JP2658994B2 - 磁気記録装置 - Google Patents
磁気記録装置Info
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- JP2658994B2 JP2658994B2 JP7194673A JP19467395A JP2658994B2 JP 2658994 B2 JP2658994 B2 JP 2658994B2 JP 7194673 A JP7194673 A JP 7194673A JP 19467395 A JP19467395 A JP 19467395A JP 2658994 B2 JP2658994 B2 JP 2658994B2
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- compensation factor
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/02—Recording, reproducing, or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B5/09—Digital recording
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/10009—Improvement or modification of read or write signals
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気記録装置に関す
るものである。
るものである。
【０００２】
【従来の技術】磁気記録装置は、近接した状態で信号情
報を記録すると信号情報が相互に干渉しあい、ビットの
位置がシフト（以下、非線形ビット・シフトという）す
ることが知られている。このようなシフトは、磁気記録
装置の信号情報の検出性能を劣化させる原因となる。
報を記録すると信号情報が相互に干渉しあい、ビットの
位置がシフト（以下、非線形ビット・シフトという）す
ることが知られている。このようなシフトは、磁気記録
装置の信号情報の検出性能を劣化させる原因となる。
【０００３】そこで、従来の技術は信号情報の記録時に
ビット位置をあらかじめシフトさせることで、非線形ビ
ット・シフトの影響を補償しているが、非線形ビット・
シフトの大きさを測定することが困難なため、その大き
さを知らずにその影響を補償している（例えば、特開平
４−０３０３０５号公報）。
ビット位置をあらかじめシフトさせることで、非線形ビ
ット・シフトの影響を補償しているが、非線形ビット・
シフトの大きさを測定することが困難なため、その大き
さを知らずにその影響を補償している（例えば、特開平
４−０３０３０５号公報）。
【０００４】また従来の技術として、非線形ビット・シ
フトの大きさを測定し、その大きさを知ってからその影
響を補償する方法（例えば、特開平４−２９５６７０号
公報）もある。この方法は、特定のデータ・パターンを
使用することを前提としており、このデータ・パターン
は、非線形ビット・シフトなしに書き込まれる場合、所
定の高調波の振幅がないという特性を備えている。ある
データ・パルスが非線形ビット・シフトによってシフト
すると、非線形ビット・シフトなしでは振幅がなかった
所定の高調波が再出現し、ある振幅を示す。その高調波
の振幅が、非線形ビット・シフトの大きさを示すという
ものである。
フトの大きさを測定し、その大きさを知ってからその影
響を補償する方法（例えば、特開平４−２９５６７０号
公報）もある。この方法は、特定のデータ・パターンを
使用することを前提としており、このデータ・パターン
は、非線形ビット・シフトなしに書き込まれる場合、所
定の高調波の振幅がないという特性を備えている。ある
データ・パルスが非線形ビット・シフトによってシフト
すると、非線形ビット・シフトなしでは振幅がなかった
所定の高調波が再出現し、ある振幅を示す。その高調波
の振幅が、非線形ビット・シフトの大きさを示すという
ものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】非線形ビット・シフト
の大きさを、特定のデータ・パターンを用いたときの、
所定の高調波の振幅から測定する従来の技術では、上述
したような手法を採っているので、非線形ビット・シフ
トが大きいときには、再出現する高調波の振幅も大き
く、非線形ビット・シフトを容易に測定することが可能
である。
の大きさを、特定のデータ・パターンを用いたときの、
所定の高調波の振幅から測定する従来の技術では、上述
したような手法を採っているので、非線形ビット・シフ
トが大きいときには、再出現する高調波の振幅も大き
く、非線形ビット・シフトを容易に測定することが可能
である。
【０００６】ところが、非線形ビット・シフトが小さく
なると、再出現する高調波の振幅も小さくなり、さら
に、その値よりも非線形ビット・シフトが小さくなる
と、種々の雑音に所定の高調波が埋もれてしまい、非線
形ビット・シフトを容易に測定することが不可能になる
という欠点があった。
なると、再出現する高調波の振幅も小さくなり、さら
に、その値よりも非線形ビット・シフトが小さくなる
と、種々の雑音に所定の高調波が埋もれてしまい、非線
形ビット・シフトを容易に測定することが不可能になる
という欠点があった。
【０００７】また非線形ビット・シフトの方向を決定す
るため、あらかじめ特定のデータ・パターンのデータ・
パルスを既知の量だけシフトさせる必要があり、非線形
ビット・シフトの方向を容易に測定できないという欠点
もあった。
るため、あらかじめ特定のデータ・パターンのデータ・
パルスを既知の量だけシフトさせる必要があり、非線形
ビット・シフトの方向を容易に測定できないという欠点
もあった。
【０００８】本発明の目的は、非線形ビット・シフトの
大きさと方向を容易に、かつ非線形ビット・シフトが小
さくなっても充分に測定することができ、非線形ビット
・シフトを測定した結果によって、非線形ビット・シフ
トの影響を補償することができる磁気記録装置を提供す
ることにある。
大きさと方向を容易に、かつ非線形ビット・シフトが小
さくなっても充分に測定することができ、非線形ビット
・シフトを測定した結果によって、非線形ビット・シフ
トの影響を補償することができる磁気記録装置を提供す
ることにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る磁気記録装置は、生成手段と、読み出
し手段と、検出手段と、処理手段とを有し、磁気記録面
にデータ・パターンを記録再生する磁気記録装置であっ
て、生成手段は、孤立ビットの中央に近接ビット対をも
つ複合データ・パターンと、複合データ・パターンと基
本周波数が同一である孤立データ・パターンとを作成す
るものであり、読み出し手段は、磁気記録面に書き込ま
れた前記複合データ・パターンおよび前記孤立データ・
パターンを読み出すものであり、検出手段は、前記読み
出し手段によって磁気記録面から読み出された前記複合
データ・パターンおよび前記孤立データ・パターンの周
波数成分の位相を測定するものであり、処理手段は、前
記検出手段によって測定された前記複合データ・パター
ンと前記孤立データ・パターンの周波数成分の位相差を
非線形ビット・シフトの補償因子に変換するものであ
る。
め、本発明に係る磁気記録装置は、生成手段と、読み出
し手段と、検出手段と、処理手段とを有し、磁気記録面
にデータ・パターンを記録再生する磁気記録装置であっ
て、生成手段は、孤立ビットの中央に近接ビット対をも
つ複合データ・パターンと、複合データ・パターンと基
本周波数が同一である孤立データ・パターンとを作成す
るものであり、読み出し手段は、磁気記録面に書き込ま
れた前記複合データ・パターンおよび前記孤立データ・
パターンを読み出すものであり、検出手段は、前記読み
出し手段によって磁気記録面から読み出された前記複合
データ・パターンおよび前記孤立データ・パターンの周
波数成分の位相を測定するものであり、処理手段は、前
記検出手段によって測定された前記複合データ・パター
ンと前記孤立データ・パターンの周波数成分の位相差を
非線形ビット・シフトの補償因子に変換するものであ
る。
【００１０】また変更手段を有し、変更手段は、前記読
み出し手段によって読み出された前記複合データ・パタ
ーンおよび孤立データ・パターンの振幅の非対称性を既
知の量だけ変更するものである。
み出し手段によって読み出された前記複合データ・パタ
ーンおよび孤立データ・パターンの振幅の非対称性を既
知の量だけ変更するものである。
【００１１】また前記処理手段は、前記検出手段によっ
て測定された位相として、前記複合データ・パターンお
よび前記孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ倍
（Ｎ＝１または２または３）の高調波成分の位相から以
下の式（１） Φ（４Ｎ）＝Ψ（４Ｎ）−Θ（４Ｎ） （１） （ここで、Ψ（４Ｎ）は前記複合データ・パターンの基
本周波数の４Ｎ倍の高調波の位相を、Θ（４Ｎ）は前記
孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ倍の高調波の
位相を、Φ（４Ｎ）は非線形ビット・シフトの補償因子
をそれぞれ表わす。）により、前記複合データ・パター
ンと前記孤立データ・パターンの周波数成分の位相差を
非線形ビット・シフトの補償因子に変換するための処理
手段を、さらに備えたものである。
て測定された位相として、前記複合データ・パターンお
よび前記孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ倍
（Ｎ＝１または２または３）の高調波成分の位相から以
下の式（１） Φ（４Ｎ）＝Ψ（４Ｎ）−Θ（４Ｎ） （１） （ここで、Ψ（４Ｎ）は前記複合データ・パターンの基
本周波数の４Ｎ倍の高調波の位相を、Θ（４Ｎ）は前記
孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ倍の高調波の
位相を、Φ（４Ｎ）は非線形ビット・シフトの補償因子
をそれぞれ表わす。）により、前記複合データ・パター
ンと前記孤立データ・パターンの周波数成分の位相差を
非線形ビット・シフトの補償因子に変換するための処理
手段を、さらに備えたものである。
【００１２】また前記処理手段は、前記検出手段によっ
て測定された位相として、前記複合データ・パターンお
よび前記孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ−２
倍（Ｎ＝１または２または３）の高調波成分の位相から
以下の式（２） Φ（４Ｎ−２）＝Ψ（４Ｎ−２）−Θ（４Ｎ−２）±１８０ （２） （ここで、Ψ（４Ｎ−２）は前記複合データ・パターン
の基本周波数の４Ｎ−２倍の高調波の位相を、Θ（４Ｎ
−２）は前記孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ
倍の高調波の位相を、Φ（４Ｎ−２）は非線形ビット・
シフトの補償因子をそれぞれ表わす。複号は、非線形ビ
ット・シフトの補償因子Φ（４Ｎ−２）の絶対値が小さ
くなる方を選択する。）により、前記複合データ・パタ
ーンと前記孤立データ・パターンの周波数成分の位相差
を非線形ビット・シフトの補償因子に変換するための処
理手段を、さらに備えたものである。
て測定された位相として、前記複合データ・パターンお
よび前記孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ−２
倍（Ｎ＝１または２または３）の高調波成分の位相から
以下の式（２） Φ（４Ｎ−２）＝Ψ（４Ｎ−２）−Θ（４Ｎ−２）±１８０ （２） （ここで、Ψ（４Ｎ−２）は前記複合データ・パターン
の基本周波数の４Ｎ−２倍の高調波の位相を、Θ（４Ｎ
−２）は前記孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ
倍の高調波の位相を、Φ（４Ｎ−２）は非線形ビット・
シフトの補償因子をそれぞれ表わす。複号は、非線形ビ
ット・シフトの補償因子Φ（４Ｎ−２）の絶対値が小さ
くなる方を選択する。）により、前記複合データ・パタ
ーンと前記孤立データ・パターンの周波数成分の位相差
を非線形ビット・シフトの補償因子に変換するための処
理手段を、さらに備えたものである。
【００１３】またフィルタ手段を有し、フィルタ手段
は、前記読み出し手段によって読み出された前記データ
・パターンの周波数成分として、基本周波数の２の倍数
の周波数成分を抽出するものである。
は、前記読み出し手段によって読み出された前記データ
・パターンの周波数成分として、基本周波数の２の倍数
の周波数成分を抽出するものである。
【００１４】また記憶手段と、補償手段と、制御手段と
を付加し、記憶手段は、前記非線形ビット・シフトの補
償因子を記憶するものであり、補償手段は、前記複合デ
ータ・パターンのデータ・パルスの位置を、前記非線形
ビット・シフトの補償因子に従って既知の量だけシフト
するものであり、制御手段は、前記補償手段によって補
償した後に磁気記録面に前記書き込み手段によって書き
込まれ、前記読み出し手段によって読み出された前記複
合データ・パターンの非線形ビット・シフトの補償因子
と、前記記憶手段により記憶された前記補償する前の前
記非線形ビット・シフトの補償因子の差を比較し、前記
非線形ビット・シフトの補償因子が最小になるように前
記補償手段を制御するものである。
を付加し、記憶手段は、前記非線形ビット・シフトの補
償因子を記憶するものであり、補償手段は、前記複合デ
ータ・パターンのデータ・パルスの位置を、前記非線形
ビット・シフトの補償因子に従って既知の量だけシフト
するものであり、制御手段は、前記補償手段によって補
償した後に磁気記録面に前記書き込み手段によって書き
込まれ、前記読み出し手段によって読み出された前記複
合データ・パターンの非線形ビット・シフトの補償因子
と、前記記憶手段により記憶された前記補償する前の前
記非線形ビット・シフトの補償因子の差を比較し、前記
非線形ビット・シフトの補償因子が最小になるように前
記補償手段を制御するものである。
【００１５】また記憶手段と、補償手段と、制御手段と
を付加し、記憶手段は、前記非線形ビット・シフトの補
償因子を記憶するものであり、補償手段は、データ・パ
ターンのデータ・パルスの位置を、前記非線形ビット・
シフトの補償因子に従って既知の量だけシフトするもの
であり、制御手段は、前記記憶手段により記憶された前
記非線形ビット・シフトの補償因子によって前記補償手
段を制御するものである。
を付加し、記憶手段は、前記非線形ビット・シフトの補
償因子を記憶するものであり、補償手段は、データ・パ
ターンのデータ・パルスの位置を、前記非線形ビット・
シフトの補償因子に従って既知の量だけシフトするもの
であり、制御手段は、前記記憶手段により記憶された前
記非線形ビット・シフトの補償因子によって前記補償手
段を制御するものである。
【００１６】本発明の磁気記録装置は、基本周波数が同
一である複合データ・パターンと孤立データ・パターン
の２つのデータ・パターンの使用に基づいており、この
２つのデータ・パターンが非線形ビット・シフトなしに
書き込まれる場合、所定の高調波成分に位相差がない、
或いは逆相になるという特性を備えている。また、ある
データ・パルスの位置が非線形ビット・シフトによって
シフトすると、非線形ビット・シフトなしでは位相差が
ない、或いは逆相になっていた前記２つのデータ・パタ
ーンの所定の高調波成分に位相差が発生するという特性
も備えている。特に、基本周波数の４Ｎ倍（Ｎ＝１また
は２または３）と４Ｎ−２倍（Ｎ＝１または２または
３）の高調波成分の位相差は、非線形ビット・シフトに
ほぼ比例して変化する。その高調波成分の位相差の値が
非線形ビット・シフトの大きさを示し、位相差の符号が
非線形ビット・シフトの方向を示す。
一である複合データ・パターンと孤立データ・パターン
の２つのデータ・パターンの使用に基づいており、この
２つのデータ・パターンが非線形ビット・シフトなしに
書き込まれる場合、所定の高調波成分に位相差がない、
或いは逆相になるという特性を備えている。また、ある
データ・パルスの位置が非線形ビット・シフトによって
シフトすると、非線形ビット・シフトなしでは位相差が
ない、或いは逆相になっていた前記２つのデータ・パタ
ーンの所定の高調波成分に位相差が発生するという特性
も備えている。特に、基本周波数の４Ｎ倍（Ｎ＝１また
は２または３）と４Ｎ−２倍（Ｎ＝１または２または
３）の高調波成分の位相差は、非線形ビット・シフトに
ほぼ比例して変化する。その高調波成分の位相差の値が
非線形ビット・シフトの大きさを示し、位相差の符号が
非線形ビット・シフトの方向を示す。
【００１７】また前記２つのデータメパターンの振幅
は、非線形ビット・シフトによらず、ほとんど変化しな
いという特性を備えている。そこで、非線形ビット・シ
フトが小さくても、所定の高調波成分の振幅がほとんど
小さくならないため、小さな非線形ビット・シフトを充
分に測定することができる。さらに、これらのデータ・
パターンは非線形ビット・シフト以外の他の非線形性に
は無感覚であるという特性を備えている。そこで、他の
非線形性から非線形ビット・シフトのみを抽出すること
ができる。
は、非線形ビット・シフトによらず、ほとんど変化しな
いという特性を備えている。そこで、非線形ビット・シ
フトが小さくても、所定の高調波成分の振幅がほとんど
小さくならないため、小さな非線形ビット・シフトを充
分に測定することができる。さらに、これらのデータ・
パターンは非線形ビット・シフト以外の他の非線形性に
は無感覚であるという特性を備えている。そこで、他の
非線形性から非線形ビット・シフトのみを抽出すること
ができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】次に本発明について図面を参照し
て説明する。図１は本発明の具体例を示すブロック図で
ある。
て説明する。図１は本発明の具体例を示すブロック図で
ある。
【００１９】図１において本発明の磁気記録装置は、磁
気記録面１００にデータ・パターンを記録再生するため
の手段であり、図２（ａ）に示すような孤立ビット２０
０の中央に近接ビット対２０１をもつ複合データ・パタ
ーンと、図２（ｂ）に示すように複合データ・パターン
と基本周期２０２とが同一である孤立データ・パターン
とを作成するための生成手段１０１と、前記データ・パ
ターンを磁気記録面１００に書き込むための書き込み手
段１０２と、書き込み手段１０２によって磁気記録面１
００に書き込まれた複合データ・パターンおよび孤立デ
ータ・パターンを読み出すための読み出し手段１０３
と、読み出し手段１０３によって磁気記録面１００から
読み出された複合データ・パターンおよび孤立データ・
パターンの周波数成分の位相を測定するための検出手段
１０４と、検出手段１０４によって測定された複合デー
タ・パターンと孤立データ・パターンの周波数成分の位
相差を非線形ビット・シフトの補償因子に変換するため
の処理手段１０５とを備えている。
気記録面１００にデータ・パターンを記録再生するため
の手段であり、図２（ａ）に示すような孤立ビット２０
０の中央に近接ビット対２０１をもつ複合データ・パタ
ーンと、図２（ｂ）に示すように複合データ・パターン
と基本周期２０２とが同一である孤立データ・パターン
とを作成するための生成手段１０１と、前記データ・パ
ターンを磁気記録面１００に書き込むための書き込み手
段１０２と、書き込み手段１０２によって磁気記録面１
００に書き込まれた複合データ・パターンおよび孤立デ
ータ・パターンを読み出すための読み出し手段１０３
と、読み出し手段１０３によって磁気記録面１００から
読み出された複合データ・パターンおよび孤立データ・
パターンの周波数成分の位相を測定するための検出手段
１０４と、検出手段１０４によって測定された複合デー
タ・パターンと孤立データ・パターンの周波数成分の位
相差を非線形ビット・シフトの補償因子に変換するため
の処理手段１０５とを備えている。
【００２０】また読み出し手段１０３によって読み出さ
れた複合データ・パターンおよび孤立データ・パターン
の振幅の非対称性を既知の量だけ変更するための変更手
段１０６を備えている。
れた複合データ・パターンおよび孤立データ・パターン
の振幅の非対称性を既知の量だけ変更するための変更手
段１０６を備えている。
【００２１】また検出手段１０４によって測定された位
相として、複合データ・パターンおよび孤立データ・パ
ターンの基本周波数の４Ｎ倍（Ｎ＝１または２または
３）の周波数成分の位相からは下記式（１）により、基
本周波数の４Ｎ−２倍（Ｎ＝１または２または３）の周
波数成分の位相からは下記式（２）により複合データ・
パターンと孤立データ・パターンの周波数成分の位相差
を非線形ビット・シフトの補償因子に変換するための処
理手段１０７，処理手段１０８をそれぞれ備えている。
相として、複合データ・パターンおよび孤立データ・パ
ターンの基本周波数の４Ｎ倍（Ｎ＝１または２または
３）の周波数成分の位相からは下記式（１）により、基
本周波数の４Ｎ−２倍（Ｎ＝１または２または３）の周
波数成分の位相からは下記式（２）により複合データ・
パターンと孤立データ・パターンの周波数成分の位相差
を非線形ビット・シフトの補償因子に変換するための処
理手段１０７，処理手段１０８をそれぞれ備えている。
【００２２】 Φ（４Ｎ）＝Ψ（４Ｎ）−Θ（４Ｎ） （１） ここで、Ψ（４Ｎ）は前記複合データ・パターンの基本
周波数の４Ｎ倍の高調波の位相を、Θ（４Ｎ）は前記孤
立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ倍の高調波の位
相を、Φ（４Ｎ）は非線形ビット・シフトの補償因子を
それぞれ表わす。 Φ（４Ｎ−２）＝Ψ（４Ｎ−２）−Θ（４Ｎ−２）±１８０ （２） ここで、Ψ（４Ｎ−２）は前記複合データ・パターンの
基本周波数の４Ｎ−２倍の高調波の位相を、Θ（４Ｎ−
２）は前記孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ倍
の高調波の位相を、Φ（４Ｎ−２）は非線形ビット・シ
フトの補償因子をそれぞれ表わす。複号は、非線形ビッ
ト・シフトの補償因子Φ（４Ｎ−２）の絶対値が小さく
なる方を選択する。
周波数の４Ｎ倍の高調波の位相を、Θ（４Ｎ）は前記孤
立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ倍の高調波の位
相を、Φ（４Ｎ）は非線形ビット・シフトの補償因子を
それぞれ表わす。 Φ（４Ｎ−２）＝Ψ（４Ｎ−２）−Θ（４Ｎ−２）±１８０ （２） ここで、Ψ（４Ｎ−２）は前記複合データ・パターンの
基本周波数の４Ｎ−２倍の高調波の位相を、Θ（４Ｎ−
２）は前記孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ倍
の高調波の位相を、Φ（４Ｎ−２）は非線形ビット・シ
フトの補償因子をそれぞれ表わす。複号は、非線形ビッ
ト・シフトの補償因子Φ（４Ｎ−２）の絶対値が小さく
なる方を選択する。
【００２３】さらに読み出し手段１０３によって読み出
されたデータ・パターンの周波数成分として、基本周波
数の２の倍数の周波数成分を抽出するためのフィルタ手
段１１２を備えている。
されたデータ・パターンの周波数成分として、基本周波
数の２の倍数の周波数成分を抽出するためのフィルタ手
段１１２を備えている。
【００２４】以上、ここまでの手段を備えることによっ
て、本発明の磁気記録装置は、非線形ビット・シフトを
測定することが可能となる。そこで、ここまでの手段を
まとめて、非線形ビット・シフト測定系１２０と称す
る。
て、本発明の磁気記録装置は、非線形ビット・シフトを
測定することが可能となる。そこで、ここまでの手段を
まとめて、非線形ビット・シフト測定系１２０と称す
る。
【００２５】また、本発明の磁気記録装置は、前記非線
形ビット・シフトの補償因子を記憶するための記憶手段
１０９と、前記複合データ・パターンのデータ・パルス
の位置を、前記非線形ビット・シフトの補償因子に従っ
て既知の量だけシフトするための補償手段１１０と、補
償手段１１０によって補償した後に磁気記録面１００に
前記書き込み手段１０２によって書き込まれ、読み出し
手段１０３によって読み出された前記複合データ・パタ
ーンの非線形ビット・シフトの補償因子と、記憶手段１
０９により記憶された前記補償する前の前記非線形ビッ
ト・シフトの補償因子の差を比較し、前記非線形ビット
・シフトの補償因子が最小になるように補償手段１１０
を制御するための制御手段１１１を備えている。
形ビット・シフトの補償因子を記憶するための記憶手段
１０９と、前記複合データ・パターンのデータ・パルス
の位置を、前記非線形ビット・シフトの補償因子に従っ
て既知の量だけシフトするための補償手段１１０と、補
償手段１１０によって補償した後に磁気記録面１００に
前記書き込み手段１０２によって書き込まれ、読み出し
手段１０３によって読み出された前記複合データ・パタ
ーンの非線形ビット・シフトの補償因子と、記憶手段１
０９により記憶された前記補償する前の前記非線形ビッ
ト・シフトの補償因子の差を比較し、前記非線形ビット
・シフトの補償因子が最小になるように補償手段１１０
を制御するための制御手段１１１を備えている。
【００２６】また前記非線形ビット・シフトの補償因子
を記憶するための記憶手段１０９と、データ・パターン
のデータ・パルスの位置を、前記非線形ビット・シフト
の補償因子に従って既知の量だけシフトするための補償
手段１１０と、記憶手段１０９により記憶された前記非
線形ビット・シフトの補償因子によって補償手段１１０
を制御するための制御手段１１１を備えている。
を記憶するための記憶手段１０９と、データ・パターン
のデータ・パルスの位置を、前記非線形ビット・シフト
の補償因子に従って既知の量だけシフトするための補償
手段１１０と、記憶手段１０９により記憶された前記非
線形ビット・シフトの補償因子によって補償手段１１０
を制御するための制御手段１１１を備えている。
【００２７】以上、ここまでの手段を備えることによっ
て、本発明の磁気記録装置は、非線形ビット・シフトを
補償することが可能である。そこで、ここまでの手段を
まとめて、非線形ビット・シフト補償系１２１と称す
る。
て、本発明の磁気記録装置は、非線形ビット・シフトを
補償することが可能である。そこで、ここまでの手段を
まとめて、非線形ビット・シフト補償系１２１と称す
る。
【００２８】Ｉ．複合データ・パターンの構成 図２（ａ）に示す孤立ビット２００の中央に近接ビット
対２０１をもつ複合データ・パターンにおいて、近接ビ
ット対２０１のビット長は非線形ビット・シフトの影響
を測定するビット長とする。また孤立ビット２００のビ
ット長は孤立ビット２００と近接ビット対２０１それぞ
において、非線形ビット・シフトの影響を無視すること
ができるビット長とする。本実施形態では、孤立ビット
２００のビット長は近接ビット対２０１のビット長の２
１倍とした。また孤立ビット２００のビット長は読み出
されたデータ・パターンの基本周期２０２を決定する。
対２０１をもつ複合データ・パターンにおいて、近接ビ
ット対２０１のビット長は非線形ビット・シフトの影響
を測定するビット長とする。また孤立ビット２００のビ
ット長は孤立ビット２００と近接ビット対２０１それぞ
において、非線形ビット・シフトの影響を無視すること
ができるビット長とする。本実施形態では、孤立ビット
２００のビット長は近接ビット対２０１のビット長の２
１倍とした。また孤立ビット２００のビット長は読み出
されたデータ・パターンの基本周期２０２を決定する。
【００２９】磁気記録面にデータ・パターンが書き込ま
れたとき、近接ビット対２０１が非線形ビット・シフト
すると、読み出されたデータ・パターンの高調波成分の
位相がそれぞれ変化する。特に、図２（ａ）に示す孤立
ビット２００の中央に近接ビット対２０１をもつ複合デ
ータ・パターンでは、近接ビット対２０１の非線形ビッ
ト・シフトにほぼ比例して、基本周波数の２の倍数の高
調波成分の位相が変化する。このことについては、後で
図面を参照して説明する。
れたとき、近接ビット対２０１が非線形ビット・シフト
すると、読み出されたデータ・パターンの高調波成分の
位相がそれぞれ変化する。特に、図２（ａ）に示す孤立
ビット２００の中央に近接ビット対２０１をもつ複合デ
ータ・パターンでは、近接ビット対２０１の非線形ビッ
ト・シフトにほぼ比例して、基本周波数の２の倍数の高
調波成分の位相が変化する。このことについては、後で
図面を参照して説明する。
【００３０】ＩＩ．孤立データ・パターンの構成 図２（ｂ）に示す基本周期３０２が複合データ・パター
ンと同じで、孤立ビット３００だけの孤立データ・パタ
ーンでは、非線形ビット・シフトなしの位相、すなわち
原点を測定できる。特に、非線形ビット・シフトなしの
複合データ・パターンと孤立データ・パターンとの位相
差が、基本周波数の４Ｎ倍（Ｎ＝１または２または３）
の高調波成分は０となり、基本周波数の４Ｎ−２倍（Ｎ
＝１または２または３）の高調波成分は１８０度とな
る。このことについては、後で図面を参照して説明す
る。
ンと同じで、孤立ビット３００だけの孤立データ・パタ
ーンでは、非線形ビット・シフトなしの位相、すなわち
原点を測定できる。特に、非線形ビット・シフトなしの
複合データ・パターンと孤立データ・パターンとの位相
差が、基本周波数の４Ｎ倍（Ｎ＝１または２または３）
の高調波成分は０となり、基本周波数の４Ｎ−２倍（Ｎ
＝１または２または３）の高調波成分は１８０度とな
る。このことについては、後で図面を参照して説明す
る。
【００３１】以下に、基本周波数の２の倍数の高調波成
分の位相差と振幅の非線形ビット・シフトとの関係につ
いて、一例を示して説明する。
分の位相差と振幅の非線形ビット・シフトとの関係につ
いて、一例を示して説明する。
【００３２】ＩＩＩ．位相差と非線形ビット・シフトと
の関係 本実施形態の複合データ・パターンと孤立データ・パタ
ーンの高調波成分の位相差の非線形ビット・シフトとの
関係についての一例を示す。図３は基本周波数の２倍の
高調波成分，図４は基本周波数の４倍の高調波成分の複
合データ・パターンと孤立データ・パターンの位相差の
非線形ビット・シフトとの関係を示す図である。
の関係 本実施形態の複合データ・パターンと孤立データ・パタ
ーンの高調波成分の位相差の非線形ビット・シフトとの
関係についての一例を示す。図３は基本周波数の２倍の
高調波成分，図４は基本周波数の４倍の高調波成分の複
合データ・パターンと孤立データ・パターンの位相差の
非線形ビット・シフトとの関係を示す図である。
【００３３】図中、非線形ビット・シフトの符号は、
「正」は近接ビット対の後ビットが近づく方向，「負」
は近接ビット対の後ビットが遠のく方向と定義した。ま
た、非線形ビット・シフトの大きさは、近接ビット対の
ビット長を１として規格化した。
「正」は近接ビット対の後ビットが近づく方向，「負」
は近接ビット対の後ビットが遠のく方向と定義した。ま
た、非線形ビット・シフトの大きさは、近接ビット対の
ビット長を１として規格化した。
【００３４】また、他の非線形性とは非線形ビット・シ
フト以外の非線形性で、振幅や半値幅の非対称性や、ハ
ード遷移シフトのことである。また、２の倍数（偶数
次）の高調波成分の振幅を大きくし、位相差を感度良く
抽出して非線形ビット・シフトの計算の精度を向上させ
るため、非線形ビット・シフト以外の他の非線形性のあ
り，なしに関わらず、約１０％の振幅の非対称性を含ん
だままにしている。
フト以外の非線形性で、振幅や半値幅の非対称性や、ハ
ード遷移シフトのことである。また、２の倍数（偶数
次）の高調波成分の振幅を大きくし、位相差を感度良く
抽出して非線形ビット・シフトの計算の精度を向上させ
るため、非線形ビット・シフト以外の他の非線形性のあ
り，なしに関わらず、約１０％の振幅の非対称性を含ん
だままにしている。
【００３５】図３，図４より、本実施形態の複合データ
・パターンと孤立データ・パターンの高調波成分の位相
差は非線形ビット・シフトにほぼ比例して変化してお
り、非線形ビット・シフト以外の他の非線形性のあり，
なしに関わらず、位相差はほとんど同じであることが分
かる。また、非線形ビット・シフトなしの位相差が、図
３より基本周波数の２倍の高調波成分は１８０度である
ことが分かり、図４より基本周波数の４倍の高調波成分
は０であることが分かる。
・パターンと孤立データ・パターンの高調波成分の位相
差は非線形ビット・シフトにほぼ比例して変化してお
り、非線形ビット・シフト以外の他の非線形性のあり，
なしに関わらず、位相差はほとんど同じであることが分
かる。また、非線形ビット・シフトなしの位相差が、図
３より基本周波数の２倍の高調波成分は１８０度である
ことが分かり、図４より基本周波数の４倍の高調波成分
は０であることが分かる。
【００３６】このことを詳しく調べていくと、非線形ビ
ット・シフトなしの複合データ・パターンと孤立データ
・パターンとの位相差が、基本周波数の４Ｎ倍（Ｎ＝１
または２または３）の高調波成分は０となり、基本周波
数の４Ｎ−２倍（Ｎ＝１または２または３）の高調波成
分は１８０度となることが分かった。
ット・シフトなしの複合データ・パターンと孤立データ
・パターンとの位相差が、基本周波数の４Ｎ倍（Ｎ＝１
または２または３）の高調波成分は０となり、基本周波
数の４Ｎ−２倍（Ｎ＝１または２または３）の高調波成
分は１８０度となることが分かった。
【００３７】また基本周波数の４Ｎ−１倍（Ｎ＝１また
は２または３），４Ｎ−３倍（Ｎ＝１または２または
３）の高調波成分は、非線形ビット・シフトなしの複合
データ・パターンと孤立データ・パターンとの位相差が
０となるが、非線形ビット・シフトありの複合データ・
パターンと孤立データ・パターンとの位相差が、非線形
ビット・シフトに比例して変化していないことも分かっ
た。
は２または３），４Ｎ−３倍（Ｎ＝１または２または
３）の高調波成分は、非線形ビット・シフトなしの複合
データ・パターンと孤立データ・パターンとの位相差が
０となるが、非線形ビット・シフトありの複合データ・
パターンと孤立データ・パターンとの位相差が、非線形
ビット・シフトに比例して変化していないことも分かっ
た。
【００３８】したがって本発明の磁気記録装置を用い
て、複合データ・パターンと孤立データ・パターンの基
本周波数の２の倍数の高調波成分の位相差から、非線形
ビット・シフトの大きさと方向を容易に測定することが
できる。
て、複合データ・パターンと孤立データ・パターンの基
本周波数の２の倍数の高調波成分の位相差から、非線形
ビット・シフトの大きさと方向を容易に測定することが
できる。
【００３９】ＩＶ．振幅と非線形ビット・シフトとの関
係 本実施形態の複合データ・パターンの高調波成分の振幅
の非線形ビット・シフトとの関係についての一例を示
す。図５は他の非線形性のある場合、図６は他の非線形
性のない場合の振幅の非線形ビット・シフトとの関係を
示す図である。
係 本実施形態の複合データ・パターンの高調波成分の振幅
の非線形ビット・シフトとの関係についての一例を示
す。図５は他の非線形性のある場合、図６は他の非線形
性のない場合の振幅の非線形ビット・シフトとの関係を
示す図である。
【００４０】図５，図６より、本実施形態の複合データ
・パターンの基本周波数の２倍と４倍の高調波成分の振
幅は非線形ビット・シフトによらず、ほとんど変化しな
いことが分かる。
・パターンの基本周波数の２倍と４倍の高調波成分の振
幅は非線形ビット・シフトによらず、ほとんど変化しな
いことが分かる。
【００４１】したがって非線形ビット・シフトが小さく
なっても、基本周波数の２の倍数の高調波成分の振幅が
ほとんど小さくならないので、小さな非線形ビット・シ
フトを充分に測定することができる。
なっても、基本周波数の２の倍数の高調波成分の振幅が
ほとんど小さくならないので、小さな非線形ビット・シ
フトを充分に測定することができる。
【００４２】Ｖ．非線形ビット・シフトの測定および補
償 以下に、本発明にしたがって、非線形ビット・シフトの
測定および補償を行う一例について説明する。
償 以下に、本発明にしたがって、非線形ビット・シフトの
測定および補償を行う一例について説明する。
【００４３】まず図２（ａ）に示す複合データ・パター
ンの近接ビット２０１のビット長を、非線形ビット・シ
フトの影響を測定するビット長とする。次に生成手段１
０１によって作成された複合データ・パターンと孤立デ
ータメパターンをそれぞれ磁気記録面１００に書き込み
手段１０２によって書き込み、読み出し手段１０３によ
って読み出された複合データ・パターンと孤立データメ
パターンの基本周波数の４Ｎ−２倍（Ｎ＝１または２ま
たは３）または４Ｎ倍（Ｎ＝１または２または３）の高
調波成分の位相をそれぞれフィルタ手段１１２と検出手
段１０４により測定する。
ンの近接ビット２０１のビット長を、非線形ビット・シ
フトの影響を測定するビット長とする。次に生成手段１
０１によって作成された複合データ・パターンと孤立デ
ータメパターンをそれぞれ磁気記録面１００に書き込み
手段１０２によって書き込み、読み出し手段１０３によ
って読み出された複合データ・パターンと孤立データメ
パターンの基本周波数の４Ｎ−２倍（Ｎ＝１または２ま
たは３）または４Ｎ倍（Ｎ＝１または２または３）の高
調波成分の位相をそれぞれフィルタ手段１１２と検出手
段１０４により測定する。
【００４４】そして、それらの高調波成分の位相差か
ら、処理手段１０５及び基本周波数の４Ｎ倍（Ｎ＝１ま
たは２または３）の高調波成分を用いたときは処理手段
１０７は上記式（１）によって、または４Ｎ−２倍（Ｎ
＝１または２または３）の高調波成分を用いたときは処
理手段１０８は上記式（２）によって非線形ビット・シ
フトの補償因子を決定する。
ら、処理手段１０５及び基本周波数の４Ｎ倍（Ｎ＝１ま
たは２または３）の高調波成分を用いたときは処理手段
１０７は上記式（１）によって、または４Ｎ−２倍（Ｎ
＝１または２または３）の高調波成分を用いたときは処
理手段１０８は上記式（２）によって非線形ビット・シ
フトの補償因子を決定する。
【００４５】以上、ここまでの手順で非線形ビット・シ
フトを測定することができる。
フトを測定することができる。
【００４６】次に、制御手段１１１が補償手段１１０を
制御することによって非線形ビット・シフトの補償因子
が小さくなる方向に、複合データ・パターンのデータ・
パルスの位置をシフトさせる。また、そのときの非線形
ビット・シフトの補償因子を記憶手段１０９に記憶させ
ておく。その後、同様の手順によって複合データ・パタ
ーンと孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ−２倍
（Ｎ＝１または２または３）または４Ｎ倍（Ｎ＝１また
は２または３）の高調波成分の位相差を測定する。そし
て、ここで測定された非線形ビット・シフトの補償因子
と、記憶手段１０９に記憶された非線形ビット・シフト
の補償因子とを比較し、非線形ビット・シフトの補償因
子が最小となるまでこの手順が繰り返される。
制御することによって非線形ビット・シフトの補償因子
が小さくなる方向に、複合データ・パターンのデータ・
パルスの位置をシフトさせる。また、そのときの非線形
ビット・シフトの補償因子を記憶手段１０９に記憶させ
ておく。その後、同様の手順によって複合データ・パタ
ーンと孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ−２倍
（Ｎ＝１または２または３）または４Ｎ倍（Ｎ＝１また
は２または３）の高調波成分の位相差を測定する。そし
て、ここで測定された非線形ビット・シフトの補償因子
と、記憶手段１０９に記憶された非線形ビット・シフト
の補償因子とを比較し、非線形ビット・シフトの補償因
子が最小となるまでこの手順が繰り返される。
【００４６】以上、ここまでの手順で非線形ビット・シ
フトを補償することができる。
フトを補償することができる。
【００４７】また読み出し手段１０３によって読み出さ
れた複合データ・パターンおよび孤立データ・パターン
の振幅の非対称性を、変更手段１０６によって既知の量
だけ変更することにより、２の倍数（偶数次）の高調波
成分の振幅を大きくし、位相差を感度良く抽出して非線
形ビット・シフトの計算の精度を向上させることもでき
る。ここで、これらのデータ・パターンは非線形ビット
・シフト以外の他の非線形性には無感覚であるという特
徴を備えているので、振幅の非対称性のような他の非線
形性から非線形ビット・シフトのみを抽出することがで
きる。
れた複合データ・パターンおよび孤立データ・パターン
の振幅の非対称性を、変更手段１０６によって既知の量
だけ変更することにより、２の倍数（偶数次）の高調波
成分の振幅を大きくし、位相差を感度良く抽出して非線
形ビット・シフトの計算の精度を向上させることもでき
る。ここで、これらのデータ・パターンは非線形ビット
・シフト以外の他の非線形性には無感覚であるという特
徴を備えているので、振幅の非対称性のような他の非線
形性から非線形ビット・シフトのみを抽出することがで
きる。
【００４８】
【発明の効果】以上説明したように本発明の磁気記録装
置によれば、非線形ビット・シフトの大きさと方向を容
易に、かつ非線形ビット・シフトが小さくなっても充分
に測定することができ、非線形ビット・シフトを測定し
た結果によって、非線形ビット・シフトの影響を補償す
ることができる。
置によれば、非線形ビット・シフトの大きさと方向を容
易に、かつ非線形ビット・シフトが小さくなっても充分
に測定することができ、非線形ビット・シフトを測定し
た結果によって、非線形ビット・シフトの影響を補償す
ることができる。
【図１】本発明の具体例を示すブロック図である。
【図２】（ａ）は読み出された複合データ・パターンを
示す概略図、（ｂ）は読み出された孤立データ・パター
ンを示す概略図である。
示す概略図、（ｂ）は読み出された孤立データ・パター
ンを示す概略図である。
【図３】複合データ・パターンと孤立データ・パターン
の２次高調波成分の位相差と非線形ビット・シフトとの
関係を示す図である。
の２次高調波成分の位相差と非線形ビット・シフトとの
関係を示す図である。
【図４】複合データ・パターンと孤立データ・パターン
の２次高調波成分の位相差と非線形ビット・シフトとの
関係を示す図である。
の２次高調波成分の位相差と非線形ビット・シフトとの
関係を示す図である。
【図５】他の非線形性ありの複合データ・パターンの振
幅と非線形ビット・シフトとの関係を示す図である。
幅と非線形ビット・シフトとの関係を示す図である。
【図６】他の非線形性なしの複合データ・パターンの振
幅と非線形ビット・シフトとの関係を示す図である。
幅と非線形ビット・シフトとの関係を示す図である。
１００ 磁気記録面 １０１ データ・パターン生成手段 １０２ 書き込み手段 １０３ 読み出し手段 １０４ 位相検出手段 １０５ 補償因子処理手段 １０６ 振幅非対称性変更手段 １０７ 補償因子処理手段（４Ｎ 次高調波成分） １０８ 補償因子処理手段（４Ｎ−２次高調波成分） １０９ 補償因子記憶手段 １１０ 非線形ビット・シフト補償手段 １１１ 非線形ビット・シフト補償制御手段 １１２ 帯域通過フィルタ手段 １２０ 非線形ビット・シフト測定系 １２１ 非線形ビット・シフト補償系 ２００ 孤立ビット ２０１ 近接ビット ２０２ 基本周期 ３００ 孤立ビット ３０２ 基本周期
Claims (7)
- 【請求項１】 生成手段と、読み出し手段と、検出手段
と、処理手段とを有し、磁気記録面にデータ・パターン
を記録再生する磁気記録装置であって、 生成手段は、孤立ビットの中央に近接ビット対をもつ複
合データ・パターンと、複合データ・パターンと基本周
波数が同一である孤立データ・パターンとを作成するも
のであり、 読み出し手段は、磁気記録面に書き込まれた前記複合デ
ータ・パターンおよび前記孤立データ・パターンを読み
出すものであり、 検出手段は、前記読み出し手段によって磁気記録面から
読み出された前記複合データ・パターンおよび前記孤立
データ・パターンの周波数成分の位相を測定するもので
あり、 処理手段は、前記検出手段によって測定された前記複合
データ・パターンと前記孤立データ・パターンの周波数
成分の位相差を非線形ビット・シフトの補償因子に変換
するものであることを特徴とする磁気記録装置。 - 【請求項２】 変更手段を有し、 変更手段は、前記読み出し手段によって読み出された前
記複合データ・パターンおよび孤立データ・パターンの
振幅の非対称性を既知の量だけ変更するものであること
を特徴とする請求項１に記載の磁気記録装置。 - 【請求項３】 前記処理手段は、前記検出手段によって
測定された位相として、前記複合データ・パターンおよ
び前記孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ倍（Ｎ
＝１または２または３）の高調波成分の位相から以下の
式（１） Φ（４Ｎ）＝Ψ（４Ｎ）−Θ（４Ｎ） （１） （ここで、Ψ（４Ｎ）は前記複合データ・パターンの基
本周波数の４Ｎ倍の高調波の位相を、Θ（４Ｎ）は前記
孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ倍の高調波の
位相を、Φ（４Ｎ）は非線形ビット・シフトの補償因子
をそれぞれ表わす。）により、前記複合データ・パター
ンと前記孤立データ・パターンの周波数成分の位相差を
非線形ビット・シフトの補償因子に変換するための処理
手段を、さらに備えたことを特徴とする請求項１に記載
の磁気記録装置。 - 【請求項４】 前記処理手段は、前記検出手段によって
測定された位相として、前記複合データ・パターンおよ
び前記孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ−２倍
（Ｎ＝１または２または３）の高調波成分の位相から以
下の式（２） Φ（４Ｎ−２）＝Ψ（４Ｎ−２）−Θ（４Ｎ−２）±１８０ （２） （ここで、Ψ（４Ｎ−２）は前記複合データ・パターン
の基本周波数の４Ｎ−２倍の高調波の位相を、Θ（４Ｎ
−２）は前記孤立データ・パターンの基本周波数の４Ｎ
倍の高調波の位相を、Φ（４Ｎ−２）は非線形ビット・
シフトの補償因子をそれぞれ表わす。複号は、非線形ビ
ット・シフトの補償因子Φ（４Ｎ−２）の絶対値が小さ
くなる方を選択する。）により、前記複合データ・パタ
ーンと前記孤立データ・パターンの周波数成分の位相差
を非線形ビット・シフトの補償因子に変換するための処
理手段を、さらに備えたことを特徴とする請求項１に記
載の磁気記録装置。 - 【請求項５】 フィルタ手段を有し、 フィルタ手段は、前記読み出し手段によって読み出され
た前記データ・パターンの周波数成分として、基本周波
数の２の倍数の周波数成分を抽出するものであることを
特徴とする請求項３または請求項４に記載の磁気記録装
置。 - 【請求項６】 記憶手段と、補償手段と、制御手段とを
付加し、 記憶手段は、前記非線形ビット・シフトの補償因子を記
憶するものであり、 補償手段は、前記複合データ・パターンのデータ・パル
スの位置を、前記非線形ビット・シフトの補償因子に従
って既知の量だけシフトするものであり、 制御手段は、前記補償手段によって補償した後に磁気記
録面に前記書き込み手段によって書き込まれ、前記読み
出し手段によって読み出された前記複合データ・パター
ンの非線形ビット・シフトの補償因子と、前記記憶手段
により記憶された前記補償する前の前記非線形ビット・
シフトの補償因子の差を比較し、前記非線形ビット・シ
フトの補償因子が最小になるように前記補償手段を制御
するものであることを特徴とする請求項３または請求項
４に記載の磁気記録装置。 - 【請求項７】 記憶手段と、補償手段と、制御手段とを
付加し、 記憶手段は、前記非線形ビット・シフトの補償因子を記
憶するものであり、 補償手段は、データ・パターンのデータ・パルスの位置
を、前記非線形ビット・シフトの補償因子に従って既知
の量だけシフトするものであり、 制御手段は、前記記憶手段により記憶された前記非線形
ビット・シフトの補償因子によって前記補償手段を制御
するものであることを特徴とする請求項３または請求項
４に記載の磁気記録装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7194673A JP2658994B2 (ja) | 1995-07-31 | 1995-07-31 | 磁気記録装置 |
| US08/690,127 US5781358A (en) | 1995-07-31 | 1996-07-31 | Magnetic recording apparatus with non-linear bit shift measurement |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7194673A JP2658994B2 (ja) | 1995-07-31 | 1995-07-31 | 磁気記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0944806A JPH0944806A (ja) | 1997-02-14 |
| JP2658994B2 true JP2658994B2 (ja) | 1997-09-30 |
Family
ID=16328404
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7194673A Expired - Lifetime JP2658994B2 (ja) | 1995-07-31 | 1995-07-31 | 磁気記録装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5781358A (ja) |
| JP (1) | JP2658994B2 (ja) |
Families Citing this family (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3906226B2 (ja) * | 2003-04-25 | 2007-04-18 | 富士通株式会社 | 非線形性測定方法，非線形性測定装置，磁気記録再生装置および磁気記録再生用ｌｓｉ |
| US7248424B2 (en) * | 2003-04-25 | 2007-07-24 | Fujitsu Limited | Nonlinearity measuring method, nonlinearity measuring unit, magnetic recording/regenerating unit and LSI for magnetic recording/regenerating |
| US8441751B1 (en) * | 2006-08-18 | 2013-05-14 | Marvell International Ltd. | Dibit pulse extraction methods and systems |
| US8441752B1 (en) * | 2006-08-30 | 2013-05-14 | Marvell International Ltd. | Dibit pulse extraction methods and systems |
| JP5178844B2 (ja) * | 2007-12-21 | 2013-04-10 | エルエスアイ コーポレーション | 記録チャネルにおける適応等化のためのシステムおよび方法 |
| US7924523B2 (en) * | 2007-12-21 | 2011-04-12 | Lsi Corporation | Frequency domain approach for efficient computation of fixed-point equalization targets |
| US7859780B2 (en) * | 2008-08-27 | 2010-12-28 | Agere Systems Inc. | Systems and methods for on-the-fly write pre-compensation estimation |
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| US9281908B2 (en) * | 2008-10-08 | 2016-03-08 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Systems and methods for memory efficient signal and noise estimation |
| US7948702B2 (en) * | 2008-12-18 | 2011-05-24 | Lsi Corporation | Systems and methods for controlling data equalization |
| US8154815B2 (en) * | 2008-12-18 | 2012-04-10 | Lsi Corporation | Systems and methods for generating equalization data using shift register architecture |
| US7929240B2 (en) * | 2008-12-18 | 2011-04-19 | Lsi Corporation | Systems and methods for adaptive MRA compensation |
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