実施例は経験的アプローチを使用し、高調波無効デー
タパターンに問題のビットパターンを配置し、問題のビ
ットパターンを含むビットを相対的にシフトすることに
よって「消去された」高調波の振幅を反復して最小限に
し、さらに予期された非線形ビットシフトを補償するた
めに前シフトのデータパターンでの後使用のために最適
ビットスペーシングを記憶することである。第２の実施
例では、磁気記憶装置で記録される双ビットの場合に適
用する解析的アプローチを使い、高調波無効データパタ
ーンに双ビットパターンを配置し、双ビットのビットス
ペーシングに相当する「消去された」高調波と対応付け
られるビットシフトの量及び方向を決定し、そして双ビ
ットのスペーシングを変化させ、新しい高調波無効デー
タパターンを形成し、さらに予期された非線形ビットシ
フトを補償するために前シフトのデータパターンにおい
て後使用のための補償プロットを形成する決定工程を反
復することである。
線形ビットシフトを消去するために高調波無効パターン
を使用するための２つの代替実施例が提案される。第１
の実施例は経験的アプローチを使用し、高調波無効デー
タパターンに問題のビットパターンを配置し、問題のビ
ットパターンを含むビットを相対的にシフトすることに
よって「消去された」高調波の振幅を反復して最小限に
し、さらに予期された非線形ビットシフトを補償するた
めに前シフトのデータパターンでの後使用のために最適
ビットスペーシングを記憶することである。第２の実施
例では、磁気記憶装置で記録される双ビットの場合に適
用する解析的アプローチを使い、高調波無効データパタ
ーンに双ビットパターンを配置し、双ビットのビットス
ペーシングに相当する「消去された」高調波と対応付け
られるビットシフトの量及び方向を決定し、そして双ビ
ットのスペーシングを変化させ、新しい高調波無効デー
タパターンを形成し、さらに予期された非線形ビットシ
フトを補償するために前シフトのデータパターンにおい
て後使用のための補償プロットを形成する決定工程を反
復することである。
【００１３】
【実施例】I ．高調波無効データパターンの開発及び非
線形ビットシフトの決定 データ記録装置に適用されるような本発明の特殊形態を
把握するために、高調波無効データパターンの生成と非
線形ビットシフトの決定の基礎になる信号処理原理を理
解することが役立つ。以下の文章では、これらの信号処
理原理と本発明の一部を形成する原理から引き出される
関係を説明する。
線形ビットシフトの決定 データ記録装置に適用されるような本発明の特殊形態を
把握するために、高調波無効データパターンの生成と非
線形ビットシフトの決定の基礎になる信号処理原理を理
解することが役立つ。以下の文章では、これらの信号処
理原理と本発明の一部を形成する原理から引き出される
関係を説明する。
【００１４】図１（Ａ）及び図１（Ｂ）は、時間領域と
周波数領域においてそれぞれｗo の整数倍での周波数成
分を示すものであり、ｗo ＝２π／Ｔは基本周波数を、
Ｐ（ｔ）はパルストレインを、Ｐ（ｗ）は周波数成分を
表わしているo
周波数領域においてそれぞれｗo の整数倍での周波数成
分を示すものであり、ｗo ＝２π／Ｔは基本周波数を、
Ｐ（ｔ）はパルストレインを、Ｐ（ｗ）は周波数成分を
表わしているo
【００１５】より複雑な周期データパターンは図１
（Ａ）からの遅延パルスの合計と見なすことができる。
図２（Ａ）は、対称パルストレインが下記の式（１）で
表わされる図２（Ｂ）の実例によって示されたようなス
ペクトルを有する一連の等間隔の遷移を示し、式（１）
においてｗがｗo の偶数次高調波を表わす場合、ｅ
-jwT/2は単位元であり、Ｘ（ｗ）はＰの大きさに関係な
くゼロになる。
（Ａ）からの遅延パルスの合計と見なすことができる。
図２（Ａ）は、対称パルストレインが下記の式（１）で
表わされる図２（Ｂ）の実例によって示されたようなス
ペクトルを有する一連の等間隔の遷移を示し、式（１）
においてｗがｗo の偶数次高調波を表わす場合、ｅ
-jwT/2は単位元であり、Ｘ（ｗ）はＰの大きさに関係な
くゼロになる。
【数１】
【００１６】図３（Ａ）は双ビットシーケンスとして知
られている周期データパターンの一例を示す。各双ビッ
トの２個のビット間のスペーシングはＴ／４である。双
ビットシーケンスのスペクトルは下記の式（２）を表わ
す図３（Ｂ）に図示されており、この場合、４番目、８
番目、・・・４ｎ番目の高調波はゼロとなる。
られている周期データパターンの一例を示す。各双ビッ
トの２個のビット間のスペーシングはＴ／４である。双
ビットシーケンスのスペクトルは下記の式（２）を表わ
す図３（Ｂ）に図示されており、この場合、４番目、８
番目、・・・４ｎ番目の高調波はゼロとなる。
【数２】
【００１７】一般に、所定の周期データパターンのスペ
クトルは以下の式（３）のように表わすことができる。
クトルは以下の式（３）のように表わすことができる。
【数３】 この場合、ａn ＝＋１又は−１で、パルスの極性を表わ
し、Ｔ2＜Ｔ3 ＜・・・＜ＴN であり、Ｔ2 ・・・ＴN
はパターンの第１番目のパルスと第２番目、第３番目、
ならびに第Ｎ番目のそれぞれのパルス間の時間間隔を表
わす。基本周波数のそれぞれの高調波は、上記式で示さ
れた通り、Ｙ（ｗ）がゼロになるようにＴ2 ・・・ＴN
を選択することによって消去される。この場合、上記の
一般式は、以下に示された（４）又は（５）の形式をと
る。
し、Ｔ2＜Ｔ3 ＜・・・＜ＴN であり、Ｔ2 ・・・ＴN
はパターンの第１番目のパルスと第２番目、第３番目、
ならびに第Ｎ番目のそれぞれのパルス間の時間間隔を表
わす。基本周波数のそれぞれの高調波は、上記式で示さ
れた通り、Ｙ（ｗ）がゼロになるようにＴ2 ・・・ＴN
を選択することによって消去される。この場合、上記の
一般式は、以下に示された（４）又は（５）の形式をと
る。
【数４】
【数５】この場合、ｎは２からある選択された限界値に
及び、ｗは以下の式（８）における関数値Ｙがゼロの時
の周波数である。高調波を消去する多くのパターンが考
えられ得ることが理解できる。
及び、ｗは以下の式（８）における関数値Ｙがゼロの時
の周波数である。高調波を消去する多くのパターンが考
えられ得ることが理解できる。
【００１８】記録媒体が磁気記憶装置である場合に、デ
ータパルスの交互極性は、ａn に対して交替値を表わ
し、前述の式（３）、（４）及び（５）はそれぞれ以下
の（６）、（７）及び（８）のようになる。
ータパルスの交互極性は、ａn に対して交替値を表わ
し、前述の式（３）、（４）及び（５）はそれぞれ以下
の（６）、（７）及び（８）のようになる。
【数６】
【数７】 及び
【数８】
【００１９】無効高調波を有するデータパターンを作成
するための一般的なプロセスは以下の通りである。ビッ
トパターンは、Ｎ≧２、ユーザ特定周波数ｗを有し、さ
らに非線形ビットシフトを決定するために望ましいとさ
れるビット環境（双ビット等）を含んだものが選択され
る。このパターンのビット時間スペーシングは、Ｔ2 ・
・・ＴN であるように指定され、概して特定位置に遷移
を定める能力に基づいて選択されたビット環境及び起こ
りうる制限のために多数の制約条件の影響を受けやすい
ことは、当業者によって容易に理解されるものである。
次に式（８）は、スペクトルゼロを得るのに必要なスペ
ーシングを与えるために、Ｔ2 ・・・ＴN の値が求めら
れる。Ｔ2 ・・・ＴN の制約のために、式（８）は解答
できたり、できなかったりする。もしできない場合、特
別のビット（ＴN+1 ）が最初のパターンに追加されて、
式（８）は再度Ｔ2 ・・・ＴN+1 に対して解答される。
かかるプロセスは、式（８）に適合する制約条件を与え
るためにビットが十分追加されるまで繰り返し行なわれ
る。最後に、受容可能なパターンが作成されると、ハー
ド遷移シフト、正（ポジティブ）／負（ネガティブ）書
き込みカレント非対称、磁気抵抗性ヘッド正／負読み出
し非対称等の他の非線形の影響に対してチェックされ
る。パターンがこれらの外部からの非線形の影響のどれ
か一つに対し感知可能であることがわかると、付加的ビ
ットを追加し、再度ビット時間スペーシングについて式
（８）を解答することによって、さらにパターンを修正
することもできる。
するための一般的なプロセスは以下の通りである。ビッ
トパターンは、Ｎ≧２、ユーザ特定周波数ｗを有し、さ
らに非線形ビットシフトを決定するために望ましいとさ
れるビット環境（双ビット等）を含んだものが選択され
る。このパターンのビット時間スペーシングは、Ｔ2 ・
・・ＴN であるように指定され、概して特定位置に遷移
を定める能力に基づいて選択されたビット環境及び起こ
りうる制限のために多数の制約条件の影響を受けやすい
ことは、当業者によって容易に理解されるものである。
次に式（８）は、スペクトルゼロを得るのに必要なスペ
ーシングを与えるために、Ｔ2 ・・・ＴN の値が求めら
れる。Ｔ2 ・・・ＴN の制約のために、式（８）は解答
できたり、できなかったりする。もしできない場合、特
別のビット（ＴN+1 ）が最初のパターンに追加されて、
式（８）は再度Ｔ2 ・・・ＴN+1 に対して解答される。
かかるプロセスは、式（８）に適合する制約条件を与え
るためにビットが十分追加されるまで繰り返し行なわれ
る。最後に、受容可能なパターンが作成されると、ハー
ド遷移シフト、正（ポジティブ）／負（ネガティブ）書
き込みカレント非対称、磁気抵抗性ヘッド正／負読み出
し非対称等の他の非線形の影響に対してチェックされ
る。パターンがこれらの外部からの非線形の影響のどれ
か一つに対し感知可能であることがわかると、付加的ビ
ットを追加し、再度ビット時間スペーシングについて式
（８）を解答することによって、さらにパターンを修正
することもできる。
【００２０】II．非線形ビットシフトを消去するための
高調波無効データパターンの使用 本発明に従って、非線形ビットシフト効果を消去するた
めに高調波無効パターンを利用する２つの代替設計が提
供される。まず、経験的アプローチを使って、未定のビ
ットパターン（近接状態で離間された双ビット等）が高
調波無効データパターンに配置され、このように形成さ
れたテストパターンがデータ記録装置に記録される測定
モードが提供される。「消去された」高調波の振幅が測
定される。次に、未定のパターンを含むビットが互いに
対して相対的にシフトされて、「消去された」高調波の
振幅が再測定される。かかるプロセスは「消去された」
高調波が許容レベル（又はゼロ）に減少されるまで繰り
返し行なわれる。未定のビットパターンの最初のスペー
シングと、それを得るのに必要な入力ビットパターンス
ペーシングは保管される。次に、未定のビットパターン
スペーシングと対応する入力ビットパターンスペーシン
グの修正テーブルが形成されるまで、別の未定のビット
パターンスペーシングが選択され、その対応する入力ビ
ットパターンスペーシングが決定されたりする。
高調波無効データパターンの使用 本発明に従って、非線形ビットシフト効果を消去するた
めに高調波無効パターンを利用する２つの代替設計が提
供される。まず、経験的アプローチを使って、未定のビ
ットパターン（近接状態で離間された双ビット等）が高
調波無効データパターンに配置され、このように形成さ
れたテストパターンがデータ記録装置に記録される測定
モードが提供される。「消去された」高調波の振幅が測
定される。次に、未定のパターンを含むビットが互いに
対して相対的にシフトされて、「消去された」高調波の
振幅が再測定される。かかるプロセスは「消去された」
高調波が許容レベル（又はゼロ）に減少されるまで繰り
返し行なわれる。未定のビットパターンの最初のスペー
シングと、それを得るのに必要な入力ビットパターンス
ペーシングは保管される。次に、未定のビットパターン
スペーシングと対応する入力ビットパターンスペーシン
グの修正テーブルが形成されるまで、別の未定のビット
パターンスペーシングが選択され、その対応する入力ビ
ットパターンスペーシングが決定されたりする。
【００２１】測定モードがこのように完了すると、複合
データパターンの未定のパターンが最初に識別される補
償モードが提供される。次に、これらのパターンのスペ
ーシングは上述の修正表に適用されて、対応する入力ビ
ットパターンスペーシングが引き出される。最後に、非
線形ビットシフトの影響に対しすでに事前補償済みのシ
フトされた一連の入力ビットパターンは、データ記録装
置に記録される。
データパターンの未定のパターンが最初に識別される補
償モードが提供される。次に、これらのパターンのスペ
ーシングは上述の修正表に適用されて、対応する入力ビ
ットパターンスペーシングが引き出される。最後に、非
線形ビットシフトの影響に対しすでに事前補償済みのシ
フトされた一連の入力ビットパターンは、データ記録装
置に記録される。
【００２２】この経験的アプローチに代わるものが解析
的アプローチである。解析的アプローチは磁気記憶装置
に記録される双ビットの場合に適用され、一個のビット
のみ（第２のビット）がシフトし、その一個のビットを
明確に識別することができる。解析的アプローチに対し
て提供された測定モードにおいて、双ビットシーケンス
は、高調波無効データパターンに配置され、このように
形成されたテストパターンはデータ記録装置に記録され
る。「消去された」高調波の振幅が測定される。測定さ
れた振幅に対応付けられるビットシフトの量及び方向は
補償要素として決定且つ作図される。
的アプローチである。解析的アプローチは磁気記憶装置
に記録される双ビットの場合に適用され、一個のビット
のみ（第２のビット）がシフトし、その一個のビットを
明確に識別することができる。解析的アプローチに対し
て提供された測定モードにおいて、双ビットシーケンス
は、高調波無効データパターンに配置され、このように
形成されたテストパターンはデータ記録装置に記録され
る。「消去された」高調波の振幅が測定される。測定さ
れた振幅に対応付けられるビットシフトの量及び方向は
補償要素として決定且つ作図される。
【００２３】概して、小ビットシフトδに対してビット
シフトの量はおおよそ以下の式（９）に従って決定する
ことができる。
シフトの量はおおよそ以下の式（９）に従って決定する
ことができる。
【数９】ここで、ｋｗo はデータパターンの基本周波数
のｋ番目の高調波であり、｜Ｚ（ｋｗo ）｜は、消去さ
れるべきｋ番目の高調波の振幅であり、δは非線形ビッ
トシフトの大きさで、さらに｜Ｘ（ｋｗo ）｜は周波数
ｗo による等間隔遷移のｋ番目の高調波の振幅である。
Ｘ（ｋｗo ）は、等間隔の遷移（図２に示されたような
単純な周期パターン）を個別に書き込み、それらを読み
出し、さらにｋ番目の高調波の振幅を測定することによ
って決定することもできる。ビットシフトの方向は、書
き込みの間にデータパルスを既知の量だけ意図的にシフ
トすることによって決定される。非線形ビットシフトは
非線形ビットシフトの方向に応じて既知のシフトの増減
のどちらか一方を実行する。
のｋ番目の高調波であり、｜Ｚ（ｋｗo ）｜は、消去さ
れるべきｋ番目の高調波の振幅であり、δは非線形ビッ
トシフトの大きさで、さらに｜Ｘ（ｋｗo ）｜は周波数
ｗo による等間隔遷移のｋ番目の高調波の振幅である。
Ｘ（ｋｗo ）は、等間隔の遷移（図２に示されたような
単純な周期パターン）を個別に書き込み、それらを読み
出し、さらにｋ番目の高調波の振幅を測定することによ
って決定することもできる。ビットシフトの方向は、書
き込みの間にデータパルスを既知の量だけ意図的にシフ
トすることによって決定される。非線形ビットシフトは
非線形ビットシフトの方向に応じて既知のシフトの増減
のどちらか一方を実行する。
【００２４】一個の双ビットスペーシングに対するビッ
トシフトの量及び方向はいったん定められると、双ビッ
トシーケンスを含むビットは互いに対して相対的にシフ
トされ、さらに「消去された」高調波を維持するように
高調波無効データパターンが調整され、テストパターン
が記録され、「消去された」高調波の振幅が再度測定さ
れる。測定された振幅と対応付けられるビットシフトの
量及び方向は他の補償因子として再度決定且つ作図され
る。かかるプロセスは、ビットシフト（補償因子）と対
比した双ビットスペーシングのグラフがはっきり現われ
るまで繰り返し行なわれる。
トシフトの量及び方向はいったん定められると、双ビッ
トシーケンスを含むビットは互いに対して相対的にシフ
トされ、さらに「消去された」高調波を維持するように
高調波無効データパターンが調整され、テストパターン
が記録され、「消去された」高調波の振幅が再度測定さ
れる。測定された振幅と対応付けられるビットシフトの
量及び方向は他の補償因子として再度決定且つ作図され
る。かかるプロセスは、ビットシフト（補償因子）と対
比した双ビットスペーシングのグラフがはっきり現われ
るまで繰り返し行なわれる。
【００２５】測定モードがこのように完了すると、複合
データパターンが予期された非線形ビットシフトに対し
て事前補償される補償モードが提供される。補償モード
に従って、データパターンは非線形ビットシフトが予期
される第１の遷移を識別するために解析される。この第
１の遷移には他の遷移が近接的に先行する。遷移間のス
ペーシングは、ビットシフトと対比したビットスペーシ
ングのグラフに適用され、そこから適切な事前補償され
たビットスペーシングが決定される。そして、データパ
ターンの解析は非線形ビットシフトが予期される次の遷
移を識別するように進む。かかる遷移に対し適切な事前
補償が決定されると、かかるプロセスは、事前補償がデ
ータパターン全体に対して完了されるまで繰り返し行な
われる。最後に、事前補償データパターンがデータ記録
装置に記録される。
データパターンが予期された非線形ビットシフトに対し
て事前補償される補償モードが提供される。補償モード
に従って、データパターンは非線形ビットシフトが予期
される第１の遷移を識別するために解析される。この第
１の遷移には他の遷移が近接的に先行する。遷移間のス
ペーシングは、ビットシフトと対比したビットスペーシ
ングのグラフに適用され、そこから適切な事前補償され
たビットスペーシングが決定される。そして、データパ
ターンの解析は非線形ビットシフトが予期される次の遷
移を識別するように進む。かかる遷移に対し適切な事前
補償が決定されると、かかるプロセスは、事前補償がデ
ータパターン全体に対して完了されるまで繰り返し行な
われる。最後に、事前補償データパターンがデータ記録
装置に記録される。
【００２６】補償モードはさらに、複合データパターン
における複数の隣接する遷移によって起こされた累積シ
フトの影響に対しオフセットを実行する。データパター
ンは解析されて、各遷移は、正確な累積事前補償を決定
するために、先行の隣接されたすべての遷移から個々の
影響を総和する付加的ステップにより実質上は上述した
通り事前補償される。従って、例えば、データパターン
が４個の近接状態で離間された遷移を含むのであれば、
補償モードは、第１の遷移の存在によって引き起こされ
る第２の遷移と、第１と第２の遷移によって引き起こさ
れる第３の遷移と、第１と第２と第３の遷移によって引
き起こされる第４の遷移の予期されたビットシフトを決
定且つ事前補償する。個別のシフトはすべて、関連の遷
移スペーシングをビットシフトと対比させたビットスペ
ーシングのグラフに適用させることによって決定され
る。
における複数の隣接する遷移によって起こされた累積シ
フトの影響に対しオフセットを実行する。データパター
ンは解析されて、各遷移は、正確な累積事前補償を決定
するために、先行の隣接されたすべての遷移から個々の
影響を総和する付加的ステップにより実質上は上述した
通り事前補償される。従って、例えば、データパターン
が４個の近接状態で離間された遷移を含むのであれば、
補償モードは、第１の遷移の存在によって引き起こされ
る第２の遷移と、第１と第２の遷移によって引き起こさ
れる第３の遷移と、第１と第２と第３の遷移によって引
き起こされる第４の遷移の予期されたビットシフトを決
定且つ事前補償する。個別のシフトはすべて、関連の遷
移スペーシングをビットシフトと対比させたビットスペ
ーシングのグラフに適用させることによって決定され
る。
【００２７】測定モード及び補償モードに加えて、解析
的アプローチは、測定モード及び補償モードについて繰
り返し行なうことによって上述の式の予測能力を評価且
つ改善するチェックモードを提供する。チェックモード
において、事前補償された双ビットパターンが選択さ
れ、且つ高調波無効データパターン内のビットパターン
の結果的スペーシングが消去された高調波を生成するよ
うな高調波無効データパターンに配置される。このよう
に形成されたテストパターンはデータ記録装置に記録さ
れる。残余の非線形ビットシフトは、「消去された」高
調波の振幅の関数として決定され、その結果、双ビット
スペーシング対ビットシフトのグラフは修正される。非
線形ビットシフト補償設計を反復的に完成するために、
かかるプロセスを繰り返し行なってもよい。
的アプローチは、測定モード及び補償モードについて繰
り返し行なうことによって上述の式の予測能力を評価且
つ改善するチェックモードを提供する。チェックモード
において、事前補償された双ビットパターンが選択さ
れ、且つ高調波無効データパターン内のビットパターン
の結果的スペーシングが消去された高調波を生成するよ
うな高調波無効データパターンに配置される。このよう
に形成されたテストパターンはデータ記録装置に記録さ
れる。残余の非線形ビットシフトは、「消去された」高
調波の振幅の関数として決定され、その結果、双ビット
スペーシング対ビットシフトのグラフは修正される。非
線形ビットシフト補償設計を反復的に完成するために、
かかるプロセスを繰り返し行なってもよい。
【００２８】III ．好ましい具体例の説明 本発明の好ましい具体例によると、磁気記憶装置が記録
媒体として選択され、双ビットが問題のビットパターン
として選択される。Ｎ＝３として式（８）によって演算
されたデータパターンを消去する高調波のクラスは、次
のような一般形式を仮定する：1100 ...（m0's）100
...（n0's）1100 ...（m0's）100 ...（n0's） ここで、ビットは一クロック周期だけ離れており、
「１」は遷移を表わし、「０」は遷移がないことを表
し、ｍとｎは６の整数倍である（ｍとｎは、上記パター
ンに示された２個のゼロを含む）。かかるパターンは双
ビットと双ビットから相対的に離間された単一のビット
から構成される。ビット間の0's の数によって、どの高
調波が消去されるかが決定される。1's を６個含むパタ
ーンの１つの全周期が示される。パターンの最初の半分
と残りの半分が同一であるので、パターンは３個の遅延
隔離遷移対の合計によって得られる。
媒体として選択され、双ビットが問題のビットパターン
として選択される。Ｎ＝３として式（８）によって演算
されたデータパターンを消去する高調波のクラスは、次
のような一般形式を仮定する：1100 ...（m0's）100
...（n0's）1100 ...（m0's）100 ...（n0's） ここで、ビットは一クロック周期だけ離れており、
「１」は遷移を表わし、「０」は遷移がないことを表
し、ｍとｎは６の整数倍である（ｍとｎは、上記パター
ンに示された２個のゼロを含む）。かかるパターンは双
ビットと双ビットから相対的に離間された単一のビット
から構成される。ビット間の0's の数によって、どの高
調波が消去されるかが決定される。1's を６個含むパタ
ーンの１つの全周期が示される。パターンの最初の半分
と残りの半分が同一であるので、パターンは３個の遅延
隔離遷移対の合計によって得られる。
【００２９】図４は、好ましい実施例によって作成され
たパターンを消去する一般的な高調波の性質を表わすも
のである。このパターンに対するスペクトルは、
たパターンを消去する一般的な高調波の性質を表わすも
のである。このパターンに対するスペクトルは、
【数１０】 であり、ここでｋｗ0 は考慮中の高調波であり、Ｘ（ｋ
ｗ0 ）は、図２に示された周波数ｗ0 を有する等間隔の
遷移のｋ番目の高調波の振幅である。ｍとｎがともに６
の倍数、即ち、ｍ＝６ｐ且つｎ＝６ｑ、である時、（２
ｐ＋２ｑ＋１）番目の高調波は正確にゼロである。
ｗ0 ）は、図２に示された周波数ｗ0 を有する等間隔の
遷移のｋ番目の高調波の振幅である。ｍとｎがともに６
の倍数、即ち、ｍ＝６ｐ且つｎ＝６ｑ、である時、（２
ｐ＋２ｑ＋１）番目の高調波は正確にゼロである。
【００３０】好ましい実施例のビットパターンは、３つ
の特別に有利な特徴を有する。第１に、パターンは非線
形ビットシフトが消去されるためのビット環境として双
ビットを取り入れる。双ビットは、より複雑なパターン
を分析することのできる最小パターンを形成するので、
補償設計にとって理想的なスタート地点となる。第２
に、非線形ビットシフトが存在する時にパターンが磁気
記憶表面に書き込まれる場合、双ビットの第２のビット
のみが第１のビットに対し相対的にシフトを実行する。
これは、一個のシフトビットだけを最小パターンで取り
扱うことができることを意味するので、有利である。第
３に、かかるパターンは、ハード遷移シフト、正／負書
き込みカレント非対称、及び磁気抵抗性ヘッド正／負読
み取り非対称等の近接離間状態のデータビットから生じ
る非線形ビットシフトとは異なった非線形の影響源に対
し感知不能である。かかる特性は、ビットパターンによ
って非線形ビットシフト消去システムから外部の非線形
の影響を自動的に除去することができるので、重要であ
る。
の特別に有利な特徴を有する。第１に、パターンは非線
形ビットシフトが消去されるためのビット環境として双
ビットを取り入れる。双ビットは、より複雑なパターン
を分析することのできる最小パターンを形成するので、
補償設計にとって理想的なスタート地点となる。第２
に、非線形ビットシフトが存在する時にパターンが磁気
記憶表面に書き込まれる場合、双ビットの第２のビット
のみが第１のビットに対し相対的にシフトを実行する。
これは、一個のシフトビットだけを最小パターンで取り
扱うことができることを意味するので、有利である。第
３に、かかるパターンは、ハード遷移シフト、正／負書
き込みカレント非対称、及び磁気抵抗性ヘッド正／負読
み取り非対称等の近接離間状態のデータビットから生じ
る非線形ビットシフトとは異なった非線形の影響源に対
し感知不能である。かかる特性は、ビットパターンによ
って非線形ビットシフト消去システムから外部の非線形
の影響を自動的に除去することができるので、重要であ
る。
【００３１】上記セクションIIで論じられたように、本
発明は、非線形ビットシフトを消去するために高調波無
効パターンを利用するための２つの代替システム、即
ち、経験的アプローチと解析的アプローチ、を提供す
る。好ましい実施例によると、経験的アプローチは、双
ビットが上述したような高調波無効データパターンに配
置され、消去されるべき高調波が最小限になるまで「消
去された」高調波の連続的測定が、双ビットの第１のビ
ットに相対する双ビットの第２のビットの種々のスペー
シングに相当するようにされるための測定モードを含
む。かかるプロセスは、双ビットスペーシング及び対応
する入力ビットパターンスペーシングとの修正表を形成
するために、異なる最初の双ビットスペーシングの周囲
に造られた高調波無効データパターンによって繰り返し
行なわれる。測定モードが完了すると、識別された未定
のパターンが双ビットである補償モードが実質的にセク
ションIIで述べたように作動する。
発明は、非線形ビットシフトを消去するために高調波無
効パターンを利用するための２つの代替システム、即
ち、経験的アプローチと解析的アプローチ、を提供す
る。好ましい実施例によると、経験的アプローチは、双
ビットが上述したような高調波無効データパターンに配
置され、消去されるべき高調波が最小限になるまで「消
去された」高調波の連続的測定が、双ビットの第１のビ
ットに相対する双ビットの第２のビットの種々のスペー
シングに相当するようにされるための測定モードを含
む。かかるプロセスは、双ビットスペーシング及び対応
する入力ビットパターンスペーシングとの修正表を形成
するために、異なる最初の双ビットスペーシングの周囲
に造られた高調波無効データパターンによって繰り返し
行なわれる。測定モードが完了すると、識別された未定
のパターンが双ビットである補償モードが実質的にセク
ションIIで述べたように作動する。
【００３２】好ましい実施例の解析的アプローチは、双
ビットが上述したような高調波無効データパターンに配
置されて、「消去された」高調波の振幅を測定して、｜
Ｚ（ｋｗo ）｜＝ｋｗo δ｜Ｘ（ｋｗo ）｜の形式の式
（９）によって非線形ビットシフトの大きさ及び方向を
おおよそ決定するために使用される測定モードを含む。
かかるプロセスは、双ビットスペーシング対ビットシフ
トのグラフを形成するために異なる双ビットスペーシン
グの周囲に造られた高調波無効データパターンを繰り返
し実行する。測定モードが完了すると、補償モード及び
チェックモードは実質的にセクションIIで述べたように
作動する。
ビットが上述したような高調波無効データパターンに配
置されて、「消去された」高調波の振幅を測定して、｜
Ｚ（ｋｗo ）｜＝ｋｗo δ｜Ｘ（ｋｗo ）｜の形式の式
（９）によって非線形ビットシフトの大きさ及び方向を
おおよそ決定するために使用される測定モードを含む。
かかるプロセスは、双ビットスペーシング対ビットシフ
トのグラフを形成するために異なる双ビットスペーシン
グの周囲に造られた高調波無効データパターンを繰り返
し実行する。測定モードが完了すると、補償モード及び
チェックモードは実質的にセクションIIで述べたように
作動する。
【００３３】図５は、本発明の好ましい実施例での解析
的アプローチによる磁気ディスクのデータチャネルで使
用するための非線形ビットシフトのコンペンセータをブ
ロック図形式で示すものである。図の通り、コンペンセ
ータ１１０はパターン生成器１１１、スイッチ１１２、
スイッチ１１３、バンドパスフィルタ１１５、振幅検出
器１１７、プロセッサ１１９、メモリ１２１、及び補償
コントローラ１２３とを含む。
的アプローチによる磁気ディスクのデータチャネルで使
用するための非線形ビットシフトのコンペンセータをブ
ロック図形式で示すものである。図の通り、コンペンセ
ータ１１０はパターン生成器１１１、スイッチ１１２、
スイッチ１１３、バンドパスフィルタ１１５、振幅検出
器１１７、プロセッサ１１９、メモリ１２１、及び補償
コントローラ１２３とを含む。
【００３４】コンペンセータ１１０は、非線形ビットシ
フト測定及び事前補償調整を実行する。これは操作に関
して、３つのモード、即ち、測定モード、補償モード、
チェックモード、を有する。測定モードにおいて、スイ
ッチ１１２はパターン生成器１１１を書き込みドライバ
１３０に接続する。パターン生成器１１１は、上述した
ように、消去された又は無効の周波数ｋｗo を有するデ
ータパターンを作成する。データパターンは次に、書き
込みドライバ１３０と読み出し前置増幅器１５０とを含
む標準読み出し／書き込みチャネルを介して記憶ディス
ク（図示せず）上への書き込み及びディスクからの読み
出しを行なう。読み出されたデータパターンはバンドパ
スフィルタ１１５を介して供給され、無効周波数成分を
渡し、他の周波数成分を除去する。フィルタを通過した
信号は次に、振幅検出器１１７を介して供給され、無効
周波数成分の振幅を測定する。そしてその結果は、上述
の経験的アプローチ又は解析的アプローチのどちらか一
方の方法及び数式に応じてプロセッサ１１９により補償
因子に変換されて、補償コントローラ１２３によって、
後で使用されるメモリ１２１に記憶される。解析的アプ
ローチを実行するために、無効周波数成分の振幅によっ
て非線形ビットシフトの振幅を決定する際に使用される
隔離遷移を書き込んだり、それを読み出したり、さらに
そのｋ番目の高調波の振幅、Ｘ（ｋｗo ）を測定したり
することから成る個別の書き込み−読み出し−測定操作
が必要とされる。
フト測定及び事前補償調整を実行する。これは操作に関
して、３つのモード、即ち、測定モード、補償モード、
チェックモード、を有する。測定モードにおいて、スイ
ッチ１１２はパターン生成器１１１を書き込みドライバ
１３０に接続する。パターン生成器１１１は、上述した
ように、消去された又は無効の周波数ｋｗo を有するデ
ータパターンを作成する。データパターンは次に、書き
込みドライバ１３０と読み出し前置増幅器１５０とを含
む標準読み出し／書き込みチャネルを介して記憶ディス
ク（図示せず）上への書き込み及びディスクからの読み
出しを行なう。読み出されたデータパターンはバンドパ
スフィルタ１１５を介して供給され、無効周波数成分を
渡し、他の周波数成分を除去する。フィルタを通過した
信号は次に、振幅検出器１１７を介して供給され、無効
周波数成分の振幅を測定する。そしてその結果は、上述
の経験的アプローチ又は解析的アプローチのどちらか一
方の方法及び数式に応じてプロセッサ１１９により補償
因子に変換されて、補償コントローラ１２３によって、
後で使用されるメモリ１２１に記憶される。解析的アプ
ローチを実行するために、無効周波数成分の振幅によっ
て非線形ビットシフトの振幅を決定する際に使用される
隔離遷移を書き込んだり、それを読み出したり、さらに
そのｋ番目の高調波の振幅、Ｘ（ｋｗo ）を測定したり
することから成る個別の書き込み−読み出し−測定操作
が必要とされる。
【００３５】メモリ１２１に記憶された補償因子は、経
験的アプローチと結合された上記の数表、解析的アプロ
ーチと結合された上記のグラフ上の曲線の数式的表現、
一連の表又はグラフ、ディスクの特定部分に適用できる
セットの各要素、又は上記の方法及び数式によって展開
された補償アプローチを説明する他の情報フォーマット
を含むことに注記するものである。また、メモリ１２１
の内容は、次の測定が実行されるまでディスクの指定部
分に永久的に記憶される。さらに、各バンドに対し個別
に演算且つ記憶された補償因子によって、ディスクは複
数のバンドに分割される。ディスクドライブ成分の安定
性に応じて、測定は繰り返し行なわれ、電源がオンにな
るたびに、数時間毎に、修正可能なエラーが所定範囲を
越える時などの際にドライブされた後で実行することが
できる。最後に、バンドパスフィルタ１１５を単純な誘
導キャパシティブネットワークを含む当該技術周知の種
々の技法の一つに従って実行してもよく、又は、無効周
波数成分を別の周波数に変換し、次にその振幅を決定す
るヘテロダイン構造の振幅検出器１１７と機能的に組み
合わせてもよい。
験的アプローチと結合された上記の数表、解析的アプロ
ーチと結合された上記のグラフ上の曲線の数式的表現、
一連の表又はグラフ、ディスクの特定部分に適用できる
セットの各要素、又は上記の方法及び数式によって展開
された補償アプローチを説明する他の情報フォーマット
を含むことに注記するものである。また、メモリ１２１
の内容は、次の測定が実行されるまでディスクの指定部
分に永久的に記憶される。さらに、各バンドに対し個別
に演算且つ記憶された補償因子によって、ディスクは複
数のバンドに分割される。ディスクドライブ成分の安定
性に応じて、測定は繰り返し行なわれ、電源がオンにな
るたびに、数時間毎に、修正可能なエラーが所定範囲を
越える時などの際にドライブされた後で実行することが
できる。最後に、バンドパスフィルタ１１５を単純な誘
導キャパシティブネットワークを含む当該技術周知の種
々の技法の一つに従って実行してもよく、又は、無効周
波数成分を別の周波数に変換し、次にその振幅を決定す
るヘテロダイン構造の振幅検出器１１７と機能的に組み
合わせてもよい。
【００３６】補償モードにおいて、スイッチ１１２は補
償コントローラ１２３を書き込みドライバ１３０に接続
する。補償コントローラ１２３は外部のサーキットリー
から符号化された書き込みデータ１２５を受信する。補
償コントローラ１２３は、データパルスの相対的スペー
シングを調整するためにメモリ１２１に記憶された補償
因子を利用して、次に記憶ディスク上に記録するための
書き込みドライバ１３０にデータパルスを送る。スペー
シング調整によって行なわれた補償は有効的に非線形ビ
ットシフトの影響をキャンセル（相殺）する。このよう
に、記録されたデータが記憶ディスクから読み出される
と、検出設計はデータパルスの位置を正確に予期するこ
とができる。
償コントローラ１２３を書き込みドライバ１３０に接続
する。補償コントローラ１２３は外部のサーキットリー
から符号化された書き込みデータ１２５を受信する。補
償コントローラ１２３は、データパルスの相対的スペー
シングを調整するためにメモリ１２１に記憶された補償
因子を利用して、次に記憶ディスク上に記録するための
書き込みドライバ１３０にデータパルスを送る。スペー
シング調整によって行なわれた補償は有効的に非線形ビ
ットシフトの影響をキャンセル（相殺）する。このよう
に、記録されたデータが記憶ディスクから読み出される
と、検出設計はデータパルスの位置を正確に予期するこ
とができる。
【００３７】チェックモードは測定モード及び補償モー
ドの組合せである。チェックモードでは、スイッチ１１
３はパターン生成器１１１を補償コントローラ１２３に
接続する。無効周波数を有するパターン生成器１１１か
らのデータパターンは書き込みデータとして補償コント
ローラ１２３に供給される。メモリ１２１は、データパ
ターン上で作動するために、補償コントローラ１２３に
先に生成された補償因子を供給する。スイッチ１１２は
補償コントローラ１２３を書き込みドライバ１３０に接
続し、調整されたデータパターンは記憶ディスクに記録
される。つぎに、データパターンは読み出し前置増幅器
１５０を使った記憶ディスクから読み出され、残りの非
線形ビットシフトは、バンドパスフィルタ１１５、振幅
検出器１１７、プロセッサ１１９によって測定される。
その結果は上述したように使用してもよく、つまり、補
償因子の有効性を表示し、補償因子に対する反復的修正
を行なうものである。
ドの組合せである。チェックモードでは、スイッチ１１
３はパターン生成器１１１を補償コントローラ１２３に
接続する。無効周波数を有するパターン生成器１１１か
らのデータパターンは書き込みデータとして補償コント
ローラ１２３に供給される。メモリ１２１は、データパ
ターン上で作動するために、補償コントローラ１２３に
先に生成された補償因子を供給する。スイッチ１１２は
補償コントローラ１２３を書き込みドライバ１３０に接
続し、調整されたデータパターンは記憶ディスクに記録
される。つぎに、データパターンは読み出し前置増幅器
１５０を使った記憶ディスクから読み出され、残りの非
線形ビットシフトは、バンドパスフィルタ１１５、振幅
検出器１１７、プロセッサ１１９によって測定される。
その結果は上述したように使用してもよく、つまり、補
償因子の有効性を表示し、補償因子に対する反復的修正
を行なうものである。
【００３８】図６は、本発明を具体化するＰＲＭＬ記録
済みデータ検出システムをブロック図形式で示してい
る。図示の通り、かかるシステムはエンコーダ１００、
非線形ビットシフトコンペンセータ１１０、読み出し前
置増幅器１５０と等化器／デコーダ１６０とを含む。
済みデータ検出システムをブロック図形式で示してい
る。図示の通り、かかるシステムはエンコーダ１００、
非線形ビットシフトコンペンセータ１１０、読み出し前
置増幅器１５０と等化器／デコーダ１６０とを含む。
【００３９】作動中に、エンコーダ１００は外部サーキ
ットリーから書き込みデータ１０１を受信し、書き込み
データ１０１を磁気記録可能なパルストレインに変換す
る。非線形ビットシフトコンペンセータ１１０は符号化
された書き込みデータを受信し、非線形ビットシフトの
影響を補償するためにパルストレインの内部スペーシン
グを調整することは上述の通りである。この調整された
符号化書き込みデータは次に書き込みドライバ１３０に
よって受信され、それを対応する書き込みカレント（電
流）に変換する。書き込みカレントは記録ヘッド及び記
憶ディスク１４０内の磁気ヘッドを通過し、それによっ
て記憶ディスク上に記録される。記録されたデータが記
憶ディスクから読み出されるためのものである場合、読
み出し前置増幅器１５０は磁気ヘッドから読み出された
信号を受信且つ増幅させる。等化器／デコーダ１６０
は、増幅された信号を受信し、パルストレインをデコー
ド（即ち、検出）し、さらに外部サーキットリーに接続
させるためのその出力読み出しデータ１６１で供給す
る。非線形ビットシフトの影響がデータを記憶ディスク
に書き込む前に補償されると、読み出し信号を含むパル
スがその予期された位置で検出されて、等化器／デコー
ダ１６０によって生成された読み出しエラーの数が減少
される。
ットリーから書き込みデータ１０１を受信し、書き込み
データ１０１を磁気記録可能なパルストレインに変換す
る。非線形ビットシフトコンペンセータ１１０は符号化
された書き込みデータを受信し、非線形ビットシフトの
影響を補償するためにパルストレインの内部スペーシン
グを調整することは上述の通りである。この調整された
符号化書き込みデータは次に書き込みドライバ１３０に
よって受信され、それを対応する書き込みカレント（電
流）に変換する。書き込みカレントは記録ヘッド及び記
憶ディスク１４０内の磁気ヘッドを通過し、それによっ
て記憶ディスク上に記録される。記録されたデータが記
憶ディスクから読み出されるためのものである場合、読
み出し前置増幅器１５０は磁気ヘッドから読み出された
信号を受信且つ増幅させる。等化器／デコーダ１６０
は、増幅された信号を受信し、パルストレインをデコー
ド（即ち、検出）し、さらに外部サーキットリーに接続
させるためのその出力読み出しデータ１６１で供給す
る。非線形ビットシフトの影響がデータを記憶ディスク
に書き込む前に補償されると、読み出し信号を含むパル
スがその予期された位置で検出されて、等化器／デコー
ダ１６０によって生成された読み出しエラーの数が減少
される。
【００４０】本発明を特に好ましい実施例について説明
し、且つ示してきたが、その説明又は実例における変化
は本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、形態又
は詳細について実施できることは当業者によって理解さ
れるだろう。例えば、非線形ビットシフト測定及び補償
が適用される非線形通信媒体は磁気ディスク又は光学デ
ィスクである必要はなく、光ファイバネットワーク又は
磁気テープシステム又は非線形の影響を受けやすい何か
他のシステムであってもよい。
し、且つ示してきたが、その説明又は実例における変化
は本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、形態又
は詳細について実施できることは当業者によって理解さ
れるだろう。例えば、非線形ビットシフト測定及び補償
が適用される非線形通信媒体は磁気ディスク又は光学デ
ィスクである必要はなく、光ファイバネットワーク又は
磁気テープシステム又は非線形の影響を受けやすい何か
他のシステムであってもよい。
【００４１】
【発明の効果】本発明のデータ記録装置は上記のように
構成されているので、磁気及び光学記録装置等の非線形
通信媒体の非線形ビットシフトの測定及び補償に使用す
ることができる。
構成されているので、磁気及び光学記録装置等の非線形
通信媒体の非線形ビットシフトの測定及び補償に使用す
ることができる。
【図１】周期的パルストレイン及びその高調波を表わす
図的表現による図である。
図的表現による図である。
【図２】対称パルストレイン及びその高調波を示す図的
表現による図である。
表現による図である。
【図３】双ビットパルストレイン及びその高調波を表わ
す図的表現による図である。
す図的表現による図である。
【図４】本発明によるデータパターンを消去する高調波
の読み出し信号を表わす図的表現による図である。
の読み出し信号を表わす図的表現による図である。
【図５】本発明を具体化する非線形ビットシフトコンペ
ンセータを表わすブロック図である。
ンセータを表わすブロック図である。
【図６】本発明を具体化する補償のあるＰＲＭＬ記録済
みデータ検出システムを表わすブロック図である。
みデータ検出システムを表わすブロック図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 チング ワー ツァング アメリカ合衆国94087、カリフォルニア 州サニーヴェイル、ヘレナ ドライヴ 882
Claims (29)
- 【請求項１】 データ記憶表面と、前記データ記憶表面
にデータパターンを記録する手段であって、前記データ
パターンは、以下の式（５）によって概略表されるスペ
ーシングを有する複数のパルスを含む手段と、を含む非
線形ビットシフトを補償するデータ記録装置。 【数５】 ここで、ａn はｎ番目のパルスの極性を、ｗは消去され
るべき成分のある周波数を、Ｎは前記データパターンの
一周期におけるパルスの数を、さらにＴn は非線形ビッ
トシフトの不存在の前記データパターンにおけるｎ番目
のパルスと第１のパルスとの間の時間間隔を、それぞれ
表わす。 - 【請求項２】 データ記憶表面と、前記データ記憶表面
にデータパターンを記録する手段であって、前記データ
パターンは、以下の式（８）によって概略表されるスペ
ーシングを有する複数のパルスを含む手段と、を含む非
線形ビットシフトを補償するデータ記録装置。 【数８】 ここで、ｗは消去されるべき成分のある周波数を、Ｎは
前記データパターンの一周期におけるパルスの数を、さ
らにＴn は非線形ビットシフトの不存在の前記データパ
ターンにおけるｎ番目のパルスと第１のパルスとの間の
時間間隔を、それぞれ表わす。 - 【請求項３】 以下の式（９）によって記録済みのデー
タパターンの非線形ビットシフトの振幅を決定するため
の手段をさらに含む請求項２記載のデータ記録装置。 【数９】 ここで、ｋｗo は前記データパターンの基本周波数のｋ
番目の高調波を、｜Ｚ（ｋｗo ）｜はｋ番目の高調波の
振幅を、｜Ｘ（ｋｗo）｜は周波数ｗo による等間隔遷
移のｋ番目の高調波の振幅を、さらにδは非線形ビット
シフトの振幅を、それぞれ表わす。 - 【請求項４】 データを受信するためのデータ記憶表面
と、無効周波数を有するデータパターンをを生成するた
めの手段であって、前記データパターンは、以下の式
（８）によって概略表わされるスペーシングを有する複
数のパルスを含むパターン生成手段と、前記データパタ
ーンを前記データ記憶表面に書き込み、且つ前記データ
パターンを前記データ記憶表面から読み出すためのデー
タ読み出し／書き込み手段と、前記無効周波数で読み出
されたデータパターンの振幅を測定するための振幅検出
手段と、前記測定された振幅を補償因子に変換するため
のプロセッサ手段と、を含む非線形ビットシフトを補償
するデータ記録装置。 【数８】ここで、ｗは消去されるべき成分のある周波数
を、Ｎは前記データパターンの一周期におけるパルスの
数を、さらにＴn は非線形ビットシフトの不存在の前記
データパターンにおけるｎ番目のパルスと第１のパルス
との間の時間間隔を、それぞれ表わす。 - 【請求項５】 前記プロセッサ手段は、以下の式（９）
によって前記測定された振幅から非線形ビットシフトの
振幅を決定するための手段を含む請求項４記載のデータ
記録装置。 【数９】ここで、ｋｗo は前記データパターンの基本周
波数のｋ番目の高調波を、｜Ｚ（ｋｗo ）｜はｋ番目の
高調波の振幅を、｜Ｘ（ｋｗo ）｜は周波数ｗo による
等間隔遷移のｋ番目の高調波の振幅を、さらにδは非線
形ビットシフトの振幅を、それぞれ表わす。 - 【請求項６】 前記パターン生成手段は前記パルスのス
ペーシングを既知の量だけシフトするための手段と、非
線形ビットシフトの振幅とシフトの前記既知の量との相
違に従って読み出されたデータパターンの非線形ビット
シフトの方向を決定するための手段と、をさらに提供す
る請求項５記載のデータ記録装置。 - 【請求項７】 前記補償因子を記憶するためのメモリ手
段と、書き込みデータ源と、前記書き込みデータを受信
し、前記補償因子に従って前記書き込みデータのデータ
パルスのスペーシングをシフトし、前記データ記憶表面
に記録するために前記補償された書き込みデータを前記
データ読み出し／書き込み手段に伝送する、前記補償因
子に応答する補償コントローラ手段と、をさらに含む請
求項５記載のデータ記録装置。 - 【請求項８】 読み出されたデータパターンを受信し、
そこから前記無効周波数成分の振幅を決定するためのフ
ィルタ手段をさらに含む請求項５記載のデータ記録装
置。 - 【請求項９】 データパターンを生成する工程であっ
て、前記データパターンは、以下の式（８）によって表
わされるスペーシングを備えた複数のパルスを有する工
程と、前記データパターンをデータ記憶表面上に書き込
む工程と、前記データパターンを前記データ記憶表面か
ら読み出す工程と、以下の式（９）によって読み出され
たデータパターンの非線形ビットシフトの振幅を決定す
る工程と、を含むデータ記録装置の非線形ビットシフト
の測定方法。 【数８】ここで、ｗは消去されるべき成分のある周波数
を、Ｎは前記データパターンの一個の周期におけるパル
スの数を、Ｔn は非線形ビットシフトの不存在の前記デ
ータパターンのｎ番目のパルスと第１のパルスとの間の
時間間隔を、それぞれ表わし、 【数９】では、ｋｗo は前記データパターンの基本周波
数のｋ番目の高調波を、｜Ｚ（ｋｗo ）｜はｋ番目の高
調波の振幅を、｜Ｘ（ｋｗo ）｜は周波数ｗo による等
間隔遷移のｋ番目の高調波の振幅を、さらにδは非線形
ビットシフトの振幅を、それぞれ表わす。 - 【請求項１０】 前記書き込み工程の前に前記パルスの
スペーシングを既知の量だけシフトする工程と、非線形
ビットシフトの振幅とシフトの前記既知の量との間の差
に従って、読み出されたデータパターンの非線形ビット
シフトの方向を決定する工程と、をさらに含む請求項９
記載の非線形ビットシフトの測定方法。 - 【請求項１１】 （１）無効周波数を有するデータパタ
ーンを生成する工程であって、前記データパターンは、
以下の式（８）によって表わされるスペーシングを有す
る複数のパルスを含む工程と、（２）前記データパター
ンを前記データ記憶表面に書き込む工程と、（３）前記
データパターンを前記データ記憶表面から読み出す工程
と、（４）前記無効周波数で読み出されたデータパター
ンの振幅を測定する工程と、（５）前記測定された振幅
を補償因子に変換する工程と、を含むデータを受信する
ためのデータ記憶表面を有するデータ記録装置の非線形
ビットシフトの補償方法。 【数８】ここで、ｗは消去されるべき成分のある周波数
を、Ｎは前記データパターンの一周期におけるパルスの
数を、さらにＴn は非線形ビットシフトの不存在の前記
データパターンにおけるｎ番目のパルスと第１のパルス
との間の時間間隔を、それぞれ表わす。 - 【請求項１２】 前記変換工程（５）は、（ａ）シフト
されたデータパターンを形成するために前記データパタ
ーンのパルスの少なくとも一個のスペーシングを他のパ
ルスと相対的にシフトする工程と、（ｂ）前記シフトさ
れたデータパターンを前記データ記憶表面上に書き込む
工程と、（ｃ）前記シフトされたデータパターンを前記
データ記憶表面から読み出す工程と、（ｄ）前記無効周
波数で読み出されたデータパターンの振幅を測定する工
程と、（ｅ）前記工程（ａ）から（ｂ）を少なくとも一
回繰り返し、さらに前記データパターンと前記無効周波
数で読み出された最小の振幅を有する前記シフトされた
データパターンの前に一個を、前記補償因子として保存
する工程と、を含む請求項１１記載の非線形ビットシフ
トの補償方法。 - 【請求項１３】 前記補償因子をメモリ手段に記憶させ
る工程と、書き込みデータを書き込みデータ源から受信
する工程と、前記補償因子に従って前記書き込みデータ
のデータパルスのスペーシングをシフトする工程と、を
さらに含む請求項１２記載の非線形ビットシフトの補償
方法。 - 【請求項１４】 前記工程（１）から（５）を反復的に
実行し、各反復動作は異なる生成されたデータパターン
ごとに実行され、前記保存工程は、前記工程（１）から
（５）の反復によって生成された補償因子を含む補償表
を形成するとともに、前記補償表をメモリ手段に記憶さ
せる工程と、書き込みデータ源から書き込みデータを受
信する工程と、前記補償表に従って前記書き込みデータ
のデータパルスのスペーシングをシフトする工程と、を
さらに含む請求項１２記載の非線形ビットシフトの補償
方法。 - 【請求項１５】 前記シフト工程は、前記書き込みデー
タを前記データパターン内の問題のパターンの形式を有
するビットパターンに細分化する工程と、前記補償表に
従って前記ビットパターンのスペーシングをシフトする
工程と、をさらに含む請求項１４記載の非線形ビットシ
フトの補償方法。 - 【請求項１６】 前記変換工程は、以下の式（９）によ
って前記測定された振幅から非線形ビットシフトの振幅
を決定することを含む請求項１１記載の非線形ビットシ
フトの補償方法。 【数９】ここで、ｋｗo は前記データパターンの基本周
波数のｋ番目の高調波を、｜Ｚ（ｋｗo ）｜はｋ番目の
高調波の振幅を、｜Ｘ（ｋｗo ）｜は周波数ｗo による
等間隔遷移のｋ番目の高調波の振幅を、さらにδは非線
形ビットシフトの振幅を、それぞれ表わす。 - 【請求項１７】 前記補償因子をメモリ手段に記憶させ
る工程と、書き込みデータ源から書き込みデータを受信
する工程と、前記補償因子に従って前記書き込みデータ
のデータパルスのスペーシングをシフトする工程と、を
さらに含む請求項１６記載の非線形ビットシフトの補償
方法。 - 【請求項１８】 前記無効周波数成分の振幅を決定する
ために読み出されたデータパターンをろ波させる工程を
さらに含む請求項１６記載の非線形ビットシフトの補償
方法。 - 【請求項１９】 前記工程（１）から（５）を反復的に
実行し、各反復動作は異なる生成されたデータパターン
ごとに実行されると共に、前記工程（１）から（５）を
反復することによって生成された補償因子をメモリ手段
に記憶させる工程と、書き込みデータ源から書き込みデ
ータを受信する工程と、補償因子に従って前記書き込み
データのデータパルスのスペーシングをシフトする工程
と、をさらに含む請求項１６記載の非線形ビットシフト
の補償方法。 - 【請求項２０】 前記シフト工程は、前記書き込みデー
タにおいて、少なくとも一個の他のデータパルスが隣接
して先行するデータパルスである少なくとも一個のシフ
トデータパルスを識別する工程と、前記少なくとも一個
のシフトデータパルスの各々毎に、前記少なくとも一個
のシフトデータパルスでの先行するすべての隣接するデ
ータパルスからの個々の影響を合計する工程と、個々の
影響の前記合計と前記補償因子に従って前記少なくとも
一個のシフトデータパルスのスペーシングをシフトする
工程と、をさらに含む請求項１９記載の非線形ビットシ
フトの補償方法。 - 【請求項２１】 磁気記憶表面と、前記磁気記憶表面に
データパターンを記録するための手段であって、前記デ
ータパターンは、ｍとｎが６の整数倍とする1100 ...
（m0's）100 ...（n0's）1100 ...（m0's）100 ...
（n0's）の形式によるスペーシングを有する複数のパル
スを含む手段と、を含む非線形ビットシフトを補償する
磁気記録装置。 - 【請求項２２】 以下の式（９）によって記録済みのデ
ータパターンにおける非線形ビットシフトの振幅を決定
するための手段をさらに含む請求項２１記載の磁気記録
装置。 【数９】ここで、ｋｗo は前記データパターンの基本周
波数のｋ番目の高調波を、｜Ｚ（ｋｗo ）｜はｋ番目の
高調波の振幅を、｜Ｘ（ｋｗo ）｜は周波数ｗo による
等間隔遷移のｋ番目の高調波の振幅を、さらにδは非線
形ビットシフトの振幅を、それぞれ表わす。 - 【請求項２３】 データを受信するための磁気記憶表面
と、無効周波数を有するデータパターンを生成するため
の手段であって、前記データパターンは、ｍとｎが６の
整数倍とする1100 ...（m0's）100 ...（n0's）1100
...（m0's）100 ...（n0's）の形式によるスペーシン
グを有する複数のパルスを含むパターン生成手段と、前
記データパターンを前記磁気記憶表面に書き込み、且つ
前記データパターンを前記磁気記憶表面から読み出すた
めのデータ読み出し／書き込み手段と、前記無効周波数
で読み出されたデータパターンの振幅を測定するための
振幅検出手段と、前記測定された振幅を補償因子に変換
するためのプロセッサ手段と、を含む非線形ビットシフ
トを補償する磁気記録装置。 - 【請求項２４】 前記プロセッサ手段は、以下の式
（９）によって、前記測定された振幅から非線形ビット
シフトの振幅を決定するための手段を含む請求項２３記
載の磁気記録装置。 【数９】ここで、ｋｗo は前記データパターンの基本周
波数のｋ番目の高調波を、｜Ｚ（ｋｗo ）｜はｋ番目の
高調波の振幅を、｜Ｘ（ｋｗo ）｜は周波数ｗo による
等間隔遷移のｋ番目の高調波の振幅を、さらにδは非線
形ビットシフトの振幅を、それぞれ表わす。 - 【請求項２５】 前記パターン生成手段は、前記パルス
のスペーシングを既知の量だけシフトする手段と、非線
形ビットシフトの振幅と前記シフトの既知の量との差に
従って読み出されたデータパターンにおける非線形ビッ
トシフトの方向を決定するための手段と、をさらに提供
する請求項２４記載の磁気記録装置。 - 【請求項２６】 前記補償因子を記憶するためのメモリ
手段と、書き込みデータ源と、前記書き込みデータを受
信し、前記補償因子に従って前記書き込みデータのデー
タパルスのスペーシングをシフトし、前記補償された書
き込みデータを前記磁気記憶表面に記録するための前記
データ読み出し／書き込み手段に伝送する、前記補償因
子に応答する補償コントローラ手段と、をさらに含む請
求項２５記載の磁気記録装置。 - 【請求項２７】 読み出されたデータパターンを受信
し、そこから前記無効周波数成分の振幅を決定するため
のフィルタ手段をさらに含む請求項２５記載の磁気記録
装置。 - 【請求項２８】 ｍとｎが６の整数倍とする1100 ...
（m0's）100 ...（n0's）1100 ...（m0's）100 ...
（n0's）の形式によるスペーシングを有する複数のパル
スを含むデータパターンを生成する工程と、前記データ
パターンをデータ記憶表面に書き込む工程と、前記デー
タパターンを前記データ記憶表面から読み出す工程と、
を含むデータ記録装置の非線形ビットシフトの測定方
法。 - 【請求項２９】 二進データを磁気記録可能な形式に変
換するための書き込みデータエンコーダと、符号化され
た書き込みデータを前記書き込みデータエンコーダから
受信し、前記符号化された書き込みデータのスペーシン
グを調整するための補償手段と、調整された符号化書き
込みデータを前記補償手段から受信し、前記調整された
符号化書き込みデータを対応する書き込みカレントに変
換するための書き込みドライバと、磁気ヘッド及び磁気
記憶表面であって、前記書き込みデータを前記磁気記憶
表面で受信する前記磁気ヘッド及び前記磁気記憶表面
と、読み出されたデータを前記磁気記憶表面から受信し
且つ増幅する読み出し増幅器と、磁気誘導パルストレイ
ンを二進データ形式に変換するための読み出しデータ等
化器及びデコーダと、を含むとともに、前記補償手段
は、無効周波数を有するデータパターンを生成する手段
であって、前記データパターンが、ｍとｎを６の整数倍
数とする1100 ...（m0's）100 ...（n0's）1100 ...
（m0's）100 ...（n0's）の形式によるスペーシングを
有する複数のパルスを含むパターン生成手段と、前記デ
ータパターンが前記磁気記憶表面に書き込まれる際に、
以下の式（９）によって決定される非線形ビットシフト
の振幅を決定するための手段を含む補償因子を作成する
ためのプロセッサ手段と、を含む非線形ビットシフトを
補償する磁気記録装置。 【数９】ここで、ｋｗo は前記データパターンの基本周
波数のｋ番目の高調波を、｜Ｚ（ｋｗo ）｜はｋ番目の
高調波の振幅を、｜Ｘ（ｋｗo ）｜は周波数ｗo による
等間隔遷移のｋ番目の高調波の振幅を、さらにδは非線
形ビットシフトの振幅を、それぞれ表わす。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/643,975 US5262904A (en) | 1991-01-22 | 1991-01-22 | Method and apparatus for measuring and compensating nonlinear bitshift |
| US643975 | 1991-01-22 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04295670A JPH04295670A (ja) | 1992-10-20 |
| JP2625598B2 true JP2625598B2 (ja) | 1997-07-02 |
Family
ID=24582919
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3293687A Expired - Fee Related JP2625598B2 (ja) | 1991-01-22 | 1991-10-14 | データ記録装置、非線形ビットシフトの測定方法、非線形ビットシフトの補償方法及び磁気記録装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5262904A (ja) |
| EP (1) | EP0496495A3 (ja) |
| JP (1) | JP2625598B2 (ja) |
| SG (1) | SG42860A1 (ja) |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5357520A (en) * | 1992-01-31 | 1994-10-18 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for precompensation value determination in a PRML data channel |
| US5485320A (en) * | 1993-05-24 | 1996-01-16 | Trace Mountain Products, Inc. | Method and apparatus for adjusting asymmetric recording signals |
| JP2755144B2 (ja) * | 1993-12-27 | 1998-05-20 | 日本電気株式会社 | 光ディスク信号再生方法及び光ディスク信号再生装置 |
| JP3351163B2 (ja) | 1994-07-27 | 2002-11-25 | 株式会社日立製作所 | 情報記録再生装置及び信号処理回路 |
| WO1996007180A1 (en) * | 1994-08-30 | 1996-03-07 | Exabyte Corporation | Method and apparatus for virtual edge detection of magnetic tape |
| JP2658994B2 (ja) * | 1995-07-31 | 1997-09-30 | 日本電気株式会社 | 磁気記録装置 |
| US6256159B1 (en) * | 1999-06-01 | 2001-07-03 | Texas Instruments Incorporated | Method and circuit for dibit detection |
| JP3906226B2 (ja) * | 2003-04-25 | 2007-04-18 | 富士通株式会社 | 非線形性測定方法，非線形性測定装置，磁気記録再生装置および磁気記録再生用ｌｓｉ |
| US7248424B2 (en) * | 2003-04-25 | 2007-07-24 | Fujitsu Limited | Nonlinearity measuring method, nonlinearity measuring unit, magnetic recording/regenerating unit and LSI for magnetic recording/regenerating |
| US7460323B2 (en) * | 2005-07-29 | 2008-12-02 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Methods and systems for automatically characterizing non-linearities of a read-back signal of a recording system |
| EP2198427A4 (en) * | 2007-12-21 | 2013-11-06 | Lsi Corp | SYSTEMS AND METHODS FOR ADAPTIVE EQUALIZATION IN RECORDING CHANNELS |
| US7924523B2 (en) * | 2007-12-21 | 2011-04-12 | Lsi Corporation | Frequency domain approach for efficient computation of fixed-point equalization targets |
| US7924518B2 (en) * | 2008-08-27 | 2011-04-12 | Lsi Corporation | Systems and methods for adaptive write pre-compensation |
| US9281908B2 (en) * | 2008-10-08 | 2016-03-08 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Systems and methods for memory efficient signal and noise estimation |
| US7929240B2 (en) * | 2008-12-18 | 2011-04-19 | Lsi Corporation | Systems and methods for adaptive MRA compensation |
| US7965467B2 (en) * | 2008-12-18 | 2011-06-21 | Lsi Corporation | Systems and methods for generating equalization data |
| US7948702B2 (en) * | 2008-12-18 | 2011-05-24 | Lsi Corporation | Systems and methods for controlling data equalization |
| US8154815B2 (en) * | 2008-12-18 | 2012-04-10 | Lsi Corporation | Systems and methods for generating equalization data using shift register architecture |
| US7974030B2 (en) | 2008-12-23 | 2011-07-05 | Lsi Corporation | Systems and methods for dibit correction |
| US7948699B2 (en) * | 2009-01-02 | 2011-05-24 | Lsi Corporation | Systems and methods for equalizer optimization in a storage access retry |
| US7957251B2 (en) | 2009-02-16 | 2011-06-07 | Agere Systems Inc. | Systems and methods for reduced latency loop recovery |
| US7969337B2 (en) * | 2009-07-27 | 2011-06-28 | Lsi Corporation | Systems and methods for two tier sampling correction in a data processing circuit |
| US8139305B2 (en) * | 2009-09-14 | 2012-03-20 | Lsi Corporation | Systems and methods for timing and gain acquisition |
| US8854752B2 (en) | 2011-05-03 | 2014-10-07 | Lsi Corporation | Systems and methods for track width determination |
| US8762440B2 (en) | 2011-07-11 | 2014-06-24 | Lsi Corporation | Systems and methods for area efficient noise predictive filter calibration |
| US8848776B1 (en) | 2013-03-25 | 2014-09-30 | Lsi Corporation | Systems and methods for multi-dimensional signal equalization |
| US8929010B1 (en) | 2013-08-21 | 2015-01-06 | Lsi Corporation | Systems and methods for loop pulse estimation |
| US10553247B2 (en) | 2018-05-30 | 2020-02-04 | Western Digital Technologies, Inc. | Data storage device calibrating data density based on amplitude-inverted or time-inverted read signal |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3686682A (en) * | 1970-08-17 | 1972-08-22 | Burroughs Corp | Method and apparatus for testing magnetic disc files |
| US4009490A (en) * | 1975-07-07 | 1977-02-22 | Ncr Corporation | PLO phase detector and corrector |
| US4230799A (en) * | 1977-02-09 | 1980-10-28 | Schering Corporation | Process for the preparation of antibiotic W-10 complex and for the isolation of Antibiotic 20561 and Antibiotic 20562 therefrom |
| DE2747333C3 (de) * | 1977-10-21 | 1980-08-07 | Basf Ag, 6700 Ludwigshafen | Meßverfahren und Meßeinrichtung zur Erfassung der elektroakustischen Eigenschaften von Magnetbändern |
| US4142215A (en) * | 1977-12-02 | 1979-02-27 | The Telex Corporation | Tape drive tester |
| US4167761A (en) * | 1978-04-03 | 1979-09-11 | Sperry Rand Corporation | Precedent and subsequent minor transitions to alleviate pulse crowding |
| US4276573A (en) * | 1979-06-29 | 1981-06-30 | Datapoint Corporation | Pulse shaping network for disc read circuitry |
| US4327383A (en) * | 1980-09-26 | 1982-04-27 | Siemens Corporation | Read circuit for a floppy disk drive |
| JPS586512A (ja) * | 1981-07-03 | 1983-01-14 | Fujitsu Ltd | 磁気デイスク書込み方法およびその装置 |
| US4764915A (en) * | 1982-01-12 | 1988-08-16 | Discovision Associates | Method and apparatus for recording a multiplexed signal on a record medium |
| US4450411A (en) * | 1982-07-27 | 1984-05-22 | Honeywell Inc. | Automatic calibration system for signal amplifier circuits |
| US4612586A (en) * | 1984-06-05 | 1986-09-16 | Memorex Corporation | Method for measuring timing asymmetry in a magnetic storage system |
| US4796109A (en) * | 1984-06-05 | 1989-01-03 | Unisys Corp. | Method for testing components of a magnetic storage system |
| US5172280A (en) * | 1989-10-26 | 1992-12-15 | Archive Corporation | Apparatus and method for automatic write current calibration in a streaming tape drive |
| US5068754A (en) * | 1989-11-22 | 1991-11-26 | Seagate Technology, Inc. | Method and apparatus for measuring bit shift |
-
1991
- 1991-01-22 US US07/643,975 patent/US5262904A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-10-14 JP JP3293687A patent/JP2625598B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-01-07 SG SG1996000225A patent/SG42860A1/en unknown
- 1992-01-07 EP EP19920300113 patent/EP0496495A3/en not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5262904A (en) | 1993-11-16 |
| EP0496495A2 (en) | 1992-07-29 |
| JPH04295670A (ja) | 1992-10-20 |
| EP0496495A3 (en) | 1993-01-13 |
| SG42860A1 (en) | 1997-10-17 |
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